专利名称：测量光盘系统特性的装置和方法
技术领域：
本发明涉及测量拾光器或光盘特性的方法和装置。本发明包括光盘的记录和/或重放系统。
众所周知，已有用于光盘驱动器的拾光器特性检测装置。例如，拾光器特性检测装置用于拾光器等的发货检测(发货前拾光器特性的检测)或验收检测(验收前拾光器的检测)。检测拾光器是否满足预定规格。
图3表示已知拾光器特性检测装置的方框图。图3所示的拾光器特性检测装置100，包括如下拾光器101，作为检测目标；测量架102，光盘设置于此；矩阵电路103，源于拾光器101具有的光检测器的输出供给矩阵电路103，并输出变换(RF)信号；伺服控制电路104，根据矩阵电路103的输出，伺服控制光盘的重放驱动器。
此外，拾光器特性检测装置100也有如下测量电路105a-105n，它们的每一个根据矩阵电路103的输出，测量拾光器特性的不同值；多路调制器106，转换测量电路105a-105n的输出；模/数转换电路107，将已被每一检测电路105a-105n的内多路调制器106转换的电路输出转换成数字数据；以及计算机108，完成模/数转换电路107的输出数据的统计处理，并显示结果。
拾光器101是拾光器特性检测装置100的检测目标。例如，该拾光器101可装配在拾光器特性检测装置100上，并可自由地相连或移开。
拾光器101也有激光二极管、分束器、物镜、光检测器等。此外，拾光器101使激光二极管发出的激光经分束器、物镜等聚集在光盘上。然后，拾光器101让图象的反射光线在光检测器上。拾光器101具有的光检测器是光电转换元件；将形成图象的反射光线转换成电信号。
通常，拾光器101有多个光检测器例如，有划分成十字型四分之一的光检测器；也有用于检测在划分成十字型四分之一的上述光检测器两侧上的侧光点的另一光检测器。此光检测器的输出供给矩阵电路103。
测量架102，光盘设置于此，为矫正光盘而转动和驱动光盘。此外，设置于测量架102的光盘用作拾光器特性检测装置100的基准。
矩阵电路103，源于所说的拾光器101具有的每个光检测器的输出供给矩阵电路103，并从此光检测器的输出产生变换(RF)信号、聚焦误差(FE)信号、和跟踪误差(TE)信号等。
例如，如果拾光器101具有的光检测器由划分成十字型四分之一的一个和用于侧光点的一个组成，矩阵电路103如下检测每个信号矩阵电路103根据划分成四分之一的光检测器的输出处理每一输出的总量，然后输出处理结果作为RF信号。矩阵电路103处理作为十字型中心目标的两个(2)光检测器的输出总量，处理这些总量的差别，然后输出处理结果作为FE信号。因此，矩阵电路103通过利用象散性或象散方法，输出FE信号。此外，根据用于侧光点的光检测器的输出，矩阵电路103处理输出之间的差别，然后输出处理结果作为TE信号。
矩阵电路103提供上述处理得到的RF信号、FE信号、TE信号给伺服控制电路104和测量电路105a-105n。
伺服控制电路104根据RF信号、FE信号、TE信号，伺服控制光盘的重放驱动器。更具体地说，伺服控制电路104完成聚焦伺服控制、跟踪伺服控制、螺纹伺服控制、和倾斜伺服控制。
测量电路105a-105n运转拾光器101的特性值。每个测量电路105a-105n测量不同的特性值。因此，拾光器特性检测装置100装有与要测量的特性值数目相同的测量电路105a-105n。
此外，每一测量电路105a-105n通过模拟处理、峰值检测处理、和频率/电压转换处理，完成滤波处理，测量特性值。例如，第一测量电路105a根据FE信号测量聚焦伺服环的输入端区“S”形曲线的信号电平。例如第二测量电路105b根据TE信号测量TE信号的电平。例如第三测量电路105c根据RF信号测量RF信号的电平。最后，例如第四测量电路105d根据RF信号测量RF信号的抖动组分。
多路调制器106转换每一测量电路105a-105n的输出，然后将任一测量电路的输出供给模/数转换电路107。
模/数转换电路107将经多路调制器106提供的、每一测量电路105a-105n的输出转换成数字数据，然后供给计算机108。模/数转换电路107的转换速度慢，因为每一测量电路105a-105n的输出几乎是DC电平。例如，模/数转换电路107的转换速度约为1KHz。
计算机108完成模/数转换电路107供给的数字数据的统计处理，然后显示结果。
如上所述，现有拾光器特性检测装置100利用装有与要测量的特性值数目相同的测量电路105a-105n，测量拾光器101的特性值，然后利用计算机108向用户显示结果。
然而，现有拾光器特性检测装置100利用经模拟处理的多个测量电路105a-105n测量拾光器101的特性值。因此，现有拾光器特性检测装置100存在问题由于每一测量电路105a-105n的不稳定特性或过程变化产生一些影响，不能得到稳定的特性值。而且，现有拾光器特性检测装置100存在另一问题当特性值的测量项目增加或修正特性值的测量项目时，从硬件上来看测量电路105a-105n须增加或修正电路。这增加成本并耗时。
