检验系统及检验系统的控制方法

检验系统及检验系统的控制方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种侦测系统及控制侦测系统的方法，且特别涉及一种检验系统及控制检验系统的方法。
【背景技术】
[0002]非破坏性检测(Non-destructive inspect1n, NDI)可在不伤及物体的结构或不需将上述物体大幅度地进行拆解的状况下，彻底地对上述物体进行检测。因此，NDI特别利于避免拆解物体以进行检测的方式所导致的时间、劳动力及成本的损失，并可进一步避免检测程序中可能对物体造成的损害。
[0003]在NDI技术中，X-ray分层照相法为一种影像擷取技术，其可产生待测物体的选定平面的内部剖面影像。一般而言，X-ray分层照相系统包含Χ-ray源、X_ray侦测器及固定基座，上述X-ray侦测器用来界定影像平面，上述固定基座用来将待测物体固定于X_ray源及X-ray侦测器之间。
[0004]然而，X-ray分层照相系统所能取得的影像受限于其自身的结构。举例而言，待测物体被放置于固定基座上，X-ray源在上述待测物体上方并放射Χ-ray，此Χ-ray会穿透待测物体。在此状况下，若另一物体放置于待测物体下方，上述另一物体会被待测物体阻挡。进一步而言，若另一物体实为上述待测物体的缺陷，例如另一物体与待测物体本为同一元件，然而此元件破损而分成上述两个部分(如:另一物体与待测物体)。此时，由于待测物体的缺陷被待测物体所阻挡，导致待测物体的缺陷将被X-ray分层照相系统忽略。
[0005]由此可见，上述现有的方式，显然仍存在不便与缺陷，而有待改进。为了解决上述问题，相关领域莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来仍未发展出适当的解决方案。

