接触器的测试装置的制作方法

1.本技术涉及接触器领域，具体而言，涉及一种接触器的测试装置。


背景技术：

2.高压直流接触器是纯电汽车高压控制箱的核心电子元器件，该元件在电路中具有导通、断开高、低压电路回路的作用，因此接触器的寿命直接关系到车辆行驶的安全性和稳定性。
3.高压直流接触器的寿命参数主要有两个，即机械寿命、电气寿命；机械寿命是指接触器在空载的工作条件下，能正常吸合断开的循环次数；电气寿命则是在规定的带载工作条件下，接入额定负载，按实验要求，能连续正常工作的次数；一般来说接触器的机械寿命要比其电气寿命长的多，因此对接触器寿命的测试主要以电气寿命为主。
4.现有测试技术中，一般通过人工抽样测试，通过定时器、计数器等装置，进行大量的试验获取接触器的电气寿命，该作业模式测试效率低且高度依赖人员操作和判定。


技术实现要素：

5.本技术的主要目的在于提供一种接触器的测试装置，以解决现有技术中接触器的电气寿命测试效率较低的问题。
6.为了实现上述目的，根据本技术的一个方面，提供了一种接触器的测试装置，包括：电子负载单元，用于与待测接触器电连接；数据采集单元，与所述电子负载单元电连接，所述数据采集单元用于采集所述电子负载单元的输出数据，所述输出数据包括输出电压以及输出电流；控制芯片，与所述电子负载单元以及所述数据采集单元分别电连接，所述控制芯片用于控制所述待测接触器的开关状态，接收所述输出数据，并将所述输出数据与所述待测接触器的标准数据进行比对，生成比对信息，所述比对信息包括用于表征所述待测接触器是否合格的信息。
7.进一步地，所述装置还包括：驱动单元，所述驱动单元的一端与所述控制芯片电连接，所述驱动单元的另一端用于与所述待测接触器电连接，所述控制芯片通过控制所述驱动单元的开启或者关闭，来控制所述待测接触器的开关状态。
8.进一步地，所述驱动单元包括晶体管。
9.进一步地，所述装置还包括：数据存储单元，与所述控制芯片电连接，所述数据存储单元用于存储所述控制芯片发送的所述输出数据以及所述比对信息。
10.进一步地，所述装置还包括：终端，与所述控制芯片电连接，所述终端用于获取所述标准数据，将所述标准数据发送至所述控制芯片，并控制所述控制芯片对所述待测接触器进行测试。
11.进一步地，所述比对信息还包括用于表征所述待测接触器的测试次数的信息，所述终端还用于接收所述比对信息并显示。
12.进一步地，所述装置还包括：测试平台，用于放置所述待测接触器。
13.进一步地，所述装置还包括：电源单元，至少与所述数据采集单元以及所述控制芯片分别电连接，所述电源单元用于至少为所述数据采集单元以及所述控制芯片供电。
14.应用本技术的技术方案，所述接触器的测试装置，包括：电子负载单元，用于与待测接触器电连接；数据采集单元，与所述电子负载单元电连接，所述数据采集单元用于采集所述电子负载单元的输出数据，所述输出数据包括输出电压以及输出电流；控制芯片，与所述电子负载单元以及所述数据采集单元分别电连接，所述控制芯片用于控制所述待测接触器的开关状态，接收所述输出数据，并将所述输出数据与所述待测接触器的标准数据进行比对，生成比对信息，所述比对信息包括用于表征所述待测接触器是否合格的信息。该接触器的测试装置，通过电子负载单元为待测接触器提供相应的负载电压和电流，通过数据采集单元采集电子负载单元的输出电压以及输出电流这些输出数据，通过控制芯片控制待测接触器的开关状态，并根据输出数据和标准数据，生成表征待测接触器是否合格的比对信息，实现了待测接触器在不同电压、电流下的寿命自动检测，保证了能够较高效较准确地测试接触器的电气寿命，从而解决了现有技术中接触器的电气寿命测试效率较低的问题。
附图说明
15.构成本技术的一部分的说明书附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
16.图1示出了根据本技术的一种的实施例的接触器测试装置的结构示意图；
17.图2示出了根据本技术的一种的实施例的接触器测试过程的流程图。
18.其中，上述附图包括以下附图标记：
19.11、驱动单元；12、测试平台；13、电子负载单元；14、数据存储单元；15、控制芯片；16、数据采集单元；17、终端；18、电源单元。
具体实施方式
20.应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本技术提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本技术所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。