此外，现有拾光器特性检测装置100根据由矩阵电路103供给的RF信号、FE信号、或TE信号，测量特性值。因此，现有拾光器特性检测装置100的问题在于温度特性引起的误差或矩阵电路103的过程变化影响要测量的特性值。
而且，现有拾光器特性检测装置100利用经模拟处理的多个测量电路105a-105n测量每一特性值，或根据由矩阵电路103供给的RF信号、FE信号、TE信号测量特性值。对使用多个拾光器特性检测装置100的系统而言，问题在于每一装置的测量结果变化，难于修正此不稳定性。
根据本发明，提供用于检测包含重放驱动器和光电转换部分的拾光器特性的装置，其中该装置包括控制重放驱动器的伺服控制装置；用于将光电转换部分输出的模数据转换成数字数据输出的模/数转换装置；储存模/数转换装置输出的数字数据的存储装置；根据储存在存储装置中的数字数据测定拾光器特性的处理装置。
模/数转换装置可取样50KHz或更大的频率的光电转换部分输出。
光电转换部分包括多个输出；模/数转换装置可同时取样光电转换部分多个输出。
模/数转换装置还包括多个取样保持电路。
多个取样保持电路可同时取样光电转换部分的多个输出，产生数字数据输出。
处理装置可根据拾光器的特性完成伺服控制装置的调节。
处理装置在伺服控制装置的每一调节之后可测定拾光器的特性。
处理装置根据拾光器的特性可调节伺服控制装置的跟踪平衡、跟踪偏离或散焦。
拾光器包括光盘。
按本发明的另一方面，提供测量包括重放驱动器和光电转换部分的拾光器特性的方法，其中该方法包括如下步骤取样光电转换部分的多个输出，产生取样数据；转换取样数据成数字数据；在存储装置中储存数字数据；处理储存在存储装置的数字数据以测定光驱动器的特性；和根据光驱动器的特性调节伺服控制装置以控制重放驱动器。
取样光电转换部分的多个输出的步骤可在50KHz或更大的频率完成。
取样步骤还包括同时取样光电转换部分多个输出，以产生取样数据。
取样步骤还包括同时取样光电转换部分的多个输出，利用多个模/数转换电路以产生取样数据。
取样步骤和转换步骤可通过多个取样保持电路完成。
调节步骤还包括调节伺服控制装置的跟踪平衡、跟踪偏离或散焦。
处理步骤可在调节步骤之后重复。
按本发明的再一方面，提供光盘记录/重放系统，包括以预定速率转动光盘的重放驱动器；包含多个光电转换部分的拾光器；用于根据多个光电转换部分的输出信号控制重放驱动器的伺服控制装置；用于将光电转换部分的输出转换成数字数据的模/数转换装置；储存数字数据的存储装置；用于根据储存在存储装置中的数字数据测定拾光器的特性的处理装置；和处理装置还包括根据储存在储存装置中的数字数据控制伺服控制装置的装置。
为充分理解本发明，参考附图、例子，描述本发明的实施例，其中
图1为描述本发明应用的实施例，拾光器特性检测装置的方框图。
图2说明拾光器所装备的光检测器例子，其为上述拾光器特性检测装置的测量目标。
图3为已知的拾光器特性检测装置的方框图。
在如下段落中，参考附图解释本发明的实施例。拾光器特性检测装置(下文称为“特性测量装置”)检测用于光盘驱动器的拾光器的特性。此特性测量装置在拾光器的规格测量或拾光器特性研究中被采用例如，在拾光器的发货测量或验货测量中采用。
图1表示描述本发明所用实施例特性测量装置的方框图。如图1所示的特性测量装置1特征如下拾光器2，为测量目标；光盘设置其上的测量架3；矩阵电路4，源于拾光器2具有的光检测器的输出供给矩阵电路4，并输出变换(RF)信号；伺服控制电路5，根据矩阵电路4的输出，伺服控制光盘的重放驱动器。
此外，该特性测量装置也有如下第一模/数转换电路6，将矩阵电路4的RF信号转换成数字数据；和第一存储器7，暂时储存第一模/数转换电路6的输出。
而且，该特性测量装置也有如下取样保持电路No.1-No.6,8a-8f，取样保持拾光器2具有的每一输出；多路调制器9，变换取样保持电路No.1-No.6,8a-8f的输出；第二模/数转换电路10，将已被多路调制器9转换的取样保持电路No.1-No.6,8a-8f的输出转换成数字数据；和第二存储器11，暂时存储第二模/数转换电路10的输出。
此外，该特性测量装置具有计算机12，可根据暂时存储在第一存储器7和第二存储器11的数字数据，处理拾光器2的特性值或显示处理结果，并根据处理结果控制伺服控制电路5。
拾光器2是拾光器特性测量装置1的检测目标。例如，该拾光器2可自由地相连或从特性测量装置1上移开。拾光器2也有激光二极管、分束器、物镜、光检测器等。此外，拾光器2使激光二极管发出的激光经分束器、物镜等在光盘上聚集。然后，拾光器2让图象的反射光线在光检测器上。拾光器2具有的光检测器是光电转换元件；将形成图象的反射光线转换成电信号。
