一种高频x射线探伤机自动曝光方法、系统及探伤机的制作方法
【技术领域】
[0001]
本发明涉及探伤机领域，尤其涉及的是一种高频X射线探伤机自动曝光方法、系统及探伤机。
【背景技术】
[0002]用X射线来照射被测物，并在被测物背面放置X射线感光底片，如果被测物表面或内部有损伤、杂渣、气孔等缺陷，由于它们对X射线的吸收与被测物主成分不同，从而最终会在底片上形成影像，通过底片即可找出缺陷的位置和大小，这就是X射线无损探伤的基本原理。
[0003]X射线无损探伤技术由于其穿透力强、无损伤、非接触的特点，在锅炉、压力容器、桥梁、石油管道、船舶、食品加工等工农业生产领域得到非常广泛的应用。
[0004]但在现场和野外环境中进行X射线探伤时，需要测量X射线出射窗到物体的距离F和被测物的厚度D，然后根据F和D查找曝光曲线来确定射线机的KV和曝光时间T这两个参数，参数设置复杂，需要有一定经验的人才能完成探伤过程极易误查且工作量大，探伤效率低。
[0005]因此，现有技术还有待于改进和发展。
【发明内容】
[0006]鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种高频X射线探伤机自动曝光方法、系统及探伤机，能够实现探伤机的自动曝光，且曝光精度高，便于操作。
[0007]本发明的技术方案如下:
一种高频X射线探伤机自动曝光方法，其步骤包括:
A、在探伤机中存储不同金属材质的曝光曲线图，建立曝光曲线数据库；
B、接收用户输入的探伤机与被测物距离参数和被测物厚度参数，根据探伤机与被测物的距离参数和被测物的厚度参数检索所述曝光曲线数据库、输出曝光电压和曝光时间；
C、接收用户操作指令以输出的曝光电压和曝光时间对被测物进行探伤曝光。
[0008]所述的高频X射线探伤机自动曝光方法，其中，上述步骤B中输出曝光电压和曝光时间之前，还应根据探伤机的射线机额定电压的0.8-0.9%计算出曝光电压，检索曝光曲线数据库中对应所述曝光电压的曝光量，根据指定算法得出曝光时间。
[0009]所述的高频X射线探伤机自动曝光方法，其中，所述指定算法为:(F/F1)*(F/Fl)*mA*T=mA.min ;其中
F:曝光曲线图中射线机与被测物的距离；
Fl:本次检测射线机与被测物的实际距离； mA:射线机输出电流；
T:曝光时间； mA.min:曝光量。
[0010]所述的高频X射线探伤机自动曝光方法，其中，所述步骤B之后还包括:
接收用户设定的曝光电压参数，输出对应用户设定的曝光电压参数的曝光时间。
[0011]所述的高频X射线探伤机自动曝光方法，其中，所述步骤B之后还包括:
接收用户设定的曝光时间参数，输出对应用户设定的曝光时间参数的曝光电压。
[0012]—种高频X射线探伤机自动曝光系统，包括:
数据库模块，用于在探伤机中存储不同金属材质的曝光曲线图，建立曝光曲线数据库；
处理模块，用于接收用户输入的探伤机与被测物距离参数和被测物厚度参数，根据探伤机与被测物的距离参数和被测物的厚度参数检索所述曝光曲线数据库、输出曝光电压和曝光时间；
曝光模块，用于接收用户操作指令以输出的曝光电压和曝光时间对被测物进行探伤曝光。
[0013]所述的高频X射线探伤机自动曝光系统，其中，所述处理器模块还用于在输出曝光电压和曝光时间之前，根据探伤机的射线机额定电压的0.8-0.9%计算出曝光电压，检索曝光曲线数据库中对应所述曝光电压的曝光量，根据指定算法得出曝光时间。
[0014]所述的高频X射线探伤机自动曝光系统，其中，所述指定算法为:(F/F1)*(F/Fl)*mA*T=mA.min ;其中
F:曝光曲线图中射线机与被测物的距离；
Fl:本次检测射线机与被测物的实际距离； mA:射线机输出电流；
T:曝光时间； mA.min:曝光量。
[0015]所述的高频X射线探伤机自动曝光系统，其中，还包括:
第一参数处理模块，用于接收用户设定的曝光电压参数，输出对应用户设定的曝光电压参数的曝光时间；
第二参数处理模块，用于接收用户设定的曝光时间参数，输出对应用户设定的曝光时间参数的曝光电压。
[0016]—种探伤机，包括上述所述的高频X射线探伤机自动曝光系统。
[0017]本发明所提供的高频X射线探伤机自动曝光方法、系统及探伤机，由于采用了在探伤机中存储不同金属材质的曝光曲线图，建立曝光曲线数据库，能够自动匹配不同被测物的曝光参数。仅需输入被测物厚度和探伤机与被测物距离即可实现准确曝光，操作使用简单、准确度高，简化了传统探伤机的参数设置步骤，减少了工作人工作误差和工作量，提高了探伤工作效率。
【附图说明】
[0018]图1是本发明中高频X射线探伤机自动曝光方法的流程图。