21.需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本技术的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
22.应该理解的是，当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时，该元件可直接在该另一元件上，或者也可存在中间元件。而且，在说明书以及权利要求书中，当描述有元件“连接”至另一元件时，该元件可“直接连接”至该另一元件，或者通过第三元件“连接”至该另一元件。
23.正如背景技术所介绍的，现有技术中接触器的电气寿命测试效率较低，为了解决如上问题，本技术提出了一种接触器的测试装置。
24.本技术的一种典型的实施例中，如图1所示，提供了一种接触器的测试装置，包括：电子负载单元13，用于与待测接触器电连接；数据采集单元16，与上述电子负载单元13电连
接，上述数据采集单元16用于采集上述电子负载单元13的输出数据，上述输出数据包括输出电压以及输出电流；控制芯片15，与上述电子负载单元13以及上述数据采集单元16分别电连接，上述控制芯片15用于控制上述待测接触器的开关状态，接收上述输出数据，并将上述输出数据与上述待测接触器的标准数据进行比对，生成比对信息，上述比对信息包括用于表征上述待测接触器是否合格的信息。
25.上述接触器的测试装置，包括电子负载单元、数据采集单元和控制芯片，上述电子负载单元与待测接触器电连接；上述数据采集单元与上述电子负载单元电连接，用于采集上述电子负载单元的输出数据，上述输出数据包括输出电压以及输出电流；上述控制芯片与上述电子负载单元以及上述数据采集单元分别电连接，用于控制上述待测接触器的开关状态，接收上述输出数据，并将上述输出数据与上述待测接触器的标准数据进行比对，生成比对信息，上述比对信息包括用于表征上述待测接触器是否合格的信息。该接触器的测试装置，通过电子负载单元为待测接触器提供相应的负载电压和电流，通过数据采集单元采集电子负载单元的输出电压以及输出电流这些输出数据，通过控制芯片控制待测接触器的开关状态，并根据输出数据和标准数据，生成表征待测接触器是否合格的比对信息，实现了待测接触器在不同电压、电流下的寿命自动检测，保证了能够较高效较准确地测试接触器的电气寿命，从而解决了现有技术中接触器的电气寿命测试效率较低的问题。
26.在实际应用过程中，可以通过比较器来实现上述输出数据与上述待测接触器的标准数据的对比，并生成对比信息。当然，并不限于通过比较器来实现，还可以通过现有技术书中任何可以实现上述功能的设备来实现。
27.本技术的一种具体的实施例中，上述电子负载单元的电压为：0-1000v，电流为：0-500a，但上述电子负载单元的电压的大小并不限于0-1000v，电流的大小并不限于0-500a，可以为任何合适的电压和电流的大小。
28.本技术的又一种实施例中，如图1所示，上述装置还包括：驱动单元11，上述驱动单元11的一端与上述控制芯片15电连接，上述驱动单元11的另一端用于与上述待测接触器电连接，上述控制芯片15通过控制上述驱动单元11的开启或者关闭，来控制上述待测接触器的开关状态。在该实施例中，驱动单元11的一端与控制芯片15电连接，另一端与待测接触器电连接，后续控制芯片15通过控制驱动单元11的开启或者关闭，来控制待测接触器的开关状态，这样进一步地保证了上述控制芯片15能够较准确地对上述待测接触器的开关状态进行控制。
29.在实际应用过程中，上述驱动单元可以为驱动器，但不限于驱动器，可以为现有技术中任何合适的接触器驱动设备。
30.本技术的另一种实施例中，上述驱动单元包括晶体管。晶体管是一种单极型的半导体器件，在理论上晶体管的开关次数为无限制，进一步地保证了上述驱动单元的可靠性较高，进一步地解决了现有技术中接触器的电气寿命测试效率较低的问题。
31.一种具体的实施例中，上述晶体管为mos管。
32.本技术的再一种实施例中，如图1所示，上述装置还包括：数据存储单元14，与上述控制芯片15电连接，上述数据存储单元14用于存储上述控制芯片15发送的上述输出数据以及上述比对信息，这样避免了人工记录测试数据，进一步地保证了接触器的电气寿命测试效率较高。
33.在实际的应用过程中，上述数据存储单元为通用串行总线(universal serial bus，usb)储存端口，可以把输出数据以及对比信息以文本的格式保存在移动u盘中，当然，上述数据存储单元也可以连接到pc端。