拾光器2具有多个光检测器。图2表示拾光器2装有多个光检测器的例子。例如，图2所示，拾光器2有以2×2矩阵形式安装的4个光检测器A-D，和用于在以这种方式安装的光检测器A-D两侧侧光点检测的光检测器E、F。例如，该光检测器A-F在所谓的三光点法的拾光器中采用，其中发射三点激光至光盘。三光点法中心光线的主光束照射至光检测器A-D。换句话说，相对于记录在光盘轨迹的存储比特的反射光线照射至光检测器A-D。光检测器E、F径向安装在光检测器A-D的两侧。三光点法中的侧光束照射至光检测器E、F。例如，从如光盘轨迹的边缘反射光线照射至这些光检测器E、F。
光检测器A-F每个转换照射的反射光线数量成信号A-F。拾光器2提供信号A-F每个给矩阵电路4。此外，拾光器2提供信号A给第一取样保持电路8a、信号B给第二取样保持电路8b、信号C给第三取样保持电路8c、信号D给第四取样保持电路8d、信号E给第五取样保持电路8e、和信号F给第六取样保持电路8d。
光盘设置其上的测量架3为修正光盘，转动和驱动光盘。此外，设置在测量架3上的光盘用作特性测量装置1的基准，即，特性测量装置1根据用作特性测量装置1的基准的光盘再生信号，测量拾光器2的特性。
所述拾光器2具有的每一光检测器A-F的输出提供信号A-F给矩阵电路4，矩阵电路4根据信号A-F产生变换(RF)信号、聚焦误差(FE)信号、和跟踪误差(TE)信号等。例如，矩阵电路4，根据信号A-F，产生RF信号、FE信号、TE信号，如下矩阵电路4，根据信号A-D，处理A+B+C+D，然后产生RF信号；同时，矩阵电路4，根据信号A-D，处理(A+C)-(B+D)，然后输出处理结果作为FE信号即，矩阵电路4根据象散性或象散方法，输出RF信号。矩阵电路4根据信号E、F，处理E-F，然后输出处理结果作为RF信号。矩阵电路4提供以上述方法处理的RF信号、FE信号、和TE信号给伺服控制电路5。同时，矩阵电路4提供RF信号给第一模/数转换电路6。
伺服控制电路5根据RF信号、FE信号、和TE信号，伺服控制光盘的重放驱动器。具体地，伺服控制电路5根据RF信号，驱动运行拾光器2的物镜的双轴调节器，直至FE信号达到0，完成聚焦伺服控制。
伺服控制电路5根据TE信号，驱动运行拾光器2的物镜的双轴调节器，直至TE信号达到0，完成跟踪伺服控制。伺服控制电路5检测FE信号的DC组分，完成螺纹伺服控制，直至DC组分达到0。同时，伺服控制电路5根据RF信号，完成控制光盘倾斜的倾斜伺服控制。而且，伺服控制电路5利用安装检测光盘倾斜的单独结构完成倾斜伺服控制。
第一模/数转换电路6以高速取样频率如约30MHz的取样频率将矩阵电路4提供的RF信号转换成数字数据。第一模/数转换电路6提供已被转换为数字数据的RF信号给第一存储器7。第一存储器7通过第一模/数转换电路6暂时存储转换为数字数据的RF信号。
光检测器的输出信号A-F从拾光器2分别供给每一取样保持电路8a-8f。每一取样保持电路8a-8f同时完成同一时钟的信号A-F的保持处理。例如，供给这些取样保持电路8a-8f的时钟频率是50KHz或更大。因此，取样保持电路8a-8f以频率50KHz或更大的时钟周期重复完成取样处理和保持处理。
多路调制器9，转换取样保持电路8a-8f的输出，将此保持输出之一供给第二模/数转换电路10。多路调制器9具有足以1时钟内将取样保持电路8a-8f的每个保持输出供给第二模/数转换电路10的合适高变换速度。例如，如果取样保持电路8a-8f以频率50KHz或更大的时钟周期重复完成取样处理和保持处理，多路调制器9的转换速度大于50KHz的六(6)倍。
第二模/数转换电路10将经多路调制器9供给的取样保持电路8a-8f的每个输出转换成数字数据；然后，提供数字数据给第二存储器11。第二模/数转换电路10具有足以1个时钟周期内将取样保持电路8a-8f的每个保持输出转换的转换速度，1个时钟周期供给取样保持电路8a-8f。例如，如果取样保持电路8a-8f以频率50KHz或更大的时钟周期重复完成取样处理和保持处理，由于有六(6)个取样保持电路，8a-8f，第二模/数转换电路10以大于30KHz的转换速度完成转换。
如上所述的取样保持电路8a-8f、多路调制器9、和第二模/数转换电路10分别及独自地转换作为拾光器2的每一光检测器输出的信号A-F。此外，取样保持电路8a-8f、多路调制器9、和第二模/数转换电路10以例如50KHz的取样频率将信号A-F转换成数字数据。
转换作为拾光器2光检测器的输出信号的信号A-F的装置并不须限定上述取样保持电路8a-8f、多路调制器9、和第二模/数转换电路10的结构。例如，特性测量装置1可以有平行安置的50KHz取样频率的六(6)行模/数转换电路的机构。
