用于测试待测试设备的测试设备及测试方法与流程

1.本技术涉及静电测试领域，尤其涉及一种用于测试待测试设备的测试设备及测试方法。


背景技术：

2.在电子设备的测试过程中，静电测试对于电子设备而言非常重要，当使用者使用电子设备时，使用者所携带的电荷会进入电子设备，容易对电子设备内部的金属器件或者印刷电路板等造成伤害。
3.当采用传统的静电测试台进行测试时，将被测试的电子设备直接放置在静电测试平台上，并向电子设备中注入静电。然而，在上述测试过程中，电子设备的放电点是随机的，即，进入电子设备内部的静电电荷可能会从电子设备的任一空隙处流出。
4.在上述测试过程中，由于电子设备中静电电荷会从电子设备的任一空隙处流出，因此无法准确模拟出使用者通过电子设备向其余低电位设备放电的路径，容易导致最终得到的测试结果不准确。


技术实现要素：

5.本技术提供用于测试待测试设备的测试设备及测试方法，用以解决相关技术中，测试不准确的问题。
6.第一方面，本技术提供一种用于测试待测试设备的测试设备，所述测试设备包括：静电器、绝缘测试台、导电介质和第一阻抗元件；
7.待测试设备、以及所述导电介质放置于所述绝缘测试台上，所述待测试设备与所述导电介质接触；所述导电介质与所述第一阻抗元件电连接，并且所述第一阻抗元件接地；
8.所述静电器，用于向所述待测试设备发出静电；
9.所述导电介质，用于传输所述待测试设备接触到所述静电之后所传输的电荷，至所述第一阻抗元件。
10.在一种可能的实现方式中，所述导电介质与所述待测试设备的第一区域接触，其中，所述第一区域为所述待测试设备上用于与人体接触的区域。
11.在一种可能的实现方式中，所述导电介质为柔性导电介质。
12.在一种可能的实现方式中，所述柔性导电介质通过缠绕的方式与所述待测试设备的第一区域接触，或者，所述柔性导电介质通过粘贴的方式与所述待测试设备的第一区域接触。
13.在一种可能的实现方式中，所述待测试设备为智能手环，所述测试设备还包括：支撑部件；所述第一区域为所述智能手环的内表面；
14.所述支撑部件用于支撑所述柔性导电介质，以使所述柔性导电介质与所述智能手环的内表面接触。
15.在一种可能的实现方式中，所述待测试设备为智能眼镜；所述第一区域为镜框或
者镜腿。
16.在一种可能的实现方式中，所述柔性导电介质为金属网。
17.在一种可能的实现方式中，所述第一阻抗元件包括第一电阻元件与电容元件；所述第一电阻元件的一端与所述导电介质电连接，所述第一电阻元件的另一端与所述电容元件的一端连接，所述电容元件的另一端与接地。
18.在一种可能的实现方式中，所述测试设备还包括：水平耦合板、绝缘垫和第二阻抗元件，其中，
19.所述水平耦合板放置在所述绝缘测试台上，所述绝缘垫放置在所述绝缘测试台上；
20.所述待测试设备、以及所述导电介质放置于所述绝缘垫上；所述绝缘垫用于阻碍所述待测试设备接收到的全部静电电荷穿过所述绝缘垫；
21.所述第二阻抗元件的一端与所述水平耦合板电连接，所述第二阻抗元件的另一端与接地。
22.第二方面，本技术提供一种测试方法，包括：
23.将待测试设备以及导电介质放置于绝缘测试台上，其中，所述待测试设备与所述导电介质接触；
24.控制静电器向所述待测试设备中未与所述导电介质接触的部位发出静电，以使所述导电介质传输所述待测试设备接触到所述静电之后所传输的电荷，至与所述导电介质连接的第一阻抗元件，其中，所述第一阻抗元件接地。
25.在一种可能的实现方式中，所述控制静电器向所述待测试设备中未与所述导电介质接触的部位发出静电，包括：
26.重复以下步骤，直到达到预设的第一停止条件：控制静电器向所述待测试设备中未与所述导电介质接触的部位发出第一极性的静电；
27.重复以下步骤，直到达到预设的第二停止条件：控制静电器向所述待测试设备中未与所述导电介质接触的部位发出第二极性的静电。
28.本技术提供的用于测试待测试设备的测试设备及测试方法，其中，测试设备包括：静电器、绝缘测试台、导电介质、第一阻抗元件；待测试设备、以及导电介质放置于绝缘测试台上，待测试设备与导电介质接触；导电介质与第一阻抗元件电连接，并且第一阻抗元件接地；静电器，用于向待测试设备发出静电；导电介质，用于传输待测试设备接触到静电之后所传输的电荷，至第一阻抗元件。本实施例中的静电传输路径与待测试设备的实际应用过程中用户通过待测试设备向其余物体放电的路径相似，进而提高静电测试结果的准确性。
附图说明
