一种用于检测芯片漏电流的检测设备的制作方法

1.本实用新型涉及芯片技术领域，特别是涉及一种用于检测芯片漏电流的检测设备。


背景技术：

2.集成电路或称微电路、微芯片、晶片/芯片，在电子学中是一种将电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，在芯片生产后会出现漏电的不合格产品，从而需要对其进行检测。
3.现有的芯片漏电流的检测设备在使用过程中，其上的放置槽在存放芯片后，由于放置槽和芯片相互匹配，从而工作人员不方便取出，需要使用一些工具取出，且需要耗费大量的时间的问题，为此我们提出一种用于检测芯片漏电流的检测设备。


技术实现要素：

4.针对上述问题，本实用新型提供了一种用于检测芯片漏电流的检测设备，提出了现有的芯片漏电流的检测设备在使用过程中，其上的放置槽在存放芯片后，由于放置槽和芯片相互匹配，从而工作人员不方便取出，需要使用一些工具取出，且需要耗费大量的时间的问题。
5.本实用新型的技术方案是：
6.一种用于检测芯片漏电流的检测设备，包括装置主架，所述装置主架的中间安装有输送带，所述输送带的前表面中间设置有检测架，所述检测架的后表面设置有检测头，所述输送带的前表面底端安装有芯片放置板，所述芯片放置板的前表面开设有三个放置槽，三个所述放置槽的内部均安装有承载块，所述承载块的后表面固定连接有推杆，所述推杆的前表面和后表面均安装有固定导轨，两个所述固定导轨均固定安装在芯片放置板上，所述推杆上安装有两个第一倾斜件和两个第二倾斜件，两个所述第一倾斜件和第二倾斜件的中间位置处均开设有倾斜槽，所述推杆的后端安装有锁止件，所述锁止件的后端活动安装有转动座，所述转动座的后端固定安装有复位弹簧，所述锁止件的顶端设置有两个第一倾斜部和两个第二倾斜部，两个所述第一倾斜部和第而倾斜部的中间位置均开设有斜向槽，所述推杆的外表面设置有限位弹簧。
7.上述技术方案的工作原理如下：
8.如图所示时，芯片放置在承载块上处于拿取状态，同时限位弹簧处于拉伸状态，固定导轨的底端嵌入斜向槽中，第一倾斜部和第一倾斜件接触，另一个第一倾斜件和另一个斜向槽接触但未嵌入其中，先将芯片放置在承载块上，然后按压芯片，芯片带动承载块向下移动，承载块带动推杆向下移动，推杆上的第一倾斜件推动第一倾斜部向下移动，则推动锁止件向下移动，同时由于设置的倾斜件和倾斜部，从而在力的作用下，锁止件在向下移动时会同时进行转动，则固定导轨的底端和第一倾斜部接触，固定导轨的顶端嵌入倾斜槽中，同时在限位弹簧的拉力作用下将推杆向下移动后的状态进行固定，从而承载块可向下移动进
行固定，则放置槽存在一定的空间可很好的放置芯片，在芯片要取出时，按压芯片，推杆和锁止件向下移动，同时锁止件进行转动，使另一个固定导轨嵌入斜向槽中，即可完成对芯片的取出。
9.在进一步的技术方案中，所述限位弹簧的前端固定连接于承载块，所述限位弹簧的后端固定连接于两个固定导轨。
10.此种设计可在限位弹簧的作用下推动承载块下降。
11.在进一步的技术方案中，所述第一倾斜件的宽度大于斜向槽的宽度，所述第一倾斜部的宽度是第二倾斜部宽度的两倍。
12.此种设计可防止第一倾斜将嵌入斜向槽中。
13.在进一步的技术方案中，所述检测架的后表面两端均安装有支撑块，两个所述支撑块的后端固定安装在装置主架上，所述检测架的两侧均固定连接有连接块，两个所述连接块的后端分别与两个支撑块可拆卸连接，所述连接块的一侧设置有拨动块，所述拨动块的内侧固定安装有连接柱，所述连接柱的另一端固定连接有六角卡柱，所述连接柱的外表面安装有固定弹簧。
14.当需要对检测架进行拆卸时，可拨动拨动块，拨动块通过连接柱带动六角卡柱进行移动，同时使固定弹簧进行压缩，从而使得六角卡柱从六角凹槽中抽出，此时的六角卡柱和六角凹槽未卡合，则可向上拿动检测架进行拆卸。
15.在进一步的技术方案中，所述支撑块的一侧开设有六角凹槽，所述六角卡柱可延伸至六角凹槽内进行卡合。
16.设计的六角凹槽可便于六角卡柱的卡合，从而将检测架安装在两个支撑块上。
17.本实用新型的有益效果是：
18.1、通过设计的安装在放置槽内部的承载块、推杆、锁止件、固定导轨和转动座便于对芯片放置在放置槽中进行检测，同时方便拿取，在拿取时只需按压芯片，则承载块可在限位弹簧的作用下向上移动，带动芯片从放置槽中移出，大大的节省了工作人员对芯片的拿取时间，带来了很好的发展前景；