第二存储器11暂时存储拾光器2的信号A-F，信号A-F由第二模/数转换电路10转换成数字数据。计算机12有接口区12a、数据存储区12b、输出区12c、处理区12d等。接口区12a输出控制伺服控制电路5的控制信号给伺服控制电路5。数据存储区12b存储对应特性测量装置1拾光器2的每一测量项目的不同处理程序。输出区12c显示拾光器2的测量特性的结果。
计算机12的处理区12d读出已被转换成数字数据并存储在第一存储器7中的RF信号，然后根据读出数据，检测RF信号的抖动组分。此外，计算机12的处理区12d读出已被转换成数字数据并存储在第一存储器11中的RF信号，然后按照每一测量项目，处理和测量拾光器2的特性。
而且，当按照每一测量项目处理，计算机12的处理区12d也完成对存储在第一存储器7和第二存储器11的数据的下列处理例如，处理区12d完成滤波操作、峰值电平操作、计算波形周期操作、计算二个信号的相差操作、电平窗的信号提取操作、周期窗的信号提取操作、和计算信号电压AC组分及DC组分的操作。
下面，解释特性测量装置1的测量项目和处理内容。为检测拾光器2的特性，特性测量装置1检测(测量)RF信号的电平(P1)；RF信号的ITOP和IBOTTOM(P2)；RF信号的抖动(P3)；主光束的光束位置(P4)；TE信号电平(P5)；E-F平衡(P6)；E-F相差(P7)；S-形电平(P8)；S-形平衡(P9)；散焦(P10)；串音(P11)；非点偏差(P12)。
上述检测项目的处理程序作为处理程序P1-P12存储在数据存储区12b。根据用户的设定，处理区12d按测量项目从数据存储区12b读出处理程序P1-P12；然后完成对存储在第一存储器7和第二存储器11的数据的运行。应提到每个处理程序P1-P12测量上述项目可利用上面段落所述的操作来完成滤波操作、峰值电平操作、计算波形周期操作、计算二个信号的相差操作、电平窗的信号提取操作、周期窗的信号提取操作、和计算信号电压AC组分及DC组分的操作。
在测量RF信号的电平的情况下，首先，处理区12d从第二存储器11读出对应信号A-D的数字数据。其二，处理区12d计算每一读出信号A-D的总量，然后根据所述总量，完成计算电压AC组分的操作。第三，处理区12d输出作为测量RF信号的电平结果的计算结果。即，处理区12d利用数字操作从每一光检测器的输出重放RF信号，然后完成测量重放的RF信号AC组分的操作。
在测量RF信号的电平情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服和跟踪伺服的测量。在测量RF信号的ITOP和IBOTOM的情况下，首先，从第二存储器11读出对应信号A-D的数字数据。其二，处理区12d计算每一读出信号A-D的总量，然后根据所述总量，完成峰值电平的操作。第三，处理区12d输出在阳极侧作为ITOP和在阴极侧作为IBOTOM产生的峰值电平。即，处理区12d利用数字操作从每一光检测器的输出重放RF信号，然后完成测量在阳极侧和在阴极侧峰值电平的操作，它们是重放的RF信号的合成AC组分和DC组分。
在测量RF信号的ITOP和IBOTOM的情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服和跟踪伺服的测量。
在测量RF信号的抖动组分的情况下，首先，处理区12d从第一存储器7读出由第一模/数转换电路6取样的RF信号。在这种情况下，第一模/数转换电路6以如30MHz的取样频率完成取样。其二，处理区12d根据上述数据计算RF信号的限制电平，并根据伴随上述限制电平的数字数据和第一模/数转换电路6的取样频率，利用内插法计算记时点，在该记时点RF信号达到所指的限制电平。最后，处理区12d计算RF信号达到所指的限制电平的记时点之间每一时间宽度，并根据每一时间宽度，计算再生信号的抖动组分。
在测量RF信号的抖动组分的情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服和跟踪伺服的测量。
在测量主光束的光束位置的情况下，首先，处理区12d从第二存储器11读出对应信号A-D的数字数据。其二，处理区12d根据每一信号A-D，计算每一差别，然后计算主光束的反射光线中心位置辐射在图2所示的光检测器A-D的位置。第三，处理区12d输出作为测量结果的主光束在光检测器的辐射位置。即，对于每一光检测器，处理区12d计算辐射在每一光检测器上的主光束光线量，然后检测主光束的辐射位置。
在测量主光束的光束位置的情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服和跟踪伺服的测量。
在测量TE信号的电平的情况下，首先，让拾光器2朝光盘的径向强制运行。处理区12d此时从第二存储器11读出对应信号E和F的数字数据。其二，处理区12d计算信号E和信号F的差别，然后根据从差别得到的信号，计算在阳极侧和在阴极侧产生的峰值电平。第三，处理区12d输出计算结果作为测量TE信号电平的结果。即，处理区12d利用数字操作，从每一光检测器的输出重放TE信号，然后完成测量重放的TE信号峰值的操作。
