材料表面质量检测方法、系统及存储介质与流程

1.本发明涉及材料表面检测技术领域，具体是涉及一种材料表面质量检测方法、系统及存储介质。


背景技术：

2.随着高端制造业的不断深化和发展，制造产品逐步从数量扩增向质量提升转变，可以实现产品竞争力的跃升。提升产品质量需要加强品质检验，需要对材料表面进行较为精细的检测。现有的对于材料表面质量的检测过程需要人干预的步骤较多，自动化程度有限，不能够直接将表面存在缺陷的部位进行自动标识，使用不够方便。因此，需要提供一种材料表面质量检测方法、系统及存储介质，旨在解决上述问题。


技术实现要素：

3.针对现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种材料表面质量检测方法、系统及存储介质，以解决上述背景技术中存在的问题。
4.本发明是这样实现的，一种材料表面质量检测方法，所述方法包括以下步骤：采集得到材料表面图片；通过检测光线发射装置发射检测光线，所述检测光线发射装置在检测过程中是进行移动的，以保证检测光线能够对材料表面进行全面检测；通过检测光线接收装置获取是否在光线接收区接收到反射光线，所述检测光线接收装置是跟随检测光线接收装置进行同步移动的；当在光线接收区未接收到反射光线，获取对应检测光线的检测位置坐标，在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识。
5.作为本发明进一步的方案：所述通过检测光线发射装置发射检测光线的步骤，具体包括：接收检测光线发射装置的运行程序，所述运行程序包括运行速度和运行方向；开启检测光线发射装置和驱动装置，所述驱动装置根据运行程序使得检测光线发射装置进行移动；根据运行程序实时得到检测光线的检测位置坐标。
6.作为本发明进一步的方案：所述通过检测光线接收装置获取是否在光线接收区接收到反射光线的步骤，具体包括：接收光线接收区的范围确定值；根据所述范围确定值确定光线接收区的区域面积；判定检测光线接收装置上的光线接收区是否持续接收到反射光线。
7.作为本发明进一步的方案：所述当在光线接收区未接收到反射光线，获取对应检测光线的检测位置坐标，在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识的步骤，具体包括：当检测光线接收装置上的光线接收区存在某个时刻未接收到反射光线，记录下对
应的时刻；根据所述时刻获取对应检测光线的检测位置坐标，当开始检测时，所述运行程序上附带有时间信息，根据时间信息能够得到检测位置坐标；在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识。
8.作为本发明进一步的方案：所述方法还包括：检测光线发射装置运行完成后，判定所检测的材料是否需要报废处理。
9.作为本发明进一步的方案：所述判定所检测的材料是否需要报废处理的步骤，具体包括：接收数量阈值；对标识的位置坐标的数量进行统计，得到缺陷数量值；将缺陷数量值与数量阈值进行比较得到是否需要报废处理。
10.本发明的另一目的在于提供一种材料表面质量检测系统，所述系统包括：图片采集模块，用于采集得到材料表面图片；检测光线发射模块，用于通过检测光线发射装置发射检测光线，所述检测光线发射装置在检测过程中是进行移动的，以保证检测光线能够对材料表面进行全面检测；反射光线检测模块，用于通过检测光线接收装置获取是否在光线接收区接收到反射光线，所述检测光线接收装置是跟随检测光线接收装置进行同步移动的；以及缺陷标识模块，当在光线接收区未接收到反射光线，获取对应检测光线的检测位置坐标，在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识。
11.作为本发明进一步的方案：所述检测光线发射模块包括：运行程序接收单元，用于接收检测光线发射装置的运行程序，所述运行程序包括运行速度和运行方向；发射驱动开启单元，用于开启检测光线发射装置和驱动装置，所述驱动装置根据运行程序使得检测光线发射装置进行移动；以及检测位置坐标确定单元，用于根据运行程序实时得到检测光线的检测位置坐标。
12.作为本发明进一步的方案：所述反射光线检测模块包括：范围值接收单元，用于接收光线接收区的范围确定值；接收区区域确定单元，用于根据所述范围确定值确定光线接收区的区域面积；以及反射光线检测单元，用于判定检测光线接收装置上的光线接收区是否持续接收到反射光线。