【发明内容】

[0006]
【发明内容】
旨在提供本公开内容的简化摘要，以使阅读者对本公开内容具备基本的理解。此
【发明内容】
并非本揭示内容的完整概述，且其用意并非在指出本发明实施例的重要/关键元件或界定本发明的范围。
[0007]本
【发明内容】
的一个目的是在提供一种检验系统及检验系统的控制方法，借以改善先前技术的问题。
[0008]为达上述目的，本
【发明内容】
的一个技术方面是关于一种检验系统，此检验系统包含放射源、影像侦测器及放置装置，前述放置装置包含放置装置及转动机构。放射源以及影像侦测器被驱动以沿着预设路径移动。放置装置配置于放射源以及影像侦测器之间。承载器用来承载至少一个物体。转动机构耦接于承载器并用来转动承载器。
[0009]优选地，上述技术方案中，若放射源朝着第一方向放射X-ray射线，转动机构用来转动承载器至第二方向，使第一方向平行于第二方向。
[0010]优选地，上述技术方案中，影像侦测器用来侦测穿透物体的x-ray射线，以取得物体的侧面影像。
[0011]优选地，上述技术方案中，转动机构用来控制承载器以沿着轴向转动预设角度。
[0012]优选地，上述技术方案中，放射源朝着一方向放射X-ray射线，X-ray射线的方向垂直于轴向。
[0013]优选地，上述技术方案中，预设角度在三十度内。
[0014]优选地，上述技术方案中，放置装置还包含:移动机构，其耦接于转动机构并用来移动转动机构。
[0015]优选地，上述技术方案中，放射源、影像侦测器、承载器以及转动机构分别被独立驱动。
[0016]优选地，上述技术方案中，放射源以及影像侦测器被相应驱动。
[0017]优选地，上述技术方案中，转动机构包含步进马达以及伺服马达的其中至少一者。
[0018]为达上述目的，本
【发明内容】
的另一个技术方面是关于一种检验系统的控制方法。检验系统包含放射源、影像侦测器以及放置装置，放置装置配置于放射源以及影像侦测器之间，放置装置包含承载器以及转动机构。控制方法包含:
[0019]驱动放射源以及影像侦测器以沿着预设路径移动；
[0020]由承载器以承载物体；以及
[0021]由转动机构以转动承载器。
[0022]优选地，上述技术方案中，控制方法还包含:由放射源朝着第一方向放射X-ray射线；以及由转动机构以转动承载器至第二方向，使第一方向平行于第二方向。
[0023]优选地，上述技术方案中，控制方法还包含:由影像侦测器以侦测穿透物体的X-ray射以取得物体的侧面影像。
[0024]优选地，上述技术方案中，控制方法还包含:由转动机构控制承载器以沿着轴向转动预设角度。
[0025]优选地，上述技术方案中，控制方法还包含:由放射源朝着一方向放射X-ray射线，X-ray射线的方向垂直于轴向。
[0026]优选地，上述技术方案中，预设角度在三十度内。
[0027]优选地，上述技术方案中，控制方法还包含:沿着移动机构以移动转动机构。
[0028]优选地，上述技术方案中，控制方法还包含:独立驱动放射源、影像侦测器、承载器以及转动机构。
[0029]优选地，上述技术方案中，控制方法还包含:相应驱动放射源以及影像侦测器。
[0030]优选地，上述技术方案中，转动机构包含步进马达以及伺服马达的其中至少一者。
[0031]因此，根据本发明的技术内容，本发明实施例借由提供一种检验系统及检验系统的控制方法，借以改善一待测物体被阻挡物挡住原先用来检测上述物体的X-ray射线，导致上述物体无法被X-ray分层照相法所检测的问题。
[0032]在参阅下文实施方式后，本发明所属本领域技术人员可轻易了解本发明的基本精神及其他发明目的，以及本发明所采用的技术手段与实施方面。
【附图说明】
[0033]为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下:
[0034]图1为根据本发明一实施例的一种检验系统的示意图。
[0035]图2为根据本发明另一实施例的一种检验系统的操作示意图。
[0036]图3为根据本发明再一实施例的一种检验系统的检测影像示意图。
[0037]图4为根据本发明又一实施例的一种检验系统的部分结构示意图。
[0038]图5为根据本发明另一实施例的一种检验系统的操作示意图。
[0039]图6为根据本发明再一实施例的一种检验系统的检测影像示意图。
[0040]图7A为根据本发明一实施例的一种检验系统的待测物示意图。
[0041]图7B为根据本发明另一实施例的一种检验系统的待测物检测影像示意图。
[0042]图7C为根据本发明再一实施例的一种检验系统的待测物检测影像示意图。
[0043]图8A为根据本发明一实施例的一种检验系统的待测物示意图。
[0044]图SB为根据本发明另一实施例的一种检验系统的待测物检测影像示意图。
[0045]图SC为根据本发明再一实施例的一种检验系统的待测物检测影像示意图。
[0046]图9为根据本发明一实施方式的一种检验系统的控制方法的流程图。
【具体实施方式】
[0047]根据惯常的作业方式，图中各种特征与元件并未依比例绘制，其绘制方式是为了以最佳的方式呈现与本发明相关的具体特征与元件。此外，在不同附图间，以相同或相似的元件符号来指称相似的元件/部件。
[0048]为了使本公开内容的叙述更加详尽与完备，下文针对了本发明的实施态样与具体实施例提出了说明性的描述；但这并非实施或运用本发明具体实施例的唯一形式。实施方式中涵盖了多个具体实施例的特征以及用来建构与操作这些具体实施例的方法步骤与其顺序。然而，也可利用其他具体实施例来达成相同或均等的功能与步骤顺序。
[0049]除非本说明书另有定义，此处所用的科学与技术词汇的含义与本发明本领域技术人员所理解与惯用的意义相同。此外，在不和上下文冲突的情形下，本说明书所用的单数名词涵盖该名词的复数型；而所用的复数名词时也涵盖该名词的单数型。
[0050]另外，关于本文中所使用的“耦接”，可指二个或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，也可指二或多个元件相互操作或动作。
[0051]图1为根据本发明一实施例的一种检验系统的示意图。如图1所示，检验系统包含放射源110、影像侦测器120以及放置装置130。