一种测量夹具的制作方法

1.本实用新型涉及测量技术领域，特别涉及一种测量夹具。


背景技术：

2.光纤面板作为一种应用在微光夜视的光学元件，它具有特殊的形状要求，如图1示出了几种常规的光纤面板外形结构。参见图4至图7，光纤面板是一种具有台阶状的产品，因此在产品加工过程和完成品检验时均需要对产品的台阶高度进行检测，如图中的x尺寸。
3.目前常用的对光纤面板台阶高度的测量方案是利用千分表进行测量，首先将产品放到测量平台上，将测量顶针放到台阶上，清零千分表，然后将测量顶针放到产品上表面，读取千分表数值即为台阶高度。
4.在上面的测量方案中，利用千分表测量顶针分别在光纤面板上取两点进行测量得出台阶高度，该方案操作起来较简单，但缺点是无法实现精确测量，受到取点位置的影响，采取不同点得出的测量结果存在一定的误差，尤其是当台阶面具有倾斜或者平面具有平行差时，测量结果将不具有准确性。


技术实现要素：

5.本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种测量夹具，提高对光纤面板的第二台阶高度测量的准确性。
6.本实用新型的第一方面实施例的测量夹具，包括：底座，具有第一凹槽，所述第一凹槽用于放置光纤面板，所述第一凹槽的深度小于所述光纤面板第一台阶的高度；表座，安装在所述底座上，所述表座具有第二凹槽，所述第二凹槽设置于所述表座的底部，所述表座的底面用于与第一台阶的端面接触；固定块，安装于所述表座上；以及测量装置，安装于所述固定块上，所述测量装置用于测量所述端面与所述光纤面板的顶面之间高度。
7.在进一步的实施例中，所述底座具有第三凹槽，所述第三凹槽用于放置所述表座，所述表座与所述第三凹槽为间隙配合。
8.在进一步的实施例中，所述底座的侧面设置有缺口，所述表座的侧面安装有定位光轴，所述缺口与所述定位光轴匹配。
9.在进一步的实施例中，所述缺口的数量为多个，多个所述缺口均匀分布在所述底座的侧面。
10.在进一步的实施例中，所述缺口的数量为三个，三个所述缺口呈120
°
分布在所述底座的侧面。
11.在进一步的实施例中，所述测量装置包括千分表，所述千分表具有测量顶针，所述测量顶针与所述光纤面板的顶面接触。
12.在进一步的实施例中，所述固定块偏心设置于所述表座上。
13.在进一步的实施例中，所述底座设置有沉头孔。
14.本实用新型实施例的测量夹具，至少具有如下有益效果：测量前对测量装置进行
归零设置。测量时，把光纤面板放置在第一凹槽上，将表座的底部卡在光纤面板的第一台阶的端面上，再计算测量装置至光纤面板顶面的距离，进而得出第一台阶的端面与光纤面板顶面之间的高度，即得出光纤面板的第二台阶的高度。表座的底面卡在光纤面板的第一台阶的端面上，第二台阶凸起部分被第二凹槽容纳，使表座对光纤面板的第一台阶的端面实现了环形定位，避免了因测量点不同而造成的误差问题，进而提高了光纤面板的第二台阶高度测量的准确性。
15.本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
16.下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步的说明，其中：
17.图1为本实用新型实施例中测量夹具的整体示意图；
18.图2为图1的剖视示意图；
19.图3为本实用新型实施例中千分表归零示意图；
20.图4为本实用新型中光纤面板的结构示意图；
21.图5为图4的俯视示意图；
22.图6为本实用新型中另一光纤面板的结构示意图；
23.图7为图6的俯视示意图。
24.附图标记：
25.光纤面板1，底座11，表座12，固定块13，千分表14，缺口111，定位光轴121，测量顶针141，第一凹槽100，第二凹槽200，沉头孔300，顶面101，端面102，第一台阶1a，第二台阶1b。
具体实施方式
26.下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。
27.在本实用新型的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
28.在本实用新型的描述中，若干的含义是一个以上，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
29.本实用新型的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型中的具体含义。
30.本实用新型的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
31.参见图1至图3，本实用新型实施例的测量夹具，包括底座11、表座12、固定块13以及测量装置。
32.具体的，底座11具有第一凹槽100，第一凹槽100用于放置光纤面板1，第一凹槽100的深度小于光纤面板1第一台阶1a的高度；表座12安装在底座11上，表座12具有第二凹槽200，第二凹槽200设置于表座12的底部，表座12的底面用于与第一台阶1a的端面102接触；固定块13安装于表座12上；以及测量装置安装于固定块13上，测量装置用于测量光纤面板1第一台阶1a的端面102与光纤面板1的顶面101之间的高度。
