一种半导体集成电路测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及电子的技术领域，特别是涉及一种半导体集成电路测试装置。


背景技术：

2.半导体集成电路是指在一个半导体衬底上至少有一个电路块的半导体集成电路装置；半导体集成电路是将晶体管，二极管等有源元件和电阻器，电容器等无源元件，按照一定的电路互联，“集成”在一块半导体单晶片上，从而完成特定的电路或者系统功能。
3.现有的半导体集成电路测试时采用人工安装的方式将电路板安装在测试装置上，逐个对电路板进行测试，单个测试电路板时间较长，工人安装后需等待一段时间，再对下一个电路板进行测试，这就浪费了大量的时间，并且人工测试费时费力，提高了人工成本。


技术实现要素：

4.为解决上述技术问题，本实用新型提供一种实现了测试自动化，提高了工作效率，降低了人工成本的半导体集成电路测试装置。
5.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，包括输送流水线、支撑板、连接板、第一支柱、第二滑块、第一活塞、第一气缸、测试组件、第一齿轮、第二齿轮、电机、电机支板、第二气缸、第二活塞和盖子，两组支撑板均位于输送流水线右部下方，两组支撑板通过多组连接板前后连接，多组第一支柱顶端分别与两组支撑板底端连接，两组支撑板顶端均设置有第一滑槽，两组第二滑块底端分别与两组第一滑槽滑动连接，两组第一活塞右端分别与两组第二滑块左端连接，两组第一活塞左部输入端分别与两组第一气缸右部输出端连接，两组第一气缸底端均与支撑板左部顶端连接，测试组件前后两端均设置有轴，两组轴分别与两组第二滑块可转动连接，前侧的轴前端与第一齿轮后端连接，第一齿轮右端与第二齿轮左端啮合，第二齿轮前端与电机后部输出端连接，电机底端与电机支板顶端连接，电机支板后端与前侧的第二滑块前端连接，测试组件上下两端均设置有多组电路板放置槽，四组第二气缸右端均与测试组件左端连接，四组第二气缸右部输出端分别与四组第二活塞左部输入端连接，四组第二活塞右端分别与两组盖子连接，第二活塞上下两端分别设置有两组第二滑槽，两组盖子上分别设置有两组第一滑块，两组盖子分别与测试组件上下两端滑动连接，两组盖子上均设置有连接组件。
6.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，其中一组连接组件包括电路连接压板、连杆、推板、第三活塞和第三气缸，盖子底端设置有多组凹槽，每组凹槽与每组电路板放置槽相对应，每组凹槽顶端均设置有两组通孔，每组通孔上滑动安装有连杆，每组连杆底端分别与每组电路连接压板顶端连接，电路连接压板位于凹槽内部，多组连杆顶端均与推板底端连接，两组第三活塞顶端均与推板底端连接，两组第三活塞底部输入端分别与两组第三气缸顶部输出端连接。
7.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，电机支板底端设置有加强筋，加强筋后端设置有第三滑块，前侧的支撑板前端设置有第三滑槽，加强筋与前侧的支撑板滑动
连接。
8.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，还包括收集箱，收集箱放置在测试组件下方。
9.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，收集箱前后两端均设置有把手。
10.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，还包括第二支柱和斜板，四组第二支柱顶端与斜板底端连接，斜板位于测试组件下方、收集箱右侧。
11.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，斜板前后两端均设置有挡板。
12.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，还包括螺杆和柱脚，多组第一支柱底端均设置有螺纹槽，多组螺杆顶端分别螺装在螺纹槽里，多组螺杆底端分别与多组柱脚顶端可转动连接。
