时间参数测试电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种时间参数测试电路，具体涉及一种用于集成电路模拟测试机的大功率电源专用电路上，能够实现过热报警的时间参数测试电路。
【背景技术】
[0002]现有技术中，大功率集成电路模拟测试机上，会进行时间参数的测量。这种测量过程中，如果使用过于频繁，或者与电源连接出现问题造成电路短路等，会造成测试电路温度快速上升，造成测试电路使用寿命降低。因此，在负载出现异常时，如何发出报警保护，是现有技术亟需解决的技术问题。
【发明内容】
[0003]为解决现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种时间参数测试电路，以解决现有技术中难以实现时间参数测量过程中难以实现电路保护的技术问题。
[0004]为了实现上述目标，本发明采用如下的技术方案:
时间参数测试电路，包括模数转换模块、输入信号处理模块、触发模块、高速计数模块，其特征在于，还包括:电源，第一电压转换器、第二电压转换器。第一开关电路、第二开关电路，第一电压检测电路、第二电压检测电路、第一报警电路、第二报警电路，模数转换模块、输入信号处理模块分别连接触发模块，触发模块连接高速计数模块；所述电源供应模块分别连接第一开关电路、第二开关电路，所述第一开关电路连接第一电压转换器，所述第一电压转换器分别连接模数转换模块和第一电压检测电路，所述第一电压检测电路连接第一报警电路；所述第二开关电路连接第二电压转换器，所述第二电压转换器连接输入信号处理模块和第二电压检测电路，所述第二电压检测电路连接第二报警电路。
[0005]前述的时间参数测试电路，其特征在于，所述第一开关电路包括第一晶体管，所述第二开关电路包括第二晶体管。
[0006]前述的时间参数测试电路，其特征在于，所述第一晶体管和第二晶体管均为P-MOS管，所述第一晶体管的漏极连接第一电压转换器的输入端，所述第一晶体管的栅极连接所述第一电压检测电路，所述第一晶体管的源极连接所述电源，所述第二晶体管的源极连接所述电源，第二晶体管的漏极连接第二电压转换器的输入端，所述第二晶体管的栅极连接所述第二电压检测电路。
[0007]本发明的有益处在于:本发明的一种时间参数测试电路，能够实现对电路的有效保护，参数测量范围宽，由于专用电路中采用了大规模集成电路和高速比较触发器，使参数测试的精度和可测范围大大提高，同时由于保护措施得当，避免了测试电路因为负载等故障造成损毁。
【附图说明】
[0008]图1是本发明的一个优选实施的结构示意图； 图2是本发明模数转换模块的结构示意图；
图3是本发明输入信号处理模块的结构示意图；
图4是本发明触发模块的结构示意图；
图5是本发明高速计数模块的结构示意图；
图6是本发明保护模块的示意图。
[0009]图中附图标记的含义:
1、电源供应模块，2、第一电压转换器，3、第二电压转换器，4、第一开关电路，5、第二开关电路，6、第一电压检测电路，7、第二电压检测电路，8、第一报警电路，9、第二报警电路，10、模数转换模块，11、输入信号处理模块，12、触发模块，13、高速计数模块。
【具体实施方式】
[0010]以下结合附图和具体实施例对本发明作具体的介绍。
[0011]参照图1所示，本发明时间参数测试电路，包括模数转换模块10、输入信号处理模块11、触发模块12、高速计数模块13，还包括:电源供应模块1，第一电压转换器2、第二电压转换器3、第一开关电路4、第二开关电路5，第一电压检测电路6、第二电压检测电路7、第一报警电路8、第二报警电路9，模数转换模块10、输入信号处理模块11分别连接触发模块12，触发模块12连接高速计数模块13 ;电源供应模块I分别连接第一开关电路4、第二开关电路5，第一开关电路4连接第一电压转换器2，第一电压转换器2分别连接模数转换模块10和第一电压检测电路6，第一电压检测电路6连接第一报警电路8 ;第二开关电路5连接第二电压转换器3，第二电压转换器3连接输入信号处理模块11和第二电压检测电路7，第二电压检测电路7连接第二报警电路9。第一电压检测电路6用于检测第一电压转换器2是否有故障发生。第二电压检测电路7用于检测第二电压转换器3是否有故障发生。当第一电压检测电路6检测到第一电压转换器2有故障发生时，第一开关电路4切断第一电压转换器2，同时电源供应单元驱动第一报警电路8报警。当第二电压检测电路7检测到第二电压转换器3有故障发生时，第二开关电路5切断第二电压转换器3，同时电源供应单元驱动第二报警电路9报警。
