专利名称：散射浊度计和比浊计组合的制作方法
技术领域：
本发明大体上涉及自动检测的化学分析仪领域，具体是涉及用在这种自动检测的化学分析仪中的散射浊度计/比浊计组合。
背景技术：
有许多不同的自动检测的化学分析仪在现有技术中是公知的。这种分析仪包括从简单的、主要手动操作的仪器到高度复杂的、几乎完全自动化的仪器。已经证明非常成功的一类分析的化学分析仪是采用一个散射浊度计和/或一个比浊计作为操作分析仪器的一类分析的化学分析仪。已经发现这些化学分析仪在分析许多液体化学溶液方面是非常有效的，尤其是对医院研究所和医学研究实验室有价值的液体化学溶液。
在散射测浊法和浊度测定法中，一个光源穿过盛在一个透明的样品容器中的一份液体样品。液体样品中的散粒物质或其他混浊源引起一些入射光散射。这种散射光的量与至少一个样品参数紧密相关。一般地，散射测浊法使用一个波长相对短(例如，500nm-800nm)的光源，并且在测定非常小的散粒物质方面是有效的。另一方面，浊度测定法一般地使用较长波长(例如，800nm-1100nm)的光源，并且在测定较大尺寸的散粒物质方面是有效的。美国专利No.5,296,195对在自动化学分析仪中使用的散射测浊法和浊度测定法的原理进行了详细讨论，这里将该专利作为参考文献引入。
尽管使用散射测浊法和浊度测定法组合的新式自动化学分析仪现在已经是很精密和效率较高，但仍然存在几个问题。第一个问题是通常使用在这些仪器中的激光器的控制。一般地，这种激光器产生一个高度偏振的、具有一个P波分量和一个S波分量的光束。在大多数情况下，只有来自那些偏振分量的一个分量的散射才能在分析仪器中检测。遗憾地是，现有仪器尝试通过控制激光束的总能量，包括两个偏振分量，来调节激光器的输出功率。由于控制仪器不能发现整个光束中的两个偏振分量相对百分率的变化，所以，尝试按照这种方式控制激光器已证实是不能解决问题的。因此，在分析仪器中实际使用的偏振部分的光能量每次试验可能会改变。这会不利地影响分析工艺的可靠性和准确性。
现有技术中的这种自动分析仪器的第二个问题是由于来自激光器的偏振光的一部分通常被比浊计光接受器的聚焦透镜反射回分析容器中而引起的。偏振光的一部分被分析容器中的样品散射并由散射浊度计光接受器检测。这可能会导致散射浊度计接受器显示一个错误的高读数。这种现象也会不利地影响分析工艺的可靠性和准确性。
因此，需要一个散射浊度计分析系统和一个比现有技术的系统更准确和更可靠的散射浊度计/比浊计组合。
发明综述本发明满足了上述需要。本发明是一种散射浊度计，包括(a)一个激光器，用于产生一个能量强度可以变化的偏振激光光束，该激光光束具有一个第一偏振部分和一个第二偏振部分；(b)一个激光控制光检测器，用于检测光能并且产生一个与这种被检测的光能的量对应的控制信号；(c)一个第一光束分离器，该分离器设置成将激光光束的第一偏振部分的第一部分导入一个透明的反应容器中，并将激光光束的第一偏振部分的第二部分导向第一光检测器，第一光束分离器制作成使得第一偏振部分的第二部分的光能量是第一偏振部分的总的光能量输出的已知的一小部分；(d)一个散射浊度计光检测器，该检测器设置成检测由悬浮在反应容器中的液体介质里的颗粒从激光光束的第一部分的第一偏振部分散射的光能量；(e)一个偏振滤光器，该滤光器取向成滤出激光光束的第二部分的第二偏振部分而不会显著地影响激光光束的第二部分的第一偏振部分，偏振滤光器安装在第一光束分离器和激光器控制光检测器之间；和(f)一个控制回路，该控制回路采用激光器控制光检测器产生的控制信号来控制激光光束的第一偏振部分的总输出量。
本发明也是一个散射浊度计和比浊计组合，包括(a)一个激光器，用于产生一个具有第一波长的激光光束；(b)一个第一光束分离器，该分离器设置成将激光光束沿着一个特定的光通道导入一个透明的反应容器中；(c)一个散射浊度计光检测器，该检测器设置成检测由悬浮在反应容器中的液体介质里的颗粒从激光光束散射的光能量；(d)一个发光二极管，用于产生一个具有第二波长的光束并且引导该光束沿着特定的光通道通过反应容器；(e)一个比浊计光检测器，该检测器沿着特定的光通道安装在反应容器的与发光二极管相反一侧；(f)一个聚焦透镜，该聚焦透镜安装在反应容器与比浊计光检测器之间，用于将光束聚集到比浊计光检测器；和(g)一个第二光束分离器，该分离器安装在反应试管和透镜之间，用于将激光光束反射远离聚焦透镜。
一般地，反应容器是一个反应试管。
一般地，激光器是一个可见二极管激光器，该激光器发出波长在大约600和大约850nm之间，最通常是在大约650和大约700nm之间的光。
在一个优选实施例中，激光光束的第一部分中的第一偏振部分的比例是在激光光束的总输出量中的偏振部分的大约50％和99％之间，更优选在大约90％和97％之间，最优选在大约95％和97％之间。
第一偏振部分可以是一个S波部分，第二偏振部分可以是一个P波部分。在另一实施例中，第一偏振部分可以是一个P波部分，第二偏振部分可以是一个S波部分。
一般地，发光二极管能够发出波长在大约850和1050nm之间的光。
本发明也是一个速率散射浊度计(rate nephelometer)和上述的散射浊度计/比浊计的组合。
本发明也是一个包括上述散射浊度计和/或散射浊度计/比浊计的组合的自动化学分析仪。
本发明提供了一种特别准确和可靠的散射浊度计和散射浊度计/比浊计的组合，而不会过大地增加制造成本或运行费用。
附图描述参照如下描述、附后的权利要求和附图，本发明的这些和其他特征、特性和优点将变得更易理解，其中
图1是具有本发明特征的一种自动分析仪器的平面示意图。
图2是具有本发明特征的一种自动分析仪器的主视图。
图3是具有本发明特征的一种样品圆盘传送带的立体图。
图4A是具有本发明特征的一种稀释部件的立体图。
图4B是图4A的稀释部件的平面图。
图4C是沿图4B中4C-4C线截取的剖面侧视图。
图4D是图4A-4C所示的的稀释容器底侧视图。
图5A是在本发明中使用的一种反应试管模件的立体图。
图5B是图5A所示的反应试管模件的剖面侧视图。
图6A是具有本发明特征的一种样品探臂组件的立体图。
图6B是图6A所示的样品探臂组件的剖视图。
图6C是本发明使用的一种样品搅棒的主视图。
图6D是图6C所示的样品搅棒的侧视图。
图7A是具有本发明特征的一种试剂探臂组件的立体图。
图7B是图7A所示的试剂探臂组件的剖视图。
图7C是本发明使用的一种试剂搅棒的主视图。
图7D是图7C所示的试剂搅棒的侧视图。
图8是本发明使用的一种试管冲洗台的立体图。
图9A是具有本发明特征的一种废液收集器组件的分解图。
图9B是图9A所示的完整组装后的废液收集器组件的剖面图。
图9C是在图9A和9B所示的废液收集器组件中使用的一个阀门的剖面侧视详图。
图9D是在图9A-9C所示的废液收集器组件中使用的一个柔性圆盘的平面图。
图10是具有本发明特征的一种样品容器支架的立体图。
图11是具有本发明特征的一种散射浊度计/比浊计组合的示意图。
本发明的详细描述下面将详细描述本发明的一个实施例和该实施例的几种变化。但是，以下描述不应当视作将本发明限制到那些特定的实施例。本领域的熟练专业人员将知道还有许多其他实施例。为了了解本发明的全部范围的限定，读者可从附后的权利要求书获知。
本发明210是一种如图11所示的散射浊度计/比浊计组合。散射浊度计包括一个激光器212，一个激光器控制光检测器214，一个散射浊度计光检测器216，一个第一光束分离器218，一个偏振滤光器220和一个控制回路222。
激光器212一般是一个可见二极管激光器，它发出波长在大约600至大约850nm之间的光。在一个优选实施例中，激光器212发出波长在大约650至大约700nm之间，最好在大约670nm的光。
一般地，激光器212能发出在大约1毫瓦和大约10毫瓦(milliwatts)之间的总光能。用在本发明中的商业上可获得的激光器是由日本东芝(Toshiba)公司制造的Toshiba No.TOLD9225 670型激光二极管。
由激光器212产生的激光光束224一般具有一个第一偏振部分和一个第二偏振部分。第一偏振部分可以是一个S波分量，第二偏振部分可以是一个P波分量。在另一实施例中，第一偏振部分是一个P波分量，第二偏振部分是一个S波分量。
激光器控制光检测器214检测从激光器发出的一部分光能量并且产生一个与这个被检测的光能的量对应的控制信号。激光器控制光检测器214可以是一个高灵敏度的硅光电二极管检测器，诸如由日本Hamamatsu公司制造的Hamamatsu No.S1223-01PIN型高灵敏度硅光电二极管。
设置第一光束分离器218是为了将激光光束的第一部分226沿着一个特定的光通道229导入一个透明反应容器228，以及将激光光束224的第二部分230导向激光器控制光检测器214。将第一光束分离器218制作成使得激光光束224的第二部分230的光能量是整个激光光束224的已知的一小部分是很重要的。
一般地，第一部分226的比例是激光光束224的输出的全部光能量的大约50％至大约99％之间。但是，激光光束224的第一部分226的比例优选地是激光光束224的输出的全部光能量的大约90％至99％之间，最好地是在大约95％和97％之间。
