如果走线槽直径大于电源线传导信号的四分之一波长，既造成辐射，则需要设置屏蔽盖体，防止对测试产品造成影响。
[0030]测试产品时，将产品放置于第一平台上，直接将产品电源接通，以最短接线为宜，打开电源开关，将产品调试到正常工作状态，即可打开电机，启动旋转平台工作，进行测试。
[0031]本实施例控制器的中央处理器可以采用一种EMC测试系统，包括测试台、控制器、驱动电机、电源、屏蔽盒、信号采集装置，所述控制器设置于EMC测试屏蔽室的外部，测试台位于屏蔽室的中央，测试台下侧设置屏蔽盒，驱动电机和电源设置于屏蔽盒内，测试产品放置于测试台上，驱动电机驱动测试台旋转，信号采集装置位于测试台前方或上方，用于检测测试产品发出的信号频率及强度，并将检测到的信号发送至外部控制器，外部控制器对接收的信号进行处理，并将处理结果输出。
[0032]所述测试台包括第一台面、第二台面，所述第二台面水平设置，第一台面平行设置于第二台面上部，所述第二台面通过旋转轴与驱动电机的驱动轴连接，所述驱动电机设置于第二台面下部，所述第一台面中心与第二台面中心分别开孔，两个开孔之间设置走线槽，所述走线槽的两端分别与两个开孔连接。
[0033]所述第一台面上设置固定装置，用于固定电源输出端口。
[0034]所述第一台面为规则几何形状，所述第二台面为圆形。
[0035]所述走线槽内部设置屏蔽层。
[0036]所述屏蔽层为金属网、铝箔纸、金属镀层中的一种。
[0037]所述控制器的中央处理器为FPGA系列芯片、DSP系列芯片或ARM系列芯片，一种EMC测试系统，包括测试台、控制器、驱动电机、电源、屏蔽盒、信号采集装置，所述控制器设置于EMC测试屏蔽室的外部，测试台位于屏蔽室的中央，测试台下侧设置屏蔽盒，驱动电机和电源设置于屏蔽盒内，测试产品放置于测试台上，驱动电机驱动测试台旋转，信号采集装置位于测试台前方或上方，用于检测测试产品发出的信号频率及强度，并将检测到的信号发送至外部控制器，外部控制器对接收的信号进行处理，并将处理结果输出。
[0038]所述测试台包括第一台面、第二台面，所述第二台面水平设置，第一台面平行设置于第二台面上部，所述第二台面通过旋转轴与驱动电机的驱动轴连接，所述驱动电机设置于第二台面下部，所述第一台面中心与第二台面中心分别开孔，两个开孔之间设置走线槽，所述走线槽的两端分别与两个开孔连接。
[0039]所述第一台面上设置固定装置，用于固定电源输出端口。
[0040]所述第一台面为规则几何形状，所述第二台面为圆形。
[0041]所述走线槽内部设置屏蔽层。
[0042]所述屏蔽层为金属网、铝箔纸、金属镀层中的一种。
[0043]所述控制器的中央处理器为FPGA系列芯片、DSP系列芯片或ARM系列芯片。
[0044]1.Spartan-6 FPGA逻辑单元评级充分体现了最新6输入LUT架构所具备的更强大的逻辑单元能力。
[0045]2.每个Spartan-6 FPGA Slice均包含4个LUT和8个触发器。
[0046]3.每个DSP48A1 Slice内含一个18x18乘法器、一个加法器及一个累加器。
[0047]4.Block RAM大小基本为18Kb。每个模块还可以作为两个独立的9Kb模块使用。
[0048]5.每个CMT内含两个DCM和一个PLL。
[0049]6.在-3N速度级别下不支持存储器控制器模块。
[0050]技术人员可根据涉及输入的需要选择适合项目的具体型号。
【主权项】
1.一种EMC测试系统，其特征在于:包括测试台、控制器、驱动电机、电源、屏蔽盒、信号采集装置，所述控制器设置于EMC测试屏蔽室的外部，测试台位于屏蔽室的中央，测试台下侧设置屏蔽盒，驱动电机和电源设置于屏蔽盒内，测试产品放置于测试台上，驱动电机驱动测试台旋转，信号采集装置位于测试台前方或上方，用于检测测试产品发出的信号频率及强度，并将检测到的信号发送至外部控制器，外部控制器对接收的信号进行处理，并将处理结果输出。2.根据权利要求1所述的EMC测试系统，其特征在于:所述测试台包括第一台面、第二台面，所述第二台面水平设置，第一台面平行设置于第二台面上部，所述第二台面通过旋转轴与驱动电机的驱动轴连接，所述驱动电机设置于第二台面下部，所述第一台面中心与第二台面中心分别开孔，两个开孔之间设置走线槽，所述走线槽的两端分别与两个开孔连接。3.根据权利要求2所述的EMC测试系统，其特征在于:所述第一台面上设置固定装置，用于固定电源输出端口。4.根据权利要求2或3所述的EMC测试系统，其特征在于:所述第一台面为规则几何形状，所述第二台面为圆形。5.根据权利要求3所述的EMC测试系统，其特征在于:所述走线槽内部设置屏蔽层。6.根据权利要求5所述的EMC测试系统，其特征在于:所述屏蔽层为金属网、铝箔纸、金属镀层中的一种。7.根据权利要求1所述的EMC测试系统，其特征在于:所述控制器的中央处理器为FPGA系列芯片、DSP系列芯片或ARM系列芯片。
【专利摘要】本发明公开了一种EMC测试系统，包括测试台、控制器、驱动电机、电源、屏蔽盒、信号采集装置，所述控制器设置于EMC测试屏蔽室的外部，测试台位于屏蔽室的中央，测试台下侧设置屏蔽盒，驱动电机和电源设置于屏蔽盒内，测试产品放置于测试台上，驱动电机驱动测试台旋转，信号采集装置位于测试台前方或上方，用于检测测试产品发出的信号频率及强度，并将检测到的信号发送至外部控制器，外部控制器对接收的信号进行处理，并将处理结果输出。增加了屏蔽盒，将电源设置于屏蔽盒内，减少电源向外辐射，并设置走线槽，使得测试产品的电源线内置，避免安全隐患。
【IPC分类】G01R1/18, G01R29/08
【公开号】CN105044474
【申请号】CN201510460442
【发明人】张瑜, 陈黛文
【申请人】苏州玄禾物联网科技有限公司
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年7月31日