检测装置的制作方法

1.本发明涉及检测技术领域，特别是涉及一种检测装置。


背景技术：

2.本部分提供的仅仅是与本公开相关的背景信息，其并不必然是现有技术。
3.目前市场上的许多检测装置都会自带光源系统，这样在检测的过程中由于自带光源，所以对于检测的效果更好，更加容易查找待测物的问题或缺陷。
4.但是，现有技术的检测装置的光源在提供照明的时候，由于光线的不均匀对于检测中有一些缺陷不能检测出，或者因为光源的不稳定性，会出现阴影，出现新增“缺陷”的误判，所以有必要提供一种光线均匀的检测装置，提高检测的准确率。


技术实现要素：

5.本发明的目的是至少解决上述存在的问题之一。该目的是通过以下技术方案实现的：
6.本技术的实施例提出了一种检测装置，该检测装置包括：匀光结构及光源组件，所述匀光结构包括透明基体及设置于所述透明基体的多个匀光单元，所述透明基体包括第一表面、与所述第一表面相对设置的第二表面及连接所述第一表面与所述第二表面的多个侧表面，所述光源组件位于所述透明基体的至少一个侧表面，多个所述匀光单元设置于所述第一表面，所述匀光单元用于将光源组件发出的光线反射后入射至待测物。
7.根据本技术实施例的检测装置，由于在透明基体上设置多个匀光单元，光源组件发出的光线经匀光单元反射后入射至待测物的表面，可以将光源组件发出的光线进行均匀化，使得光线可以均匀的照射在待测物的表面，还可以减少或消除光源组件带来的阴影，有利于提高检测装置的准确性。
8.另外，根据本发明实施例的检测装置，还可具有如下附加的技术特征：
9.在其中一个实施例中，多个所述匀光单元在所述第一表面的投影的面积之和与所述第一表面的面积之比大于0，且小于等于50％。
10.在其中一个实施例中，匀光单元的截面的边线与第一表面之间的夹角为35
°‑
55
°
。
11.在其中一个实施例中，所述匀光结构还包括透明胶层，所述透明胶层设置于所述第一表面，所述匀光单元设置于所述透明胶层远离所述第一表面的表面。
12.在其中一个实施例中，所述匀光单元的表面设置有功能层，所述功能层能够反射光线而且能够遮光。
13.在其中一个实施例中，所述功能层为设置在所述匀光单元表面的反射层和/或油墨层。
14.在其中一个实施例中，多个所述匀光单元均匀分布在所述透明基体上。
15.在其中一个实施例中，所述匀光单元为凹陷结构或凸起结构。
16.在其中一实施例中，还包括载物台及图像收集单元，所述载物台用于承载待测物，
所述载物台位于所述透明基体的所述第二表面的下方，所述图像收集单元位于所述透明基体的所述第一表面的上方。
17.在其中一个实施例中，所述透明基体包括四个所述侧表面，所述光源组件为四个，四个所述光源组件分别位于四个所述侧表面。
附图说明
18.通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
19.图1为本发明一实施例中的检测装置的结构示意图；
20.图2为图1所示的匀光结构的结构示意图；
21.图3为图2所示的匀光结构与光源组件配合的结构示意图；
22.图4为本发明第二实施例的匀光结构的结构示意图；
23.图5为本发明第三实施例的匀光结构的结构示意图。
具体实施方式
24.下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施方式。虽然附图中显示了本公开的示例性实施方式，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
25.应理解的是，文中使用的术语仅出于描述特定示例实施方式的目的，而无意于进行限制。除非上下文另外明确地指出，否则如文中使用的单数形式“一”、“一个”以及“所述”也可以表示包括复数形式。术语“包括”、“包含”、“含有”以及“具有”是包含性的，并且因此指明所陈述的特征、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但并不排除存在或者添加一个或多个其它特征、步骤、操作、元件、部件、和/或它们的组合。
26.尽管可以在文中使用术语第一、第二、第三等来描述多个元件、部件、区域、层和/或部段，但是，这些元件、部件、区域、层和/或部段不应被这些术语所限制。这些术语可以仅用来将一个元件、部件、区域、层或部段与另一区域、层或部段区分开。除非上下文明确地指出，否则诸如“第一”、“第二”之类的术语以及其它数字术语在文中使用时并不暗示顺序或者次序。因此，以下讨论的第一元件、部件、区域、层或部段在不脱离示例实施方式的教导的情况下可以被称作第二元件、部件、区域、层或部段。
