一种ate机台文件的生成方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及半导体测试领域，尤其涉及一种ATE机台文件的生成方法及装置。
【背景技术】
[0002] 目前，在半导体测试领域中，在进行ATE (Automatic Test Equipment，自动测试化 设备）测试时，若要得到ATE机台所需要的ATE机台文件，现有技术通常通过以下两种方式 来获取：
[0003] 第一，由机台测试人员按照芯片IP负责人提供的IP测试模式说明文件中的测试 时序手动编写ATE机台文件，但是，这种方式需要依赖于芯片IP负责人与机台测试工程师 之间的沟通，而沟通过程中难免会出现信息的遗漏，从而导致测试工程师反复的修正ATE 机台文件。
[0004] 第二，通过ATE机台文件转换软件来将EDA (Electronic Design Automation，电 子设计自动化）文件转换成机台测试的ATE机台文件，虽然这种方法避免了芯片IP负责人 与机台测试工程师之间的沟通，但是，由于这种方式需要IP负责人提供EDA的仿真文件，因 此，当需要对ATE机台文件进行更改时，需要芯片IP负责人通过EDA仿真重新生成EDA仿 真文件，从而导致整个转换过程效率低，耗时过长。
【发明内容】
[0005] 本发明的实施例提供一种ATE机台文件的生成方法及装置，以提高ATE机台文件 转换过程的转换效率。
[0006] 为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
[0007] 第一方面，提供一种ATE机台文件的生成方法，包括：
[0008] 获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及所述待测试芯片IP对应的 第一测试模板文件，所述待测试接口的测试时序信息包括所述待测试接口在不同测试时序 下的测试值，所述第一测试模板文件中包含所述待测试芯片IP中待测试接口的接口信息， 所述第一测试模板文件为用户可编辑表格文件；
[0009] 根据第一测试模版文件中包含的待测试接口的接口信息，将所述待测试接口的测 试时序信息添加至所述第一测试模版文件中，得到第二测试模版文件；
[0010] 从所述第二测试模版文件中读取不同测试时序下所述待测试接口的测试值，根据 所述不同测试时序下所述待测试接口的测试值生成ATE机台文件。
[0011] 第二方面，提供一种自动测试化设备ATE机台文件的生成装置，包括：
[0012] 获取模块，用于获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及所述待测 试芯片IP对应的第一测试模板文件，所述待测试接口的测试时序信息包括所述待测试接 口在不同测试时序下的测试值，所述第一测试模板文件中包含所述待测试芯片IP中待测 试接口的接口信息，所述第一测试模板文件为用户可编辑表格文件；
[0013] 处理模块，用于根据所述获取模块获取的第一测试模版文件中包含的待测试接口 的接口信息，将所述获取模块获取的所述待测试接口的测试时序信息添加至所述第一测试 模版文件中，得到第二测试模版文件；
[0014] 生成模块，用于从所述处理模块得到的所述第二测试模版文件中读取不同测试时 序下所述待测试接口的测试值，根据所述不同测试时序下所述待测试接口的测试值生成 ATE机台文件。
[0015] 本发明的实施例提供的ATE机台文件的生成方法及装置，获取待测试芯片IP中待 测试接口的测试时序信息以及待测试芯片IP对应的第一测试模板文件，该待测试接口的 测试时序信息包括待测试接口在不同测试时序下的测试值，第一测试模板文件是根据待测 试芯片IP中待测试接口的接口信息生成的，第一测试模板文件为用户可编辑表格文件，根 据第一测试模版文件中包含的待测试接口的接口信息，将待测试接口的测试时序信息添加 至所述第一测试模版文件中，得到第二测试模版文件，然后，从第二测试模版文件中读取不 同测试时序下待测试接口的测试值，根据不同测试时序下待测试接口的测试值生成ATE机 台文件。这样当需要对ATE机台文件进行更改时，技术人员便可直接在基于待测试芯片IP 的待测试接口的接口信息生成的第一测试模板文件中，添加更改后的待测试芯片IP的测 试时序来得到新的ATE机台文件，相比于现有技术在每次更改ATE机台文件时需要按照包 含更改后的待测试芯片IP的测试时序的IP测试模式说明文件重新进行EDA仿真来获得对 应的EDA仿真文件，然后利用转换软件将EDA仿真文件转化为需要ATE机台文件，本发明提 供的方案更为快捷及方便，且整体的ATE机台文件转换过程的转换效率更高。
【附图说明】
[0016] 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中 所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实 施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图 获得其他的附图。
[0017] 图1为本发明实施例提供的一种ATE机台文件的生成方法的流程示意图；
[0018] 图2为本发明实施例提供的一种ATE机台文件的生成装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0019] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他 实施例，都属于本发明保护的范围。
[0020] 本发明的实施例提供一种ATE机台文件的生成方法，如图1所示，该方法具体包括 如下步骤：
[0021] 101、ATE机台文件的生成装置获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息 以及待测试芯片IP对应的第一测试模板文件。
[0022] 示例性的，上述的待测试接口包括待测试芯片IP的寄存器接口、待测试芯片IP的 输入接口、待测试芯片IP的输出接口中的至少一个。上述的待测试接口的测试时序信息包 括待测试接口在不同测试时序下的测试值，例如，输入接口在不同测试时序下的输入值，输 出接口在输入接口给定输入值后在同一测试时序下对应的输出值。此外，上述的第一测试 模板文件包含待测试芯片IP中待测试接口的接口信息，本实施例中的待测试接口的接口 信息包括待测试接口的接口标识以及待测试接口的接口属性信息，该待测试接口的接口属 性信息用于表示所述待测试接口所属接口类型。
[0023] 示例性的，当ATE机台文件的生成装置第一次对该待测试芯片IP的待测试接口进 行测试生成ATE机台文件时，在步骤101之前，该方法还包括如下内容：
[0024] al、ATE机台文件的生成装置根据待测试芯片IP的测试需求，从待测试芯片IP的 测试模式说明文件中，提取的待测试芯片IP的测试参数信息。
[0025] a2、ATE机台文件的生成装置根据待测试芯片IP中待测试接口的接口信息，生成 第一测试模版文件。
[0026] 其中，上述的测试模式说明文件具体可以为测试人员为该待测试芯片IP撰写的 测试文档，该测试文档如表1所示，需要说明的是，表1中所包含的接口类型及个数这里仅 仅是一种示例，实际的测试文档中并不限与此。上述的待测试芯片IP的测试需求包括用户 需要测试的待测试接口的接口标识，即需要测试的哪些接口的接口标识。此外，上述的待测 试芯片IP的测试参数信息也可以是技术人员直接输入的。示例性的，上述的待测试芯片IP 的测试参数信息包括待测试芯片IP的待测试接口的接口信息、测试模式控制信息以及测 试时钟和复位输入信息。
[0027] 本实施例中的第一测试模版文件以及第二测试模板文件可以是EXCEL表格文件、 数据库表格文件等用户可编辑表格文件。
[0030] 表1
[0031] 例如，若该待测试芯片IP的测试参