13.本发明的另一目的在于提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现所述的材料表面质量检测方法的步骤。
14.与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明通过检测光线发射装置发射的检测光线对材料表面进行全面照射，检测光线照射到材料表面之后，会发生反射，如果材料表面没有缺陷，反射光线会进入检测光线接收装置的接收区，检测光线接收装置是跟随检测光线接收装置进行同步移动的，如果在光线接收区未接收到反射光线，说明材料表面存在缺陷，例如划痕、凹凸不平，反射光线的原有角度被改变，此时本发明自动获取对应检测光线的检测位置坐标，在材料表面图片的对
应位置坐标上进行标识；本发明能够对材料表面进行高精度检测，并将材料表面存在缺陷的部位进行自动标识，使用方便。
附图说明
15.图1为一种材料表面质量检测方法的流程图。
16.图2为一种材料表面质量检测方法中进行检测的示意图。
17.图3为一种材料表面质量检测方法中通过检测光线发射装置发射检测光线的流程图。
18.图4为一种材料表面质量检测方法中通过检测光线接收装置获取是否在光线接收区接收到反射光线的流程图。
19.图5为一种材料表面质量检测方法中在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识的流程图。
20.图6为一种材料表面质量检测方法中判定所检测的材料是否需要报废处理的流程图。
21.图7为一种材料表面质量检测系统的结构示意图。
22.图8为一种材料表面质量检测系统中检测光线发射模块的结构示意图。
23.图9为一种材料表面质量检测系统中反射光线检测模块的结构示意图。
具体实施方式
24.为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清晰，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
25.以下结合具体实施例对本发明的具体实现进行详细描述。
26.如图1所示，本发明实施例提供了一种材料表面质量检测方法，所述方法包括以下步骤：s100，采集得到材料表面图片；s200，通过检测光线发射装置发射检测光线，所述检测光线发射装置在检测过程中是进行移动的，以保证检测光线能够对材料表面进行全面检测；s300，通过检测光线接收装置获取是否在光线接收区接收到反射光线，所述检测光线接收装置是跟随检测光线接收装置进行同步移动的；s400，当在光线接收区未接收到反射光线，获取对应检测光线的检测位置坐标，在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识。
27.需要说明的是，随着高端制造业的不断深化和发展，制造产品逐步从数量扩增向质量提升转变，可以实现产品竞争力的跃升。提升产品质量需要加强品质检验，需要对材料表面进行较为精细的检测。现有的对于材料表面质量的检测过程需要人干预的步骤较多，不能够直接将表面存在缺陷的部位进行自动标识，本发明实施例旨在解决上述问题。
28.本发明实施例中，首先需要将待检测材料放置到检测平台上，通过安装在检测平台上的图片采集设备采集得到材料表面图片，然后就可以正式开始检测了，开启检测光线发射装置，检测光线发射装置发射出检测光线照射到材料表面，需要说明的是，检测光线发
射装置在检测过程中是进行移动的，以保证检测光线能够对材料表面进行全面检测，检测光线照射到材料表面之后，会发生反射，如果材料表面没有缺陷，反射光线会进入检测光线接收装置的接收区，所述检测光线接收装置与检测光线发射装置之间是固定连接的，检测光线接收装置是跟随检测光线接收装置进行同步移动的，如果在光线接收区未接收到反射光线，说明材料表面存在缺陷，例如划痕、凹凸不平，反射光线的原有角度被改变，此时本发明实施例自动获取对应检测光线的检测位置坐标，在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识，检测光线照射到材料表面的位置即为检测位置坐标，本发明实施例能够对材料表面进行高精度检测，并将表面存在缺陷的部位进行自动标识，本发明实施例适用于对光滑平面进行检测，例如屏幕等。
29.如图2和图3所示，作为本发明一个优选的实施例，所述通过检测光线发射装置发射检测光线的步骤，具体包括：s201，接收检测光线发射装置的运行程序，所述运行程序包括运行速度和运行方向，方便确定检测光线发射装置的实时坐标；s202，开启检测光线发射装置和驱动装置，所述驱动装置根据运行程序使得检测光线发射装置进行移动；s203，根据运行程序实时得到检测光线的检测位置坐标。
