一种回转体偏心标定方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及回转体偏心标记技术领域，具体涉及一种回转体偏心标定方法。
【背景技术】
[0002] 在前人研宄的基础上研宄了质偏的各种测量方法及精度分析，研宄的主要目的是 通过综合比较，得出每种被测物体应该选择何种方法能得到最佳测试结果，从而提高测量 的精度减少硬件成本，提高测试效率和测试精度，易于调整，节省时间，避免测量精度与操 作者技巧有关，降低测试成本。
【发明内容】
[0003] 本发明的目的在于提供一种回转体偏心标定方法，以便更好地针对回转体偏心进 行标定，改善标定效果，减少误差。
[0004] 为了实现上述目的，本发明技术方案如下：
[0005] 一种回转体偏心标定方法，将两个标准体放置一起，通过对组合体偏心的测量与 理论值比较，观察误差是否在允许范围内。理论偏心距的计算公式为：
【主权项】
1. 一种回转体偏屯、标定方法，其特征在于：将两个标准体放置一起，通过对组合体偏 屯、的测量与理论值比较，观察误差是否在允许范围内；理论偏屯、距的计算公式为：
其中；E为质量质屯、样柱与质偏样柱组合体的偏屯、距；Ml为质偏样柱的质量；〇 1为质 偏样柱的直径；为质量质屯、样柱的质量；〇 2为质量样柱的直径； 在状态一测量一次标准体的质屯、，然后将标准体调作为状态二再测量一次质屯、，在W上两个状态下可列出两个方程：
其中；而1为状态一时标准体WB端面为基准的质屯、；Xc2为状态二时标准体WA端面为 基准的质屯、；Pl2为状态一时传感器P2的受力大小；P22为状态二时传感器P2的受力大小；Leu 为状态一时测得的标准体B端面到基准档块的距离；U2为状态二时测得的标准体A端面到 基准档块的距离； 外形规则的标准体的长度可W量出，设为L其质量W也已知，即；
通过上述步骤即可测出Li的值，将其保存做为测试设备参数；为了便于操作，设计了一 套L。测量系统，通过坐标转换来最终实现W弹头为基准标准体质屯、X。的测量方法；质屯、偏 屯、测试时，部分参数的设定对测量结果有很大的影响；其中，测试精度主要取决于L和Le的 标定；L表示的是测试设备Pi、P2传感器之间的距离，Le表示的是偏屯、支撑座到质偏测头的 距离；由于测量架与基座相连的部分是靠测头支撑，该样能保证点接触且使得L、Le的值不 会变化，所W要测得两个参数的值，只需测量测头之间的中屯、距即可实现L、Le值的测试； 具体标定步骤如下： (1) 将测量架底面冲上放置，所有测头都冲上； (2) 用一个已经加工过的平板紧靠在质量质屯、测头2、3上； (3) 用块规按照轴线方向排列； (4)用深度尺量出质量质屯、测头1至最后一个块规间的距离，记为d; (5)用块规所测量出的长度加上d值再减去质量质屯、测头的直径，就等于L的长度（加 工时要确保S个质量质屯、测头的直径相同）； (6) Le的测量方法与L的测量方法相同； (7)L、Le的值测量出来后即可输入程序中并保存，用于质屯、偏屯、测试计算。
【专利摘要】本发明涉及一种回转体偏心标定方法，将两个标准体放置一起，通过对组合体偏心的测量与理论值比较，观察误差是否在允许范围内。在状态一测量一次标准体的质心，然后将标准体调作为状态二再测量一次质心，在以上两个状态下可列出两个方程。通过上述步骤即可测出L1的值，将其保存做为测试设备参数。为了便于操作，设计了一套L0测量系统，通过坐标转换来最终实现以弹头为基准标准体质心XC的测量方法。该发明方法能有效地针对回转体偏心进行标定，改善标定效果，减少误差，标定方法便于检测，减少了测试方法造成的影响。
【IPC分类】G01M1-12
【公开号】CN104792463
【申请号】CN201510187251
【发明人】李俊烨, 戴正国, 史国权, 张心明, 王德民, 赵友, 房洪蛟, 刘建河
【申请人】长春理工大学
【公开日】2015年7月22日
【申请日】2015年4月20日