还应提到在测量TE信号的电平的情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服ON和跟踪伺服OFF的测量。
在测量E-F平衡情况下，首先，让拾光器2朝光盘的径向强制运行。其二，处理区12d此时从第二存储器11读出对应信号E和F的数字数据。第三，处理区12d根据信号E和信号F之间的读出差别，计算参考电平，在参考电平处差别等于0。第四，处理区12d计算偏转率意味着，朝哪个方向，阳极侧或阴极侧，信号E和信号F之间的差别相对参考电平偏转。最后，处理区12d输出计算结果作为测量E-F平衡的结果，即，处理区12d利用数字操作，重放从每一光检测器的输出的TE信号，然后完成测量相对重放的TE信号参考电平的加或减比率的操作。
在测量E-F平衡情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服ON和跟踪伺服OFF的测量。
在测量E-F相差的情况下，首先，让拾光器2朝光盘的径向强制运行。其二，处理区12d此时从第二存储器11读出对应信号E和F的数字数据。第三，处理区12d计算信号E和信号F之间的相差。最后，处理区12d输出作为测量E-F平衡的结果的相差。即，处理区12d测量用于产生TE信号的两个(2)侧光点的光检测器输出的相差。
在测量E-F相差的情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服ON和跟踪伺服OFF的测量。
在测量S-形电平的情况下，首先，让拾光器2强制上下运行。其二，处理区12d此时从第二存储器11读出对应信号A和D的数字数据。第三，处理区12d计算每一信号A-D的(A+C)-(B+D)，然后计算在阳极侧和在阴极侧的峰值电平。最后，处理区12d输出计算结果作为测量E-F平衡的结果。即，处理区12d利用数字操作，重放每一光检测器输出的FE信号，然后完成测量重放的FE信号峰值电平的操作。
在测量E-F相差的情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服和跟踪伺服OFF的测量。
在测量S-形平衡的情况下，首先，让拾光器2强制上下运行。其二，处理区12d此时从第二存储器11读出对应信号A和D的数字数据。第三，处理区12d计算每一信号A-D的(A+C)-(B+D)，然后计算参考电平，在参考电平处值等于0。第四，处理区12d计算偏转率意味着，朝哪一侧，阳极侧或阴极侧，A+C)-(B+D)的波形相对参考电平偏转。最后，处理区12d输出计算结果作为测量S-形平衡的结果的。即，处理区12d利用数字操作，重放从每一光检测器的输出的FE信号，然后完成测量相对重放的FE信号参考电平的加或减比率的操作。
还应提到，在测量S-形平衡的情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服和跟踪伺服OFF的测量。
在测量散焦电平的情况下，首先，处理区12d从第二存储器11读出对应信号A和D的数字数据。第二，处理区12d计算每一读出信号A-的总量。即，处理区12d从数字操作中重放的RF信号检测抖动组分。第三，处理区12d根据检测抖动组分的结果，测量主光束的聚焦位置。即，例如抖动组分因子是主光束不在光检测器散焦的情况。因此，处理区12d利用数字操作，重放从每一光检测器的输出的RF信号，并测量重放的RF信号的抖动组分，然后测量偏移量，在该处抖动组分变成最小。在测量S-形平衡的情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服和跟踪伺服ON的测量。
在测量串音的情况下，首先，让拾光器2朝光盘的径向强制运行。其二，处理区12d此时从第二存储器11读出对应信号A和D的数字数据。第三，处理区12计算读出信号A-D的总和，即，重放RF信号。第四，处理区12d测量最大及最小重放RF信号。第五，处理区12d计算最大与最小的比率并输出结果。即，处理区12d将在主光束的反射光线变成最大的位置即在ON-轨迹的RF信号电平与在主光束的反射光线变成最小的位置即在OFF-轨迹的RF信号电平进行比较。然后，根据比率，测量重放期间的串音状态。
还应提到，在测量E-F相差的情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服ON和跟踪伺服OFF的测量。