30.本发明实施例中，为了保证检测光线能够对材料表面进行全面检测，需要事先根据材料表面的形状编写运行程序，将运行程序上传至驱动装置中，然后开启检测光线发射装置和驱动装置，这样，驱动装置就能够根据运行程序使得检测光线发射装置进行移动，驱动装置至少能够对检测光线发射装置进行x方向和y方向的驱动，然后根据运行程序实时得到检测光线的检测位置坐标，容易理解，将检测光线发射装置的运行平面与材料检测表面保持平行，将检测光线的发射角度保持固定，检测位置坐标就很容易根据检测光线发射装置的位置得到，事先编写好检测位置坐标确定公式即可，例如a表示检测光线发射装置，b表示检测光线接收装置，检测光线发射装置距离材料表面的高度为h，检测光线的发射角度为q，a的坐标为（x，y），则检测位置坐标为（x+h*tanq，y），这里的坐标都是用来表示平面上的位置，不反映高度信息。
31.如图4所示，作为本发明一个优选的实施例，所述通过检测光线接收装置获取是否在光线接收区接收到反射光线的步骤，具体包括：s301，接收光线接收区的范围确定值；s302，根据所述范围确定值确定光线接收区的区域面积；s303，判定检测光线接收装置上的光线接收区是否持续接收到反射光线。
32.本发明实施例中，检测光线接收装置上的光线接收区的大小是可以调节的，容易理解，光线接收区越小，检测精度越高，如此适合检验不同精度要求的材料表面，事先设定光线接收区的范围确定值，根据所述范围确定值确定光线接收区的区域面积，然后在正式检测时，判定检测光线接收装置上的光线接收区是否持续接收到反射光线即可。
33.如图5所示，作为本发明一个优选的实施例，所述当在光线接收区未接收到反射光线，获取对应检测光线的检测位置坐标，在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识的步骤，具体包括：s401，当检测光线接收装置上的光线接收区存在某个时刻未接收到反射光线，记
录下对应的时刻；s402，根据所述时刻获取对应检测光线的检测位置坐标，当开始检测时，所述运行程序上附带有时间信息，根据时间信息能够得到检测位置坐标；s403，在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识。
34.本发明实施例中，当检测光线接收装置上的光线接收区存在某个时刻未接收到反射光线，说明此时的反射光线未进入光线接收区，记录下对应的时刻，根据这个时刻获取对应检测光线的检测位置坐标，开启检测光线发射装置和驱动装置时，所述运行程序上附带有时间信息，根据时间信息能够得到检测位置坐标，最后在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识，材料表面图片上设置有坐标系。
35.如图6所示，作为本发明一个优选的实施例，所述方法还包括：检测光线发射装置运行完成后，判定所检测的材料是否需要报废处理，具体包括：s501，接收数量阈值；s502，对标识的位置坐标的数量进行统计，得到缺陷数量值；s503，将缺陷数量值与数量阈值进行比较得到是否需要报废处理。
36.本发明实施例中，容易理解，如果一块较大的材料表面只有少数缺陷，这个材料还是可以使用的，或者可以进行返工返修处理，只有当缺陷数量较多时，材料需要直接报废，本发明实施例事先设定有数量阈值，当检测完成后，对标识的位置坐标的数量进行统计，得到缺陷数量值，如果缺陷数量值达到数量阈值，则材料需要报废处理。
37.如图7所示，本发明实施例还提供了一种材料表面质量检测系统，所述系统包括：图片采集模块100，用于采集得到材料表面图片；检测光线发射模块200，用于通过检测光线发射装置发射检测光线，所述检测光线发射装置在检测过程中是进行移动的，以保证检测光线能够对材料表面进行全面检测；反射光线检测模块300，用于通过检测光线接收装置获取是否在光线接收区接收到反射光线，所述检测光线接收装置是跟随检测光线接收装置进行同步移动的；以及缺陷标识模块400，当在光线接收区未接收到反射光线，获取对应检测光线的检测位置坐标，在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识。