设置散射浊度计光检测器216是为了检测由悬浮在反应容器228中的液体介质里的颗粒从激光光束224的第一部分226的第一偏振部分散射的光能量。这里，第一偏振部分是激光光束224的S波分量，当第一部分226进入反应容器228时，散射浊度计光检测器216相对激光光束224的第一部分226成90度安装。
象激光器控制光检测器214一样，散射浊度计光检测器216可以是一个高灵敏度的硅光电二极管检测器，诸如由日本Hamamatsu公司制造的Hamamatsu No.S1223-01PIN型高灵敏度硅光电二极管。
第一光束分离器218一般是一个二向性光束分离器，用于将具有激光器212发出的波长的光分离。第一光束分离器218制作成使得激光光束224的第二部分的光能量是激光光束224的全部光能量输出量的一个预定的和恒定的小部分。
偏振滤光器220安装在第一光束分离器218与激光器控制光检测器214之间。偏振滤光器220被定向成滤出激光光束224的第二部分230的第二偏振部分，而不会显著地影响激光光束224的第二部分230的第一偏振部分。偏振滤光器220可以是任何合适的偏振器，诸如Polaroid公司制造的Polaroid No.HN22×0.35"厚的偏振器。
采用现有技术设计的控制回路222通过利用激光器控制光检测器产生的控制信号来控制激光光束224的第一偏振部分的总的输出量。控制回路222包括一个控制电路，该电路将控制信号从激光器控制光检测器214传输到一个激光光束控制器234。激光光束控制器234能够根据控制信号来增大或减小激光光束224的总能量输出。按照这种方式，激光光束控制器234将激光光束224的第一部分226中的第一偏振部分控制在一个恒定的水平。
因此，可以看出，由于激光光束224的第一部分226是激光光束224的总的光能量输出量的已知的一部分，激光光束224的第二部分230(激光光束224的这一部分被用于分析样品容器228中的样品)的第一偏振部分的总的光能量保持在一个恒定的值。
本发明也是一个速率散射浊度计和速率比浊计的组合，包括激光器212，散射浊度计光检测器216，第一光束分离器218，一个发光二极管236，一个比浊计光检测器238，一个聚焦透镜240和一个第二光束分离器242。
发光二极管236被设计和制作以产生一个与激光光束224的波长不同的光束244。发光二极管236被安装成使它的光束244沿着特定的光通道229穿过反应容器228。在一个典型的实施例中，发光二极管236发出一个波长在大约850和大约1040nm之间的光束244。在一个优选实施例中，这种光束244的波长是大约940nm。发光二极管236可以是现有技术中可得到的任何一种已知的发光二极管。可以在本发明中方便地使用的一种发光二极管是由日本Hamamatsu公司销售的HamamatsuNo.L2388(940NM)型红外线发光二极管。
象激光器控制光检测器214和散射浊度计光检测器216一样，比浊计光检测器238可以是一个高灵敏度的硅光电二极管检测器，诸如由日本Hamamatsu公司制造的Hamamatsu No.S1223-01PIN型高灵敏度硅光电二极管。
聚焦透镜240安装在反应容器228和比浊计光检测器238之间，用于将由发光二极管236发出的光束244聚集到比浊计光检测器238。
第二光束分离器242安装在反应容器228和聚焦透镜240之间。第二光束分离器242被设计和安装成将激光光束224的第一部分226反射远离聚焦透镜240，最好反射到一个光吸收器248。
在使用中，激光器212发出一激光光束224，该激光光束穿过一对激光光束聚焦透镜250到达第一光束分离器218。第一光束分离器218将激光光束224分离成第一部分226和第二部分230。
激光光束224的第一部分226沿着特定的光通道229被反射到装有要被分析的样品的一个透明反应容器228中。在反应容器228中，激光光束224的第一部分226的第一偏振部分沿着散射浊度计光检测器216的方向散射。这种散射光251的强弱由散射浊度计光检测器216来检测并传送给一个合适的控制器(未显示)，该控制器使检测结果与分析样品的一个特定参数发生联系。
激光光束224未被散射的其余部分继续沿着特定的光通道229从反应容器228朝向聚焦透镜240。但是，在激光光束224的这些其余部分到达聚焦透镜240前，它又被第二光束分离器242沿离开聚焦透镜240的方向反射，优选地到达一个合适的光吸收器249。
激光光束224的第二部分230通过第一光束分离器218并继续朝向激光器控制光检测器214。但是，在它到达激光器控制光检测器214之前，它穿过一个偏振滤光器220，偏振滤光器220滤出激光光束224的第二部分230的全部第二偏振部分(不会显著地影响第一偏振部分)。因此，到达激光器控制光检测器216的光仅是激光光束224的第二部分230的第一偏振部分。这些光由激光器控制光检测器216检测，一个与这些光的能量对应的信号通过控制电路222传送到激光器控制器234。
与此同时，发光二极管236发出的光通过第一透镜252，然后沿着特定的光通道229穿过第一光束分离器218。来自发光二极管236的光244的一部分被反应容器228中的样品散射。但是，来自发光二极管236的光244的全部继续大体上沿着特定的光通道229朝向聚焦透镜240并到达比浊计光检测器238。在比浊计光检测器238处，来自发光二极管236的未散射的光的强弱被检测，并且一个信号被传送到一个合适的分析装置(未显示)，该装置使检测结果与分析样品的第二个参数发生联系。
由于第二光束分离器242将剩余的激光光束226反射远离聚焦透镜240，几乎没有剩余的激光光束226被聚焦透镜240反射回来穿过光束分离器242再次进入反应容器228。因此，由散射浊度计光检测器216测定的散射光的量是被试验的分析样品的第一参数的一个准确的反映。
本发明的散射浊度计和散射浊度计/比浊计组合210可以包括在一个自动分析仪器中，该自动分析仪器相对于现有技术中的类似仪器显著地提高了准确性和可靠性。这种仪器10如图1和2所示。该仪器10包括一个机身12，一个样品台14，一个试剂台16和一个随机存取分析台18。
机身12大体上是一个壳体，它为分析仪器10中使用的各种工作部件提供一个外壳。机身12一般是由轻型金属，例如轻型钢板制成。机身12可以包括一个罩(未显示)以便完全密封仪器10的工作部件。
样品台14大小尺寸使得它可以保持多个样品容器20。样品台14有至少一个样品提取位置22。
样品台14优选地包括如图3所示的一个旋转式样品圆盘传送带24，样品圆盘传送带24一般是由轻型金属或模制塑料制成。样品圆盘传送带24优选地制成大小尺寸可以保持多个样品容器20、一个或多个稀释剂容器26和多个稀释部件28。
在附图所示的实施例中，样品圆盘传送带24包括一个圆盘传送带夹持器组件40，用于将多个样品容器支架30夹持在样品圆盘传送带的外壁32上。这种夹持器组件40可以是附图所示的实施例中显示的弹性夹片。
样品支架30优选地包括一个样品容器支架夹持器组件39，用于将显示条形码信息的一个卡片37夹持在样品容器支架30的前壁上。这种样品容器支架夹持器组件39可以是如图10所示的实施例中显示的狭槽。但是，也可采用许多其他方式将条形码卡片37固定到样品容器支架30的前壁41上，包括夹钳、夹片、叉头、旋钮、钩形和环形紧固件、销子等等。优选地是，样品容器支架夹持器组件39可以使操作者快速和容易地固定并且随后从样品容器支架30的前壁41上取下条形码卡片37，最好是不需要使用工具。
在该实施例中，每个样品容器支架30可以容纳按照大体上直立排列的9个单个的样品容器20。
图3所示的样品圆盘传送带24有4个稀释剂容器存放位置36和4个稀释部件存放位置38。每个稀释部件28包括多个如图4A-4C所示的稀释杯42。一般地，每个稀释部件28是由模制塑料制成。优选地，每个稀释部件28应是很容易地安装到和从样品圆盘传送带24取出以便清洗。也优选地是，稀释部件28很容易和快速地安装到和从样品圆盘传送带24拆除而不使用工具。附图中的实施例有弹性节点44，它使得稀释部件28紧压地安装在稀释部件存放位置38中。
每个稀释杯42可以装大约0.01到大约1.0毫升液体。如图4C所示，每个稀释杯42在它的底部成锥形以形成一个稀释杯收缩凹部46，以便稀释杯42中的少量液体集中在收缩凹部从而可以很容易地从稀释杯42中提取出来。每个稀释杯收缩凹部46一般可以保持在大约10微升和大约100微升之间。这个特征使得试剂的浪费最小。在稀释杯42是由疏水的塑性材料制成时，这个特征是特别的重要。在这种情况下，稀释杯42中的少量液体趋于成珠而不是集中，这使得难于从稀释杯42中提取液体。
样品圆盘传送带24可以通过一个旋转电机(未显示)移动，以便放置在样品圆盘传送带24上的每个样品容器20能够有选择地定位在样品提取位置22的下部和从样品提取位置移开。
优选地，样品台14还包括一个样品台条形码读数器47，用于读取样品台14中的样品容器20上的条形码信息和/或安放在样品容器支架30的前壁41上的条形码卡片37信息。