在测量非点偏差的情况下，首先，让拾光器2强制上下运行。其二，处理区12d此时从第二存储器11读出对应信号A和D的数字数据。第三，处理区12d计算读出A-D的(A+C)-(B+D)，然后计算在计算值为0的位置处的读出信号A-D的总和。第四，处理区12d控制伺服控制电路5，添加指定的偏移量给可控变量的跟踪伺服，并移动辐射至光检测器的主光束到盘的径向。第五，处理区12d再次计算读出A-D的(A+C)-(B+D)，然后计算在计算值为0的位置处的读出信号A-D的总和。处理区12d重复上述步骤，测量跟踪控制的偏移量，通过跟踪控制可得到最好RF信号。
还应提到在测量非点偏差的情况下，处理区12d经接口区12a控制伺服控制电路5，并完成聚焦伺服和OFF的测量。另外，当重复转换跟踪伺服从ON到OFF时，处理区12d完成测量，反之亦然。
如上面所讨论的，有关拾光器2的特性，处理区12d可完成每一项目的测量。而且，处理区12d可通过每一测量项目的测量结果给伺服控制电路5的反馈，完成拾光器2特性的再测量。例如，处理区12d将上述测量E-F平衡的结果供给伺服控制电路5。伺服控制电路5完成将在测量E-F平衡的上面结果中得到的偏移量添加给可控变量，然后完成跟踪伺服控制。处理区12d在此条件下重新测量E-F平衡。
而且，例如，处理区12d将上述测量散焦的结果供给伺服控制电路5。伺服控制电路5完成将在测量散焦的上面结果中得到的偏移量添加给可控变量，然后完成聚焦伺服控制。
处理区12d在此条件下重新测量散焦。如这里所讨论的，通过传送每一测量项目的测量和再测量结果的反馈，特性测量装置1可得到更精确的测量结果。
下面解释在改变取样频率将光检测器的输出转换成数字数据并测量TE电平和E-F平衡的情况下的测量结果。表1表示了当改变取样频率将光检测器的输出转换成数字数据达到1.5625KHz-100KHz时，利用特性测量装置1测量紧致盘的TE电平和E-F平衡的结果。
[表1
p><p>如表1所示，如果取样频率为50KHz或更大，特性测量装置1可完成稳定的测量。正如至今所讨论的，特性测量装置1通过直接转换作为拾光器2的光检测器输出信号的信号A-F成数字数据，测量光检测器2的特性。因此，特性测量装置1不受初始特性不稳定性或伺服控制电路5过程变化的影响，可完成稳定的测量。
而且，当特性测量装置1添加或修改测量项目时，只需修改处理程序。因此，由于无需在硬件上添加或修改电路，节省了成本和时间。
此外，当利用采用多个特性测量装置1的系统来测量拾光器2的特性时，可容易地在装置中修正，不会产生在每一装置中的测量结果的不均匀性。
测量拾光器2特性的特性测量装置1现已解释。然而，可应用特性测量装置1于光盘的特性测量装置。即，如上所述的特性测量装置1可用设置在测量架3的光盘作为基准；如果利用拾光器作为基准，可测量光盘的特性。
此外，要被特性测量装置1测量的拾光器2利用图2所示的光检测器测量信号A-F；然而，本发明的采用本不限定于此类型拾光器。例如，可将其应用于用于光磁盘或相变型盘的拾光器。在此情况下，由于光检测器的结构与图2所述的不同，取样保持电路8a-8f或第二模/数转换电路10的数目对应光检测器的数目。同时，如果光磁盘的情况，由于再生信号是利用Kerr效应的差别信号，便为程序，其中处理区12d完成的处理内容对应差别信号。
而且，要被特性测量装置1测量的拾光器2不是物镜作为一个主体安装的这种，而是所谓的光耦合器，它具有在半导体板上的发光装置、棱镜和光接受装置。在此情况下，光耦合器与特性测量装置1可自由地连接或移去，物镜装在装置上。
此外，本发明可被光盘记录和/或重放系统所采用，其具有取样保持电路8a-8f、多路调制器9、第二模/数转换器电路10，第一存储器7和处理区12d，并完成每一项目测量结果的反馈，然后在最佳重放或记录条件下记录和重放信号。
意味着，此光盘的记录和/或重放系统不仅装备通常光盘电路结构，还装备模/数转换器电路和处理区，拾光器光检测器的输出直接供给模/数转换电路，而处理区根据模/数转换电路的输出计算再生信号的特性。
例如，处理区由数字信号处理器组成。它根据模/数转换电路的上面输出数据，测量上述每一测量项目中项目或指定的多个项目。处理区根据测量结果，控制再生电路从而使记录和/或重放系统的再生特性最佳。然后光盘的记录和/或重放系统在最佳再生条件下再生光盘。
关于本发明的实施例，拾光器和/或光盘特性的测量装置直接将拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出转换成数字数据。然后，根据所述的数字数据，拾光器和/或光盘特性的测量装置运转拾光器和/或光盘的一个或多个特性值。
由于上述特征，拾光器和/或光盘特性的测量装置可完成稳定的测量，而不受初始特性的不稳定性或过程变化的影响。
而且，拾光器和/或光盘特性的测量装置可容易地添加或修改测量项目。从而，硬件上不需要电路的添加或修改，节省成本并快速完成操作。
关于本发明的实施例，在拾光器和/或光盘特性的测量方法方面，直接将拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出转换成数字数据。然后，在所说的拾光器和/或光盘特性测量方法中，根据所述的数字数据，运转拾光器和/或光盘的一个或多个特性值。