29.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本技术的实施例，并与说明书一起用于解释本技术的原理。
30.图1为本技术提供的一种静电测试设备的装置示意图；
31.图2为本技术实施例提供的一种用于测试待测试设备的测试设备的结构示意图；
32.图3为本技术实施例提供的一种导电介质的设置方式的示意图；
33.图4为本技术提供的一种静电传输路径；
34.图5为本技术实施例提供的又一种静电传输路径的示意图；
35.图6为本技术实施例提供的一种金属网的设置方式的示意图；
36.图7为本技术实施例提供的一种金属箔的设置方式的示意图；
37.图8为本技术实施例提供的还一种金属箔的设置方式的示意图；
38.图9为本技术实施例提供的又一种金属网的设置方式的示意图；
39.图10为本技术实施例提供的另一种导电介质的设置方式的示意图；
40.图11为本技术实施例提供的又一种导电介质的设置方式的示意图；
41.图12为本技术实施例提供的又一种用于测试待测试设备的测试设备的结构示意图。
42.附图标记说明：
43.10：木桌；11：金属板；12：绝缘板；13；阻抗元件；14；电子设备；
44.20：绝缘测试台；21：导电介质；22：第一阻抗元件；23：待测试设备；
45.31；金属片；32：按钮；
46.41：金属箔；42：扎带；
47.51：手环；52：支撑部件；
48.61：镜腿；
49.81：水平耦合板；82：第二阻抗元件；83：绝缘垫。
50.通过上述附图，已示出本技术明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本技术构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本技术的概念。
具体实施方式
51.这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与本技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。
52.目前，电子设备内部通常设置有电子电路板等电子元器件，并且电子元器件容易遭到静电损坏而导致电子元器件的工作性能较低。因此，对于电子设备的静电测试变得尤为重要。
53.相关技术中，在对电子设备进行静电测试时，通常会将电子设备直接放置到静电测试设备上，通过向电子设备中多次注入静电电荷之后，在对电子设备的功能进行检测，进而确定电子设备的静电承受能力是否符合要求。然而，在上述技术过程中，在向电子设备注入静电电荷时，静电电荷在电子设备中的电荷流向不固定。
54.举例来说，图1为本技术提供的一种静电测试设备的装置示意图。如图1所示，图中包括：木桌10、金属板11、绝缘板12以及由两个串联连接的470千欧姆组成的阻抗元件13，其中，金属板11放置在木桌10上，绝缘板12放置在金属板11的上方，并且金属板11还与阻抗元件13串联连接后接地。在采用如图1所示的静电测试设备对电子设备14进行测试时，此时，可以将电子设备14放置在绝缘板12的上方，同时，通过静电枪向电子设备14注入静电。进而，当电子设备14接收到静电枪发送的静电电荷之后，静电电荷会通过电子设备14中的任
一空隙处发出，也就是说静电电荷在电子设备14中的电荷流向不固定。之后，从电子设备14发出的静电电荷会穿过电子设备14下方的绝缘板12，传输至绝缘板12下方的金属板11，最终传输至与金属板11连接的阻抗元件13。
55.然而，在一个实际的应用场景中，当使用者接触使用电子设备时，使用者所携带的静电电荷会由于使用者与电子设备的接触而将电荷传输至电子设备，并且当使用者手持电子设备再去接触其余低电位的物体时，此时，使用者所携带的静电电荷会流向电子设备，流向电子设备内部的静电会通过电子设备与其余低电位的物体的接触点传输至其余低电位的物体。也就是说，电子设备内部此时会经历两次放电过程，即使用者对电子设备内部的放电，以及电子设备内部对于其余低电位物体的放电。并且，上述电子设备的两次放电过程通常会导致电子设备内部的电子元器件由于静电电荷而遭到损坏。
56.相关技术中，在对电子设备进行静电测试时，注入电子设备内部的静电电荷由于放电路径不固定，即有可能从电子设备的任一间隙处释放，进而无法准确的模拟出上述实际使用场景中的电子设备所遭受的静电放电过程，进而容易导致最终的静电测试结果不准确。