试剂台16制成大小尺寸可以保持多个试剂容器48并有至少一个试剂提取位置50。题目为“试剂盒”的美国专利申请描述了在本发明的仪器中一种特别适用的试剂容器48，该申请与本发明同时提交并作为参考文献完整地引入。试剂台16可以在机身中移动，以便放置在试剂台16中的单个试剂容器48可以有选择地移动到试剂提取位置50和从试剂提取位置50移开。
象样品台14一样，试剂台16优选地包括一个可旋转的试剂圆盘传送带52，它一般是由一种轻型金属或模制塑料制成。试剂圆盘传送带52由一个试剂台电机(未显示)转动。
优选地，试剂台16被冷却到一温度，例如大约15℃。这种冷却可以维持试剂的使用期并使试剂的蒸发最少。
优选地，试剂台16还包括一个试剂台条形码读数器53，用于读取试剂台16中的试剂容器20上的条形码信息和/或试剂圆盘传送带24外部上的条形码信息。
随机存取分析台18制成大小尺寸可以保持多个在散射测浊法和浊度测定法技术中通常所知的那种反应试管54。随机存取分析台18包括至少一个试管混合位置56，一个随机存取分析台分析位置58和一个试管清洗位置60。
象样品台14和试剂台16一样，随机存取分析台18优选地包括一个可旋转的圆盘传送带62，它由一个随机存取分析台电机(未显示)转动。
在附图所示的实施例中，反应试管54放置在试管模件64中，每个试管模件64包含3个单个的试管54。试管模件64如图5A和5B所示。每个试管模件64有把手66以有助于牢固地安装在随机存取分析台圆盘传送带62上。为了使昂贵的试剂的费用最小，试管54制成尽可能地小是很重要的。
在大多数应用场合，随机存取分析台18优选地在一个固定的较高温，例如大约37℃时运行。为了实现这个条件，随机存取分析台18优选地包括一个装置，用于使热空气循环向上穿过随机存取分析台18。
随机存取分析台18还包括一个随机存取分析台分析器68，它靠近随机存取分析台分析位置58安装，用于测定随机存取分析台18中的试管54里的样品的至少一个参数。在一个优选实施例中，随机存取分析台分析器68是本发明的散射浊度计和比浊计组合310。
优选地，随机存取分析台18还包括一个在线控制样品78。这种在线控制样品78使得使用者在仪器10正常的运行过程中为该仪器设定程序以自动校准随机存取分析台分析器68。这个特征使得该仪器相对于现有技术的类似仪器的准确性和可靠性最大。这个特征通过排除周期性地关闭仪器10来校准随机存取分析台分析器68而提高了检测能力。题目为“非液体散射标准”的美国专利申请描述了在本发明中一种特别适用的在线控制样品，该申请与本发明同时提交并作为参考文献完整地引入。
本发明的仪器10还包括一个样品探臂组件80，如图6A-6D所示。样品探臂组件80包括一个样品探臂82，一个中空的样品探针84和一个可旋转的样品搅棒86。样品探针84有一个内腔88、一个开口底端90和一个开口上端91。提供一个样品探针压力改变组件92以有选择地在内腔88上加压或真空。优选地，压力改变组件92包括一个注射管94。
样品探针84大体上竖直地安装在样品探臂82中并且可通过一个样品探针电机96在一个底部样品探针位置和一个上部样品探针位置之间移动。
样品搅棒86有一个底端98，一个上端100和一个搅棒叶片102。样品搅棒86也大体上竖直地安装在样品探臂82中并且可通过一个样品搅棒电机104在一个底部样品搅棒位置和一个上部样品搅棒位置之间移动。样品搅棒通过一个样品搅棒旋转电机105旋转运行。
优选地，样品搅棒86的升降与样品探针84的升降是相互独立的。这与现有技术中类似的装置相比具有速度和灵活性，现有技术中类似的装置只能在升降探针84的同时升降搅棒86。
优选地，样品搅棒86和样品探针84都是通过一个齿轨和小齿轮组件106来升降。这种齿轨和小齿轮组件106使得样品探针84和样品搅棒86相互足够靠近地安装以使它们各自的底端90和98如下所述的非常地接近。
样品探针84和样品搅棒86相互成一个很小的角度安装在样品探臂82中。优选地，这个角度α是在大约2.4和2.6度之间。样品探针84和样品搅棒86相互成一角度，以便当样品探针84和样品搅棒86都在它们的底端位置时，样品探针84的底端90和样品搅棒86的底端98之间的距离是在大约1.7mm和5.3mm之间，较优选地是在大约1.7mm和3.5mm之间，最优选地是在大约1.7mm和3mm之间。将样品探针84和样品搅棒86制成使得它们的底端90和98如此靠近，样品探针84和样品搅棒86能够有效地在反应试管54中使用，反应试管54比现有分析仪器中使用的反应试管小得多。能够使用如此小的反应试管54对操作者来说可以大大地节约试剂。它也可使操作者只用很少的样品进行分析。
本发明的装置还包括一个试剂探臂组件108，如图7A-7D所示。试剂探臂组件108包括一个试剂探臂110，一个中空的试剂探针112和一个可旋转的试剂搅棒114。试剂探针112有一个内腔116，一个开口底端118和一个开口上端120。提供一个试剂探针压力改变组件122以有选择地在内腔116上加压或真空。优选地，压力改变组件包括一个注射管124。
试剂探针112大体上竖直地安装在试剂探臂110中并且可通过一个试剂探针电机126在一个底部试剂探针位置和一个上部试剂探针位置之间移动。
试剂搅棒114有一个底端128、一个上端130和一个搅棒叶片132。试剂搅棒114也大体上竖直地安装在试剂探臂110中并且可通过一个试剂搅棒电机132在一个底部试剂搅棒位置和一个上部试剂搅棒位置之间移动。与样品探针84和样品搅棒86一样，优选地，试剂搅棒114的升降与试剂探针112的升降是相互独立的。
优选地，试剂搅棒114和试剂探针112是通过一个齿轨和小齿轮组件134来升降。这种齿轨和小齿轮组件134使得试剂探针112和试剂搅棒114相互足够靠近地安装以使它们各自的底端118和128如下所述的非常地接近。
象样品探针84和样品搅棒86一样，试剂探针112和试剂搅棒114相互成一个很小的角度安装在试剂探臂110中。优选地，这个角度β是在大约2.4和2.6度之间。与样品探针84和样品搅棒86相互成一角度同样的原因，试剂探针112和试剂搅棒114相互成一角度这就形成了试剂探针112和试剂搅棒114的底端118和128的一个会聚，这个距离是在大约1.7mm和5.3mm之间，较优选地是在大约1.7mm和3.5mm之间，最优选地是在1.7mm和3mm之间。试剂探针112和试剂搅棒114的底端118和128非常的接近使得可以使用非常小的反应试管54。
优选地，样品探臂82和试剂探臂108都包括液面控制器(未显示)，用于确定探针84及112和/或搅棒86及114相对于液面的高度。
本发明的仪器10还包括一个安装在机身上的试管清洗台130。试管清洗台130包括至少一个空心的试管清洗台探针132，试管清洗台探针132有一个内腔134、一个开口底端136和一个开口上端138。试管清洗台130以使试管清洗台探针132位于试管清洗位置60的正上方的方式安装。
试管清洗台探针132通过一个试管清洗台电机(未显示)在一个底部清洗台探针位置和一个上部清洗台探针位置之间移动。
在图8所示的实施例中，试管清洗台探针132包括两个同心设置的试管清洗台探针132a和132b。一个探针132用来排空试管中的物质并将这些物质转移到一个合适的处理位置135。另一个探针132用来给试管提供清洗溶液。
本发明的装置还包括一个试管清洗台探针供应和处理组件136，用于有选择地(1)将加压的清洗液从一个清洗液源供给试管清洗台探针132以便清洗位于试管清洗位置60的一个试管54，和(2)给试管清洗台探针132的内腔134提供一个负压，以便排出位于分析位置60的试管54中的废液并将这些废液转移到一个合适的处理位置135。
一个优选的清洗台探针供液和处理组件136还包括一个废液收集器组件138，如图9A-9D所示。废液收集器组件138包括一个废液收集器容器140和一个位于废液收集器容器140下部的废液收集器杯142。一个竖直设置的连接管将废液收集器容器140和废液收集器杯142连成流体相通。连接管144有一个最上部的唇部146，收集在废液收集器容器140中的废液通过该唇部146溢流到废液收集器杯142中。连接管144有一个连接管止回阀148，用于防止连接管144中的液体和加压空气从废液收集器杯142向上流到废液收集器容器140。
废液收集器容器140在废液收集器容器140的上部有一个入口150，用于接受来自试管清洗台130的废液。废液收集器杯142在废液收集器杯142的底部有一个出口152，用于将废液收集器杯142中的液体通过一个排液管154排到一个合适的废液处理设备。排液管154有一个排液管止回阀156以防止液体通过排液管154回流到废液收集器杯142。
一个液位传感器158安装在废液收集器杯142中，用于检测废液收集器杯142中的液位并发出一个对应的液位传感器信号。在运行中，废液收集器容器140可操作地与一个真空源连接。废液收集器杯142也通过一个转换开关160可操作地与一个真空源和一个加压空气源连接。
废液收集器组件138还包括一个废液收集器控制器(未显示)，用于接受液位传感器158的信号并利用这个信号按照如下方式来控制一个真空和压力作用在废液收集器杯上(ⅰ)当废液收集器杯142中的液位低于预先设定的位置时，真空作用在废液收集器杯142上以从废液收集器容器140中抽出废液，和(ⅱ)当废液收集器杯142中的液位处于预先设定的位置时，压力作用在废液收集器杯142上以将废液收集器杯142中的废液排到排液管154。