由于上述特征，通过拾光器和/或光盘特性的测量方法可完成稳定的测量，而不受初始特性的不稳定性或过程变化的影响。
而且，通过拾光器和/或光盘特性的测量方法可容易地添加或修改测量项目。从而，硬件上不需要电路的添加或修改，节省成本并快速完成操作。
关于本发明的实施例，光盘记录和/或重放系统直接将所述拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出转换成数字数据。然后，根据所述的数字数据，所述光盘记录和/或重放系统运转拾光器和/或光盘的一个或多个特性值，控制所述伺服控制的特性。
关于本发明的实施例，光盘记录和/或重放系统在最佳再生条件下再生光盘。在光盘的重放方法方面，直接将所述拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出转换成数字数据。然后，在光盘的所述重放方法中，根据所述的数字数据，运转拾光器和/或光盘的一个或多个特性值，控制所述伺服控制的特性。
在光盘的所述重放方法中，运转拾光器和/或光盘的一个或多个特性值，控制所述伺服控制的特性。
总之，关于本发明的典型实施例，拾光器和/或光盘特性的测量装置具有如下特征根据拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出，控制光盘的重放驱动器的伺服控制装置；转换所述拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出成数字数据的模/数转换装置；储存由所述模/数转换装置转换的数字数据的存储装置；和根据由所述存储装置存储的数字数据，运转拾光器和/或光盘的一个或多个特性值的处理装置。
拾光器和/或光盘特性的测量装置直接将拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出转换成数字数据。然后，根据所述的数字数据，拾光器和/或光盘特性的测量装置运转拾光器和/或光盘的一个或多个特性值。
此外，关于本发明的实施例，拾光器和/或光盘特性的测量装置的特征在于模/数转换装置以50KHz或更大从光电转换部分取样所述输出。
此外，关于本发明的实施例，拾光器和/或光盘特性的测量装置的特征在于所说的模/数转换装置同时从光电转换部分取样多个输出，然后将它们转换成数字数据。
此外，关于本发明的实施例，拾光器和/或光盘特性的测量装置的特征在于所述处理装置限据所述拾光器和/或光盘的特性计算值，修正所述伺服控制装置的控制特征。
关于本发明的实施例，拾光器和/或光盘特性的测量装置的特征在于如下根据拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出，伺服控制光盘的重放驱动器；转换所述拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出成数字数据；存储转换的数字数据；和根据存储的数字数据，运转所述拾光器和/或光盘的特性值。
在所述拾光器和/或光盘特性的测量方法方面，直接将所述拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出转换成数字数据。然后，在所述拾光器和/或光盘特性的测量方法方面，根据所述的数字数据，运转拾光器和/或光盘的一个或多个特性值。
此外，关于本发明的实施例，拾光器和/或光盘特性的测量方法的特征在于以50KHz或更大从光电转换部分取样所述输出。
此外，关于本发明的实施例，拾光器和/或光盘特性的测量方法的特征在于同时从光电转换部分取样多个输出，然后将它们转换成数字数据。
此外，关于本发明的实施例，拾光器和/或光盘特性的测量方法的特征在于根据所述拾光器和/或光盘的特性计算值，修正重放驱动器的控制特征。
关于本发明的实施例，光盘记录和/或重放系统具有如下特征具有一个或多个光电转换部分的拾光器；根据所述光电转换部分的输出，控制光盘重放驱动器的伺服控制装置；将所述拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出转换成数字数据的模/数转换装置；存储所述模/数转换装置转换的数字数据的存储装置；处理装置，运转所述拾光器和/或光盘的特性值，并根据所述存储装置存储的数字数据，控制所述伺服控制装置。
关于本发明的实施例，光盘记录和/或重放系统直接将所述拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出转换成数字数据。然后，根据所述的数字数据，所述光盘记录和/或重放系统运转拾光器和/或光盘的一个或多个特性值，并控制所述伺服控制的特性。
