技术特征：
1.一种动态调整测项比例的主板检测方法，其特征在于，所述方法包括：确定待测主板对应的第一检测周期的第一检测项目集和第一检测比例，所述第一检测项目集包含至少一个第一检测项目；将所述第一检测比例与第一门限值进行比较，根据比较结果对第一检测比例进行更新，确定更新后的检测比例；根据所述更新后的检测比例对所述待测主板对应的第二检测周期的第二检测项目集进行检测，所述第二检测项目集包含至少一个第二检测项目；若所述比较结果为所述第一检测比例不低于所述第一门限值，基于第一下降趋势对所述第一检测比例进行更新；若所述比较结果为所述第一检测比例低于所述第一门限值，基于第二下降趋势对所述第一检测比例进行更新；所述第一下降趋势对所述第一检测比例的缩减大于所述第二下降趋势对所述第一检测的缩减。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定待测主板对应的第一检测周期的第一检测项目集和第一检测比例之后，所述方法还包括：根据所述第一检测比例确定对应的第一检测概率；根据所述第一检测概率确定所述第一检测项目集是否需要进行检测；若确定为所述第一检测项目集需要进行检测，根据所述第一检测项目集对应的检测结果确定是否进行第二检测项目集的检测。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述确定为所述第一检测项目集需要进行检测之后，所述方法还包括：若所有第一检测项目对应的检测结果为检测合格，对所述第二检测项目集进行检测；若存在任一第一检测项目对应的检测结果为检测不合格，对所述第一检测比例进行初始化，确定初始检测比例，并根据所述第一检测比例对所述第一门限值进行调整，获得第二门限值；根据所述第二门限值和所述初始检测比例对第三检测项目集进行检测。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在存在任一第一检测项目对应的检测结果为检测不合格之后，所述方法还包括：根据局部性原理确定与所述检测不合格的第一检测项目对应的第三检测项目集。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于第一下降趋势对所述第一检测比例进行更新，包括：对所述待测主板的每一检测周期的轮次进行记录，以确定第一检测周期对应的第一周期轮次；根据所述第一周期轮次和预设的第一缩减参数确定第一缩减值；通过所述第一缩减值对所述第一检测比例进行缩减，确定第一候选比例；根据所述第一门限值确定第二候选比例；对所述第一候选比例和第二候选比例进行比较，将数值较小的候选比例确定为第二检测比例。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于第二下降趋势对所述第一检测比例进行更新，包括：通过预设的第二缩减值对所述第一检测比例进行缩减，确定第三候选比例；
对所述第三候选比例和预设的最低候选比例进行比较，将数值较大的候选比例确定为第三检测比例。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在最低候选比例为数值较大的候选比例的情况下，所述方法还包括：确定与所述最低候选比例对应的检测周期的周期轮次；若所述周期轮次满足预设周期阈值，对所述最低候选比例进行缩减，获得第四检测比例；根据所述第四检测比例对下一检测周期的检测项目进行检测。8.一种动态调整测项比例的主板检测装置，其特征在于，所述装置包括：确定模块，用于确定待测主板对应的第一检测周期的第一检测项目集和第一检测比例，所述第一检测项目集包含至少一个第一检测项目；更新模块，用于将所述第一检测比例与第一门限值进行比较，根据比较结果对第一检测比例进行更新，确定更新后的检测比例；检测模块，用于根据所述更新后的检测比例对所述待测主板对应的第二检测周期的第二检测项目集进行检测，所述第二检测项目集包含至少一个第二检测项目；若所述比较结果为所述第一检测比例不低于所述第一门限值，基于第一下降趋势对所述第一检测比例进行更新；若所述比较结果为所述第一检测比例低于所述第一门限值，基于第二下降趋势对所述第一检测比例进行更新；所述第一下降趋势对所述第一检测比例的缩减大于所述第二下降趋势对所述第一检测的缩减。9.一种电子设备，其特征在于，所述设备包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1~7中任一所述的方法。10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1~7中任一项所述的方法。
技术总结
本申请提供了一种动态调整测项比例的主板检测方法、装置、设备及介质，方法包括：确定待测主板对应的第一检测周期的第一检测项目集和第一检测比例；将第一检测比例与第一门限值进行比较，根据比较结果对第一检测比例进行更新，确定更新后的检测比例；根据更新后的检测比例对待测主板对应的第二检测周期的第二检测项目集进行检测；若比较结果为第一检测比例不低于第一门限值，基于第一下降趋势对第一检测比例进行更新；若比较结果为第一检测比例低于第一门限值，基于第二下降趋势对第一检测比例进行更新；第一下降趋势大于第二下降趋势对第一检测的缩减；应用本方法，能够在检测良品率要求的情况下降低测试成本，提高检测效率。率。率。
技术研发人员：柏鹏 张官林 严章鹏 秦家虎
受保护的技术使用者：联宝（合肥）电子科技有限公司
技术研发日：2022.06.23
技术公布日：2022/7/22