废液收集器组件连接管止回阀148优选地包括一个输入管162，一个安装在输入管162中并与其液体密封地连通的阀座164，一个位于阀座164下部并与其液体密封地连通的输出管166，和一个松散地安装在阀座164中的管塞168，以便(1)当输入管中的压力等于或大于输出管166中的压力时，管塞168不密封地靠着阀座164固定以使输入管162中的废液依靠重力流入输出管166，和(2)当输入管162中的压力小于输出管166中的压力时，管塞168密封地靠着阀座164固定，以阻止输入管162中的废液依靠重力流入输出管166并且阻止输出管166中的加压空气通过输入管162流入废液收集器容器140。
优选地，管塞168是一个如附图所示的柔性圆盘。该柔性圆盘有至少一个与输入管162偏离的中心孔170。
优选地，废液收集器组件138还包括(a)一个设置在废液收集器容器140上的真空源入口部172，真空源入口部172可以与一个真空源连接，(b)一个三通阀174，它有一个共用开口176，一个常开着的开口178和一个常闭合的开口180,(c)一个在共用开口176和废液收集器杯142之间液体密封地连通的第一压力源管181,(d)一个在常开着的开口178和废液收集器容器140之间液体密封地连通的第二压力源管182，和(e)一个在常闭合的开口180和一个空气压力源之间液体密封地连通的第三压力源管184。
这种废液收集器组件138相对于现有技术的废液收集器组件具有明显的优点。本发明的废液收集器组件138仅需要一个真空储存容器140和一个真空泵。而且，清洗过程不会为排出废液中断。也不需要外部废液泵，现有技术系统一般都需要一个外部废液泵。这是因为本发明的废液收集器组件138是依靠空气压力将废液从组件中排出。一些现有技术系统也使用加压空气来将废液从一个废液收集器组件中排出。但是，这种系统浪费真空，因为每次三通阀对于容器液位信号发生转换时，容器中的全部真空物质被压力空气所替代以使废液排向泵。这可能会使仪器的运行大大地放慢，因为再恢复真空需要16秒或更多时间。而且，需要一个较大的真空泵。
优选地，本发明的仪器10还包括一个控制器186，用于控制电机、分析器和条形码读数器的运行。优选地，控制器186包括一个数字计算机，该计算机也可以设定程序以接受来自分析器68的结果并将这些结果以一种有效的形式报告给操作员。
在实际操作中，这种分析仪器的一个优选实施例的操作员将预先混合好的试剂从一个用具箱中装到试剂台16。用具箱中包括一个或多个装有预先混合好的试剂的试剂容器48和一个条形码卡片，条形码卡片上有关于用具箱中的试剂的条形码信息。
在将试剂容器48装入试剂台16后，操作员利用样品容器支架夹持器组件40将条形码卡片37从试剂用具箱取出安放在样品容器支架30的前壁41上。操作员指示样品台条形码读数器47将包含在条形码卡片37上的条形码信息读入控制器。然后，操作员将条形码卡片37从样品容器支架30上取下。
操作员随后将装有被分析样品的样品容器20装上样品圆盘传送带24。样品容器20装在样品容器支架30中，样品容器支架30固定到样品圆盘传送带24的外部周围。一个包含条形码信息的标签粘贴到每个样品容器20上，条形码信息是关于每个样品的身份和每个样品将要进行的分析。然后，操作员将稀释剂容器26放入样品圆盘传送带24并将洁净的稀释部件28放入样品圆盘传送带24。操作员随后启动仪器10，仪器10自动地完成如下步骤。
样品圆盘传送带24转动，也周期地停住。当一个容器20位于样品台条形码读数器47的前方时，条形码读数器47读取样品容器20的标签上的条形码信息并将这个信息传递到控制器186。
样品探臂82将样品台探针84移动到样品提取位置22的正上方的一个位置。样品探针84从它的上部探针位置下降，直到样品探针液位控制器检测到样品探针84位于在样品提取位置22处的样品容器20中的样品的液面以下。
样品探针压力改变组件92用来在样品探针内腔88中抽真空。这又引起样品容器20中的样品被吸入样品探针内腔88。样品探针84随后升到一个较上的位置以及样品探臂82转动到一个稀释杯42的上方的一个位置。样品探针84再次下降到稀释杯42中，样品探针压力改变组件92引起样品探针84中的样品排入稀释杯42。
样品探臂82将样品探针84转动到样品台14中的一个稀释剂容器26的正上方的一个位置。样品探针84从较上的位置下降到稀释剂容器26中的稀释剂的液面以下的一个位置，这是通过样品探针液位控制器来检测的。压力改变组件92使得样品探针内腔88被抽真空，稀释剂被吸入样品探针84。样品探针84随后升到一个较上的位置，样品探臂将样品探针84转动到一个稀释杯42的正上方的一个位置。样品探针84下降到稀释杯42中，压力改变组件92加压将稀释剂从样品探针84排入稀释杯42。
样品搅棒86下降到稀释杯42中，开启样品搅棒电机105以使样品和稀释剂混合。
接着，样品探针84再次下降到稀释杯42中，稀释剂-样品混合物被吸入样品探针84。样品探臂82随后将样品探针84转动到试管混合位置56处的试管54的正上方的一个位置，样品探针下降到试管54中，通过样品探针压力改变组件92将稀释剂-样品混合物从样品探针84排入试管54中。
在紧接着这些步骤之前或之后，控制器186引起试剂探臂110运动到试剂提取位置22中的合适的试剂容器48的正上方，试剂探针112下降到试剂容器48中，一些试剂被吸入试剂探针112中。试剂探针112随后升到一个上位置置，试剂探臂110将试剂探针112转动到试管混合位置56处的试管54的上方。试剂探针112下降到试管54中并将试剂排入试管54中。
这时，或者样品搅棒86(或试剂搅棒114，取决于此时哪个搅棒位于试管混合位置的正上方)下降到试管54中，开启转动电机以使搅棒叶片102搅拌试剂-样品混合物。在混合以后，搅棒86提升到它的上位置置。
控制器186随后引起随机存取分析台圆盘传送带62转动装有试剂-样品混合物的试管54通过随机存取分析台分析位置58。在该分析位置58处，随机存取分析台分析器68分析试管54中的物质并将信息传递给控制器186。优选地，控制器186使得试管54多次通过随机存取分析台分析位置58并指示分析器68分析每次的物质。通过同一试剂-样品混合物的多次分析，控制器186报告的最终结果实际上是非常准确的。
在试管54中的物质被分析后，随机存取分析台圆盘传送带62转动以使试管54位于试管清洗位置60的正下方。在试管清洗位置60处，试管清洗台探针132下降到试管54中，利用试管清洗探针供液和处理组件136将试管54中的物质从试管54中抽出并送去进行合适的处理。然后，采用加压的清洗液清洗试管54，这些液体也送去采用试管清洗探针供液和处理组件136处理。试管54是洁净的，可供另一次分析操作使用。
控制器186优选地设定程序以记录在分析过程不同阶段的许多反应试管54。控制器186使得随机存取分析台圆盘传送带62快速地转动，将许多现用的试管54的任何一个移动到不同的试管位置以便进行如上所述的一个或多个不同的操作。按照这种方式，分析仪器10在很短的时间内可以完成许多分析。
在仪器的正常运行过程中，控制器186使得随机存取分析台分析器68定期地分析在线控制样品78。如果分析结果表明分析器68偏离标准，分析器68自动地重新校准。
本发明提供了一个非常准确和可靠的散射浊度计和散射浊度计/比浊计组合，而不会过大地增加制造成本或运行费用。
尽管本发明参照某些优选实施例进行了非常详细的描述，但是也可以有其他的实施例。因此，附后的权利要求的要点和范围不应被局限于本发明包括的优选实施例的描述。
权利要求
1．一种速率散射浊度计，包括(a)一个激光器，用于产生能量强度可以变化的偏振激光光束，该激光光束具有一第一偏振部分和一第二偏振部分；(b)一个激光器控制光检测器，用于检测光能并且产生一个与这种被检测的光能的量相对应的控制信号；(c)一个第一光束分离器，该分离器设置成将激光光束的第一部分导入一个透明的反应容器中并将激光光束的第二部分导向激光器控制光检测器，第一光束分离器制作成使得激光光束的第一部分的光能是激光光束的总的光能输出量的已知的一小部分；(d)一个散射浊度计光检测器，该检测器设置成用于检测由悬浮在反应容器中的液体介质里的颗粒从激光光束的第一部分的第一偏振部分散射的光能；(e)一个偏振滤光器，该滤光器被定向以滤出激光光束的第二部分的第二偏振部分而不会显著地影响激光光束的第二部分的第一偏振部分，偏振滤光器安装在第一光束分离器和激光器控制光检测器之间；和(f)一个控制回路，该控制回路采用激光器控制光检测器产生的控制信号来控制激光光束的第一偏振部分的总输出量。
2．如权利要求1所述的速率散射浊度计，其特征在于激光器是一种可见二极管激光器。
3．如权利要求1所述的速率散射浊度计，其特征在于激光器是一种发出波长在大约600和大约850nm之间的光的可见二极管激光器。
4．如权利要求1所述的速率散射浊度计，其特征在于激光器是一种发出波长在大约650和大约700nm之间的光的可见二极管激光器。
