一种基于环境气候的测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及测量技术领域，具体涉及一种基于环境气候的测试装置。


背景技术：

2.所有电子设备产品在研发过程当中，都要经过严格的环境可靠性测试，包括高温、低温、温度循环、高温高湿等气候条件测试。传统测试依赖测试人员的手动调节操作测试模拟不同的气候环境，在不同的模拟气候条件下对电子产品进行各种常规及异常操作，以达到检验产品在严苛的气候条件下工作可靠性目的。这期间需要长期占用测试人员，并且依赖于手动重复操作，测试效率低下且测试强调受限。


技术实现要素：

3.针对现有技术的缺陷，本实用新型提供一种基于环境气候的测试装置，具体地：
4.一种基于环境气候的测试装置，其特征在于：包括，
5.控制单元，由至少一个开关形成，所述控制单元用以形成一控制信号；
6.处理单元，连接所述控制单元，包括处理器，与所述处理器连接的选择单元，所述处理单元用以根据所述控制信号形成一处理信号输出；
7.试验单元，连接所述处理单元，用以根据所述处理信号形成与所述处理信号匹配的试验环境。
8.优选地，上述的一种基于环境气候的测试装置，其中：所述处理器由第一芯片形成，所述第一芯片包括至少四个输入引脚和八个输出引脚。
9.优选地，上述的一种基于环境气候的测试装置，其中：所述控制单元由四个开关形成，第一开关连接于公共地与第一芯片的第一输入引脚之间，第二开关连接于公共地与第一芯片的第二输入引脚之间，第三开关连接于公共地与第一芯片的第三输入引脚之间，第四开关连接于公共地与第一芯片的第四输入引脚之间。
10.优选地，上述的一种基于环境气候的测试装置，其中：所述选择单元包括十二个传输门和十二个非门电路，第一非门的输入端形成所述选择单元的第一输入端，第二非门的输入端形成所述选择单元的第二输入端，第三非门的输入端形成所述选择单元的第三输入端，第四非门的输入端形成所述选择单元的第四输入端，第五非门的输入端形成所述选择单元的第五输入端，第六非门的输入端形成所述选择单元的第六输入端，第七非门的输入端形成所述选择单元的第七输入端，第八非门的输入端形成所述选择单元的第八输入端，所述第一非门输出端连接第一传输门的输入端，所述第二非门输出端连接第二传输门的输入端，所述第三非门输出端连接第三传输门的输入端，所述第四非门输出端连接第四传输门的输入端，所述第五非门输出端连接第五传输门的输入端，所述第六非门输出端连接第六传输门的输入端，所述第七非门输出端连接第七传输门的输入端，所述第八非门输出端连接第八传输门的输入端。
11.优选地，上述的一种基于环境气候的测试装置，其中：还包括紧急电路，所述紧急
电路连接于所述选择单元的第一输出端和第二输出端与所述试验单元之间。
12.优选地，上述的一种基于环境气候的测试装置，其中：所述紧急电路包括第十三非门和第十四非门、第一与非门、第二与非门；所述选择单元的第一输出端、第十三非门分别连接所述第一与非门的输入端；所述选择单元的第二输出端、第十四非门分别连接所述第二与非门的输入端。
13.优选地，上述的一种基于环境气候的测试装置，其中：所述第一芯片由n87c51单片机形成。
14.优选地，上述的一种基于环境气候的测试装置，其中：所述第一芯片由n87c44单片机形成。
15.与现有技术相比，本实用新型的优点是：
16.一种基于环境气候的测试装置，控制单元输入不同的控制信号，通过该控制信号使得试验单元形成不同的试验环境，例如，控制试验环境为高温、低温、温度循环、高温高湿等环境，测试仪表用以显示当前试验环境中被测产品的状态。此种测试装置适应大部分电子产品开发过程中对环境气候的验证要求。可以实现在不同模拟气候条件下的常规性能、上下电、设备功耗、端口up/down操作、性能压力等测试的自动化，并且可以灵活编辑测试项目及测试条件，自动化生成测试报告，大大提高环境可靠性，另外通过第一芯片缓存功能，可以存储输入的控制信号，保障在无人值守的情况下测试效率。
附图说明
17.图1为本实用新型提供的一种基于环境气候的测试装置结构示意图。
具体实施方式
18.如图1所示，一种基于环境气候的测试装置，其特征在于：包括，
