一种用于芯片加电的探针装置的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种用于芯片加电的探针装置。


背景技术：

2.目前，在大功率芯片的测试中，大多会采用多探针的方式给芯片加电，以满足芯片测试的大阈值电流，而多探针的加电方式通常是先将多个探针组合成的探针卡(具体结构请参阅专利cn202010483640.8中公开的一种触控产品屏幕面板偏压芯片测试探针卡)与芯片接触，再通过探针卡对芯片加电。
3.探针卡在使用过程中，虽然较为便利，但由于探针通常是与探针卡固定的，且探针的最大加载电流具有一定的限度，因而探针卡在使用过程中，会存在以下两个问题：1、探针卡的通用性不强(即在面对不同规格的芯片时，需要使用不同探针数量的探针卡)；2、探针的安装、修理较为不便。
4.故亟需一种用于芯片加电的探针装置，以解决现有的芯片加电装置存在的通用性不强以及安装、修理较为不便的问题。


技术实现要素：

5.有鉴于此，有必要提供一种用于芯片加电的探针装置，以解决现有的芯片加电装置存在的通用性不强以及安装、修理较为不便的问题。
6.本实用新型提供一种用于芯片加电的探针装置，包括固定座、线缆、 l形连接杆、夹持组件以及探针，所述固定座与所述l形连接杆的一端固定连接，所述l形连接杆的另一端通过所述夹持组件与所述探针的一端可拆卸连接，所述线缆与所述夹持组件电连接，以通过所述夹持组件向所述探针供电。
7.进一步的，所述固定座包括底座、调节组件以及固定组件，所述底座与所述调节组件的固定端固定连接，所述调节组件的调节端通过所述固定组件与所述l形连接杆的一端固定连接，所述调节组件用于使所述l 形连接杆在x轴、y轴以及z轴方向上移动。
8.进一步的，所述调节组件为燕尾槽式手动滑台。
9.进一步的，所述固定组件包括固定块、压紧块以及若干个锁紧件；
10.所述固定块的一侧与所述调节组件的调节端固定连接，所述固定块的另一侧开设有第一固定槽，所述压紧块上开设有与所述第一固定槽对应的第二固定槽，所述固定块与所述压紧块通过若干个所述锁紧件可拆卸连接，所述固定块在与所述压紧块连接后，所述第一固定槽可与所述第二固定槽形成一用于固定所述l形连接杆的固定腔。
11.进一步的，所述固定块的一侧与所述压紧块的一侧铰接。
12.进一步的，所述底座为磁吸座。
13.进一步的，所述夹持组件包括绝缘座、夹头以及锁紧螺母；
14.所述绝缘座的一侧与所述l形连接杆的一端固定连接，所述绝缘座的另一侧与所述夹头的一端固定连接，所述夹头的另一端形成有多个相互分离的夹持部，多个所述夹持
部的内部形成有一夹持腔，多个所述夹持部的外部形成有一圆锥面，所述圆锥面上形成有螺纹，所述锁紧螺母套设于所述圆锥面上，并与所述圆锥面螺纹连接。
15.进一步的，所述l形连接杆为中空结构，所述l形连接杆在靠近所述夹持组件的一端开设有与其内部连通的若干个过孔，所述线缆的一端设置于所述l形连接杆的内部，所述线缆的另一端穿过若干个所述过孔与所述夹持组件电连接。
16.进一步的，所述探针为l形探针。
17.进一步的，所述l形探针的两端的夹角为140
°‑
160
°
。
18.相较于现有技术，本实用新型提供的用于芯片加电的探针装置的有益效果为：
19.一方面，该装置为单探针结构，与集成式的探针卡相比，该装置在使用过程中，更加灵活、通用性更强(即能够根据芯片的需求来设置不同数量的探针)；
20.另一方面，该装置中的探针与其他部分的连接方式为可拆卸式连接，在探针损坏后，工作人员能够更加方便的对其进行修理；
21.另一方面，该装置中为l形结构的连接杆可在芯片的上方留出较大的空间，从而使得功能测试装置(如相机、显微镜等)的使用更加方便。
附图说明
22.图1为本实用新型提供的用于芯片加电的探针装置一优选实施例的结构示意图；
23.图2为多个用于芯片加电的探针装置配合使用的结构示意图；
24.图3为本实用新型提供的用于芯片加电的探针装置中，固定座一优选实施例的结构示意图；
25.图4为本实用新型提供的用于芯片加电的探针装置中，除固定座外的部分的结构示意图；
26.图5为图4中a处的局部放大图。
具体实施方式
27.下面结合附图来具体描述本实用新型的优选实施例，其中，附图构成本技术一部分，并与本实用新型的实施例一起用于阐释本实用新型的原理，并非用于限定本实用新型的范围。
28.请参阅图1和图2，本实用新型提供了一种用于芯片加电的探针装置，该用于芯片加电的探针装置包括固定座1、线缆2、l形连接杆3、夹持组件4以及探针5，所述固定座1与所述l形连接杆3的一端固定连接，所述l形连接杆3的另一端通过所述夹持组件4与所述探针5的一端可拆卸连接，所述线缆2与所述夹持组件4电连接，以通过所述夹持组件4 向所述探针5供电。
29.在实际的使用过程中，工作人员只需先将一个或多个所述用于芯片加电的探针装置布置于芯片6的周围(具体的使用方式请参阅图2)，再调整整个装置的位置，以使所述探针5与芯片6接触，再向所述线缆2 通电，便可对芯片6进行加电测试。
30.相较于现有技术，本实用新型提供的用于芯片加电的探针装置的有益效果为：
31.一方面，该装置为单探针5结构，与集成式的探针5卡相比，该装置在使用过程中，更加灵活、通用性更强；