5．如权利要求1所述的速率散射浊度计，其特征在于激光器是一种能发出总光能在大约1毫瓦和大约10毫瓦之间的可见二极管激光器。
6．如权利要求1所述的速率散射浊度计，其特征在于反应容器是一个反应试管。
7．如权利要求1所述的速率散射浊度计，其特征在于激光光束的第一部分的比例是在激光光束的总光能的大约50％和大约99％之间。
8．如权利要求1所述的速率散射浊度计，其特征在于激光光束的第一部分的比例是在激光光束的总光能的大约90％和大约99％之间。
9．如权利要求1所述的速率散射浊度计，其特征在于激光光束的第一部分的比例是在激光光束的总光能的大约95％和大约97％之间。
10．如权利要求1所述的速率散射浊度计，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的S波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的P波部分。
11．如权利要求1所述的速率散射浊度计，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的P波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的S波部分。
12．一种速率散射浊度计和速率比浊计组合，包括(a)一激光器，用于产生具有第一波长的激光光束；(b)一第一光束分离器，该分离器设置成用于将激光光束沿着一个特定的光通道导入一个透明的反应容器中；(c)一激光器控制光检测器，该检测器设置成用于检测由悬浮在反应容器中的液体介质里的颗粒从激光光束散射的光能量；(d)一个发光二极管，用于产生具有第二波长的光束并且引导该光束沿着特定的光通道通过反应容器；(e)一个散射浊度计光检测器，该检测器沿着特定的光通道安装在反应容器的与发光二极管相反一侧；(f)一个透镜，该透镜安装在反应容器与散射浊度计光检测器之间，用于将光束聚集到散射浊度计光检测器；和(g)一个第二光束分离器，该分离器安装在反应容器和透镜之间，用于将激光光束反射远离透镜。
13．如权利要求12所述的组合，其特征在于激光器是一个发出波长在大约600和大约850nm之间的光的可见二极管激光器。
14．如权利要求12所述的组合，其特征在于发光二极管能够发出波长在大约850和大约1050nm之间的光。
15．如权利要求12所述的组合，其特征在于激光器是一个能发出总的光能在大约5毫瓦和大约10毫瓦之间的可见二极管激光器。
16．如权利要求12所述的组合，其特征在于反应容器是一个反应试管。
17．如权利要求12所述的组合，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的S波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的P波部分。
18．如权利要求12所述的组合，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的P波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的S波部分。
19．一种速率散射浊度计和速率比浊计组合，包括(a)一激光器，用于产生能量强度可以变化、具有第一波长的偏振激光光束，该激光光束具有一第一偏振部分和一第二偏振部分；(b)一激光器控制光检测器，用于检测光能量并且产生一个与这种被检测的光能量的量相对应的控制信号；(c)一第一光束分离器，设置该分离器是为了沿着一个特定的光通道将激光光束导入一个透明的反应容器中并将激光光束导向激光器控制光检测器，第一光束分离器制作成使得该激光光束的光能量是激光光束的总的光能输出量的己知的一小部分；(d)一个散射浊度计光检测器，设置该检测器用于检测由悬浮在反应容器中的液体介质里的颗粒从激光光束的第一部分散射的光能量；(e)一个偏振滤光器，用于滤出激光光束的第二部分的第二偏振部分而不会显著地影响第一偏振部分，偏振滤光器安装在第一光束分离器和激光器控制光检测器之间；(f)一个控制回路，用于采用激光器控制光检测器产生的控制信号来控制激光器的总的光能输出量；(g)一个发光二极管，用于产生具有第二波长的光束并且引导该光束沿着特定的光通道通过反应容器；(h)一个比浊计光检测器，该检测器沿着特定的光通道安装在反应容器的与发光二极管相反一侧；(i)一个透镜，该透镜安装在反应容器与比浊计光检测器之间，用于将光束聚集到比浊计光检测器；和(j)一个第二光束分离器，该分离器安装在反应容器和透镜之间，用于将激光光束反射远离透镜。
20．如权利要求19所述的组合，其特征在于该激光器是一个发出波长在大约600和大约850nm之间的光的可见二极管激光器。
21．如权利要求19所述的组合，发光二极管发出波长在大约850和大约1050nm之间的光。
22．如权利要求19所述的组合，其特征在于激光光束的第一部分的比例是在激光光束总的光能量的大约50％和大约99％之间。
23．如权利要求19所述的组合，其特征在于激光光束的第一部分的比例是在激光光束总光能量的大约95％和大约97％之间。
24．如权利要求19所述的组合，其特征在于反应容器是一个反应试管。
25．如权利要求19所述的组合，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的S波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的P波部分。
26．如权利要求19所述的组合，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的P波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的S波部分。
27．如权利要求19所述的组合，其特征在于激光光束的第一部分的第一偏振部分的比例是在激光光束总输出的总光能量的第一偏振部分的大约90％和大约99％之间。
28．一种用于检测一种液体样品的至少一个参数的装置，该装置包括(a)一个机身；(b)一个布置在机身内的样品台，该样品台的大小尺寸可以夹持多个样品容器并有一个样品提取位置，样品台在机身内是可移动的，以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置(c)一个样品台电机，用于驱动样品台以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置；(d)一个布置在机身内的试剂台，该试剂台的大小尺寸可以夹持多个试剂容器并有一个试剂提取位置，试剂台在机身内是可移动的以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(e)一个试剂台电机，用于驱动试剂台以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(f)一个布置在机身内的随机存取分析台，该随机存取分析台的大小尺寸可以夹持多个试管并有一个试管混合位置和一个试管清洗位置，随机存取分析台在机身内是可移动的以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置和(3)随机存取分析台分析位置；(g)一个布置在随机存取分析台附近的分析器，用于检测装在试管中的一种样品的至少一个参数，分析器包括一个速率散射浊度计，该速率散射浊度计包括ⅰ)一个激光器，用于产生能量强度可以变化的偏振激光光束，该激光光束具有一第一偏振部分和一第二偏振部分；ⅱ)一个激光器控制光检测器，用于检测光能量并且产生一个与这种被检测的光能量的量相对应的控制信号；ⅲ)一个第一光束分离器，设置该分离器是为了将激光光束导入一个透明的反应试管中并将激光光束导向激光器控制光检测器，第一光束分离器制作成使得该激光光束的光能量是激光光束的总的光能输出量的已知的一小部分；ⅳ)一个散射浊度计光检测器，设置该检测器用于检测由悬浮在反应试管中的液体介质里的颗粒从激光光束的第一部分散射的光能量；ⅴ)一个偏振滤光器，用于滤出激光光束的第二部分的第二偏振部分而不会显著地影响第一偏振部分，偏振滤光器安装在第一光束分离器和激光器控制光检测器之间；和ⅵ)一个控制回路，用于采用激光器控制光检测器产生的控制信号来控制激光器的总的光能输出量；(h)一个随机存取分析台电机，用于驱动随机存取分析台以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置和(3)随机存取分析台分析位置；和(i)用于将一种液体样品从样品提取位置和试剂从试剂提取位置转移到随机存取分析台内的一个试管中的转移装置。
29．如权利要求28所述的速率散射浊度计，其特征在于激光器是一个发出波长在大约600和大约850nm之间的光的可见二极管激光器。
30．如权利要求28所述的速率散射浊度计，其特征在于激光光束的第一部分的比例是在激光光束总的光能量的大约90％和大约99％之间。
