专利名称：半导体器件的电路校验方法
技术领域：
本发明涉及一种电路校验方法，用以校验半导体器件的电路是否满足逻辑操作规程并在设定半导体器件时用以预先确定操作定时要求。
校验半导体器件的常用电路校验方法是利用包含作为独立单元模块的多个功能模块的一个宏模块进行的。
附
图1以框图形式给出了由校验半导体器件的常用电路校验方法校验的一个外围宏模块32。
如图1所示，外围宏模块32包括一组地址解码器131-133，用以当由地址总线10给定的一个地址与一个预定的地址相一致时分别启动选择信号1011-1013；以及一组寄存器141-143，用以当相应的选择信号启动时储存数据。
下面参照图1对外围宏模块32的工作进行描述。
当由地址总线10给定的一个地址与地址解码器131的一个预定地址相一致时，地址解码器131启动选择信号1011。当选择信号1011启动后寄存器141储存数据。当由地址总线10给定的一个地址与其余的地址解码器132、133的预定地址相一致时，地址解码器132、133和寄存器142、143以上述相同方式进行操作。
下面参照附图2描述校验半导体器件的逻辑操作和操作定时的常用方法。
首先，在步骤21设定一个宏模块的限定功能部件的系统规程，操作以及特性。然后，在步骤22以RT(寄存器转换)电平设定一个电路。基于设定的RT电平电路，在步骤23利用一个HDL(硬件描述语言)设定一个电路。随后，在步骤24校验步骤23设定的HDL电路的逻辑操作。在步骤25，步骤23设定的HDL电路转换成一个门电平电路。然后，在步骤26校验步骤25产生的门电平电路用以确定其是否满足操作定时要求。在步骤27也校验门电平电路的逻辑操作。在步骤28计算门电平电路的故障率检测，其后，在步骤29，在LSI上实际设定门电平电路并且使其相互连接。
宏模块根据其产品不同有不同的地址。根据上述常用校验方法，甚至仅仅只有地址改变而功能不变时也需要校验宏模块的全部逻辑操作和操作定时。因为对于每个宏模块都必须再次进行步骤21-29的操作，所以校验需要的步骤次数相当多，并且从产品生产开始直到用户手中的TAT(轮回时间)也是相当长。
因此本发明的目的是提供一种半导体器件的电路校验方法，该方法的校验步骤相对要少并且TAT相对要短。
为了实现上述目的，本发明提供了一种校验半导体器件的电路的方法，其包括以下步骤制备一个具有能够不断变化的功能部件的第一宏模块和一个具有一般功能部件的第二宏模块，第一宏模块和第二宏模块相互分开，将第二宏模块储存在一个程序库中，当能够不断变化的所述功能部件变化时仅仅重新设定第一宏模块，并且使用第二宏模块而不必对其进行校验。
根据本发明的方法包含较少次数的校验步骤以及比常用校验方法更短的TAT，根据常用校验方法，外围宏模块的所有功能部件都必须重新设定和校验。
能够不断变化的功能部件包括地址解码器，其中的每一个用以当一个地址总线给定的一个地址与一个预定的地址相一致时启动一个选择信号。因此，当地址解码器的地址改变时，只需重新设定地址解码器。
通过参照附图描述本发明的一个实施例，本发明的上述及其它的目的、特性和优点将更加明显。
图1是由校验半导体器件的常用电路校验方法校验的外围宏模块的一个框图；图2是校验半导体器件的逻辑操作和操作定时的常用方法的一个流程图；以及图3是根据本发明，由校验半导体器件的电路校验方法校验的宏模块的一个框图。
如图3所示，根据本发明的由校验半导体器件的电路校验方法校验的宏模块包括一个由地址解码器131-133构成的独立的地址数据宏模块11和一个由寄存器141-143构成的外围功能宏模块12。
根据常用校验方法，一个宏模块包括作为独立单元模块的功能模块。然而，根据本发明，能够不断变化的功能部件和具有一般功能的功能部件分别分组，并且两组各自形成宏模块。
当如对图2描述的那样对外围功能宏模块12的逻辑操作和操作定时校验后，外围功能宏模块就储存在一个程序库中。
地址数据宏模块11和外围功能宏模块12以与图1所示的外围宏模块32基本相同的方式进行操作。然而，当地址需要改变时，只有地址数据宏模块11需要重新设定。因为校验过的外围功能宏模块12储存在程序库中，它能够使用并且不必重新设定。
因此，根据本发明的校验方法包括较少次数的校验步骤和比常用校验方法更短的TAT，根据常用校验方法，图1所示的外围宏模块32需要重新设定和校验。
根据本发明给出的校验方法作为能够不断变化的功能部件用到了地址解码器以及作为具有一般功能的功能部件用到了寄存器。然而，本发明的原理并不限于这样的组合，也能应用于其它的功能部件。
使用特定的术语对本发明的最佳实施例进行了描述，这种描述只用作解释意图，可以理解，对本发明作出各种改变和变化，而没有超出以下权利要求的精神和范围。
权利要求
1.一种校验半导体器件的电路的方法，其特征在于它包括以下步骤制备一个具有能够不断变化的功能部件的第一宏模块和一个具有一般功能部件的第二宏模块，所述的第一宏模块和所述的第二宏模块是相互分开的；将所述第二宏模块储存在一个程序库中；当能够不断变化的所述功能部件变化时仅仅重新设定所述第一宏模块；以及使用所述第二宏模块而不必对其进行校验。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述的能够不断变化的功能部件包括地址解码器，其中的每一个用以当一个地址总线给定的一个地址与一个预定的地址相一致时启动一个选择信号。
全文摘要
本发明公开了一种电路校验方法,用以校验半导体器件的电路是否满足逻辑操作规程并在设定半导体器件时用以预先确定操作定时要求。分别制备具有能够不断变化的功能部件的地址数据宏模块和具有一般功能部件的外围功能宏模块。只将外围功能宏模块储存在一个程序库中。当地址数据宏模块的地址解码器的地址改变时,只需重新设定地址数据宏模块,外围功能宏模块可以使用而不需校验。
文档编号G01R31/28GK1201908SQ98101460
公开日1998年12月16日 申请日期1998年5月5日 优先权日1997年5月9日
发明者森健彦 申请人:日本电气株式会社