关于本发明的实施例，光盘重放方法的特征在于如下根据拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出，伺服控制和重放光盘的重放驱动器；转换所述拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出成数字数据；存储转换的数字数据；和根据存储的数字数据，运转所述拾光器和/或光盘的特性值，并根据计算的特性值，控制所述伺服控制的特性。
关于本发明的实施例，在光盘的重放方法中，直接将所述拾光器保持的一个或多个光电转换部分的输出转换成数字数据。然后，在所述光盘的重放方法中，根据所述的数字数据，运转拾光器和/或光盘的一个或多个特性值，并控制所述伺服控制的特性。
本发明实施例的上述描述的目的是为了说明和解释，并不意味周密或限定于这里公开的详细形式。从上面的解释来看，本领域的专业人士做明显的改动或变化是显然的。所有的改动和变化为发明人完全预期，并在当结合其被公正、合法、正当给以权利的广度来理解附加权利要求确定的发明范围内。
权利要求
1．含有重放驱动器和光电转换部分的拾光器特性测量装置，其中所述装置包括控制所述重放驱动器的伺服控制装置；转换所述光电转换部分的模拟数据输出成数字数据输出的模/数转换装置；存储所述模/数转换装置的数字数据输出的存储装置；和根据存储在所述存储装置的所述数字数据测定所述拾光器特性的处理装置。
2．根据权利要求1的拾光器特性测量装置，其中所述模/数转换装置以50KHz或更大的频率从所述光电转换部分取样所述输出。
3．根据权利要求1的拾光器特性测量装置，其中所述光电转换部分含有多个输出；所述模/数转换装置同时从所述光电转换部分取样所述多个输出。
4．根据权利要求3的拾光器特性测量装置，其中所述模/数转换装置还包括多个取样保持电路。
5．根据权利要求3的拾光器特性测量装置，其中所述多个取样保持电路同时取样所述光电转换装置的所述多个输出，产生数字数据输出。
6．根据权利要求1的拾光器特性测量装置，其中所述处理装置根据所述拾光器的所述特性调节所述伺服控制装置。
7．根据权利要求6的拾光器特性测量装置，其中所述处理装置在每一调节所述伺服控制装置之后测定所述拾光器的所述特性。
8．根据权利要求7的拾光器特性测量装置，其中所述处理装置根据所述拾光器的所述特性调节所述伺服控制装置的跟踪平衡、跟踪偏移或散焦。
9．根据权利要求1的拾光器特性测量装置，其中所述拾光器包括光盘。
10．测量含有重放驱动器和光电转换部分的拾光器特性方法，其中所述方法包括从所述光电转换部分取样多个输出，产生取样数据；转换所述取样数据成数字数据；在存储装置存储所述数字数据；处理存储在所述存储装置的所述数字数据，测定所述拾光器的特性；和根据所述光驱动器的所述特性，调节伺服控制装置以控制所述重放驱动器。
11．按权利要求10的拾光器特性测量方法，其中从所述光电转换部分取样多个输出的所述步骤在50KHz或更大的频率完成。
12．按权利要求10的拾光器特性测量方法，其中所述取样步骤还包括同时取样所述光电转换部分的所述多个输出，产生取样数据。
13．按权利要求12的拾光器特性测量方法，其中所述取样步骤还包括同时取样所述光电转换部分的所述多个输出，产生应用多个模/数转换电路的取样数据。
14．按权利要求12的拾光器特性测量方法，其中所述取样步骤和转换步骤由多个取样保持电路完成。
15．按权利要求10的拾光器特性测量方法，其中所述调节步骤还包括调节所述伺服控制装置的跟踪平衡、跟踪偏移或散焦。
16．按权利要求15的拾光器特性测量方法，其中所述处理步骤在所述调节步骤之后重复。
17．光盘记录/重放系统包括以预定速率转动光盘的重放驱动器；包括多个光电转换部分的拾光器；根据所述多个光电转换部分的输出信号控制所述重放驱动器的伺服控制装置；转换所述光电转换部分的所述输出成数字数据的模/数转换装置；存储所述数字数据的存储装置；根据存储在所述存储装置的所述数字数据测定所述拾光器特性的处理装置；和所述处理装置还包括根据存储在所述存储装置的所述数字数据控制所述伺服控制装置的装置。
全文摘要
特性测量装置1将拾光器2光检测器的输出作为信号A－F直接供给取样保持电路8a－8f。取样保持电路8a－8f、多路调制器9、和第二模/数转换电路10以50KHz或更大的取样频率将信号A－F转换成数字数据。在计算机12中,处理区12d从数据存储区12b读出指定程序,测量RF信号的电平的程序P存储在此数据存储区12b。处理区12d根据存储在第二存储器11的数字数据,完成指定测量项目的操作,从而测量拾光器2的特性。
文档编号G01M11/00GK1221176SQ9812050
公开日1999年6月30日 申请日期1998年9月13日 优先权日1997年9月13日
发明者中山明仁, 新谷贤司, 小浜俊介, 桥本缘 申请人:索尼精密工程中心(新)有限公司