31．如权利要求28所述的速率散射浊度计，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的S波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的P波部分。
32．一种用于检测一种液体样品的至少一个参数的装置，该装置包括(a)一个机身；(b)一个布置在机身内的样品台，该样品台的大小尺寸可以夹持多个样品容器并有一个样品提取位置，样品台在机身内是可移动的以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置；(c)一个样品台电机，用于驱动样品台以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置；(d)一个布置在机身内的试剂台，该试剂台的大小尺寸可以夹持多个试剂容器并有一个试剂提取位置，试剂台在机身内是可移动的以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(e)一个试剂台电机，用于驱动试剂台以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(f)一个布置在机身内的随机存取分析台，该随机存取分析台的大小尺寸可以夹持多个试管并有一个试管混合位置和一个试管清洗位置，随机存取分析台在机身内是可移动的以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置和(3)随机存取分析台分析位置；(g)一个布置在随机存取分析台附近的分析器，用于检测装在试管中的一种样品的至少一个参数，分析器包括一个速率散射浊度计，该速率散射浊度计包括ⅰ)一激光器，用于产生一个能量强度可以变化的偏振激光光束，该激光光束具有一第一偏振部分和一第二偏振部分；ⅱ)一激光器控制光检测器，用于检测光能量并且产生一个与这种被检测的光能的量相对应的控制信号；ⅲ)一个第一光束分离器，设置该分离器是为了将激光光束导入一个透明的反应试管中并将激光光束导向激光器控制光检测器，第一光束分离器制作成使得激光光束的第一部分的光能是激光光束的总的光能输出量的已知的一小部分；ⅳ)一个散射浊度计光检测器，设置该检测器用于检测由悬浮在反应试管中的液体介质里的颗粒从激光光束的第一部分散射的光能量；ⅴ)一个偏振滤光器，用于滤出激光光束的第二部分的第二偏振部分而不会显著地影响第一偏振部分，偏振滤光器安装在第一光束分离器和激光器控制光检测器之间；和ⅵ)一个控制回路，用于采用激光器控制光检测器产生的控制信号来控制激光器的总的光能量输出量；(h)一个随机存取分析台电机，用于驱动随机存取分析台以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置和(3)随机存取分析台分析位置；(i)一个安装到机身上的样品探臂组件，该样品探臂组件包括(1)一个样品探臂，(2)一个空心的样品探针，它有一个内腔、一个开口底端和一个开口上端，以及(3)一个具有一个上端和一个下端的可旋转的细长样品搅棒，样品搅棒下端包括一个安装在其上的样品搅棒叶片，样品探针和样品搅棒大体上是相互靠近地竖直布置，样品探针可以在一个下部样品探针位置和一个上部样品探针位置之间竖直地移动，样品搅棒可以独立于样品探针在一个下部样品搅棒位置和一个上部样品搅棒位置之间竖直地移动，样品探臂可以在一个第一样品探臂位置和一个第二样品探臂位置之间移动，在第一样品探臂位置时，样品探针位于样品提取位置的正上方，在第二样品探臂位置时，样品探针位于试管混合位置的正上方；(j)一个样品探臂电机，用于在第一样品探臂位置和第二样品探臂位置之间移动样品探臂；(k)一个样品探针定位电机，用于在下部样品探针位置和上部样品探针位置之间移动样品探针；(l)一个样品搅棒定位电机，用于在下部样品搅棒位置和上部样品搅棒位置之间移动样品搅棒；(m)一个样品搅棒转动电机，用于转动样品搅棒；(n)样品探针压力改变装置，用于有选择地将一个正压力和一个负压力作用到样品探针的内腔；(o)一个安装到机身上的试剂探臂组件，该试剂探臂组件包括(1)一个试剂探臂，(2)一个空心的试剂探针，它有一个内腔、一个开口底端和一个开口上端，以及(3)一个具有一个上端和一个下端的可旋转的细长试剂搅棒，试剂搅棒下端包括一个安装在其上的试剂搅棒叶片，试剂探针和试剂搅棒大体上是相互靠近地竖直布置，试剂探针可以在一个下部试剂探针位置和一个上部试剂探针位置之间竖直地移动，试剂搅棒可以独立于试剂探针在一个下部试剂搅棒位置和一个上部试剂搅棒位置之间竖直地移动，试剂探臂可以在一个第一试剂探臂位置和一个第二试剂探臂位置之间移动，在第一试剂探臂位置时，试剂探针位于试剂提取位置的正上方，在第二试剂探臂位置时，试剂探针位于试管混合位置的正上方；(p)一个试剂探臂电机，用于在第一试剂探臂位置和第二试剂探臂位置之间移动试剂探臂；(q)一个试剂探针定位电机，用于在下部试剂探针位置和上部试剂探针位置之间移动试剂探针；(r)一个试剂搅棒定位电机，用于在下部试剂搅棒位置和上部试剂搅棒位置之间移动试剂搅棒；(s)一个试剂搅棒转动电机，用于转动试剂搅棒；(t)试剂探针压力改变装置，用于有选择地将一个正压力和一个负压力作用到试剂探针的内腔；(u)一个安装到机身上的试管清洗台，该试管清洗台包括一个具有空心试管清洗台探针，该探针具有一个内腔、一个开口底端和一个开口上端，试管清洗台布置得使试管清洗台探针位于试管清洗位置的正上方；(v)一个试管清洗台探针定位电机，用于在下部试管清洗台探针位置和上部试管清洗台探针位置之间移动试管清洗台探针；和(w)试管清洗台探针供液和处理组件，用于有选择地(1)将加压清洗液从一个清洗液源提供给试管清洗台探针以清洗在试管清洗位置处的随机存取分析台内的一个试管，和(2)给试管清洗台探针的内腔提供一个负压力以从在试管清洗位置处的随机存取分析台内的一个试管中排去废液并将这些废液转移到一个处理位置。
33．如权利要求32所述的速率散射浊度计，其特征在于激光器是一个发出波长在大约600和大约850nm之间的光的可见二极管激光器。
34．如权利要求32所述的速率散射浊度计，其特征在于激光光束的第一部分的比例是在激光光束输出的总光能的第一偏振部分的大约90％和大约99％之间。
35．如权利要求32所述的速率散射浊度计，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的S波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的P波部分。
36．一种用于检测一种液体样品的至少一个参数的装置，该装置包括(a)一个机身；(b)一个布置在机身内的样品台，该样品台的大小尺寸可以夹持多个样品容器并有一个样品提取位置，样品台在机身内是可移动的以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置；(c)一个样品台电机，用于驱动样品台以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置；(d)一个布置在机身内的试剂台，该试剂台的大小尺寸可以夹持多个试剂容器并有一个试剂提取位置，试剂台在机身内是可移动的以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(e)一个试剂台电机，用于驱动试剂台以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(f)一个布置在机身内的随机存取分析台，该随机存取分析台的大小尺寸可以夹持多个试管并有一个试管混合位置和一个试管清洗位置，随机存取分析台在机身内是可移动的以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置、和(3)随机存取分析台分析位置；(g)一个布置在随机存取分析台附近的分析器，用于检测装在试管中的一种样品的至少一个参数，分析器包括一个速率散射浊度计和速率比浊计组合，该组合包括ⅰ)一激光器，用于产生具有第一波长的激光光束；ⅱ)一第一光束分离器，设置该分离器用于将激光光束沿着一个特定的光通道导入一个透明的反应试管中ⅲ)一激光器控制光检测器，设置该检测器用于检测由悬浮在反应试管中的液体介质里的颗粒从激光光束散射的光能量；ⅳ)一发光二极管，用于产生具有第二波长的光束并且引导该光束沿着特定的光通道通过反应试管；ⅴ)一散射浊度计光检测器，该检测器沿着特定的光通道安装在反应试管的与发光二极管相反一侧；ⅵ)一透镜，该透镜安装在反应试管与散射浊度计光检测器之间，用于将光束聚集到散射浊度计光检测器；和ⅶ)一第二光束分离器，该分离器安装在反应试管和透镜之间，用于将激光光束反射远离透镜；(h)一个随机存取分析台电机，用于驱动随机存取分析台以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置、和(3)随机存取分析台分析位置；和(i)用于将一种液体样品从样品提取位置和试剂从试剂提取位置转移到随机存取分析台内的一个试管中的转移装置。
37．如权利要求36所述的组合，其特征在于激光器是一个发出波长在大约600和大约850nm之间的光的可见二极管激光器。