19.控制单元，由至少一个开关形成，所述控制单元用以形成一控制信号；所述控制单元由四个开关形成，第一开关s1、第二开关s2、第三开关s3、第四开关s4，所述第一开关s1、第二开关s2、第三开关s3、第四开关s4 的一端均连接公共地，
20.处理单元，连接所述控制单元，包括处理器，与所述处理器连接的选择单元，所述处理单元用以根据所述控制信号形成一处理信号输出；进一步地，所述处理器由第一芯片形成，所述第一芯片包括至少四个输入引脚和八个输出引脚。所述第一芯片可由n87c51单片机形成，也可由n87c44 单片机行形成。四个输入引脚可由第一芯片的十五引脚、十四引脚、十三引脚和11引脚形成，所述第一芯片的十五引脚连接所述第一开关的另一端，所述第一芯片的十四引脚连接所述第二开关的另一端，所述第一芯片的十三引脚连接所述第三开关的另一端，所述第一芯片的十一引脚连接所述第四开关的另一端。所述第一芯片的第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚、第九引脚形成所述处理器的输出引脚。所述选择单元包括第一输入端、第二输入端、第三输入端、第四输入端、第五输入端、第六输入端、第七输入端和第八输入端，其中，所述选择单元的第一输入端连接所述第一芯片的第二引脚，所述选择单元的第二输入端连接所述第一芯片的第三引脚，所述选择单元的第三输入端连接所述第一芯片的第四引脚，所述选择单元的第四输入端连接所述第一芯片的第五引脚，所述选择单元的第五输入端连接所述第一芯片的第六引脚，所
述选择单元的第六输入端连接所述第一芯片的第七引脚，所述选择单元的第七输入端连接所述第一芯片的第八引脚，所述选择单元的第八输入端连接所述第一芯片的第九引脚。所述第一芯片还可具有缓存功能。
21.进一步地，所述选择单元包括十二个传输门和十二个非门电路，第一非门f1的输入端形成所述选择单元的第一输入端，第二非门f2的输入端形成所述选择单元的第二输入端，第三非门f3的输入端形成所述选择单元的第三输入端，第四非门f4的输入端形成所述选择单元的第四输入端，第五非门f5的输入端形成所述选择单元的第五输入端，第六非门f6的输入端形成所述选择单元的第六输入端，第七非门f7的输入端形成所述选择单元的第七输入端，第八非门f8的输入端形成所述选择单元的第八输入端，所述第一非门f1输出端连接第一传输门tg1的输入端，所述第二非门f2输出端连接第二传输门tg2的输入端，所述第三非门f3输出端连接第三传输门tg3的输入端，所述第四非门f4输出端连接第四传输门tg4 的输入端，所述第五非门f5输出端连接第五传输门tg5的输入端，所述第六非门f6输出端连接第六传输门tg6的输入端，所述第七非门f7输出端连接第七传输门tg7的输入端，所述第八非门f8输出端连接第八传输门tg8的输入端。
22.试验单元，连接所述处理单元，用以连接被测产品，根据所述处理信号形成与所述处理信号匹配的试验环境以测试被测产品。
23.测试仪表，连接所述试验单元，用以显示当前试验环境中被测产品的状态。
24.上述的一种基于环境气候的测试装置，通过控制单元输入不同的控制信号，通过该控制信号使得试验单元形成不同的试验环境，例如控制试验环境为高温、低温、温度循环、高温高湿等环境，测试仪表用以显示当前试验环境中被测产品的状态。此种测试装置适应大部分电子产品开发过程中对环境气候的验证要求。可以实现在不同模拟气候条件下的常规性能、上下电、设备功耗、端口up/down操作、性能压力等测试的自动化，并且可以灵活编辑测试项目及测试条件，自动化生成测试报告，大大提高环境可靠性在无人值守的情况下测试效率。是一种灵活的、完整的、高效高强度的环境气候可靠性测试装置。
25.作为进一步优选实施方案，上述的一种基于环境气候的测试装置，其中：所述紧急电路包括第十三非门f13和第十四非门f14、第一与非门y1、第二与非门y2；所述选择单元的第一输出端、第十三非门f13分别连接所述第一与非门y1的输入端；所述选择单元的第二输出端、第十四非门f14 分别连接所述第二与非门y2的输入端。
26.在测试仪表显示当前试验环境出现故障状态下，可以通过紧急电路对所述试验单元发出控制指令，在正常情况下，所述第十三非门、第十四非门的输入端分别接高电平，在出现紧急情况下，可以控制所述第十三非门和/或第十四非门接低电平以终止当前测试。