一种平面接触式芯片或摄像头测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及测试装置设计领域，尤其是涉及一种平面接触式芯片或摄像头测试装置。


背景技术：

2.为了验证芯片或者摄像头能否正常工作，常需要对芯片或者摄像头进行测试操作，而现在常见的芯片或者摄像头测试装置多是依靠其上的测试凸点与芯片或者摄像头上的pad(即接线点)直接接触，以此来对芯片或者摄像头实现测试的。
3.这种凸点接触测试的方式，由于需要保证凸点和芯片或者摄像头上的pad充分接触来保证测试可靠性，常需要对其之间施加一定的压力使其能紧密接触。但是，由于凸点上与pad的接触的位置的表面积小，于凸点处施力时，pad受到的压强大，容易造成pad的损伤，影响测试后的芯片或者摄像头的正常使用。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，可以解决上述问题的一个或者多个。
5.根据本实用新型的一个方面，提供了一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，包括活动模、固定模、测试件和进给机构，所述测试件与活动模相连接，所述测试件上设有测试平面，所述固定模上设有载物槽，所述进给机构与活动模相连接，所述载物槽用于放置待测件，所述测试平面能与载物槽上放置的待测件相接触。
6.本实用新型的有益效果是：本实用新型中，通过设置进给机构，能使得活动模朝向固定模进行移动，从而方便测试件上的测试平面与载物槽上的待测件实现接触，以使得测试件对待测件进行测试，而且进给机构能提供一定的压力来保证测试件和待测件的可靠接触，来有效保证本实用新型的测试可靠性，同时，由于测试件是通过测试平面来与待测件进行接触的，测试平面的与待测件的接触面大，待测件受到的压强小，能有效降低测试操作对待测件造成损伤的概率，保证测试后的产品的使用可靠性。
7.在一些实施方式中，本实用新型还包括导柱，所述导柱为多个，所述导柱的一端与活动模相连接，另一端与固定模相连接。由此，导柱能对活动模的移动起导向作用，以保证活动模的移动准确性。
8.在一些实施方式中，本实用新型还包括缓冲垫，所述测试件通过缓冲垫与活动模相连接。由此，缓冲垫能起缓冲作用，减少测试件与载物槽上的待测件接触时发生的冲击，进一步降低接触时发生损伤的概率。
9.在一些实施方式中，所述固定模上设有防退槽，所述防退槽能用于安装挡块。由此，挡块的设置能有效避免待测件与测试件接触时发生后退，以保证其之间能充分接触，提高测试可靠性，同时设置防退槽，能方便挡块的更换，以适应不同尺寸的待测件使用。
10.在一些实施方式中，所述进给机构包括动力部、连接件和限位块，所述动力部与连
接件相连接，所述限位块设有限位孔，所述连接件穿过限位孔，并与活动模相连接。由此，能通过动力部来驱动连接件的移动，从而实现活动模的移动，而限位块的设置，其能对连接件的移动起限位作用，以保证连接件的移动准确性，从而提高活动模的移动精度。
11.在一些实施方式中，本实用新型还包括底座，所述固定模固定安装在底座上，所述活动模可移动地设置于底座上。
12.在一些实施方式中，本实用新型还包括外罩，所述固定模和活动模均位于外罩内，所述外罩上设有孔，所述载物槽从孔中露出。由此，外罩的设置能有效对固定模和活动模起遮挡和保护作用，并且通过设置孔，能避免外罩对待测件的放置造成阻碍。
13.在一些实施方式中，所述固定模上设有限位槽，所述测试件位于限位槽内。限位槽的设置能对测试件的位置进行限制，来保证测试件与待测件的接触准确性，以此提高本实用新型的测试可靠性。
附图说明
14.图1为本实用新型的一种实施方式的平面接触式芯片或摄像头测试装置的结构示意图。
15.图2为本实用新型的一种实施方式的平面接触式芯片或摄像头测试装置未设置外罩时的结构示意图。
16.图3为本实用新型的一种实施方式的平面接触式芯片或摄像头测试装置未设置外罩时的左视图。
17.图4为本实用新型的一种实施方式的平面接触式芯片或摄像头测试装置未设置外罩时的俯视图。
18.图5为本实用新型的一种实施方式的平面接触式芯片或摄像头测试装置的测试件的结构示意图。
19.图中：1.活动模、2.固定模、3.测试件、4.进给机构、5.底座、6.缓冲垫、7.导柱、8.外罩、21.载物槽、22.防退槽、23.限位槽、31.测试平面、41.动力部、42.连接件、43.限位块和81.孔。
具体实施方式
20.下面结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。
21.参考图1～图5，本实用新型的一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，包括活动模1、固定模2、测试件3、进给机构4和底座5。