38．如权利要求36所述的组合，发光二极管发出波长在大约850和大约1050nm之间的光。
39．如权利要求36所述的组合，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的S波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的P波部分。
40．一种用于检测一种液体样品的至少一个参数的装置，该装置包括(a)一个机身；(b)一个布置在机身内的样品台，该样品台的大小尺寸可以夹持多个样品容器并有一个样品提取位置，样品台在机身内是可移动的以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置；(c)一个样品台电机，用于驱动样品台以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置；(d)一个布置在机身内的试剂台，该试剂台的大小尺寸可以夹持多个试剂容器并有一个试剂提取位置，试剂台在机身内是可移动的以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(e)一个试剂台电机，用于驱动试剂台以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(f)一个布置在机身内的随机存取分析台，该随机存取分析台的大小尺寸可以夹持多个试管并有一个试管混合位置和一个试管清洗位置，随机存取分析台在机身内是可移动的以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置和(3)随机存取分析台分析位置；(g)一个布置在随机存取分析台附近的分析器，用于检测装在试管中的一种样品的至少一个参数，分析器包括一个速率散射浊度计和速率比浊计组合，该组合包括ⅰ)一个激光器，用于产生具有第一波长的激光光束；ⅱ)一个第一光束分离器，设置该分离器用于将激光光束沿着一个特定的光通道导入一个透明的反应试管中；ⅲ)一个激光器控制光检测器，设置该检测器用于检测由悬浮在反应试管中的液体介质里的颗粒从激光光束散射的光能量；ⅳ)一个发光二极管，用于产生具有第二波长的光束并且引导该光束沿着特定的光通道通过反应试管；ⅴ)一个散射浊度计光检测器，该检测器沿着特定的光通道安装在反应试管的与发光二极管相反一侧；ⅵ)一个透镜，该透镜安装在反应试管与散射浊度计光检测器之间，用于将光束聚集到散射浊度计光检测器；和ⅶ)一个第二光束分离器，该分离器安装在反应试管和透镜之间，用于将激光光束反射远离透镜；(h)一个随机存取分析台电机，用于驱动随机存取分析台以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置、和(3)随机存取分析台分析位置；(i)一个安装到机身上的样品探臂组件，该样品探臂组件包括(1)一个样品探臂，(2)一个空心的样品探针，它有一个内腔、一个开口底端和一个开口上端，以及(3)一个具有一个上端和一个下端的可旋转的细长样品搅棒，样品搅棒下端包括一个安装在其上的样品搅棒叶片，样品探针和样品搅棒大体上是相互靠近地竖直布置，样品探针可以在一个下部样品探针位置和一个上部样品探针位置之间竖直地移动，样品搅棒可以独立于样品探针在一个下部样品搅棒位置和一个上部样品搅棒位置之间竖直地移动，样品探臂可以在一个第一样品探臂位置和一个第二样品探臂位置之间移动，在第一样品探臂位置时，样品探针位于样品提取位置的正上方，在第二样品探臂位置时，样品探针位于试管混合位置的正上方；(j)一个样品探臂电机，用于在第一样品探臂位置和第二样品探臂位置之间移动样品探臂；(k)一个样品探针定位电机，用于在下部样品探针位置和上部样品探针位置之间移动样品探针；(l)一个样品搅棒定位电机，用于在下部样品搅棒位置和上部样品搅棒位置之间移动样品搅棒；(m)一个样品搅棒转动电机，用于转动样品搅棒；(n)样品探针压力改变装置，用于有选择地将一个正压力和一个负压力作用到样品探针的内腔；(o)一个安装到机身上的试剂探臂组件，该试剂探臂组件包括(1)一个试剂探臂，(2)一个空心的试剂探针，它有一个内腔、一个开口底端和一个开口上端，以及(3)一个具有一个上端和一个下端的可旋转的细长试剂搅棒，试剂搅棒下端包括一个安装在其上的试剂搅棒叶片，试剂探针和试剂搅棒大体上是相互靠近地竖直布置，试剂探针可以在一个下部试剂探针位置和一个上部试剂探针位置之间竖直地移动，试剂搅棒可以独立于试剂探针在一个下部试剂搅棒位置和一个上部试剂搅棒位置之间竖直地移动，试剂探臂可以在一个第一试剂探臂位置和一个第二试剂探臂位置之间移动，在第一试剂探臂位置时，试剂探针位于试剂提取位置的正上方，在第二试剂探臂位置时，试剂探针位于试管混合位置的正上方；(p)一个试剂探臂电机，用于在第一试剂探臂位置和第二试剂探臂位置之间移动试剂探臂；(q)一个试剂探针定位电机，用于在下部试剂探针位置和上部试剂探针位置之间移动试剂探针；(r)一个试剂搅棒定位电机，用于在下部试剂搅棒位置和上部试剂搅棒位置之间移动试剂搅棒；(s)一个试剂搅棒转动电机，用于转动试剂搅棒；(t)试剂探针压力改变装置，用于有选择地将一个正压力和一个负压力作用到试剂探针的内腔；(u)一个安装到机身上的试管清洗台，该试管清洗台包括一个具有空心试管清洗台探针，该探针具有一个内腔、一个开口底端和一个开口上端，试管清洗台布置得使试管清洗台探针位于试管清洗位置的正上方；(v)一个试管清洗台探针定位电机，用于在下部试管清洗台探针位置和上部试管清洗台探针位置之间移动试管清洗台探针；和(w)试管清洗台探针供液和处理组件，用于有选择地(1)将加压清洗液从一个清洗液源提供给试管清洗台探针以清洗在试管清洗位置处的随机存取分析台内的一个试管，和(2)给试管清洗台探针的内腔提供一个负压力以从在试管清洗位置处的随机存取分析台内的一个试管中排去废液并将这些废液转移到一个处理位置。
41．如权利要求40所述的组合，其特征在于激光器是一个发出波长在大约600和大约850nm之间的光的可见二极管激光器。
42．如权利要求40所述的组合，发光二极管发出波长在大约850和大约1050nm之间的光。
43．如权利要求40所述的组合，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的S波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的P波部分。
44．一种用于检测一种液体样品的至少一个参数的装置，该装置包括(a)一个机身；(b)一个布置在机身内的样品台，该样品台的大小尺寸可以夹持多个样品容器并有一个样品提取位置，样品台在机身内是可移动的以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置；(c)一个样品台电机，用于驱动样品台以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置；(d)一个布置在机身内的试剂台，该试剂台的大小尺寸可以夹持多个试剂容器并有一个试剂提取位置，试剂台在机身内是可移动的以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(e)一个试剂台电机，用于驱动试剂台以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(f)一个布置在机身内的随机存取分析台，该随机存取分析台的大小尺寸可以夹持多个试管并有一个试管混合位置和一个试管清洗位置，随机存取分析台在机身内是可移动的以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置、和(3)随机存取分析台分析位置；(g)一个布置在随机存取分析台附近的分析器，用于检测装在试管中的一种样品的至少一个参数，分析器包括一个速率散射浊度计和速率比浊计组合，该组合包括ⅰ)一个激光器，用于产生能量强度可以变化、具有第一波长的偏振激光光束，该激光光束具有一第一偏振部分和一第二偏振部分；ⅱ)一个激光器控制光检测器，用于检测光能量并且产生一个与这种被检测的光能量的量相对应的控制信号；ⅲ)一个第一光束分离器，设置该分离器是为了沿着一个特定的光通道将激光光束导入一个透明的反应试管中并将激光光束导向激光器控制光检测器，第一光束分离器制作成使得激光光束的第一部分的光能量是激光光束的总的光能量输出量的已知的一小部分；ⅳ)一个散射浊度计光检测器，设置该检测器用于检测由悬浮在反应试管中的液体介质里的颗粒从激光光束的第一部分散射的光能量；ⅴ)一个偏振器，用于滤出激光光束的第二部分的第二偏振部分而不会显著地影响第一偏振部分，偏振器安装在第一光束分离器和激光器控制光检测器之间；ⅵ)一个控制回路，用于采用激光器控制光检测器产生的控制信号来控制激光器的总的光能输出量；ⅶ)一个发光二极管，用于产生具有第二波长的光束并且引导该光束沿着特定的光通道通过反应试管；ⅷ)一个比浊计光检测器，该检测器沿着特定的光通道安装在反应试管的与发光二极管相反一侧；ⅸ)一个透镜，该透镜安装在反应试管与比浊计光检测器之间，用于将光束聚集到比浊计光检测器；和ⅹ)一个第二光束分离器，该分离器安装在反应试管和透镜之间，用于将激光光束反射远离透镜；(h)一个随机存取分析台电机，用于驱动随机存取分析台以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置、和(3)随机存取分析台分析位置；和(i)用于将一种液体样品从样品提取位置和试剂从试剂提取位置转移到随机存取分析台内的一个试管中的转移装置。