27.为了便于描述，可以在文中使用空间相对关系术语来描述如图中示出的一个元件或者特征相对于另一元件或者特征的关系，这些相对关系术语例如为“内部”、“外部”、“内侧”、“外侧”、“下面”、“下方”、“上面”、“上方”等。这种空间相对关系术语意于包括除图中描绘的方位之外的在使用或者操作中装置的不同方位。例如，如果在图中的装置翻转，那么描述为“在其它元件或者特征下面”或者“在其它元件或者特征下方”的元件将随后定向为“在其它元件或者特征上面”或者“在其它元件或者特征上方”。因此，示例术语“在
……
下方”可以包括在上和在下的方位。装置可以另外定向(旋转90度或者在其它方向)并且文中使用的空间相对关系描述符相应地进行解释。
28.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
29.需要说明的是，在本技术中，由「一数值至另一数值」表示的范围，是一种避免在说明书中一一列举该范围中的所有数值的概要性表示方式。因此，某一特定数值范围的记载，涵盖该数值范围内的任意数值以及由该数值范围内的任意数值界定出的较小数值范围，如同在说明书中明文写出该任意数值和该较小数值范围一样。
30.请参阅图1，本技术一实施例的检测装置10包括匀光结构100、光源组件200、图像收集单元300及载物台400，载物台400用于承载待测物500，匀光结构100位于载物台400的上方，光源组件200位于匀光结构100的侧表面，图像收集单元300位于匀光结构100的上方。本实施例的检测装置10可用在显微镜上。
31.请一并参阅图1及图2，匀光结构100包括透明基体110及多个匀光单元120，匀光单元120用于将光源组件200发出的光线反射后入射至待测物500。透明基体110包括第一表面111、与第一表面111相对设置的第二表面112及连接第一表面111与第二表面112的多个侧表面113，光源组件200位于至少一侧表面113，多个匀光单元120设置于透明基体110的第一表面111，待测物500位于透明基体110的第二表面112的下方，图像收集单元300位于透明基体110的第一表面111的上方。
32.请继续参阅图1，使用上述检测装置10时，光源组件200发出的光线经匀光结构100反射后入射至待测物500的表面，待测物500表面对光线进行反射，反射的光线透过透明基体110后进入图像收集单元300，图1中箭头的方向代表光线传播的方向。
33.根据本发明实施例的匀光结构100及检测装置10，由于在透明基体上设置多个匀光单元120，光源组件200发出的光线经匀光单元120反射后入射至待测物500的表面，可以将光源组件200发出的光线进行均匀化，使得光线可以均匀的照射在待测物500的表面，还可以减少或消除光源组件200带来的阴影，有助于提高检测装置10的准确性。
34.在一实施例中，透明基体110可以由玻璃材质制成，也可以由聚甲基丙烯酸甲酯(pmma)等透明材质制成，本技术实施例对此不做限定。
35.请继续参阅图2，匀光结构100还包括设置于透明基体110的第一表面111上的透明胶层130，匀光单元120设置于透明胶层130远离透明基体110的第一表面111的表面上。请继续参阅图2，匀光单元120为凹陷结构，透明胶层130为uv胶，匀光单元120通过压印技术设置在透明胶层130远离第一表面111的表面上。
36.需要说明的是，在一实施例中，透明胶层130也可以省去。匀光单元120直接设置在第一表面111上。
37.在一实施例中，匀光单元120为三棱锥或四棱锥等锥体、微透镜等，或者短棱镜等。在一实施例中，匀光单元120的截面的边线与第一表面111(或者水平面)之间的夹角为35
°‑
55
°
，光源组件200发出的光线通过匀光单元120可以形成近似平行的光束垂直照射在待测物500的表面，有利于提高检测效果。在一实施例中，匀光单元120的截面的边线与第一表面111之间的角度为45
°
。
38.在本技术中，匀光单元120的截面的边线是指匀光单元120的截面的边缘线或边框
线，例如，当匀光单元120为三棱锥时，其截面为三角形，其边线为三角形的腰。
39.在一实施例中，匀光单元120的底部与透明基体110的第一表面111的距离不小于3微米，即匀光单元120与透明基体110的第一表面111的最小距离不小于3微米，如当匀光单元120为三棱锥时，其顶角与透明基体110的第一表面111的距离不小于3微米。在图示的实施例中，多个匀光单元120的底部位于同一平面内，即，多个匀光单元120的高度一致。在其他实施例中，多个匀光单元120的底部也可以位于不同的平面，即，多个匀光单元120的高度不完全相同。
