形变检查器的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及光学测定设备，具体地说，涉及测定透光的被检查体的相位差、光轴方位，并检查被检查体的内部存在的形变的设备。
【背景技术】
[0002]一般情况下，玻璃产品、以丙烯酸树脂为首的树脂产品等，存在基于加工时的热分布的不均匀等而产生形变的情况，该形变成为引起强度降低、自然破坏等的要因。为此，当考虑品质管理、安全等的方面时，在产品制造时、产品出厂时等，需要进行给产品内的残余应力设定基准值来进行检查，并进行排除超过了基准值的产品等的、品质检查、产品管理。
[0003]作为更具体的例子，可列举出使用了正交尼科耳法、塞拿蒙法的检查手法。
[0004]塞拿蒙法是用于进行形变的定量测定的方法。使用了塞拿蒙法的一般的测定手法，首先，将来自发光体的光通过偏光板(起偏器(polarizer))做成直线偏振光,并将其照射到样品上。照射到样品上的光，在样品中有形变的部分产生相位差，变为椭圆偏振光。进而，当该椭圆偏振光透过适当地错开了光学轴的1/4波长板时，就变为具有与原来的方向不同的偏光轴的直线偏振光。进而，相对该直线偏振光使偏光板(检偏器(analyzer ))旋转，测定来自原来的直线偏振光的偏光轴的角度的变化量。由于该偏光轴的变化量与基于形变的相位差有比例关系，所以能通过计算式求得相位差。
[0005]作为使用了塞拿蒙法的检查器，熟知的有如非专利文献I中公开的检查器。但是，如非专利文献I中公开的现有的检查器，必须用手动使相当于检偏器的偏光板旋转，检查工序变得很繁琐。为此，希望有检查者不用手动操作相当于检偏器的偏光板就能进行检查的形变检查器。
[0006]现有技术文献非专利文献
[非专利文献 I]七 S 才一卜七于LSM-7002〈URL:http://www.luce0.c0.jp/
news/lsm-7002.html>。
【发明内容】
[0007]本发明所要解决的技术问题
本发明是鉴于以上的问题而做出的发明。即，本发明的目的在于，提供一种具备用于使相当于检偏器的偏光板旋转的驱动机构，并且检查者不用手动使其旋转就能进行检查的形变检查器。
[0008]用于解决技术问题的技术方案
为了解决以上的技术问题，涉及本发明的形变检查器是检测透光的物体的内部存在的形变的形变检查器，其特征在于，具备:光源；漫射板，接近或紧贴光源来设置；第一偏光板，接近或紧贴漫射板的与光源侧相反的一侧的面来设置；1/4波长板，接近或紧贴第一偏光板的与漫射板侧相反的一侧的面，并且相对第一偏光板的偏光轴将轴方向错开45度来设置；第二偏光板，与1/4波长板隔开任意的距离且面对面地设置，并且在与1/4波长板之间形成检查区域；摄影装置，接近第二偏光板的与1/4波长板侧相反的一侧来设置；以及，驱动机构，用于使第二偏光板以任意的角度阶梯地或连续地旋转。
[0009]驱动机构也可以由步进电机构成。
[0010]光源也可以由上表面开放的有底箱状构件、设置于该箱状构件的内侧底面中央部的发光体、以及设置于该发光体的上方的半透明构件构成。
[0011]半透明构件也可以由形成为7毫米厚的圆板状的发泡塑料构成。
[0012]发光体也可以由一个发光二极管或多个发光二极管的集合体构成。
[0013]发光二极管也可以是发出属于从蓝色到红色的范围内的单色的可见光的发光二极管。
[0014]发光二极管也可以是表面安装型。
[0015]另外，涉及本发明的形变检查系统是由形变检查器和经由通信单元与该形变检查器能相互通信的解析装置构成的形变检查系统，其特征在于，该解析装置具备:输入部，受理操作者的输入指示；计算部，基于输入指示计算由形变检查器发送来的检查数据；图像生成部，基于由计算部计算的值生成图像；以及显示部，显示由图像生成部生成的图像。
[0016]计算部也可以具有:灰度值计算部，基于检查数据计算表示形变的强弱的灰度值。
[0017]图像生成部也可以基于由灰度值计算部计算的值生成三维图像。
[0018]计算部也可以具有:轴方位值计算部，基于检查数据计算表示形变的轴方位的轴方位值。
