' 管所需要的实际集电极电流，连续两个脉冲的占空比为2%，宽度与第一个基极电流脉冲相 同； 2) 在脉冲期间CPU通过ADC读取集电极-发射极电压、基极电流和集电极电流的值， 记爻
[0022] 步骤五、判断静态工作点的准确性： 1)CPU判断
的值是否小于根据测试精度 所给定的设定值，如有一项不符合，重新进行步骤三和步骤四； 2) 如
的值均小于根据测试精度 所给定的设定值，则记录此时的集电极-发射极电压、基极电流和集电极电流的值
[0023] 第二阶段：获取精确的放大倍数(第二阶段获取的参数统一用下标2表示，脉冲的 次数用上标表示）； 步骤六、设立正确静态工作点的恒压源电压：cpu控制tSi设置符合测试条件要求的恒压i
[0024] 步骤七、设立正确静态工作点的标准基极脉冲： 1) 議||控制ill设置一个脉冲宽度为250yS至350yS的基极测量脉冲_孝i|p， 此脉冲宽度已经足够稳定集电极电流并且读取多组集电极电流值； 2) 在脉冲期间读取集电极-发射极电压、基极电流和集电极电流的平均值，记为 _W|。
[0025] 步骤八、对恒压源进行细微补偿： lii!控制MG设置补偿后的恒压源
：其中I为步骤七中 的基极测量脉冲的个数，在此，同样存在如上述步骤三所述的对下一个基极电流脉冲期间 的恒压源进行补偿的问题。
[0026] 步骤九、对基极电流进行细微补偿： 1) 设置一个基极电流脉冲宽度为250yS至350yS之间的基极电流脉冲
，连续两个脉冲的占空比为2% ; 2) 在脉冲期间CPCJ通过ADC_读取集电极-发射极电压、基极电流和集电极电流的平均 值，记为
3) 计算出此时的放大倍数
步骤十、计算放大倍数平均值： 1)重复不少于5次进行步骤八和步骤九，计算出每次的放大倍数其中，连续两个 脉冲的占空比为2%; 2)求出平均放大倍I」
：n为重复进行步骤八和步骤九的次 数）。
【主权项】
1. 一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法，其特征在于，至少包括以下步 骤： 步骤一、设立初始的恒压源电压； 步骤二、设立初始基极电流脉冲； 步骤三、对恒压源进行补偿； 步骤四、对基极电流进行补偿； 步骤五、判断静态工作点的准确性； 步骤六、设立正确静态工作点的恒压源电压； 步骤七、设立正确静态工作点的标准基极脉冲； 步骤八、对恒压源进行细微补偿； 步骤九、对基极电流进行细微补偿； 步骤十、计算放大倍数平均值。2. 根据权利要求1所述的一种用于测试半导体三极管的放大倍 数的测试方法，其特征在于步骤一中设立初始的恒压源电压的过程， _親!控制设置集电极电压源|||^_，其中f为所述三极管所需要的实际集电 极-发射极电压。3. 根据权利要求1所述的一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法，其特征 在于步骤二中设立初始基极电流脉冲的过程，至少还包括以下步骤： 1)CP!j控制:I?设置一个基极电流源脉冲_:，用于探测被测管的大致放大倍数，脉冲 &的宽度由控制，直至集电极电流 :|上升并稳定； 2) 在脉冲期间CPU通过ADC读取集电极-发射极电压、基极电流和集电极电流的值， 分别记为〖癸以、1.^。4. 根据权利要求1所述的一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法，其 特征在于步骤三中对恒压源进行补偿的过程，CPU控制DAC设置补偿后的集电极电压源C中I为探测脉冲的个数。5. 根据权利要求1所述的一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法，其特征 在于步骤四中对基极电流进行补偿的过程，至少还包括以下步骤： 1)CPU控制DAC设置一个基极电流脉>其中養为所述三 极管所需要的实际集电极电流，连续两个脉冲的占空比为2%，宽度与第一个基极电流脉冲 相同； 2) 在脉冲期间CPU通过ADC读取集电极-发射极电压、基极电流和集电极电流的值， 记为德P妒…堪1。6. 根据权利要求1所述的一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法，其特征 在于步骤五中判断静态工作点的准确性，至少还包括以下步骤： 1)CPU判断丨- /纪i/lF7和|格^ -碎纪的值是否小于根据测试精度 所给定的设定值，如有一项不符合，重新进行步骤三和步骤四； 2) 如|/严一mH用f和丨-i&H八浮r的值均小于根据测试精度 所给定的设定值，则记录此时的集电极-发射极电压、基极电流和集电极电流的值 ;n+iji-rl 七cst、、4ci°7. 根据权利要求1所述的一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法，其特征 在于步骤六中设立正确静态工作点的恒压源电压，控制DAC设置恒压源__含:1|_。8. 根据权利要求1所述的一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法，其特征 在于步骤七中设立正确静态工作点的标准基极脉冲，至少还包括以下步骤： 1. CP1]控制DAC设置一个脉冲宽度为250yS至350yS之间的基极电流脉冲 / _? 2) 在脉冲期间读取集电极-发射极电压、基极电流和集电极电流的平均值，记为I.7&2、 滅与9. 根据权利要求1所述的一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法，其 特征在于步骤八中对恒压源进行细微补偿的过程，CPU控制DAC设置补偿后的恒流源 @ 一 其中t为步骤七中的基极测量脉冲的个数。10. 根据权利要求1所述的一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法，其特 征在于步骤九中对基极电流进行细微补偿的过程，至少还包括以下步骤： 1) 设置一个基极电流脉冲宽度为250yS至350yS之间的基极电流脉冲 =尽於* (y.)，连续两个脉冲的占空比为2〇/〇; 2) 在脉冲期间CPU通过ADC读取集电极-发射极电压、基极电流和集电极电流的平均 值，记为丨^\If、igS 3) 计算出此时的放大倍数=：11. 根据权利要求1所述的一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法其特征 在于步骤十中计算放大倍数平均值的方法，至少还包括以下步骤： 1) 重复n次进行步骤八和步骤九（n>5)，计算出每次的放大倍数其中，连续两个 脉冲的占空比为2%; 2) 求出平均放大倍g(n为重复进行步骤八和步骤九的次
【专利摘要】本发明公开了一种半导体三极管放大倍数脉冲测试方法，属于半导体测试领域。其步骤包括：一、设立初始的恒压源电压；二、设立初始基极电流脉冲；三、对恒压源进行补偿；四、对基极电流进行补偿；五、判断静态工作点的准确性；六、设立正确静态工作点的恒压源电压；七、设立正确静态工作点的标准基极脉冲；八、对恒压源进行细微补偿；九、对基极电流进行细微补偿；十、计算放大倍数平均值。本发明能够在相关规定的时间内完成脉冲测试，极大的减少了管芯升温，并且本方法不是硬件闭环测试方法，将不易产生寄生振荡，且在技术上容易实现，成本低。
【IPC分类】G01R31/26
【公开号】CN105021969
【申请号】CN201510404461
【发明人】罗光明, 陈彦翔
【申请人】湘潭大学
【公开日】2015年11月4日
【申请日】2015年7月10日