57.本技术提供的用于测试待测试设备的测试设备及测试方法，用以解决上述技术问题。
58.下面以具体地实施例对本技术的技术方案以及本技术的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本技术的实施例进行描述。
59.图2为本技术实施例提供的一种用于测试待测试设备的测试设备的结构示意图。如图2所示，测试设备中包括静电器(图中未示处)、绝缘测试台20、导电介质21、第一阻抗元件22；待测试设备23、以及导电介质21放置于绝缘测试台20上，待测试设备23与导电介质21接触；导电介质21与第一阻抗元件22电连接，并且第一阻抗元件22接地；静电器，用于向待测试设备23发出静电；导电介质21，用于传输待测试设备23接触到静电之后所传输的电荷，至第一阻抗元件22。
60.示例性地，本实施例中所提供的测试设备中包括：静电器、绝缘测试台20、导电介质21、第一阻抗元件22。
61.此外，为了模拟使用者对于待测试设备23的在实际使用过程中的二次放电场景，本实施例中，测试设备中设置包括有导电介质21，并且导电介质21与待测试设备23相接触，此外，导电介质21还与第一阻抗元件22电连接，并且，第一阻抗元件22接地。其中，第一阻抗元件22可用于模拟电子设备使用者的阻抗。进而，通过上述待测试设备23与导电介质21接触、导电介质21通过第一阻抗元件22接地的方式，可以用来模拟使用者站在地面上使用待测试设备23的场景。
62.本实施例中的测试设备在使用时，可以将待测试设备23以及与待测试设备23接触的导电介质21放置在绝缘测试台20上，并且导电介质21还通过第一阻抗元件22接地。之后，可以通过开启静电发生器，并通过静电发生器向待测试设备23注入静电电荷。由于待测试设备23与导电介质21所接触，因此，静电发生器注入待测试设备23中的电荷会被传导至导电介质21上，并经由导电介质21传导至与导电介质21电连接的第一阻抗元件22，进而通过第一阻抗元件22的接地处传输至大地。
63.本实施例中，通过在测试设备中设置第一阻抗元件22以及导电介质21，并使得导电介质21与测试设备接触，模拟使用者对待测试设备23的接触。并且，导电介质21与第一阻抗元件22电连接，第一阻抗元件22接地，进而模拟使用者使用待测试设备23时的真实场景。当静电器向待测试设备23发出静电时，此时，静电在待测试设备23中的静电传输路径与操作者在实际使用待测试设备23的静电传输路径相似，进而可以提高对待测试设备23测试的准确性。相比于相关技术中，在对待测试设备23进行测试时，静电电荷在待测试设备23中沿着随机的路径传输的现象，本实施例中的静电传输路径可以用于模拟待测试设备23在使用过程中的真实的静电传输路径，进而提高静电测试结果的准确性。
64.在一些实施例中，导电介质21与待测试设备23的第一区域接触，其中，第一区域为待测试设备23上用于与人体接触的区域。
65.示例性地，为了模拟在实际应用场景中的人体在使用待测试设备23时所产生的静电现象，本实施例中，在设置导电介质21时，可以将导电介质21与待测试设备23上与人体接触的区域相接触。此外，本实施例中的待测试设备23可以为手持式设备，例如，手机、手环、遥控器等电子设备。当手持式设备采用上述测试设备进行测试时，可以将导电介质21与手持设备上人体常常与手持设备接触的地方，进而采用导电介质21模拟人手与手持设备之间的接触，在静电测试过程中，使得手持设备中静电的流向更加接近于手持设备在实际应用过程中，人体对手持设备注入静电时的静电流向，使得后续静电测试的结果更加准确。
66.在一些实施例中，导电介质21可以采用金属片。当导电介质21采用金属片时，可以将金属片放置在待测试设备23表面与人体接触的区域，通过金属片来模拟人手。
67.举例来说，以待测试设备23为遥控器为例进行说明。图3为本技术实施例提供的一种导电介质的设置方式的示意图。如图3所示，图3中的图(a)为遥控器的俯视图，当导电介质选用金属片31时，可以将金属片31覆盖在遥控器的按钮32的空隙上。图3中的图(b)为遥控器的左视图，图中的虚线代表遥控器的外壳的空隙，并且图(b)的空隙上方也覆盖了金属片31。图3中的图(c)为遥控器的正视图，在图(c)中，图中的虚线用于表征遥控器表面外壳的空隙，并且在图示的表面也设置有金属片31。在设置金属片31时，可以考虑将金属片31粘贴在遥控器的各个表面上，也可以采用固定部件，将金属片31固定在遥控器的各个表面。例如，固定部件可以选择扎带，进而将金属片31捆扎固定在遥控器表面。并且，遥控器上的金属片31均与第一阻抗元件12电连接，且第一阻抗元件12另一端接地。进而，可以通过遥控器上设置的金属片模拟人手持遥控器的使用场景。