[0019]计算部也可以具有:检查数据抽出部,抽出检查数据中的任意的范围。
[0020]计算部也可以具有:直线计算部，计算检查数据中或由检查数据抽出部抽出的检查数据中的、任意的直线上的形变的强弱或轴方位。
[0021]发明效果
根据本发明，能提供一种具备使相当于检偏器的偏光板旋转的驱动机构，并且检查者不用手动使其旋转就能进行检查的形变检查器。
【附图说明】
[0022]图1是表示涉及本发明的一个实施方式的形变检查器的整体结构的图；
图2是表示形变检查器的内部结构的图；
图3是表示摄影机、第二偏光板、1/4波长板、第一偏光板、漫射板以及光源的关系的分解图；
图4是表示第二偏光板的周边结构的剖视图；
图5是表示光源的结构立体图；
图6是将光源的结构通过剖面来表示的图；
图7是表示形变检查系统的整体结构的图；
图8是表示解析装置的结构的框图；
图9是表示计算部所具备的各计算处理部的框图；
图10是表示解析装置的画面显示的一例的图；
图11是表示解析装置的画面显示的一例的图； 图12是表示解析装置的画面显示的一例的图；
图13是表示解析装置的画面显示的一例的图；
图14是表示解析装置的画面显示的一例的图；
图15是表示解析装置的画面显示的一例的图；
图16是表示解析装置的画面显示的一例的图。
【具体实施方式】
[0023]下面，边参照附图边对涉及本发明的形变检查器的一个实施方式详细地进行说明。
[0024]图1是表示涉及本发明的形变检查器100的整体结构的图。如图所示，形变检查器100由将构成形变检查器100的各要素收纳于内部的箱101、在放置成为检查对象的样品时上下开闭的滑动盖102、以及在上下开闭滑动盖102时使用的把手103构成。
[0025]对箱101和滑动盖102的原料未做特别限定，虽然从聚碳酸酯原料、FRP原料等的、各种原料可任意地决定，但是在将给检查带来影响的外光进行遮挡的这一观点上，优选使用不透光的原料。对用于使滑动盖102上下开闭的机构未做特别限定，可任意地决定由皮带上下开闭的机构之外，还有使用了钢丝的机构等。
[0026]滑动盖102与检测其闭状态的限位开关、光电元件等的感知器(未图示)相关联。由此，能设定成滑动盖102仅在闭状态时形变检查器100才进行工作。
[0027]接下来，边参照图2边对形变检查器100的结构进行说明。
[0028]图2是表示形变检查器100的内部结构的图。如图所示，形变检查器100由矩形状的板状构件121、第二偏光板141、设置于第二偏光板141的上部的摄影机140、支承板状构件121的支柱122、兼作支柱122的根基的主体120、设置于主体120的内部的1/4波长板142、设置于主体120的内部的第一偏光板143 (未图不)、设置于主体120的内部的漫射板144 (未图不)、以及设置于主体120的内部的光源145 (未图不)构成。
[0029]作为摄影装置的摄影机140是被光源145照射，并且将透过了漫射板144、第一偏光板143、1/4波长板142、样品以及第二偏光板141的光进行受光的摄影机。作为摄影机140的具体例，可列举出CCD摄影机。如图2所示，摄影机140由固定器具固定于第二偏光板141的上部。
[0030]漫射板144是用于消除从光源145放射的光的不均勻的漫射器(diffuser)。
[0031]形变检查器100中的检查区域构成在1/4波长板142与第二偏光板141之间，通常，将样品放置在1/4波长板142的上表面进行检查。如上所述，形变检查器100，在1/4波长板142的上表面有时放置样品有时除去样品时，变为能使滑动盖102向上滑动并打开的结构。
[0032]接下来，边参照图3，边对形变检查器100所具备的摄影机140、第二偏光板141、1/4波长板142、第一偏光板143、漫射板144以及光源145的光学关系进行说明。
[0033]图3是表示形变检查器100所具备的摄影机140、第二偏光板141、1/4波长板142、第一偏光板143、漫射板144以及光源145的关系的分解图。如图所不，摄影机140、第二偏光板141、1/4波长板142、第一偏光板143、漫射板144以及光