一种测试座防插错装置的制作方法

1.本实用新型涉及一种测试座，具体为一种测试座防插错装置。


背景技术：

2.现有插头设计每一站都是相同，拔插插头后还原靠人为控制，且插错后无法识别，导致信号交叉，从而发生测试逃逸现象，给公司带来不可估量的损失。
3.cn 207181462 u公开了一种元器件测试站防错装置，包括安装在测试站平台上的固定块，固定块呈长条形，还包括定位器，所述的定位器下表面上设置有与固定块匹配的定位槽，固定块头部设置有突出于固定块本体的插头，插头插入测试站测试工装内。有效保证检测结构的安装到位，有效保证接口的贴合安装，防止出错。但是，在使用时，四个测试工位同一种焊接方式，不同工位之间没有区分开，插错后无法区分。


技术实现要素：

4.本实用新型要解决的技术问题是提供一种能够避免插头插错后测试交叉导致测试逃逸的装置。
5.为了解决以上技术问题，本实用新型提供一种测试座防插错装置，包括底座，底座上通过支柱设置测试针安装座，测试针安装座上设置测试针，测试针上设置定位盖板，支柱上还设有连线插头；不同的测试针通过测试针连接线转接到不同的连线插头上，防止插错。
6.进一步的，测试针上方设置吹气清洁装置。
7.进一步的，通过安装板将连线插头设置在支柱前方，安装板设置在支柱上部。
8.进一步的，测试针与双排25针连线插头连接。
9.进一步的，测试针与双排37针连线插头连接。
10.进一步的，测试针与双排50针连线插头连接。
11.进一步的，测试针与双排62针连线插头连接。
12.相对于现有技术，本实用新型的有益效果如下：
13.1、本实用新型不同的工位之间使用不同的焊接方式，进行错开焊接，防止了插错后无法识别的问题，解决了测试交叉导致逃逸问题。
14.2、本实用新型通过吹气清洁装置避免灰尘掉落在针头上引起接触问题，确保测试针的清洁度。
附图说明
15.图1为本实用新型结构示意图。
16.图2为本实用新型8组测试针俯视图。
17.图3为本实用新型双排25/37/50/62针插头示意图。
18.图中，2.支柱，3.吹气清洁装置，4.定位盖板，5.测试针，6.测试针安装座，7.测试针连接线，8.连线插头，9.底座，10.安装板。
具体实施方式
19.下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。
20.如图1所示，一种测试座防插错装置，包括底座9，底座9上通过支柱2设置测试针安装座6，测试针安装座6上设置测试针5，测试针5上设置定位盖板4，测试针 5上方设置吹气清洁装置3。吹气清洁装置3通过支架安装在支柱2上。支柱2上还设有连线插头8；8组测试针5通过测试针连接线7转接到双排25/37/50/62针连线插头8 上，防止插错。通过安装板10将连线插头8设置在支柱2前方，安装板10设置在支柱 2上部。
21.如图2-3所示，四个测试工位插头错开焊接，防止插错，避免测试交叉导致逃逸。
22.工作原理：8组测试针通过测试针连接线7转接到双排25/37/50/62针连线插头8 上。使用不同的双排接口,解决了测试交叉导致逃逸问题。


技术特征：
1.一种测试座防插错装置，包括底座（9），其特征在于：所述底座（9）上通过支柱（2）设置测试针安装座（6），所述测试针安装座（6）上设置测试针（5），所述测试针（5）上设置定位盖板（4），所述支柱（2）上还设有连线插头（8）；不同的所述测试针（5）通过测试针连接线（7）转接到不同的连线插头（8）上。2.按照权利要求1所述的一种测试座防插错装置，其特征在于：所述测试针（5）上方设置吹气清洁装置（3）。3.按照权利要求1所述的一种测试座防插错装置，其特征在于：通过安装板（10）将所述连线插头（8）设置在支柱（2）前方。4.按照权利要求3所述的一种测试座防插错装置，其特征在于：所述安装板（10）设置在支柱（2）上部。5.按照权利要求1所述的一种测试座防插错装置，其特征在于：所述测试针（5）与双排25针连线插头（8）连接。6.按照权利要求1所述的一种测试座防插错装置，其特征在于：所述测试针（5）与双排37针连线插头（8）连接。7.按照权利要求1所述的一种测试座防插错装置，其特征在于：所述测试针（5）与双排50针连线插头（8）连接。8.按照权利要求1所述的一种测试座防插错装置，其特征在于：所述测试针（5）与双排62针连线插头（8）连接。

技术总结
本实用新型公开了一种测试座防插错装置，包括底座（9），底座（9）上通过支柱（2）设置测试针安装座（6），测试针安装座（6）上设置测试针（5），测试针（5）上设置定位盖板（4），支柱（2）上还设有连线插头（8）；测试针（5）通过测试针连接线（7）转接到连线插头（8）上，不同工位之间错开连接。本实用新型不同的工位之间使用不同的焊接方式，进行错开焊接，防止了插错后无法识别的问题，解决了测试交叉导致逃逸问题。解决了测试交叉导致逃逸问题。解决了测试交叉导致逃逸问题。


技术研发人员：杨建 晏长春 任文豪 马勇 曹小松 丁长峰 卢登辉
受保护的技术使用者：江苏捷捷微电子股份有限公司
技术研发日：2021.07.30
技术公布日：2022/4/1