68.在一些实施例中，导电介质21可以为金属网、金属膜、金属箔(例如，铝箔、铜箔等)等柔性导电介质。示例性地，举例来说，当导电介质21选择柔性导电介质中的金属网时，在上述测试设备的使用过程中，可以将金属网与待测试设备23相接触设置，并且，可以将金属网设置在待测试设备23中，人体常常与待测试设备23相接触的地方。并且，金属网还可以通过第一阻抗元件22接地。进而，当将待测试设备23以及金属网放置在绝缘测试台20上，并且，金属网设置在待测试设备23上常与人体接触的区域，金属网还通过第一阻抗元件22接地时，此时，通过静电器向待测设备中未接触金属网的地方注入静电，静电电荷进入待测试设备23之后，由于待测试设备23与金属网相接触，进而静电电荷会传输至金属网，进而传输至与金属网连接的第一阻抗元件22，其中，第一阻抗元件22用于模拟人体的阻抗。
69.本实施例中，相比于在待测物体表面设置金属片，采用柔性导电介质作为测试设
备中的导电介质21与人体接触，可以更好的模拟人手持待测试设备23时真实场景，提高测试精度。
70.在实际应用场景中，以待测试设备23为遥控器为例进行说明。图4为本技术提供的一种静电传输路径。如图4所示，当需要对遥控器进行静电测试时，此时，采用相关技术中的静电测试设备进行测试时，此时，仅需要将遥控器放置在静电测试平台上，并采用静电枪向遥控器进行放电。举例来说，当对图4所示的遥控器中的开关处注入静电时，此时，由于遥控器外壳上本身就具有很多空隙，因此，当静电注入遥控器之后，有可能从遥控器的任一空隙处释放。图4中，通过两个箭头示意可以看出，静电从圆形开关的左上侧注入之后，从圆形开关的右侧流出。
71.当采用本技术实施例提供的测试设备进行测试时，以待测试设备23为遥控器为例，进行说明。在实际遥控器的实际应用场景中，在用户使用遥控器时，实际会遇到的静电问题是用户在使用遥控器的过程中，用户会由于衣物摩擦，或者是从沙发上站起或者落在在沙发上时与沙发接触等情况，进而导致用户身体先带电。之后，当用户手持遥控器时，此时遥控器开始充电，即用户身体上所产生的电荷会传输至遥控器中，之后，遥控器中会携带有与用户身体上所产生的静电相同极性及静电等级相当的静电荷。当人手持遥控器接触到其他低电位(例如接触到金属茶几等)的时候，人体通过遥控器对低电位进行放电，从而导致人体的大量电荷通过遥控器进行释放。图5为本技术实施例提供的又一种静电传输路径的示意图。如图5所示，当人体产生静电之后，并手持遥控器的底部时，此时静电电荷会从遥控器底部的空隙处传入遥控器内部，一种情况中，例如从图5条状按钮处的箭头所指的空隙处注入。之后，若是人手持遥控器，并且将遥控器的顶部接触到其余低电位的物体时，此时，遥控器中人体所传入的静电电荷会通过遥控器底部传输至遥控器顶部，并且从遥控器顶部与其余低电位物体接触的地方传输至其余低电位物体，进而使得人体所携带的静电电荷会不断通过遥控器的底部、遥控器的顶部传输至其余低电位的物体。举例来说，图5中，人产生的电荷会从条状按钮处的箭头处注入，沿着虚线，至遥控器的顶部，之后，从遥控器顶部侧边的空隙处流出。在上述静电传输的路径中，由于人体所携带的大量电荷会不断沿着该传输路径进行传输，随着人对遥控器的使用次数的增多，在使用过程中所产生的静电电流会对遥控器中的电子元器件造成损坏，进而影响遥控器的工作性能，降低用户的满意度。
72.然而，当采用本技术实施例所提供的测试设备时，以测试设备为遥控器为例，继续进行说明。在使用上述测试设备时，可以将金属网与遥控器底部相接触。之后，在静电测试过程中，通过静电器向遥控器顶部发出静电。由于遥控器底部与金属网相接触，以及金属网的导电特性，进而遥控器顶部所接收到的静电会通过遥控器底部，传输至与遥控器底部相接触的金属网，以及与金属网连接的第一阻抗元件22。可以理解的是，在测试过程中，第一阻抗元件22为用于模拟人体阻抗的元器件，金属网用于模拟人手手持静电设备的场景。本实施例中的静电电荷的流向为：静电器、遥控器顶部、遥控器底部、金属网、第一阻抗元件22。而上述图3中的静电电荷的流向为：人体、人手、遥控器底部、遥控器顶部、与遥控器顶部接触的其余低电位物体。通过对比图3中的静电电荷的流向以及采用测试设备时静电电荷的流向，可以看出二者在静电传输路径上相同，以使得通过上述测试设备进行静电测试时，测试结果更为准确，可信度更高。