34.本技术的一种具体的实施例中，上述数据存储单元可以为存储器，但不限于存储器，可以为任何合适的能够实现存储上述控制芯片发送的上述输出数据以及上述对比信息的设备。
35.本技术的一种实施例中，如图1所示，上述装置还包括：终端17，与上述控制芯片15电连接，上述终端17用于获取上述标准数据，将上述标准数据发送至上述控制芯片15，并控制上述控制芯片15对上述待测接触器进行测试。
36.本技术的一种具体的实施例中，上述终端为现有技术中任何的智能终端，如计算机、手机等，上述终端的操作界面用于设置和显示实验的参数，同时操作界面使用防触碰锁屏技术，用于避免在设备运行后，人员的误操作。
37.本技术的又一种实施例中，上述比对信息还包括用于表征上述待测接触器的测试次数的信息，上述终端还用于接收上述比对信息并显示，这样较为直观的显示上述待测接触器的测试次数，方便了测试人员查看。
38.本技术的另一种实施例中，如图1所示，上述装置还包括：测试平台12，用于放置上述待测接触器。
39.在实际应用过程中，上述测试平台包括接触器安装端口，使用相应绝缘材料和支架制作，最大可同时安装测试6个接触器。
40.本技术的再一种实施例中，如图1所示，上述装置还包括：电源单元18，至少与上述数据采集单元16以及上述控制芯片15分别电连接，上述电源单元18用于至少为上述数据采集单元16以及上述控制芯片15供电。
41.本技术的再一种实施例中，如图1所示，上述装置还包括：电源单元18，与上述数据采集单元16、上述控制芯片15、上述驱动单元11、上述数据存储单元14以及上述终端17分别电连接，上述电源单元18用于给上述数据采集单元16、上述控制芯片15、上述驱动单元11、上述数据存储单元14以及上述终端17供电。
42.为了使得本领域技术人员能够更加清楚地了解本技术的技术方案，以下将结合具体的实施例来说明。
43.实施例
44.如图2所示，将待测接触器正确安装在测试平台上，电子负载单元开启后，根据接触器测试要求，设置相应测试电子负载单元的电压和电流参数，接触器的测试装置接通电源后，通过终端，根据接触器相关测试指导文件，对测试参数进行设置，如电压、电流、功率、检测次数、电流偏离值判断等，作为测试判断标准值，返回终端，在按下启动按钮后，测试装置进入自动检测模式，开启防误触碰功能，控制芯片读取终端的数据和检测指令后，给驱动单元发出相应工作指令，驱动接触器进行相应的开启和断开，接触器接通后，数据采集单元通过对电子负载单元采集接触器的通断数据，包括：通断时的电压、电流、功率等数据，并将数据信息传递给控制芯片，控制芯片对接收到的数据信息进行分析、对比处理，如被检测接触器通断的电压、电流值与设定标准值相同或在误差范围内即为合格，未接通或数据不在范围内即为不合格，单次测试完成时，控制芯片将检测结果发给数据存储单元以及终端，数
据存储单元对检测数据进行存储，终端显示检测结果和检测次数(含预设次数)，数据储存和显示后，根据检测设置指令数据，控制芯片发出指令是否进入下一次检测循环周期，如已完成相应检测数量，装置结束检测，如被检测品接触器出现未接通、未断开或接通后电压、电流值偏出判断标准，控制芯片判断检测不合格，终端报警并显示故障信息，数据存储单元存储测试数据，并结束检测。如果是对多个接触器同时检测，则根据上述流程逐一对各接触器进行通断检测，但各接触器所测试的负载必须是相同型号，测试时分开记录各接触器检测数据，但其中一个接触器发生故障时装置会报警并停止检测，需要人工进行处理和复位。
45.从以上的描述中，可以看出，本技术上述的实施例实现了如下技术效果：
46.本技术的接触器的测试装置，包括：电子负载单元，用于与待测接触器电连接；数据采集单元，与上述电子负载单元电连接，上述数据采集单元用于采集上述电子负载单元的输出数据，上述输出数据包括输出电压以及输出电流；控制芯片，与上述电子负载单元以及上述数据采集单元分别电连接，上述控制芯片用于控制上述待测接触器的开关状态，接收上述输出数据，并将上述输出数据与上述待测接触器的标准数据进行比对，生成比对信息，上述比对信息包括用于表征上述待测接触器是否合格的信息。该接触器的测试装置，通过电子负载单元为待测接触器提供相应的负载电压和电流，通过数据采集单元采集电子负载单元的输出电压以及输出电流这些输出数据，通过控制芯片控制待测接触器的开关状态，并根据输出数据和标准数据，生成表征待测接触器是否合格的比对信息，实现了待测接触器在不同电压、电流下的寿命自动检测，保证了能够较高效较准确地测试接触器的电气寿命，从而解决了现有技术中接触器的电气寿命测试效率较低的问题。
47.以上上述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。