一种用于PCB电路板电性测试的探针的制作方法

一种用于pcb电路板电性测试的探针
技术领域
1.本实用新型涉及电子电路技术领域，尤其涉及一种用于pcb电路板电性测试的探针。


背景技术：

2.探针是用于pcb电路板电性测试的工具，用于测试治具或其他测试设备，通常表面镀金，其一端与电路板的测试点，如漏铜位置，相抵靠且电性连接且另一端与测试治具或测试仪器电性连接，从而实现测试点与测试治具或测试仪器电性连接，从而实现对pcb电路板进行电性测试。现有技术中的探针，尾端为一体结构，不便于装配和对探针内部进行保养和维护。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的是提供一种用于pcb电路板电性测试的探针。
4.本实用新型所提供的用于pcb电路板电性测试的探针，包括管体(1)、针体(2)、弹簧(3) 和端帽(4)；所述管体(1)为一金属导体支撑的管状细长管状部件；所述针体(2)为一金属导体支撑的细长圆柱形杆状部件；所述针体(2)与所述管体(1)为同轴结构；所述针体(2)包括第一端部(21)和第二端部(22)；所述管体(1)内设有圆柱形腔体；所述管体(1)包括第一开口部和第二开口部；所述第二端部(22)自所述第一开口部插入到所述管体(1)内从而将针体(2)靠近第二端部(22)的部分置于所述圆柱形腔体内；所述端帽(4)封堵设置在第二开口部并将所述第二开口部；所述弹簧(3)设置在所述圆柱形腔体内；所述弹簧(3)的底端与所述针体(2)的第二端部(22)相固定且另一端与所述管体(1)靠近所述端帽(4)的内壁相固定。
5.所述端帽(4)包括第一帽体结构(41)和第二帽体结构(42)；所述第一帽体结构(41)和第二帽体结构(42)均为圆柱形；所述第一帽体结构(41)的直径与所述管体(1)的外径相一致；所述第二帽体结构(42)的直径与所述管体(1)的内径相一致；所述第一帽体结构(41)和所述第二帽体结构(42)为同轴一体结构。所述第二帽体的外壁上设有第一螺纹；所述管体(1)靠近所述第二开口部的内壁上也设有与第一螺纹相匹配的第二螺纹。所述第一端部(21)设有针头(23)，所述针头(23)与所述针体(2)为一体结构。所述针头(23)为圆锥形或圆弧形。所述针头(23)的顶端设有60度切口(24)。本实用新型所提供的用于pcb电路板电性测试的探针，还包括第一限位环(51)；所述第一限位环(51)的外径与所述管体(1)的外径相一致；所述第一限位环(51) 的内径小于所述管体(1)的内径；所述第一限位环(51)设置在所述管体(1)的第一开口部；所述第一限位环(51)和管体(1)相固定或所述第一限位环(51)和管体(1)为一体结构。本实用新型所提供的用于pcb电路板电性测试的探针，还包括第二限位环(52)；所述第二限位环(52) 设置在所述针体(2)的第二端部(22)；所述第二限位环(52)的外径与所述管体(1)的内径相一致。
6.本实用新型所提供的用于pcb电路板电性测试的探针，将管体的端部设置为可开
合的结构，便于加工和装配，便于在使用过程中对管体的内腔部件进行检查修理和维护，从而降低探针的生产工艺难度，降低制作成本，增加探针的使用寿命。
附图说明
7.图1为本实用新型实施例提供的用于pcb电路板电性测试的探针整体结构示意图；
8.图2为本实用新型实施例提供的用于pcb电路板电性测试的探针装配示意图，其中针头为圆锥形；
9.图3为针头为圆弧形的针体立体示意图；
10.图4为设有切口的针体立体示意图；
11.图5针头为圆锥形的针体平面图；
12.图6为针头为圆弧形的针体平面图；
13.图7为设有切口的针体平面图；
14.图8为第一限位环装配示意图。
具体实施方式
15.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
16.本实施例提供一种用于pcb电路板电性测试的探针，包括管体1、针体2、弹簧3和端帽 4；所述管体1为一金属导体支撑的管状细长管状部件；所述针体2为一金属导体支撑的细长圆柱形杆状部件；所述针体2与所述管体1为同轴结构；所述针体2包括第一端部21和第二端部22；所述管体1内设有圆柱形腔体；所述管体1包括第一开口部和第二开口部；所述第二端部22自所述第一开口部插入到所述管体1内从而将针体2靠近第二端部22的部分置于所述圆柱形腔体内；所述端帽4封堵设置在第二开口部并将所述第二开口部；所述弹簧3设置在所述圆柱形腔体内；所述弹簧3的底端与所述针体2的第二端部22相固定且另一端与所述管体1靠近所述端帽4的内壁相固定。本领域技术人员可以理解，本实施例所提供的用于pcb电路板电性测试的探针，设置一端帽4，可通过端帽4封堵在所述管体1的第二开口部，也可以将端帽4拆卸下来从而将第二开口部打开，以便对管体1内进行观测和维护。
17.所述端帽4包括第一帽体结构41和第二帽体结构42；所述第一帽体结构41和第二帽体结构42均为圆柱形；所述第一帽体结构41的直径与所述管体1的外径相一致；所述第二帽体结构42的直径与所述管体1的内径相一致；所述第一帽体结构41和所述第二帽体结构42 为同轴一体结构。
18.所述第二帽体的外壁上设有第一螺纹；所述管体1靠近所述第二开口部的内壁上也设有与第一螺纹相匹配的第二螺纹。本领域技术人员可以理解，可通过螺纹将所述帽体旋入所述管体1从而将所述帽体与所述管体1相固定。
19.所述第一端部21设有针头23，所述针头23与所述针体2为一体结构。
20.所述针头23为圆锥形或圆弧形。
21.所述针头23的顶端设有60度切口24。
22.本领域技术人员可以理解，圆锥形或圆弧形的针头23较易加工制造，在针头23的顶端设置60度切口24，可将针头23与pcb电路板的测试点更加匹配，当针头23与测试点接触时，连接性能更加，测试更加稳定和精确。
23.本实施例所提供的用于pcb电路板电性测试的探针，还包括第一限位环51；所述第一限位环51的外径与所述管体1的外径相一致；所述第一限位环51的内径小于所述管体1的内径；所述第一限位环51设置在所述管体1的第一开口部；所述第一限位环51和管体1相固定或所述第一限位环51和管体1为一体结构。
24.本实施例所提供的用于pcb电路板电性测试的探针，还包括第二限位环52；所述第二限位环52设置在所述针体2的第二端部22；所述第二限位环52的外径与所述管体1的内径相一致。本领域技术人员可以理解，通过所述第一限位环51和所述第二限位环52可确保所述针体2的第二端部22不会从所述管体1的圆柱形腔体内滑出，从而保证本实施例所提供的用于pcb电路板电性测试的探针的结构稳定性。
25.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。