73.此外，在实际测试过程中，可以不断改变静电器所发出的静电电荷的极性，进而，
模拟在该静电电荷的传输路径下，不同极性的静电电荷的传输对于待测试设备23所产生的影响。
74.在一些实施例中，柔性导电介质通过缠绕的方式与待测试设备23的第一区域接触，或者，柔性导电介质通过粘贴的方式与待测试设备23的第一区域接触。
75.示例性地，在本实施例中，当导电介质21为金属网时，此时，在金属网与待测试设备23相接触时，可以采用缠绕的方式将金属网缠绕在待测试设备23的第一区域。
76.举例来说，当待测试设备23为遥控器时，此时可以考虑将金属网缠绕在遥控器的底部。如图6所示，图6为本技术实施例提供的一种金属网的设置方式的示意图。图6中，遥控器中的阴影部分用于表征被金属网缠绕。具体地，在缠绕金属网时，可以缠绕待测试设备23的第一区域缠绕一层或者多层金属网。当缠绕多层金属网时，也可以确保待测试设备23中的静电电荷可以通过金属网传输。
77.此外，测试设备中的金属网也可以通过粘贴的方式与待测试设备23所接触。举例来说，当待测试设备23为智能手环或者智能手表等佩戴的物体时，此时，由于在用户佩戴过程中，人体接触的通常为智能手环内侧，或者是智能手表的内侧。此时，为了便于将金属网与智能手环内侧或者手表内侧相接触，可以采用粘贴的方式，将金属网粘贴在智能手环或者智能手表的内侧。
78.本实施例中，在设置金属网时，可以考虑采用缠绕的方式与待测试设备23相接触，进而通过缠绕的方式有利于模拟人手持待测试设备23的真实场景。并且，在一些实施例中，若是当人体与待测试设备23的接触区域为待测试设备23的内表面时，此时可以将金属网粘贴至待测试设备23的内表面，以便于模拟用户与待测试设备23内表面的接触。
79.举例来说，当导电介质21为选择柔性导电介质中的金属箔时，此时，以待测试设备23为遥控器为例进行说明。在选择柔性导电介质时，可以选择铝箔或者铜箔等容易获取的金属箔。然而，相比于金属网来说，金属箔具有一定的刚性，因此当选用金属箔包裹缠绕在遥控器的第一区域时，遥控器与金属箔之间的接触的紧密性较低。当相比于金属片这种刚性较大的导电介质而言，金属箔与遥控器之间接触时具有较高的紧密性。为了避免上述技术问题，本实施例中，当选用柔性导电介质中的金属箔时，此时，可以考虑在设置固定部件。其中，固定部件可以选择扎带、胶带、绳子等。
80.如图7所示，图7为本技术实施例提供的一种金属箔的设置方式的示意图。如图7中的图(a)所示，图7中的图(a)为遥控器的俯视图，在图示的表面包裹有金属箔41，并且，金属箔41将遥控器按钮32所处的上表面完全包裹。如图7中的图(b)为遥控器的左视图，当导电介质选用金属箔41时，图中的虚线代表遥控器的外壳的空隙，在金属箔包裹在图(a)中所示的表面后，还可以继续包裹在图(b)所示的空隙上方。同理，在遥控器的右视图视角的表面以及与遥控器俯视图视角的表面正对的遥控器底面，也包裹有导电介质。此外，图7中的图(c)为遥控器的正视图，在图(c)中，图中的虚线用于表征遥控器表面外壳的空隙，并且在图示的表面也包裹有金属箔41。也就是说，金属箔41缠绕遥控器一周或者多周，并且同时还包裹了遥控器的正视图所示的表面。
81.并且，为了增加金属箔与遥控器接触的紧密性，在包裹号金属箔之后，还可以在金属箔外侧设置或者多圈扎带。如图8所示，图8为本技术实施例提供的还一种金属箔的设置方式的示意图，在金属箔41表面，还围绕了两圈扎带42，进而，使得金属箔41可以更加紧密
的接触遥控器，更能准确的模拟出遥控器与人手接触时的接触效果。
82.在一些实施例中，此处，以待测试设备23为智能手环为例进行说明。当待测试设备23为智能手环式，在实际应用场景中，当人手臂佩戴智能手环时，此时，智能手环的内表面与人手臂相接触，当人手臂处携带有静电时，此时，静电会通过人手臂至智能手环中。当人手臂佩戴智能手环，使得智能手环的外表面与桌子或者茶几等低电位物体接触时，此时，智能手环会通过智能手环的外表面释放静电电荷。此时，为了使金属网可以与智能手环内表面相接触，本实施例中，在图1所示的装置的基础上，所提供的测试设备中，还包括有支撑部件。其中，导电介质21与待测试设备23相接触的第一区域为智能手环的内表面；支撑部件用于支撑金属网，以使金属网与智能手环的内表面接触。