45．如权利要求44所述的组合，其特征在于激光器是一个发出波长在大约600和大约850nm之间的光的可见二极管激光器。
46．如权利要求44所述的组合，发光二极管发出波长在大约850和大约1050nm之间的光。
47．如权利要求44所述的组合，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的S波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的P波部分。
48．如权利要求44所述的组合，其特征在于激光光束的第一部分中的第一偏振部分的比例是在激光光束输出的总光能量的第一偏振部分的大约90％和大约99％之间。
49．一种用于检测一种液体样品的至少一个参数的装置，该装置包括(a)一个机身；(b)一个布置在机身内的样品台，该样品台的大小尺寸可以夹持多个样品容器并有一个样品提取位置，样品台在机身内是可移动的以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置；(c)一个样品台电机，用于驱动样品台以便在样品台夹持多个样品容器时，单个样品容器可以有选择地被移动到或离开样品提取位置；(d)一个布置在机身内的试剂台，该试剂台的大小尺寸可以夹持多个试剂容器并有一个试剂提取位置，试剂台在机身内是可移动的以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(e)一个试剂台电机，用于驱动试剂台以便在试剂台夹持多个试剂容器时，单个试剂容器可以有选择地被移动到或离开试剂提取位置；(f)一个布置在机身内的随机存取分析台，该随机存取分析台的大小尺寸可以夹持多个试管并有一个试管混合位置和一个试管清洗位置，随机存取分析台在机身内是可移动的以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置、和(3)随机存取分析台分析位置；(g)一个布置在随机存取分析台附近的分析器，用于检测装在试管中的一种样品的至少一个参数，分析器包括一个速率散射浊度计和速率比浊计组合，该组合包括ⅰ)一激光器，用于产生能量强度可以变化、具有第一波长的偏振激光光束，该激光光束具有一第一偏振部分和一第二偏振部分；ⅱ)一激光器控制光检测器，用于检测光能量并且产生一个与这种被检测的光能量的量相对应的控制信号；ⅲ)一第一光束分离器，设置该分离器是为了沿着一个特定的光通道将激光光束的第一部分导入一个透明的反应试管中并将激光光束的第二部分导向激光器控制光检测器，第一光束分离器制作成使得激光光束的第一部分的光能量是激光光束的总的光能输出量的已知的一小部分；ⅳ)一散射浊度计光检测器，设置该检测器用于检测由悬浮在反应试管中的液体介质里的颗粒从激光光束的第一部分散射的光能量；ⅴ)一偏振器，用于滤出激光光束的第二部分的第二偏振部分而不会显著地影响第一偏振部分，偏振器安装在第一光束分离器和激光器控制光检测器之间；ⅵ)一控制回路，用于采用激光器控制光检测器产生的控制信号来控制激光器的总的光能输出量；ⅶ)一发光二极管，用于产生具有第二波长的光束并且引导该光束沿着特定的光通道通过反应试管；ⅷ)一比浊计光检测器，该检测器沿着特定的光通道安装在反应试管的与发光二极管相反一侧；ⅸ)一透镜，该透镜安装在反应试管与比浊计光检测器之间，用于将光束聚集到比浊计光检测器；和ⅹ)一第二光束分离器，该分离器安装在反应试管和透镜之间，用于将激光光束反射远离透镜；(h)一个随机存取分析台电机，用于驱动随机存取分析台以便在随机存取分析台夹持多个试管时，单个试管可以有选择地被移动到或离开(1)试管混合位置、(2)试管清洗位置、和(3)随机存取分析台分析位置；(i)一个安装到机身上的样品探臂组件，该样品探臂组件包括(1)一个样品探臂，(2)一个空心的样品探针，它有一个内腔、一个开口底端和一个开口上端，以及(3)一个具有一个上端和一个下端的可旋转的细长样品搅棒，样品搅棒下端包括一个安装在其上的样品搅棒叶片，样品探针和样品搅棒大体上是相互靠近地竖直布置，样品探针可以在一个下部样品探针位置和一个上部样品探针位置之间竖直地移动，样品搅棒可以独立于样品探针在一个下部样品搅棒位置和一个上部样品搅棒位置之间竖直地移动，样品探臂可以在一个第一样品探臂位置和一个第二样品探臂位置之间移动，在第一样品探臂位置时，样品探针位于样品提取位置的正上方，在第二样品探臂位置时，样品探针位于试管混合位置的正上方；(j)一个样品探臂电机，用于在第一样品探臂位置和第二样品探臂位置之间移动样品探臂；(k)一个样品探针定位电机，用于在下部样品探针位置和上部样品探针位置之间移动样品探针；(l)一个样品搅棒定位电机，用于在下部样品搅棒位置和上部样品搅棒位置之间移动样品搅棒；(m)一个样品搅棒转动电机，用于转动样品搅棒；(n)样品探针压力改变装置，用于有选择地将一个正压力和一个负压力作用到样品探针的内腔；(o)一个安装到机身上的试剂探臂组件，该试剂探臂组件包括(1)一个试剂探臂，(2)一个空心的试剂探针，它有一个内腔、一个开口底端和一个开口上端，以及(3)一个具有一个上端和一个下端的可旋转的细长试剂搅棒，试剂搅棒下端包括一个安装在其上的试剂搅棒叶片，试剂探针和试剂搅棒大体上是相互靠近地竖直布置，试剂探针可以在一个下部试剂探针位置和一个上部试剂探针位置之间竖直地移动，试剂搅棒可以独立于试剂探针在一个下部试剂搅棒位置和一个上部试剂搅棒位置之间竖直地移动，试剂探臂可以在一个第一试剂探臂位置和一个第二试剂探臂位置之间移动，在第一试剂探臂位置时，试剂探针位于试剂提取位置的正上方，在第二试剂探臂位置时，试剂探针位于试管混合位置的正上方；(p)一个试剂探臂电机，用于在第一试剂探臂位置和第二试剂探臂位置之间移动试剂探臂；(q)一个试剂探针定位电机，用于在下部试剂探针位置和上部试剂探针位置之间移动试剂探针；(r)一个试剂搅棒定位电机，用于在下部试剂搅棒位置和上部试剂搅棒位置之间移动试剂搅棒；(s)一个试剂搅棒转动电机，用于转动试剂搅棒；(t)试剂探针压力改变装置，用于有选择地将一个正压力和一个负压力作用到试剂探针的内腔；(u)一个安装到机身上的试管清洗台，该试管清洗台包括一个具有一个内腔的空心试管清洗台探针、一个开口底端和一个开口上端，试管清洗台布置得使试管清洗台探针位于试管清洗位置的正上方；(v)一个试管清洗台探针定位电机，用于在下部试管清洗台探针位置和上部试管清洗台探针位置之间移动试管清洗台探针；和(w)试管清洗台探针供液和处理组件，用于有选择地(1)将加压清洗液从一个清洗液源提供给试管清洗台探针以清洗在试管清洗位置处的随机存取分析台内的一个试管，和(2)给试管清洗台探针的内腔提供一个负压力以从在试管清洗位置处的随机存取分析台内的一个试管中排去废液并将这些废液转移到一个处理位置。
50．如权利要求49所述的组合，其特征在于激光器是一个发出波长在大约600和大约850nm之间的光的可见二极管激光器。
51．如权利要求49所述的组合，发光二极管发出波长在大约850和大约1050nm之间的光。
52．如权利要求49所述的组合，其特征在于偏振激光光束的第一偏振部分是偏振激光光束的S波部分，偏振激光光束的第二偏振部分是偏振激光光束的P波部分。
53．如权利要求49所述的组合，其特征在于激光光束的第一部分的比例是在激光光束总输出量的总光能量的第一偏振部分的大约90％和大约99％之间。
全文摘要
本发明提供了用在自动化学分析仪器中的一种散射浊度计和散射浊度计/比浊计组合。该组合包括一个用于产生带有一个S波分量和一个P波分量的偏振激光光束。该光束被一个光束分离器分离,该分离器制成使得光束的两个偏振部分之一的已知部分导向反应容器。在反应容器中,激光光束的第一偏振部分用于散射测浊法化学分析。激光光束的其余部分穿过光束分离器到达一个激光器控制光检测器。但是,在激光光束的其余部分到达激光器控制光检测器之前,没有在散射测浊法化学分析中使用的偏振分量被滤出。激光器控制检测器使用激光光束未被滤出的部分来控制激光器的输出量。该组合也包括一个能够发出比激光器光束波长长的光束的发光二极管。这种光束穿过反应容器到达一个比浊计光检测器。一个第二光束分离器安装在反应容器和比浊计光检测器之间以使激光光束的残余部分偏离激光器。这可以防止激光光束的残余部分被反射回反应容器中。
文档编号G01N21/21GK1224497SQ97196049
公开日1999年7月28日 申请日期1997年4月28日 优先权日1996年7月3日
发明者杜安·G·巴伯, 图松太, 里查德·P·瓦特斯 申请人:贝克曼考尔特公司