13.与现有技术相比本实用新型的有益效果为：电路板完成后经过输送流水线向右移动运输，启动上方的两组第二气缸，使两组第二活塞向右伸出打开上方的盖子，启动两组第一气缸，两组第一活塞带动测试组件逐步向右移动，使电路板逐个掉落到多组电路板放置槽内部，电路板放置槽内部均放置有电路板后，启动上方的两组第二气缸，使两组第二活塞向左缩回关闭上方的盖子，启动电机，电机通过第二齿轮和第一齿轮带动测试组件转动，测试组件翻面后，测试组件对下方的多组电路板进行测试，测试组件上方继续收集电路板，下方电路板测试完成后，打开下方的盖子，使电路板自然掉落即可，提高了工作效率，降低了人工成本。
附图说明
14.图1是本实用新型的主视图；
15.图2是本实用新型的左视图；
16.图3是图1中盖子与推板等连接的放大结构示意图；
17.图4是盖子打开时的俯视放大图；
18.附图中标记：1、输送流水线；2、支撑板；3、连接板；4、第一支柱；5、第一滑槽；6、第二滑块；7、第一活塞；8、第一气缸；9、测试组件；10、轴；11、第一齿轮；12、第二齿轮；13、电机；14、电机支板；15、电路板放置槽；16、第二气缸；17、第二活塞；18、盖子；19、第二滑槽；20、凹槽；21、电路连接压板；22、连杆；23、推板；24、第三活塞；25、第三气缸；26、加强筋；27、第三滑块；28、第三滑槽；29、收集箱；30、把手；31、第二支柱；32、斜板；33、挡板；34、螺杆；35、柱脚。
具体实施方式
19.下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。
20.如图1至图4所示，本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，包括输送流水线1、支撑板2、连接板3、第一支柱4、第二滑块6、第一活塞7、第一气缸8、测试组件9、第一齿轮11、第二齿轮12、电机13、电机支板14、第二气缸16、第二活塞17和盖子18，两组支撑板2均位于输送流水线1右部下方，两组支撑板2通过多组连接板3前后连接，多组第一支柱4顶端分别与两组支撑板2底端连接，两组支撑板2顶端均设置有第一滑槽5，两组第二滑块6底端分
别与两组第一滑槽5滑动连接，两组第一活塞7右端分别与两组第二滑块6左端连接，两组第一活塞7左部输入端分别与两组第一气缸8右部输出端连接，两组第一气缸8底端均与支撑板2左部顶端连接，测试组件9前后两端均设置有轴10，两组轴10分别与两组第二滑块6可转动连接，前侧的轴10前端与第一齿轮11后端连接，第一齿轮11右端与第二齿轮12左端啮合，第二齿轮12前端与电机13后部输出端连接，电机13底端与电机支板14顶端连接，电机支板14后端与前侧的第二滑块6前端连接，测试组件9上下两端均设置有多组电路板放置槽15，四组第二气缸16右端均与测试组件9左端连接，四组第二气缸16右部输出端分别与四组第二活塞17左部输入端连接，四组第二活塞17右端分别与两组盖子18连接，第二活塞17上下两端分别设置有两组第二滑槽19，两组盖子18上分别设置有两组第一滑块，两组盖子18分别与测试组件9上下两端滑动连接，两组盖子18上均设置有连接组件；电路板完成后经过输送流水线1向右移动运输，启动上方的两组第二气缸16，使两组第二活塞17向右伸出打开上方的盖子18，启动两组第一气缸8，两组第一活塞7带动测试组件9逐步向右移动，使电路板逐个掉落到多组电路板放置槽15内部，电路板放置槽15内部均放置有电路板后，启动上方的两组第二气缸16，使两组第二活塞17向左缩回关闭上方的盖子18，启动电机13，电机13通过第二齿轮12和第一齿轮11带动测试组件9转动，测试组件9翻面后，测试组件9对下方的多组电路板进行测试，测试组件9上方继续收集电路板，下方电路板测试完成后，打开下方的盖子18，使电路板自然掉落即可，提高了工作效率，降低了人工成本。
