一种光线入射角度检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及光线传感器，特别涉及一种光线入射角度检测装置。
【背景技术】
[0002]现有技术，如申请公布号为CN101074871A的发明专利申请所公开采用PSD的光电倾角测量装置，是一种采用PSD (位置敏感探测器)和半导体激光测量倾角的装置，将分光折转镜组作为固体摆，同时采用PSD作为检测器件，以半导体激光作为检测光源，利用PSD的位置探测功能，最终实现了较大范围在线精确测量倾角，作为一种光电检测装置与计算机技术结合可用于倾角的动态高精度检测。
[0003]然而，此种测量装置，型号少，价格贵，大多是用于军用需求，较少考虑民用需求，因此，较难普及。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型的目的是提供一种光线入射角度检测装置，能简单有效的检测光线入射角度。
[0005]本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种光线入射角度检测装置，包括壳体、设于所述壳体且受光面相互平行的两个光敏器件；且其中一个光敏器件能够对另一个光敏器件的受光面形成遮挡。
[0006]作为本实用新型的优选，在垂直于所述光敏器件受光面方向上，两个所述光敏器件存在相互重叠的区域。
[0007]作为本实用新型的优选，在垂直于所述光敏器件受光面方向上，两个所述光敏器件不存在相互重叠的区域。
[0008]本实用新型的另一实用新型目的在于提供一种光线入射角度检测装置，包括壳体、设于所述壳体且受光面相互垂直的两个光敏器件；且其中一个光敏器件位于另一个光敏器件的一端。
[0009]本实用新型的另一实用新型目的在于提供一种光线入射角度检测装置，包括壳体及设于壳体上的三个光敏器件；其中两个所述光敏器件的受光面处于同一平面，且该两个光敏器件之间上方平行有设置余下的一个所述光敏器件。
[0010]本实用新型的另一实用新型目的在于提供一种光线入射角度检测装置，包括壳体、设于所述壳体的至少一个光敏器件、设于所述壳体且用于遮挡所述光敏器件受光面的遮光体。
[0011]本实用新型的另一实用新型目的在于提供一种光线入射角度检测装置，包括壳体、设于所述壳体且受光面处于同一平面的两个光敏器件、设于所述壳体且位于所述光敏器件上方用于遮挡光线的遮光体。
[0012]综上所述，本实用新型具有以下有益效果:本实用新型结构简单，易于普及、推广、实施；能有效检测光线入射角度、光敏器件受光面实际光照面积等参数。
【附图说明】
[0013]图1是实施例1示意图；
[0014]图2是实施例2示意图；
[0015]图3是实施例3示意图；
[0016]图4是实施例4示意图；
[0017]图5是实施例5示意图；
[0018]图6是实施例6示意图；
[0019]图7是实施例8示意图；
[0020]图中，1、光敏器件，2、壳体，3、遮光体。
【具体实施方式】
[0021]以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
[0022]本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。
[0023]实施例1:一种光线入射角度检测装置，如图1所示，包括两个光敏器件I，两个光敏器件I的电气参数一致，且两个光敏器件I的受光面面积及形状相同；两个光敏器件I的受光面相互平行，且存在间距；在垂直于光敏器件I受光面的方向上，两个光敏器件I相互重叠。
[0024]应用本实施例的光线入射角度检测方法，接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，位于较上方的光敏器件I受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光。
[0025]首先，检测两个光敏器件的电流值^及I 2;其次，应用公式
[0026]S1 实际 /S2=WK25IjI2=L1 实际 /L2;
[0027]K1=K2;
[0028]Tana=x/[L重叠-(L1-L1 实际)]；
[0029]为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
[0030]K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
[0031]1^_#为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1S该光敏器件受光面上的理论照射长度；
[0032]L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
[0033]Ls4为两个光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重叠长度，且该重叠长度重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
[0034]X为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；
[0035]α为入射光线的入射角度。
[0036]从而得出入射角度α。
[0037]实施例2:与实施例1的不同之处在于，如图2所示，两个光敏器件I在垂直于受光面的方面上不相互重叠。
[0038]应用本实施例的光线入射角度检测方法，接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，位于较上方的光敏器件I受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光。
[0039]首先，检测两个光敏器件的电流值^及I 2;其次，应用公式
[0040]S1 实际 /S2=WK25IjI2=L1 实际 /L2;
[0041]K1=K2;
[0042]Tana=x/ (L2+ L1 实际)；
[0043]为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
[0044]K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
[0045]为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L2S入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
[0046]X为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；
[0047]α为入射光线的入射角度；
[0048]从而得出入射角度α。
[0049]实施例3:—种光线入射角度检测装置，如图3所示，包括三个光敏器件I ;其中两个所述光敏器件I的受光面处于同一平面，且该两个光敏器件之间上方平行有设置余下的一个所述光敏器件I。
[0050]应用本实施例的光线入射角度检测方法，接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，位于较上方的光敏器件I受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光，本实施例可以检测0-180度范围内的入射光角度。
[0051]首先检测三个光敏器件的电流值，I1, 12及I 3;其次，应用公式，
[0052]参照图3，入射光从左边射入时，
[0053]S1 实际 /S2=WK25IjI2=L1 实际 /L2;
[0054]K1=K2;
[0055]Tana=x/[L重叠-(L1-L1 实际)]；
[0056]为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
[0057]K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
[0058]1^_#为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1S该光敏器件受光面上的理论照射长度；
[0059]L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面