83.示例性地，本实施例中，为了使金属网可以与智能手环的内表面相接触，在测试设备中还包括有支撑部件。在静电测试过程中，金属网可以通过该支撑部件保持与智能手环内表面的接触。
84.一个示例中，图9为本技术实施例提供的又一种金属网的设置方式的示意图。图9中，包括手环51以及支撑部件52。其中，支撑部件52可以设置为圆筒形结构，或者基于手环51的内部形状进行设置。金属网(图中用斜线阴影表示)可以包裹在支撑部件52的表面。之后，金属网可以通过支撑部件52与手环51内表面实现接触。此外，金属网还可以与导线连接，进而通过导线电连接至第一阻抗元件22后接地。需要说明的是，为了提高支撑部件上设置的导电介质与智能式手环内侧的接触的紧密性，在设置支撑部件时，支撑部件的形状与手环的内部形状之间的误差应当尽可能地小，以提高后续的静电检测结果的准确性。
85.本实施例中，在设置金属网时，可以考虑将金属网设置在支撑部件上，进而通过设置支撑部件以使金属网可以与智能手环内部接触，进而使得在后续静电测试的过程中，能够通过该金属网模拟人体与智能手环的接触，使得静电测试结果更准确。需要说明的是，本实施例中，仅以智能手环为例进行介绍，其余智能项圈、智能手表等可佩戴接触的环状物体在进行静电测试时，都可以采用上述支撑部件的方式，使得金属网与上述环状物体的内部相接触。
86.在一些实施例中，待测试设备23为智能眼镜；第一区域为镜框或者镜腿。
87.示例性地，本实施例中所提供的测试设备还可以用于对智能眼镜进行测试。并且，在对智能眼镜进行测试时，可以考虑智能眼镜在两种形态下的静电测试。一种形态为智能眼镜为镜腿打开的状态，另一种状态为智能眼镜为镜腿闭合的样式。
88.举例来说，图10为本技术实施例提供的另一种导电介质的设置方式的示意图。如图10所示，图中，智能眼镜的镜腿61呈打开状态时，若智能眼镜的镜腿61处设置有电子元器件或者金属材质时，当需要对智能眼镜进行测试时，此时，可以将导电介质21设置在镜腿61的中间位置。后续在测试的过程中，可以通过向智能眼镜中未与导电介质21接触的区域进行发出静电，进而模拟人手持智能眼镜镜腿去接触其余低电位物体时，人体通过智能眼镜向其余低电位物体进行放电的过程。
89.举例来说，图11为本技术实施例提供的又一种导电介质的设置方式的示意图。如图11所示，图11中以智能眼镜的镜腿为闭合的状态为例及进行说明。如图所示，当智能眼镜的镜腿为闭合的状态时，此时，人手与智能眼镜的接触区域为镜框处，则此时可以考虑将导电介质21设置在镜框处的某一区域处。例如，图11中，可以将导电介质21设置在右侧镜框
处。具体地，当导电介质21为金属网时，可以将金属网缠绕在右侧镜框处，或者在缠绕时，也可以将右侧镜框与右侧的镜腿缠绕在一起，进而模拟在实际使用场景中，用户会通过接触镜框，将闭合的眼镜放置其余低电位物体时，用户通过闭合的眼镜的镜框和/或镜腿向低电位物体进行放电的场景。
90.本实施例中，在对智能眼镜进行静电测试时，分别对智能眼镜的镜腿在不同状态下的情况，分别采用不同的导电介质21的设置方式，进而使得上述静电测试现象更符合人体通过智能眼镜向其余物体放电的场景，提高静电测试的准确度。
91.在一些实施例中，第一阻抗元件22包括第一电阻元件与电容元件；第一电阻元件的一端与导电介质21电连接，第一电阻元件的另一端与电容元件的一端连接，电容元件的另一端与接地。
92.示例性地，为了模拟使用者在使用待测试设备23时的真实使用场景，本实施例中的第一阻抗元件22中包括第一电阻元件与电容元件。其中，第一电阻元件与电容元件串联，并且第一电阻元件的一端与导电介质21连接，电容元件的另一端接地。当静电器向待测试设备23注入静电之后，由于待测试设备23与导电介质21接触，因此注入到待测试设备23中的静电会通过导电介质21传输至与导电介质21连接的第一电阻元件、与第一电阻元件连接的电容元件。
93.一个示例中，可以将第一电阻元件的电阻值设置为510欧姆，将电容元件的电容值设置为220皮法。
94.此处，需要说明的是，在一些示例中，在设置第一阻抗元件22时，第一阻抗元件可以根据实际的测试场景进行调整。举例来说，第一阻抗元件22中可以包括至少一个电阻元件，和/或至少一个电容元件。或者，第一阻抗元件22中包括并联连接的至少一个电阻和至少一个电容，此处不做具体限制。
95.本实施例中，在设置第一阻抗元件22时，第一阻抗元件22中可以包括第一电阻元件以及电容元件，通过设置第一电阻元件以及电容元件使得第一阻抗元件22可以有效的模拟使用者的真实阻抗，提高测试的准确性。