40.在一实施例中，匀光单元120所在的位置不透光，即光线不能从匀光单元120所在区域透射出来，仅能从透明基体110上无匀光单元120的区域透射出来。在一实施例中，匀光单元120的表面设置有功能层121，功能层121能够反射光线而且能够遮光。在一实施例中，功能层121为设置在匀光单元120表面的反射层和/或油墨层或其他遮挡材料层。在一实施例中，匀光单元120的表面仅设置反射层，或者匀光单元120的表面仅设置油墨层或其他遮挡材料层。在一实施例中，匀光单元120的表面先设置反射层，然后再在反射层上设置油墨层或其他遮挡材料层。
41.在一实施例中，多个匀光单元120在第一表面111的投影的面积之和与第一表面111的面积之比大于0，且小于等于50％。当匀光单元120在第一表面111的投影的面积之和与第一表面111的面积之比逐渐增大时，光源组件200发出的光线经匀光单元120射出后照射到待测物500上的光线逐渐增加，使达到图像收集单元300的光线也逐渐增加，有利于提高检测装置10的准确性；但当匀光单元120在第一表面111的投影的面积之和与第一表面111的面积之比大于50％时，待测物500上反射的光线经透明基体110上无匀光单元120的区域透射后到达至图像收集单元300的光线较少，影响检测装置10的准确性。
42.请参阅图3，匀光单元120在第一表面111上的投影为四边形，多个匀光单元120均匀分布在透明基体110上，且多个匀光单元120的形状及大小相同。当然，在其他实施例中，多个匀光单元120也可以随机分布在透明基体110上，多个匀光单元120的形状及大小也可以不完全相同。
43.请一并参阅图2及图3，透明基体110为矩形体，包括第一表面111、第二表面112及连接第一表面111与第二表面112的四个侧表面113，光源组件200位于透明基体的至少一个侧表面113。在图示的实施例中，光源组件200为四个，四个光源组件200分别位于四个侧表面113。
44.在一实施例中，光源组件200可以为led灯或其他发光光源。在一实施例中，光源组件200发出的光线均进入到匀光结构100，即光源组件200发出的光线的范围均在透明基体110及透明胶层130的侧表面所在的范围内，以提高光源组件200的光线的利用率。
45.在一实施例中，图像收集单元300位于待测物500的正上方，用于接收待测物反射的光线。在一实施例中，图像收集单元300为ccd相机。
46.请参阅图4，本技术第二实施例的匀光结构100a的结构与实施例一的匀光结构100的结构大体相同，不同之处主要在于：匀光单元120a为凸起结构。在一实施例中，多个匀光单元120a均凸设于透明胶层130a远离透明基体110a的第一表面111a的表面。在图示的实施例中，多个匀光单元120a均匀分布在透明胶层130a远离第一表面111a的表面，且多个匀光单元120a的形状及大小均相同。当然，在其他实施例中，多个匀光单元120a的形状及大小可
以不完全相同，多个匀光单元120a也可以随机分布在透明胶层130a远离第一表面111a的表面。
47.需要说明的是，在一实施例中，匀光单元120a也可以同时包括凹陷结构和凸起结构，凹陷结构和凸起结构可以按规律分布在透明基体110a上，也可以随机分布在透明基体110a上。
48.请继续参阅图4，匀光单元120a的表面均设置有功能层121a，功能层121a为设置在匀光单元120a表面的反射层。
49.本技术第二实施例的检测装置与实施例一的检测装置10大体相同，不同之处主要在于，实施例二的检测装置采用实施例二的匀光结构100a。
50.请参阅图5，本技术第三实施例的匀光结构100b与实施例二的匀光结构100a的结构大体相同，不同之处主要在于，匀光结构100b的功能层121b为设置在匀光单元120b表面的油墨层或其他遮挡材料层。
51.本技术第三实施例的检测装置与实施例二的检测装置大体相同，不同之处主要在于，实施例三的检测装置采用实施例三的匀光结构100b。
52.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
53.以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。