19.2、通过设计的安装在检测架两侧的连接块、拨动块、连接柱、固定弹簧和支撑块便于对检测架进行拆卸，改变了原有的一体式结构，方便该装置进行收纳，同时方便工作人员对检测头进行维修，且连接牢固，设计的六角卡柱为六角形可很好的防止连接块发生晃动，提高连接的稳定性。
附图说明
20.图1是本实用新型实施例的整体结构示意图；
21.图2是本实用新型实施例承载块的侧视剖面结构示意图；
22.图3是本实用新型实施例检测架的俯视剖面结构示意图；
23.图4是本实用新型实施例图3中的a处放大结构示意图。
24.附图标记说明：
25.1、装置主架；2、输送带；3、检测架；4、芯片放置板；5、放置槽；6、承载块；7、连接块；8、推杆；9、锁止件；10、固定导轨；11、转动座；12、复位弹簧；13、限位弹簧；14、检测头；15、拨动块；16、连接柱；17、固定弹簧；18、六角卡柱；19、支撑块。
具体实施方式
26.下面结合附图对本实用新型的实施例作进一步说明。
27.实施例：
28.如图1-图4所示，一种用于检测芯片漏电流的检测设备，包括装置主架1，装置主架1的中间安装有输送带2，输送带2的前表面中间设置有检测架3，检测架3的后表面设置有检测头14，输送带2的前表面底端安装有芯片放置板4，芯片放置板4的前表面开设有三个放置槽5，三个放置槽5的内部均安装有承载块6，承载块6的后表面固定连接有推杆8，推杆8的前表面和后表面均安装有固定导轨10，两个固定导轨10均固定安装在芯片放置板4上，推杆8上安装有两个第一倾斜件和两个第二倾斜件，两个第一倾斜件和第二倾斜件的中间位置处均开设有倾斜槽，推杆8的后端安装有锁止件9，锁止件9的后端活动安装有转动座11，转动座11的后端固定安装有复位弹簧12，锁止件9的顶端设置有两个第一倾斜部和两个第二倾斜部，两个第一倾斜部和第而倾斜部的中间位置均开设有斜向槽，推杆8的外表面设置有限位弹簧13。
29.上述技术方案的工作原理如下：
30.如图2所示时，芯片放置在承载块6上处于拿取状态，同时限位弹簧13处于拉伸状态，固定导轨10的底端嵌入斜向槽中，第一倾斜部和第一倾斜件接触，另一个第一倾斜件和另一个斜向槽接触但未嵌入其中，先将芯片放置在承载块6上，然后按压芯片，芯片带动承载块6向下移动，承载块6带动推杆8向下移动，推杆8上的第一倾斜件推动第一倾斜部向下移动，则推动锁止件9向下移动，同时由于设置的倾斜件和倾斜部，从而在力的作用下，锁止件9在向下移动时会同时进行转动，则固定导轨10的底端和第一倾斜部接触，固定导轨10的顶端嵌入倾斜槽中，同时在限位弹簧13的拉力作用下将推杆8向下移动后的状态进行固定，从而承载块6可向下移动进行固定，则放置槽5存在一定的空间可很好的放置芯片，在芯片要取出时，按压芯片，推杆8和锁止件9向下移动，同时锁止件9进行转动，使另一个固定导轨10嵌入斜向槽中，即可完成对芯片的取出。
31.在另外一个实施例中，如图2所示，限位弹簧13的前端固定连接于承载块6，限位弹簧13的后端固定连接于两个固定导轨10。
32.此种设计可在限位弹簧13的作用下推动承载块6下降。
33.在另外一个实施例中，如图2所示，第一倾斜件的宽度大于斜向槽的宽度，第一倾斜部的宽度是第二倾斜部宽度的两倍。
34.此种设计可防止第一倾斜将嵌入斜向槽中。
35.在另外一个实施例中，如图3和图4所示，检测架3的后表面两端均安装有支撑块19，两个支撑块19的后端固定安装在装置主架1上，检测架3的两侧均固定连接有连接块7，两个连接块7的后端分别与两个支撑块19可拆卸连接，连接块7的一侧设置有拨动块15，拨动块15的内侧固定安装有连接柱16，连接柱16的另一端固定连接有六角卡柱18，连接柱16的外表面安装有固定弹簧17。
36.当需要对检测架3进行拆卸时，可拨动拨动块15，拨动块15通过连接柱16带动六角卡柱18进行移动，同时使固定弹簧17进行压缩，从而使得六角卡柱18从六角凹槽中抽出，此时的六角卡柱18和六角凹槽未卡合，则可向上拿动检测架3进行拆卸。
37.在另外一个实施例中，如图4所示，支撑块19的一侧开设有六角凹槽，六角卡柱18
可延伸至六角凹槽内进行卡合。
38.设计的六角凹槽可便于六角卡柱18的卡合，从而将检测架3安装在两个支撑块19上。
39.以上实施例仅表达了本实用新型的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。