[0012]模数转换模块10提供8路-1OV到+1V范围的基准信号，作为四路触发模块12的触发参考电平。输入信号处理模块11对输入信号进行阻抗匹配、电压匹配、和滤波处理，消除相应的干扰信号，为后面的触发模块12提供理想的被测信号。由于这里提供了电压匹配电路，使被测信号的电压范围扩大到了 ±50V。触发模块12的一路信号来源于被测信号，另一路来源于DA转换的基准触发电平，该触发模块12是高速相应比较器，当满足触发条件时，比较器输出与FPGA匹配的逻辑电平直接送到FPGA，减少中间环节，提高时间测量精度。高速计数模块13是一块FPGA，由外部提供50MHZ的时钟信号，经过内部倍频产生更高频率的计数脉冲，根据被测信号的实际范围选择合适的计数频率在信号被测范围内进行计数，将完成计数的数据放到缓存中等待上位机读取，上位机读取相应数据后再根据设置的计数频率计算出相应的时间参数。
[0013]如图6，第一开关电路4包括第一晶体管，第二开关电路5包括第二晶体管。第一晶体管和第二晶体管均为P-MOS管，第一晶体管的漏极连接第一电压转换器2的输入端，第一晶体管的栅极连接第一电压检测电路6，第一晶体管的源极连接电源，第二晶体管的源极连接电源，第二晶体管的漏极连接第二电压转换器3的输入端，第二晶体管的栅极连接第二电压检测电路7。
[0014]第一电压转换器2用于提供给模数转换模块10运行的电压，第二电压转换器3用于提供给输入信号处理模块11运行电压。当第一电压检测电路6输入电压降低时，第一晶体管切断第一电压转换器2，当第二电压检测电路7输入电压降低时，第二晶体管切断第二电压转换器3。第一电压转换器2输出端连接至一负载，第二电压转换器3输出端连接至另一负载，第一晶体管与第二晶体管均为P-MOS电晶管，该第一晶体管漏极连接至第一电压转换器2输入端，第一晶体管栅极连接第一电压检测电路6，第一晶体管源极连接至电源供应单元，第二晶体管源极连接至电源供应单元，第二晶体管漏极连接至第二电压转换器3输入端，第二晶体管栅极连接至第二电压检测电路7。第一电压检测电路6包括一第三晶体管及一第四晶体管，第三晶体管及第四晶体管均为NPN型晶体管，第三晶体管集电极藉由一电阻连接至第一晶体管栅极，第三晶体管发射极连接至地，第三晶体管基极连接至第一电压转换器2输出端，第四晶体管集电极连接至电源供应单元，第四晶体管发射极接地，第四晶体管基极连接至电源供应单元，第三晶体管集电极与第四晶体管集电极间相互连接。第二电压检测电路7包括一第五晶体管及一第六晶体管，第五晶体管及第六晶体管均为NPN型晶体管，第五晶体管集电极由一电阻连接至第二晶体管栅极，第五晶体管发射极连接至地，第五晶体管基极连接至第二电压转换器3输出端，第六晶体管集电极连接至电源供应单元，第六晶体管发射极接地，第六晶体管基极连接至电源供应单元，第五晶体管集电极与第六晶体管集电极间相互连接。第一报警电路8和第二报警电路9可以为扬声器或者发光二极管，通过报警提示电压转换器有故障。
[0015]以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，上述实施例不以任何形式限制本发明，凡采用等同替换或等效变换的方式所获得的技术方案，均落在本发明的保护范围内。
【主权项】
1.时间参数测试电路，包括模数转换模块、输入信号处理模块、触发模块、高速计数模块，其特征在于，还包括:电源，第一电压转换器、第二电压转换器；第一开关电路、第二开关电路，第一电压检测电路、第二电压检测电路、第一报警电路、第二报警电路，模数转换模块、输入信号处理模块分别连接触发模块，触发模块连接高速计数模块；所述电源供应模块分别连接第一开关电路、第二开关电路，所述第一开关电路连接第一电压转换器，所述第一电压转换器分别连接模数转换模块和第一电压检测电路，所述第一电压检测电路连接第一报警电路；所述第二开关电路连接第二电压转换器，所述第二电压转换器连接输入信号处理模块和第二电压检测电路，所述第二电压检测电路连接第二报警电路。2.根据权利要求1所述的时间参数测试电路，其特征在于，所述第一开关电路包括第一晶体管，所述第二开关电路包括第二晶体管。3.根据权利要求2所述的时间参数测试电路，其特征在于，所述第一晶体管和第二晶体管均为P-MOS管，所述第一晶体管的漏极连接第一电压转换器的输入端，所述第一晶体管的栅极连接所述第一电压检测电路，所述第一晶体管的源极连接所述电源，所述第二晶体管的源极连接所述电源，第二晶体管的漏极连接第二电压转换器的输入端，所述第二晶体管的栅极连接所述第二电压检测电路。
【专利摘要】本发明公开了一种时间参数测试电路，包括：模数转换模块、输入信号处理模块分别连接触发模块，触发模块连接高速计数模块；电源供应模块分别连接第一开关电路、第二开关电路，所述第一开关电路连接第一电压转换器，所述第一电压转换器分别连接模数转换模块和第一电压检测电路，所述第一电压检测电路连接第一报警电路；所述第二开关电路连接第二电压转换器，所述第二电压转换器连接输入信号处理模块和第二电压检测电路，所述第二电压检测电路连接第二报警电路。本发明的一种时间参数测试电路，能够实现对电路的有效保护，参数测量范围宽。
【IPC分类】G01R31/28
【公开号】CN105158671
【申请号】CN201510287391
【发明人】钟锋浩
【申请人】杭州长川科技股份有限公司
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年5月29日