专利名称：金属冲击试样断口测量卡的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种金属冲击试样断口测量卡，具体地说是一种用于测量金属冲击试样断口晶状断面率(CA％)及纤维断面率(FA％)的工具。
现有技术中，金属冲击试样断口晶状断面率及纤维断面率的测量主要有以下几种途径对比法是将冲击试样断口与冲击试样晶状(纤维)断面率图谱或示意图相比较，估算出晶状(纤维)断面率。因实际冲击试样断口部分形状多种多样，与图谱和示意图有较大不同，估算时有较大的人为误差。卡片测量法是用一张在8×10mm2内印制有80个1mm2网格的透明胶片来测量晶状区面积，测量时，要计整小格、半小格数，并要多次记录、计算，工序多、效率低，容易出错。游标卡尺测量法及放大测量法等也都存在着工序繁琐、工效低、误差大等缺点。
本实用新型的目的是提供一种操作简便、测量准确度高的金属冲击试样断口测量卡，以提高工作效率和测量精度。
本实用新型的目的是通过以下措施实现的。
一种金属冲击试样断口测量卡，由透明胶片制成，透明胶片上印制有一组组矩形，每组中的矩形面积相等、边长各异，组与组之间矩形的面积成等差极数变化，每个矩形两边长的取值范围≤W×H,W、H分别为试样断口原始截面的宽与高。
透明胶片上印制有20组矩形，每组包含有1-4个面积相等、边长各异的矩形。
每组矩形标有该组矩形面积与试样断口原始截面积相比较的标准面积百分率。
图1为本实用新型金属冲击试样断口测量卡示意图。
图2为利用本实用新型金属冲击试样断口测量卡对试样断口进行测量的实用状况图。
下面以用于对断口原始截面宽与高W×H=7.5×8mm的标准试样断口进行检测的金属冲击试样断口测量卡为例，结合附图对本实用新型进行详述。
金属冲击试样断口测量卡由透明胶片制成，其上印制有20组矩形，每组包括有1-4个面积相等、边长各异的矩形，如图1所示，组与组之间矩形的面积呈差值等于2.25mm2的等差极数，则每组矩形的面积分别为(mm2):2.25、4.50、6.75……42.75、45。矩形两边长的取值范围≤W×H,W、H分别为试样断口原始截面的宽与高，在本例中W=7.5mm、H=8mm。每组矩形的下方标有该组矩形面积与试样断口原始截面面积相比较的标准面积百分率，也即该组矩形面积为断口晶状区面积时，试样断口的晶状断面率CA(％)。由W=7.5mm、H=8mm可知，试样断口原始截面面积Fc=7.5×8=45mm2，则各组矩形的标准面积百分率分别为5％、10％、15％、20％……95％、100％。实际使用中为方便起见，可同时标注上试样断口的纤维断面率FA(％)，FA(％)=1-CA(％)。
对于断口原始截面宽与高分别为10×8mm、5×8mm等其它规格金属冲击试样，除各组矩形的面积及组与组之间面积等差极数的差值有所变化外，与上例完全相同。
实际测量时，根据金属冲击试样的规格选择相应的金属冲击试样断口测量卡，将测量卡置于试样断口上相对于试样移动，就能快速而准确地在测试卡上找到与试样断口晶状区形状近似互补的矩形，如图2所示，则该矩形的面积即可视为试样断口晶状区面积，并可由该矩形所在矩形组的下方直接读出试样断口的晶状断面率CA(％)和纤维断面率FA(％)。
本实用新型与现有技术相比所具有的优点在于操作简便、直观，可成倍提高工作效率，满足了低温试验测定金属材料的脆性转变温度时，测量大量试样的需要。工序少，准确度高，人为误差少，测试卡本身精度高，且精度可检定，大大提高了测量精度。
权利要求1．一种金属冲击试样断口测量卡，由透明胶片制成，其特征在于透明胶片上印制有一组组矩形，每组中的矩形面积相等、边长各异，组与组之间矩形的面积成等差极数变化，每个矩形两边长的取值范围≤W×H,W、H分别为试样断口原始截面的宽与高。
2．根据权利要求1所述的测量卡，其特征在于所述透明胶片上印制有20组矩形，每组包含有1-4个面积相等、边长各异的矩形。
3．根据权利要求1或2所述的测量卡，其特征在于所述每组矩形标有该组矩形面积与试样断口原始截面积相比较的标准面积百分率。
专利摘要本实用新型公开了一种用于测量试样断口晶状断面率和纤维断面率的金属冲击试样断口测量卡。透明胶片上印制有一组组矩形,每组中的矩形面积相等、边长各异,组与组之间矩形的面积成等差极数变化,每个矩形两边长的取值范围≤W×H,W、H分别为试样断口原始截面的宽与高。实际测量时,将测量卡置于试样断口上并相对移动,就能快而准确地卡上找到与试样断口晶状区形状近似互补的矩形,直接读出试样断口的晶状断面率和纤维断面率。
文档编号G01N19/00GK2307296SQ9722624
公开日1999年2月10日 申请日期1997年8月28日 优先权日1997年8月28日
发明者徐栋年 申请人:宝山钢铁(集团)公司