21.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，其中一组连接组件包括电路连接压板21、连杆22、推板23、第三活塞24和第三气缸25，盖子18底端设置有多组凹槽20，每组凹槽20与每组电路板放置槽15相对应，每组凹槽20顶端均设置有两组通孔，每组通孔上滑动安装有连杆22，每组连杆22底端分别与每组电路连接压板21顶端连接，电路连接压板21位于凹槽20内部，多组连杆22顶端均与推板23底端连接，两组第三活塞24顶端均与推板23底端连接，两组第三活塞24底部输入端分别与两组第三气缸25顶部输出端连接；启动两组第三气缸25，两组第三活塞24向上伸出推动推板23向上，推板23通过连杆22带动电路连接压板21缩回凹槽20内部即可打开盖子18，盖子18关闭后，两组第三活塞24回缩带动推板23向下移动，推板23通过连杆22带动电路连接压板21向下移动压紧电路板并与电路板电性连接，此装置实现了电路板的自动连接，结构简单可靠，提高了工作效率。
22.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，电机支板14底端设置有加强筋26，加强筋26后端设置有第三滑块27，前侧的支撑板2前端设置有第三滑槽28，加强筋26与前侧的支撑板2滑动连接；通过设置加强筋26增加了电机支板14的强度，提高了安全性。
23.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，还包括收集箱29，收集箱29放置在测试组件9下方；收集箱29对测试完毕的电路板进行收集，提高了实用性。
24.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，收集箱29前后两端均设置有把手30；通过设置把手30方便收集箱29的移动和运输，提高了收集箱29的移动性。
25.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，还包括第二支柱31和斜板32，四组第二支柱31顶端与斜板32底端连接，斜板32位于测试组件9下方、收集箱29右侧；第二支柱31对斜板32起支撑作用，电路板掉落在斜板32顶端，从斜板32顶端滑落进收集箱29内部，防止电路板直接掉落进收集箱29内部而摔坏，提高了安全性。
26.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，斜板32前后两端均设置有挡板33；
通过设置挡板33防止电路板从斜板32的前后两侧滑落，提高了安全性。
27.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，还包括螺杆34和柱脚35，多组第一支柱4底端均设置有螺纹槽，多组螺杆34顶端分别螺装在螺纹槽里，多组螺杆34底端分别与多组柱脚35顶端可转动连接；转动多组螺杆34使多组柱脚35均匀支撑地面，提高了设备的稳定性。
28.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，其在工作时，电路板完成后经过输送流水线1向右移动运输，启动上方的两组第二气缸16，使两组第二活塞17向右伸出打开上方的盖子18，启动两组第一气缸8，两组第一活塞7带动测试组件9逐步向右移动，使电路板逐个掉落到多组电路板放置槽15内部，电路板放置槽15内部均放置有电路板后，启动上方的两组第二气缸16，使两组第二活塞17向左缩回关闭上方的盖子18，启动两组第三气缸25，两组第三活塞24回缩带动推板23向下移动，推板23通过连杆22带动电路连接压板21向下移动压紧电路板并与电路板电性连接，启动电机13，电机13通过第二齿轮12和第一齿轮11带动测试组件9转动，测试组件9翻面后，测试组件9对下方的多组电路板进行测试，测试组件9上方继续收集电路板，下方电路板测试完成后，启动两组第三气缸25，两组第三活塞24向上伸出推动推板23向上，推板23通过连杆22带动电路连接压板21缩回凹槽20内部，打开下方的盖子18，电路板掉落到斜板32顶端，然后从斜板32顶端滑落进收集箱29内部，提高了工作效率，降低了人工成本。
29.本实用新型的一种半导体集成电路测试装置，其安装方式、连接方式或设置方式均为常见机械方式，只要能够达成其有益效果的均可进行实施；本实用新型的一种半导体集成电路测试装置的电机13为市面上采购，本行业内技术人员只需按照其附带的使用说明书进行安装和操作即可。
30.以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。