一种分段测量太阳电池Isc和Voc的方法与流程

一种分段测量太阳电池isc和voc的方法
技术领域
1.本发明涉及太阳电池测试技术领域，具体涉及一种分段测量太阳电池isc和voc的方法。


背景技术：

2.目前获得太阳电池及组件的isc和voc值，是在正向扫描(短路状态isc到开路状态voc)或反向扫描(开路状态voc到短路状态isc)完成后，在一定时间内取绘制曲线两端的点，分别是isc和voc，作为太阳电池的测试值，计算功率，效率等电参数，如图1所示。
3.随着太阳电池效率的提升，在iv测量中拟合isc，voc的方法或取iv曲线与交点的方法受到电池特性(如电容效应)的影响(不在真正的开路,短路状态)，得到的isc，voc准确度下降，同时电池测量得到的数据需要根据isc，voc修正，因此太阳电池测量得到的数据(如功率p，效率eff，填充因子ff)的准确度下降，其功率，效率均受到影响。高容性电池需要更长的测量时间的原因是每个扫描点都需要内部电容上的电压与电子负载上的电压一致时，才能测量得到真实值，因此容性越大，则需要稳定时间和测量时间则越长。
4.因此当测试对象为高容性的太阳电池，或者电子负载扫描过程中，因电路问题存在取值不准，即isc或voc未取到交点，则会出现测试不准确的问题，如图2所示。


技术实现要素：

5.本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种分段测量太阳电池isc和voc的方法。
6.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
7.一种分段测量太阳电池isc和voc的方法，该方法是通过将isc测量步骤、voc测量步骤以及iv扫描步骤分开进行而实现的，其中，isc测量步骤、voc测量步骤择一选择进行或按照任意顺序分开进行；当isc测量步骤、voc测量步骤择一选择进行时，首先进行isc测量步骤或voc测量步骤，最后进行iv扫描步骤；当isc测量步骤、voc测量步骤按照任意顺序分开进行时，首先进行isc测量步骤或voc测量步骤，接着进行iv扫描步骤或最后进行iv扫描步骤。特别地，所述isc测量步骤是在电路处于真实短路状态下测得的实际真值isc。所述isc测量步骤是在电路处于真实开路状态下测得的实际真值voc。
8.具体地，作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：首先进行voc测量步骤，再进行isc测量步骤，最后进行iv扫描步骤。
9.具体地，作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：首先进行isc测量步骤，再进行voc测量步骤，最后进行iv扫描步骤。
10.具体地，作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：首先进行voc测量步骤，再进行iv扫描步骤，最后进行isc测量步骤。
11.具体地，作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：首先进行isc测量步骤，再进行iv扫描步骤，最后进行voc测量步骤。
12.具体地，作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：先进行isc测量步骤，最后进行iv扫描步骤。
13.具体地，作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：先进行voc测量步骤，最后进行iv扫描步骤。
14.本发明的有益效果为：
15.本发明通过将通过将isc测量步骤、voc测量步骤以及iv扫描步骤分开独立进行，可精确测得isc和voc的准确值，而iv曲线通过扫描获得，可提使得太阳电池电参数测量的准确性得到大幅度的提高。
附图说明
16.图1为现有技术采用正向或反向扫描取得的iv曲线；
17.图2为现有技术采用正向或反向扫描高容性太阳电池取得的iv曲线；
18.图3为采用实施例1的方法测量所取得的曲线图；
19.图4为采用实施例2的方法测量所取得的曲线图；
20.图5为采用实施例3的方法测量所取得的曲线图；
21.图6为采用实施例4的方法测量所取得的曲线图；
22.图7为采用实施例5的方法测量所取得的曲线图；
23.图8为采用实施例6的方法测量所取得的曲线图。
具体实施方式
24.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
25.需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
26.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
27.本发明提供一种分段测量太阳电池isc和voc的方法，该方法是通过将isc测量步骤、voc测量步骤以及iv扫描步骤分开进行而实现的，其中，isc测量步骤、voc测量步骤择一选择进行或按照任意顺序分开进行；当isc测量步骤、voc测量步骤择一选择进行时，首先进行isc测量步骤或voc测量步骤，最后进行iv扫描步骤；当isc测量步骤、voc测量步骤按照任意顺序分开进行时，首先进行isc测量步骤或voc测量步骤，接着进行iv扫描步骤或最后进行iv扫描步骤。特别地，所述isc测量步骤是在电路处于真实短路状态下测得的实际真值
isc。所述isc测量步骤是在电路处于真实开路状态下测得的实际真值voc。
28.实施例1
29.作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：首先进行voc测量步骤，再进行isc测量步骤，最后进行iv扫描步骤。如图3所示，在0-t1时间内，电路处于真实开路状态下，测得实际真值voc；在t1-t2时间内，电路处于真实短路状态下，测得实际真值isc；在t2-t3时间内，电子负载扫描过程即iv扫描步骤，获得iv曲线。通过图3可见，即使在测量过程中，电子负载扫描不完整，曲线通过拟合完成，也不影响voc和isc取得真值。
30.实施例2
31.具体地，作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：首先进行isc测量步骤，再进行voc测量步骤，最后进行iv扫描步骤。如图4所示，在0-t1时间内，电路处于真实短路状态下，测得实际真值isc；在t1-t2时间内，电路处于真实开路状态下，测得实际真voc；在t2-t3时间内，电子负载扫描过程即iv扫描步骤，获得iv曲线。即使过程中，通过图3可见，即使在测量过程中，电子负载扫描不完整，曲线通过拟合完成，也不影响voc和isc取得真值。
32.实施例3
33.具体地，作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：首先进行voc测量步骤，再进行iv扫描步骤，最后进行isc测量步骤。如图5所示，在0-t1时间内，电路处于真实开路状态下，测得实际真值voc；在t1-t2时间内，电子负载扫描过程，获得iv曲线；在t2-t3时间内，电路处于真实短路状态下，测得实际真值isc。
34.实施例4
35.具体地，作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：如图6所示，在0-t1时间内，电路处于真实短路状态下，测得实际真值isc；在t1-t2时间内，电子负载扫描过程，获得iv曲线；在t2-t3时间内，电路处于真实开路状态下，测得实际真值voc。
36.实施例5
37.具体地，作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：先进行isc测量步骤，最后进行iv扫描步骤。如图7所示，在0-t1时间内，电路处于真实开路状态下，测得实际真值voc；在t1-t2时间内，电子负载扫描过程，获得iv曲线。
38.实施例6
39.具体地，作为本发明的一个优选方案，该方法是按照以下顺序进行的：先进行voc测量步骤，最后进行iv扫描步骤。如图8所示，在0-t1时间内，电路处于真实短路状态下，测得实际真值isc；在t1-t2时间内，电子负载扫描过程，获得iv曲线。
40.通过以上各实施例可知，通过将isc测量步骤、voc测量步骤以及iv扫描步骤分开独立进行，可精确测得isc和voc的准确值，而iv曲线通过扫描获得，可提使得太阳电池电参数测量的准确性得到大幅度的提高。
41.此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在上面的权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明的总体背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领
域技术人员所公知的现有技术。