22.固定模2通过螺栓固定安装在底座5上，固定模2上设有载物槽21，载物槽21能用于放置待测件，待测件可以为芯片或者摄像头等，待测件上能设置有用于与外部电路导通的pad。
23.测试件3可以为测试用的pcb板，测试件3上设有测试平面31，测试平面31上可以设有焊盘，测试件3可以与外部显示器等结构电性连接，以方便对其测试结果进行显示。
24.本实用新型的平面接触式芯片或摄像头测试装置还包括缓冲垫6，缓冲垫6的一侧与测试件3相粘接，缓冲垫6的另一侧与活动模1相粘接，即测试件3通过缓冲垫6与活动模1相连接。
25.活动模1能通过导轨可活动地安装在底座5上，本实用新型的平面接触式芯片或摄像头测试装置还包括导柱7，导柱7为多个，所有导柱7的一端均与活动模1固定连接，而固定模2的内设有多个导孔，导孔的数量与导柱7的数量相当，多个导柱7的另一端一一对应可移动地连接于固定模2的多个导孔内。
26.进给机构4包括动力部41、连接件42和限位块43。动力部41与连接件42相连接，而限位块43上设有限位孔，连接件42穿过限位孔，并与活动模1固定连接，限位块43通过螺栓固定安装在底座5上。
27.进给机构4可以采用人力作动力或者机器动力等不同方式。当进给机构4采用人力作动力方式，连接件42能优选为丝杠，动力部41能优选为旋柄，限位块43能优选为螺母，限位孔优选为螺孔，则旋柄与丝杠相连接，且丝杠穿过螺孔，并且丝杠于螺孔中通过螺纹配合与螺母相连接，而丝杠还与活动模1相连接，从而用户能人工转动旋柄，以此使得丝杠转动，而丝杠的转动由于受到螺母的限制，使得丝杠变为直线移动，同时，螺母还能对丝杠的移动限位作用，以保证其移动准确性，而丝杠的直线移动能带动活动模1的移动；当进给机构4采用机器动力方式，则连接件42能优选为活塞杆，动力部41能优选为气缸，限位孔可以为光孔，则气缸与活塞杆相连接，活塞杆穿过限位孔，并与活动模1通过螺栓固定连接，从而气缸能带动活塞杆直线移动，而活塞杆的直线移动能带动活动模1的移动，并且限位块43能对活塞杆的移动起限位作用，以保证其移动准确性。
28.而设置后的活动模1与固定模2相对，使得活动模1的移动能沿着导柱7朝靠近或者远离固定模2的直线方向移动，从而与活动模1相连接的测试件3也能朝靠近或者远离固定模2的直线方向移动，并且在需要时，测试件3上的测试平面31上的焊盘能与载物槽21上放置的待测件的pad相接触，来实现待测件与测试件3的连通。
29.固定模2上还设有防退槽22，限位槽22与载物槽21相连通，且防退槽22能用于安装挡块，挡块能在测试件3与待测件接触时，对待测件的移动造成阻碍，以此保证待测件与测试件3的充分接触，提高其之间的测试可靠性。
30.而固定模2上还设有限位槽23，测试件3位于限位槽23内。限位槽23的设置能对测试件3的位置进行限制，来保证测试件3与待测件的接触准确性，以此提高本实用新型的测试可靠性。
31.本实用新型还包括外罩8，外罩8通过螺栓固定连接在底座5上，且固定模2和活动模1均位于外罩8内，则固定模2和活动模1均能受到外罩8的保护，外罩8上设有孔81，载物槽21和防退槽22均从孔81中露出，从而避免外罩8对待测件于载物槽21上的置入或者挡块于防退槽22内的置入造成阻碍。
32.本实用新型在使用时，待测件能置于载物槽21上，而挡块能置于防退槽22上，之后通过动力部41带动连接件42移动，则与连接件42相连接的活动模1随动，使得活动模1能朝着靠近固定模2方向移动，即与活动模1相连接的测试件3也朝靠近固定模2的方向移动。
33.当测试件3上的测试平面31上的焊盘能与载物槽21上放置的待测件的pad相接触时，则待测件与测试件3的相导通，测试件3能对待测件进行测试。并且，在测试平面31与待测件接触时，由于有进给机构4提供的一定的压力，加上待测件受到挡块的阻碍，能有效保证测试平面31与待测件的接触充分，以保证测试效果，同时，由于设置的是测试平面31，测试平面31与带侧面的接触面大，待测件受到的压强小，能有效降低测试操作对待测件造成
损伤的概率，保证测试后的产品的使用可靠性。另外，缓冲垫6能起缓冲作用，减少测试件3与载物槽21上的待测件接触时发生的冲击，进一步降低接触时发生损伤的概率。
34.测试结束后，能再通过动力部41带动连接件42移动，则与连接件42相连接的活动模1随动，使得活动模1能朝着远离固定模2方向移动，即与活动模1相连接的测试件3也朝远离固定模2的方向移动。由此，测试平面31与待测件的接触分开，此时，用户可以对测试结束的产品取下，并更换新一个待测件，即可进行下次的测试。
35.以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。