38.本发明实施例中，首先需要将待检测材料放置到检测平台上，采集得到材料表面图片，然后就可以正式开始检测了，开启检测光线发射装置，检测光线发射装置发射出检测光线照射到材料表面，需要说明的是，检测光线发射装置在检测过程中是进行移动的，以保证检测光线能够对材料表面进行全面检测，检测光线照射到材料表面之后，会发生反射，如果材料表面没有缺陷，反射光线会进入检测光线接收装置的接收区，所述检测光线接收装置与检测光线发射装置之间是固定连接的，检测光线接收装置是跟随检测光线接收装置进行同步移动的，如果在光线接收区未接收到反射光线，说明材料表面存在缺陷，例如划痕、凹凸不平，反射光线的原有角度被改变，此时本发明实施例自动获取对应检测光线的检测位置坐标，在材料表面图片的对应位置坐标上进行标识，检测光线照射到材料表面的位置即为检测位置坐标，本发明实施例能够对材料表面进行高精度检测，并将表面存在缺陷的部位进行自动标识，本发明实施例适用于对光滑平面进行检测，例如屏幕等。
39.如图8所示，作为本发明一个优选的实施例，所述检测光线发射模块200包括：运行程序接收单元201，用于接收检测光线发射装置的运行程序，所述运行程序包
括运行速度和运行方向；发射驱动开启单元202，用于开启检测光线发射装置和驱动装置，所述驱动装置根据运行程序使得检测光线发射装置进行移动；以及检测位置坐标确定单元203，用于根据运行程序实时得到检测光线的检测位置坐标。
40.本发明实施例中，为了保证检测光线能够对材料表面进行全面检测，需要事先根据材料表面的形状编写运行程序，将运行程序上传至驱动装置中，然后开启检测光线发射装置和驱动装置，这样，驱动装置就能够根据运行程序使得检测光线发射装置进行移动，驱动装置至少能够对检测光线发射装置进行x方向和y方向的驱动，然后根据运行程序实时得到检测光线的检测位置坐标，容易理解，将检测光线发射装置的运行平面与材料检测表面保持平行，将检测光线的发射角度保持固定，检测位置坐标就很容易根据检测光线发射装置的位置得到，事先编写好检测位置坐标确定公式即可。
41.如图9所示，作为本发明一个优选的实施例，所述反射光线检测模块300包括：范围值接收单元301，用于接收光线接收区的范围确定值；接收区区域确定单元302，用于根据所述范围确定值确定光线接收区的区域面积；以及反射光线检测单元303，用于判定检测光线接收装置上的光线接收区是否持续接收到反射光线。
42.本发明实施例中，检测光线接收装置上的光线接收区的大小是可以调节的，容易理解，光线接收区越小，检测精度越高，如此适合检验不同精度要求的材料表面，事先设定光线接收区的范围确定值，根据所述范围确定值确定光线接收区的区域面积，然后在正式检测时，判定检测光线接收装置上的光线接收区是否持续接收到反射光线即可。
43.本发明实施例还提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现所述的材料表面质量检测方法的步骤。
44.以上仅对本发明的较佳实施例进行了详细叙述，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
45.应该理解的是，虽然本发明各实施例的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，各实施例中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
46.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器（rom）、可编程rom（prom）、电可编程rom（eprom）、电可擦除可编程rom（eeprom）或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器
（ram）或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram（sram）、动态ram（dram）、同步dram（sdram）、双数据率sdram（ddrsdram）、增强型sdram（esdram）、同步链路（synchlink）dram（sldram）、存储器总线（rambus）直接ram（rdram）、直接存储器总线动态ram（drdram）、以及存储器总线动态ram（rdram）等。
47.本领域技术人员在考虑说明书及实施例处的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本技术旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。