[0019]图2是本发明中高频X射线探伤机自动曝光方法较佳实施例的曝光曲线图。
[0020]图3是本发明中高频X射线探伤机自动曝光系统的模块框图。
【具体实施方式】
[0021]本发明提供一种高频X射线探伤机自动曝光方法、系统及探伤机，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0022]请参阅图1所示，本发明提供的高频X射线探伤机自动曝光方法，其包括以下步骤:
S100、在探伤机中存储不同金属材质的曝光曲线图，建立曝光曲线数据库。即预先将不同金属材质探伤曝光时的曝光曲线做成曝光曲线图。例如当探伤机的X射线机出射窗与被测物的距离F和被测物厚度D为固定参数时，以被测物厚度D为水平坐标，以曝光电流mA和曝光时间T的乘积(也就是曝光量)为垂直坐标，建立一个直角坐标系的X射线曝光曲线表，图中每条曲线表示不同的曝光电压KV，具体如图2所示。被测物体的材料不同，曲线表也不同，但都有一个对应关系。所以可以将不同被测物或不同金属材质的曝光曲线表输入探伤机中进行存储，建立一个曝光曲线数据库。利用该曝光曲线数据库，可以直接得出被测物的曝光参数，方便操作。
[0023]S200、接收用户输入的探伤机与被测物距离参数和被测物厚度参数，根据探伤机与被测物的距离参数和被测物的厚度参数检索所述曝光曲线数据库、输出曝光电压和曝光时间。
[0024]即用户仅需将探伤机X摄像机出射窗到被测物的距离F和被测物的厚度D输入到探伤机中，探伤机自动曝光系统接收用户输入的上述探伤机X摄像机出射窗到被测物的距离F和被测物的厚度D的具体参数，探伤机自动曝光系统则会根据上述距离数据检索预先存储的曝光曲线数据库中对应上述距离数据的曝光曲线图，当检索到探伤机X摄像机出射窗到被测物的距离F和被测物的厚度D对应的曝光曲线图时，读取所述曝光曲线图中对应所述数据D (被测物的厚度)和所述数据F (探伤机X射线机出射窗到被测物的距离)的曝光电压和曝光时间。所述曝光电压和曝光时间直接输出至探伤机的控制器中，用户可以直接控制控制器控制探伤机曝光。当然的，所述曝光电压和曝光时间是可调的，以增加探伤机的灵活使用性。
[0025]S300、接收用户操作指令以输出的曝光电压和曝光时间对被测物进行探伤曝光。探伤机自动曝光系统或探伤机控制器在输出对应上述探伤机X摄像机出射窗到被测物的距离F和被测物的厚度D的曝光电压和曝光时间后，用户操作探伤机控制按钮控制探伤机的X射线机对被测物进行曝光，曝光后得出探伤数据，用户根据该探伤数据判断被测物是否有损伤。利用本发明不需要有工作经验即可操作探伤机，仅需输入被测物厚度和探伤机与被测物距离即可实现准确曝光，操作使用简单、准确度高，简化了传统探伤机的参数设置步骤，减少了工作人工作误差和工作量，提高了探伤工作效率。
[0026]在本发明的具体实施例中，探伤机在接收到用户的操作指令时，即在用户在使用探伤机上触控键盘输入探伤机(X射线机出射窗)与被测物距离参数和被测物厚度参数后，探伤机将根据距离数据和厚度数据检索曝光曲线数据库。由于曝光曲线数据库中的曝光曲线是以被测物厚度D为水平坐标，以曝光电流mA和曝光时间T的乘积(也就是曝光量)为垂直坐标的直角坐标系，坐标系中曲线或直线表示曝光电压；所以探伤机自动曝光系统在检索曝光曲线数图的据库时需先确定曝光曲线图中某一固定数据，然后在根据这一数据确定曝光曲线图范围，最后确定曝光曲线图、根据曝光曲线图内数据输出曝光电压和曝光时间。
[0027]具体的，在上述步骤S200中输出曝光电压和曝光时间之前，还应根据探伤机的射线机额定电压的0.8-0.9%计算出曝光电压。又由于探测某被测物时，使用的探伤机的X射线机的额定电压是已知参数，可利用该已知参数和被测物的厚度(被测物材质是已确定的)查找曝光曲线图中对应该已知参数的曝光量。一般探伤机使用X射线机额定电压的0.9%作为曝光电压(一般所述X射线机的曝光电流有数个)，然后检索曝光曲线数据库中对应所述曝光电压的曝光量，根据指定算法得出曝光时间。
[0028]上述指定算法为:(F/F1)* (F/Fl) *mA*T=mA.min ;其中
F:曝光曲线图中射线机(X射线机出射窗)与被测物的距离；
Fl:本次检测射线机与被测物的实际距离； mA:射线机输出电流；
T:曝光时间； mA.min:曝光量。
[0029]通过上述计算公式可知X射线强度与距离参数为平方关系。一般先确定曝光电压后，探伤机自动曝光系统检索对应所述曝光电压的曝光量后即可根据上述计算公式算出曝光时间。当然的，在建立曝光曲线时也是根据上述计算公式进行的。
[0030]下