技术特征：
1.一种模拟集成电路测试仪，包括测试仪本体(11)，所述测试仪本体(11)顶端设置有显示器(12)，所述测试仪本体(11)内部设置有插口，所述插口顶端设置有第一限位环(13)，其特征在于：所述第一限位环(13)内壁开设有两个呈对称分布的滑槽(14)，两个所述滑槽(14)内壁均滑动有第二限位环(16)，两个所述第二限位环(16)底端均固定有拉簧(15)，两个所述第二限位环(16)均通过拉簧(15)与测试仪本体(11)固定，两个所述第二限位环(16)相对的两端均设置有第一卡块(18)，两个所述第一卡块(18)相背离的两端均固定有横杆(19)，两个所述第一卡块(18)相对的两端均固定有第二卡块(21)，两个所述横杆(19)相背离的两端均开设有螺纹(22)，两个所述横杆(19)相背离的两端均插入第二限位环(16)内部，两个所述第二限位环(16)内部均设置有螺栓(17)，两个所述第二限位环(16)均通过螺栓(17)与横杆(19)固定。2.根据权利要求1所述的一种模拟集成电路测试仪，其特征在于：所述第一卡块(18)呈环形状，且两个第一卡块(18)合并后呈圆形状。3.根据权利要求1所述的一种模拟集成电路测试仪，其特征在于：所述第二卡块(21)呈楔形状，且第二卡块(21)为具有弹性的橡胶材质。4.根据权利要求1所述的一种模拟集成电路测试仪，其特征在于：两个所述横杆(19)底端均设置有等距均匀的滚轮(20)。5.根据权利要求1所述的一种模拟集成电路测试仪，其特征在于：所述显示器(12)内部设置有挡板(24)，所述挡板(24)顶端固定有第二磁石(25)，所述显示器(12)内壁顶端固定有与第二磁石(25)吸附的第一磁石(23)。6.根据权利要求5所述的一种模拟集成电路测试仪，其特征在于：所述挡板(24)内部设置有轴承(26)，所述挡板(24)通过轴承(26)与显示器(12)内壁固定，所述轴承(26)内部设置有扭簧。
技术总结
本实用新型涉及电路测试设备技术领域，且公开了一种模拟集成电路测试仪，包括测试仪本体，测试仪本体顶端设置有显示器，测试仪本体内部设置有插口，插口顶端设置有第一限位环，第一限位环内壁开设有两个呈对称分布的滑槽。本实用新型中，第一卡块的限位插入测试仪本体的插口内部，此时通过转动螺栓使两个第一卡块向相对的方向移动，此时通过拉簧的弹力使插头插入插口内，从而将插头进行固定，防止插头因误触或误触等不可抗力出现脱落现象，第二卡块的橡胶材质起到保护插头的效果，通过这样的方式，防止插头的连接松动导致的接触不良，从而影响测试结果，相对传统的方式，该设备保证了使用时的稳定性，且测量结果更加精准。且测量结果更加精准。且测量结果更加精准。
技术研发人员：刘凯
受保护的技术使用者：长春市华凯自动化设备有限公司
技术研发日：2021.08.31
技术公布日：2022/1/14