96.在一些实施例中，图12为本技术实施例提供的又一种用于测试待测试设备的测试设备的结构示意图，在图2所示的测试设备的基础上，本实施例所提供的静电测试设备中还包括有水平耦合板81、第二阻抗元件82、绝缘垫83。其中，水平耦合板81放置在绝缘测试台20上，绝缘垫83放置在绝缘测试台20上；待测试设备23、以及导电介质21放置于绝缘垫83上；绝缘垫83用于阻碍待测试设备23接收到的全部静电电荷穿过绝缘垫83；第二阻抗元件82的一端与水平耦合板81电连接，第二阻抗元件82的另一端与接地。
97.示例性地，本实施例中所提供的测试设备中包括静电器、绝缘测试台20、导电介质21、第一阻抗元件22、绝缘垫83、水平耦合板81以及第二阻抗元件82。其中，水平耦合板81设置在绝缘测试台20上，绝缘垫83设置在水平耦合板81上。
98.一个示例中，绝缘垫83的中心点与绝缘测试台20的中心点相重合，即绝缘垫83位于绝缘测试台20的中心区域。
99.待测试设备23、以及导电介质21放置于绝缘垫83上，待测试设备23与导电介质21接触；导电介质21与第一阻抗元件22电连接，并且第一阻抗元件22接地。此外，水平耦合板81与第二阻抗元件82连接，并且第二阻抗元件82接地。其中，水平耦合板81可以用于模拟当
待测试设备23所处的环境中存在静电时，此时是否会影响待测试设备23的性能。举例来说，在测试时，可以采用静电器向水平耦合板81进行放电，进而使得待测试设备23所处的周围环境中存在静电。又或者，在静电测试时，也可以采用接触放电的方式，模拟人体与待测试设备23进行接触时，人体通过待测试设备23放电的过程。
100.此外，在设置绝缘垫83时，绝缘垫83的厚度可以大于等于10厘米，以使得绝缘垫83用于阻碍待测试设备23接收到的全部静电电荷穿过绝缘垫83，即可以确保待测试设备23接收到的静电电荷从与待测试设备23接触的导电介质21传输至与导电介质21连接的第一阻抗元件22，避免待测试设备23接触到的静电电荷不会沿着其它路径传输，进而使得静电测试结果更加准确。
101.一个示例中，图12提供的测试设备也可以用于对其余非手持式的待测试设备进行测试。举例来说，在对非手持时的待测试设备进行测试时，可以选择厚度值较小将绝缘垫，进而以使得在对非手持式的待测试设备进行测试时，可以使得非手持式的待测试设备接收到的静电电荷可以穿过绝缘垫，并通过与绝缘垫接触的水平耦合板以及与水平耦合板连接的第二阻抗元件传输。即，本实施例中所提供的测试设备可以适用于不同种类的待测试设备，在对手持设备进行测试时，可以选择厚度值较大的绝缘垫以及导电介质对待测试设备进行上述测试。而对于非手持设备，可以选择厚度值较小的绝缘垫进行测试，进而实现了静电测试设备的复用，提高了设备利用率。
102.一个示例中，第二阻抗元件82包括第二电阻元件与第三电阻元件，第二电阻元件的一端与水平耦合板81电连接，第二电阻元件的另一端与第三电阻元件的一端电连接，第三电阻元件的另一端与接地。
103.示例性地，在设置第二阻抗元件82时，此时，第二阻抗元件82中可以包括第二电阻元件以及第三电阻元件。其中，第二电阻元件与第三电阻元件串联连接，并且，第二电阻元件的一端可以与水平耦合板81电连接，第三电阻元件的另一端接地。进而，通过设置第二阻抗元件82，可以使得静电器传输至水平耦合板81的静电电荷或者待测试设备23中穿过绝缘块至水平耦合板81上的电荷可以传输至第二阻抗元件82，最终通过第二阻抗元件82释放。一个示例中，第二电阻元件与第三电阻元件的阻值均为470千欧姆。
104.本实施例中的测试设备，通过设置导电介质21以及第一阻抗元件22，可以用于模拟用户通过待测试设备23向其余低电位物体进行放电时的放电路径，进而提高测试效率，并且，相比于相关技术中的绝缘垫83的设置，本实施例中对绝缘垫83进行了加厚处理，进而使得绝缘垫83能够完全阻碍待测试设备23中的静电电荷穿过绝缘块。并且，本实施例中的测试装置，仅需要在相关技术中的测试装置的基础上，对绝缘垫83进行加厚，并且在待测试设备23上设置导电介质21，就可以实现对测试设备的搭建，提高了相关技术中的测试设备复用率，降低本实施例中测试设备的成本。
105.本技术实施例提供一种静电测试方法，该方法包括以下步骤：将待测试设备以及导电介质放置于绝缘测试台上，其中，待测试设备与导电介质接触；控制静电器向待测试设备发出静电，以使导电介质传输待测试设备接触到静电之后所传输的电荷，至与导电介质连接的第一阻抗元件，其中，第一阻抗元件接地。