32.另一方面，该装置中的探针5与其他部分的连接方式为可拆卸式连接，在探针5损坏后，工作人员能够更加方便的对其进行修理；
33.另一方面，该装置中为l形结构的连接杆可在芯片6的上方留出较大的空间，从而使得功能测试装置(如相机、显微镜等)的使用更加方便。
34.请参阅图3，作为优选的实施例，所述固定座1包括底座11、调节组件12以及固定组件13，所述底座11与所述调节组件12的固定端固定连接，所述调节组件12的调节端通过所述固定组件13与所述l形连接杆3的一端固定连接，所述调节组件12用于使所述l形连接杆3在x轴、 y轴以及z轴方向上移动，从而使得工作人员能够在粗略设置好整个装置的位置后，通过所述调节组件12对所述探针5的位置进行微调，从而能够更加快速的将探针5与芯片6接触。
35.在更为具体的实施例中，所述调节组件12为燕尾槽式手动滑台。
36.请继续参阅图3，作为优选的实施例，所述固定组件13包括固定块 131、压紧块132以及若干个锁紧件133。所述固定块131的一侧与所述调节组件12的调节端固定连接，所述固定块131的另一侧在竖直方向上开设有第一固定槽，所述压紧块132在竖直方向上开设有与所述第一固定槽对应的第二固定槽，所述固定块131与所述压紧块132通过若干个所述锁紧件133可拆卸连接，所述固定块131在与所述压紧块132连接后，所述第一固定槽可与所述第二固定槽形成一用于固定所述l形连接杆3的固定腔。
37.在实际的使用过程中，工作人员只需先将所述l形连接杆3的一端放置在所述第一固定槽内，再通过若干个所述锁紧件133将所述压紧块 132与所述固定块131连接，便可实现对所述l形连接杆3固定。
38.请继续参阅图3，作为优选的实施例，所述固定块131的一侧与所述压紧块132的一侧铰接。相较于其他的固定块131与压紧块132为分离式结构的实施例，本实施例中的固定块131与压紧块132铰接的结构，在使用过程中更加方便。
39.作为优选的实施例，所述底座11为磁吸座。相较于其他的通过底座 11的自重或通过螺栓的连接来对整个装置进行固定的实施例，本实施例中的底座11在使用过程中更加方便。
40.在更为具体的实施例中，所述底座11包括底座本体以及若干个磁铁，若干个所述磁铁固定设置于所述底座本体的底部。
41.请参阅图4和图5，作为优选的实施例，所述夹持组件4包括绝缘座 41、夹头42以及锁紧螺母43。所述绝缘座41的一侧与所述l形连接杆 3的一端固定连接，所述绝缘座41的另一侧与所述夹头42的一端固定连接，所述夹头42的另一端形成有四个相互分离的夹持部421，当然，在其他实施例中，所述夹持部421还可为其他数量，本实用新型对此不做限制。
42.四个所述夹持部421的内部形成有一夹持腔，四个所述夹持部421 的外部形成有一圆锥面4211，所述圆锥面4211上形成有螺纹，所述锁紧螺母43套设于所述圆锥面4211上，并与所述圆锥面4211螺纹连接。
43.在实际的使用过程中，工作人员只需先将所述探针5的一端伸入所述夹持腔，再将所述锁紧螺母43由所述圆锥面4211中直径较小的一侧，旋向所述圆锥面4211中直径较大的一侧，便可使所述夹持部421产生弹性形变，并将所述探针5夹持住。
44.请继续参阅图4，作为优选的实施例，所述l形连接杆3为中空结构，所述l形连接杆
3在靠近所述夹持组件4的一端开设有与其内部连通的两个过孔3a，当然，在其他实施例中，所述过孔3a也可为其他数量，本实用新型对此不做限制。所述线缆2的一端设置于所述l形连接杆3的内部，所述线缆2的另一端穿过两个所述过孔3a与所述夹持组件4电连接。相较于其他实施例，本实施例中将所述线缆2设置于所述l形连接杆3内部的结构，一方面，可使整个装置的体积更小，另一方面，可对所述线缆2起到保护作用。
45.请参阅图1和图2，作为优选的实施例，所述探针5为l形探针。为 l形结构的探针5可增加所述l形连接杆3与芯片6的距离，从而使得所述l形连接杆3在移动过程中不会与芯片6附近的其他部件发生碰撞。
46.在更为具体的实施例中，所述l形探针5的两端的夹角为140
°‑
160
°
。
47.为了更好的理解本实用新型，以下结合图1至图5对本实用新型进行详细说明：
48.在实际的使用过程中，工作人员只需先将一个或多个所述用于芯片加电的探针装置布置于芯片6的周围，再粗略调整整个装置的位置，以使探针5靠近芯片6，再通过调节组件12微调探针5的位置，以使所述探针5与芯片6接触，再向所述线缆2通电，便可对芯片6进行加电测试。
49.综上所述，本实用新型提供的用于芯片加电的探针装置的有益效果为：
50.一方面，该装置为单探针结构，与集成式的探针卡相比，该装置在使用过程中，更加灵活、通用性更强；
51.另一方面，该装置中的探针与其他部分的连接方式为可拆卸式连接，在探针损坏后，工作人员能够更加方便的对其进行修理；
52.另一方面，该装置中为l形结构的连接杆可在芯片的上方留出较大的空间，从而使得功能测试装置(如相机、显微镜等)的使用更加方便；
53.另一方面，该装置还设置有用于在x轴、y轴、z轴方向上对探针的位置进行调节的调节组件，从而使得工作人员能够在粗略设置好整个装置的位置后，更加快速的将探针与芯片接触。
54.以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。