33.需要指出的是，第一台阶高度指的是光纤面板1底面与第一台阶1a端面之间的高度差；第一台阶高度指的是第一台阶1a端面与光纤面板1顶面101之间的高度差。图4至图7示出了两种常见的光纤面板1的结构形式，本实用新型的测量夹具的适用范围包括但不限于附图所示出的结构形式。
34.测量前，对测量装置进行归零设置。测量时，把光纤面板1放置在第一凹槽100上，将表座12的底部卡在光纤面板1的第一台阶1a的端面102上，再通过测量装置测量光纤面板1的第一台阶1a的端面102与光纤面板1顶面101之间的高度，进而得出光纤面板1的第一台阶1b的高度。由于表座12的底部的第二凹槽200卡在光纤面板1的第一台阶1a的端面102上，对光纤面板1采用了环形定位的方式，解决了因测量点不同而造成的误差问题，提高了光纤面板1的第一台阶1b高度测量的准确性。由于底座11及第一凹槽100的设置，测量时只需将光纤面板1放入到第一凹槽100中，便可对光纤面板1进行多次取点测量，避免了光纤面板1表面破损或划伤。
35.在本实施例中，底座11和表座12为圆柱状，表座12的轴线与底座11的轴线重合。
36.在一种可能的实施方式中，测量装置包括千分表14，千分表14具有测量顶针141，测量顶针141与光纤面板1的顶面101接触。千分表14通过固定块13上的锁紧螺丝固定，固定块13的外表面设置有锥形螺纹孔，固定块13通过锥形螺纹孔固定到表座12上。测量时，先对千分表14进行归零设置，如图3所示。然后将测量顶针141调整至与光纤面板1的顶面101接触，然后从千分表14上的数据即为需要测量的第一台阶1b的高度。
37.在一种可能的实施方式中，固定块13偏心设置于表座12上，如图1和图2所示。为了减小测量误差，需要在光纤面板1上选取多个测量点进行测量。将固定块13设置为偏心设置于表座12上，当需要改变测量点时，只需将表座12取出并转动一定的角度后再安装到底座11上，使用千分表14进行测量，以提高测量效率和准确性。
38.在一种可能的实施方式中，底座11具有第三凹槽，第三凹槽用于放置表座12，表座12与第三凹槽为间隙配合。在加工底座11的第三凹槽及表座12的外径时，按表座12的外径与第三凹槽的内径为间隙配合的要求进行加工，以使表座12在底座11上顺利滑动，同时保证表座12的定位精度，避免对测量造成误差。
39.在一种可能的实施方式中，底座11的侧面设置有缺口111，表座12的侧面安装有定
位光轴121，缺口111与定位光轴121匹配。其中，缺口111的长度方向与底座11的轴线方向重合，定位光轴121安装在表座12的侧面向表座12的径向方向延伸，定位光轴121与表座12的轴线方向在同一平面上。在实际测量中，利用缺口111与定位光轴121的配合定位，确保在表座12沿第三凹槽移动过程中，表座12的轴线方向始终与底座11的轴线方向一致，进而确保了测量夹具的测量精度。
40.在一种可能的实施方式中，缺口111的数量为多个，多个缺口111均匀分布在底座11的侧面。测量时，定位光轴121置于其中的一个缺口111中，然后对光纤面板1进行测量。测量完毕后，将表座12、固定块13及千分表14从底座11的第一凹槽100上整体取出，然后转动表座12，使定位光轴121对准另一缺口111，然后将表座12、固定块13及千分表14整体放入底座11的第一凹槽100中，然后对光纤面板1的高度进行测量。重复上述步骤，得出多个测量点的高度，然后再对测量数据进行整理，以减小测量误差。
41.在本实施例中，缺口111的数量为三个，三个缺口111呈120
°
分布在底座11的侧面。通过定位光轴121与底座11的三个缺口111分别配合实现定位，加成对光纤面板1的顶面101的三个间隔120
°
的测量点的测量。由于测量点在光纤面板1的顶面101上呈120
°
分布，减少了因测量点的选取对测量结果造成的影响。
42.在一种可能的实施方式中，底座11设置有沉头孔300。其中，该沉头孔300为柱形沉头孔300，在底座11上设置沉头孔300，方便将底座11固定到桌面或者测量座上，实现测量夹具的安装。
43.下面参见图1至图3以一个具体的实施例详细描述根据本实用新型实施例的测量夹具。值得理解的是，下述描述仅是示例性说明，而不是对实用新型的具体限制。
44.测量光纤面板的第一台阶1b的高度的步骤包括：
45.参照图3，首先确定千分表14的零点位置，拿取平面样板与表座12底部接触，使两者保持紧密接触，然后对千分表14进行归零，此时完成了千分表14的测量原点位置的确定；
46.将需要测量的光纤面板1放入底座11的第一凹槽100内，手持夹具测量部分，即包括表座12、固定块13、千分表14及定位光轴121，将夹具测量部分放入底座11的第三凹槽处，注意使定位光轴121和底座11上的缺口111上滑入，当表座12和光纤面板1的第一台阶1a的端面102完全接触时，保持表座12和光纤面板1的第一台阶1a的端面102紧密接触，此时测量顶针141和光纤面板1的顶面101完全接触，读取千分表上的数值即为光纤面板1的第一台阶1b高度。
47.拿出夹具测量部分，重复上述操作，同时也将定位光轴121和底座11的其他两个缺口111配合，完成对光纤面板1顶面101第二个测量点及第三个测量点的测量后，即完成产品的测量。
48.上面结合附图对本实用新型实施例作了详细说明，但是本实用新型不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下作出各种变化。此外，在不冲突的情况下，本实用新型的实施例及实施例中的特征可以相互组合。