106.在一种可能的实现方式中，控制静电器向待测试设备发出静电，包括：控制静电器向待测试设备中未与导电介质接触的部位发出静电。
107.示例性地，为了模拟用户手持待测试设备时，用户所产生的静电会通过待测试设备向其它物体放电的现象，本实施例中通过控制静电器向设置于绝缘台上的待测试设备进行放电，进而使得待测试设备中的电荷可以向与待测试设备接触的导电介质传输，之后，导电介质将接收到的电荷传输至与导电介质连接的第一阻抗元件，进而通过第一阻抗元件模拟人体阻抗，并采用导电介质模拟人手。
108.一个示例中，在基于图2中的测试设备对待测试设备进行静电测试时，若待测试设备具有图像显示或者音频播放等功能时，在进行静电测试过程中，可以通过检测待测试设备所播放显示的图像或是播放的音频是否正常来确定该待测试设备是否通过静电测试，其中，待测试设备所显示的图像或者所播放的音频可以为外部设备发送至待测试设备的，也可以为待测试设备中本身所储存的，此处不做具体限制。
109.一个示例中，若对于无法播放显示图像或者音频的待测试设备，例如，手持遥控器而言，可以通过静电器向该待测试设备进行放电之后，将待测试设备置于其余测试装置中，通过其余测试装置对手持遥控器的按键功能进行测试。
110.在一些实施例中，在采用静电器向待测试设备发出静电时，可以通过以下步骤实现：
111.重复以下步骤，直到达到预设的第一停止条件：控制静电器向待测试设备中未与导电介质接触的部位发出第一极性的静电。
112.重复以下步骤，直到达到预设的第二停止条件：控制静电器向待测试设备中未与导电介质接触的部位发出第二极性的静电。
113.示例性地，本实施例中，由于人体所携带的电荷的极性不固定，即，人体携带的电荷可能为正极性的电荷或者负极性的电荷。因此，在进行静电测试的过程中，静电器需要分别向待测试设备注入不同极性的静电电荷。具体地，在静电测试时，可以通过静电器向待测试设备注入第一极性的静电，直到达到预设的第一停止条件。其中，预设的第一停止条件可以为静电器发射第一极性的静电的次数。同样地，第二停止条件也可以为静电器发射第二极性的静电的次数，其中，第一极性与第二极性表征两种不同的极性。举例来说，在实际测试过程中，在向待测试设备注入10次正极性的静电电荷之后，向待测试设备注入10次负极性的静电电荷。进而，通过上述方法可以模拟人体携带不同极性的静电时，人体通过待测试设备向其它低电位物体放电的场景。需要说明的是，预设的第一停止条件以及预设的第二停止条件也可以为预先设置的放电时间，本实施例中不做具体限制。
114.在一些实施例中，在静电测试过程中，还可以不断改变导电介质与待测试设备的接触区域。举例来说，如图6所示，当人手持遥控器时，手持部位一般为图中金属网的包裹位置，当采用上述导电介质的设置方式进行静电测试时，为了避免静电器注入待测试设备的静电电荷向导电介质传输时，每次都从遥控器的同一空隙处传输至金属网，因此，在测试过程中，可以改变金属网的包裹位置，即将金属网包裹在图6中未包裹金属网的区域，之后，静电器可以向人经常手持部位处(即当前图6中所示的金属网的包裹区域)的不同空隙处注入电荷，增加了静电电荷在遥控器中的传输路径的多样性，提高静电测试的精度。
115.本实施例中的静电测试方法中的静电传输路径可以有效的模拟真实场景中，人体通过待测试设备向其余低电位设备进行放电时的传输路径，进而提高静电测试的有效性。此外，本实施例中对于静电器向待测试设备传输的静电电荷的极性以及大小、放电次数、放
电频率均不做限制，具体地，可以结合待测试设备所对应的静电要求来设计。
116.本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的内容后，将容易想到本技术的其它实施方案。本技术旨在涵盖本技术的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本技术的一般性原理并包括本技术未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本技术的真正范围和精神由所附的权利要求书指出。
117.应当理解的是，本技术并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本技术的范围仅由所附的权利要求书来限制。