一种计量芯片校验仪及计量信号产生装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及计量信号测试装置技术领域，特别是涉及一种计量芯片校验仪及 计量信号产生装置。
【背景技术】
[0002] 随着需要计量功能的仪器仪表或设备（比如电能表、智能插座和带计量功能的设 备等)的数量的不断增长，极大地带动了计量芯片产业链，为了保证计量产品的计量精度以 及计量安全，对计量产品中的计量芯片的计量功能和性能的测试显得尤为重要，在对计量 芯片进行测试时，通常要向待测计量芯片输入计量信号，但现有技术中目前还没有一个专 门的用来生成计量信号的计量信号产生装置，特别是在1C验证装置和1C测试装置中。虽然 也可以通过函数发生器来生成计量信号，但是函数发生器生成输出信号时，需要人为手动 的控制，不利于集成到1C验证装置和1C测试装置中，效率低，且函数发生器构造复杂，成本 尚。
[0003] 因此，如何提供一种效率高、低成本的计量芯片校验仪及计量信号产生装置是本 领域技术人员目前需要解决的问题。 【实用新型内容】
[0004] 本实用新型的目的是提供一种计量信号产生装置，能够根据预先存储的计量信号 生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，效率高且成本低;本实用 新型的另一目的是提供一种包括上述计量信号产生装置的计量芯片校验仪。
[0005] 为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种计量信号产生装置，包括：
[0006] 用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU;
[0007] 分别与所述MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据所述第一基准电压 给定装置提供的基准电压将所述初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC;
[0008] 与所述DAC连接的、用于增强所述初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号， 并将所述计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。
[0009] 优选地，所述DAC与所述电压跟随器之间还包括：
[0010]用于将所述初始模拟计量信号进行分压，得到分压计量信号的分压电路。
[0011] 优选地，该装置还包括：
[0012] 与所述电压跟随器连接的、用于对所述计量信号进行滤波，得到最终计量信号的 第一RC低通滤波器。
[0013] 优选地，该装置还包括：
[0014] 分别与所述第一 RC低通滤波器、所述Μ⑶以及地连接的多路选择器，所述多路选择 器的输出端与所述待测计量芯片连接，所述多路选择器用于依据所述MCU发送的控制信号 选择地信号或者所述最终计量信号作为所述待测计量芯片的输入信号并将其输出至所述 待测计量芯片。
[0015] 优选地，该装置还包括：
[0016] 与所述待测计量芯片的计量信号输入端连接的、用于将所述待测计量芯片的输入 信号反馈至所述MCU的信号反馈电路。
[0017]优选地，所述信号反馈电路包括：
[0018] 与所述待测计量芯片的计量信号输入端连接、用于对所述待测计量芯片的输入信 号进行滤波，得到反馈信号的第二RC低通滤波器；
[0019] 分别与所述第二RC低通滤波器、第二基准电压给定装置以及Μ⑶连接的ADC，用于 将所述反馈信号转换为离散反馈信号，并将所述离散反馈信号输出至所述MCU。
[0020] 优选地，所述Μ⑶具体包括：
[0021 ]用于存储所述计量信号生成数据的数据存储模块；
[0022] 与所述数据存储模块连接的、用于将所述计量信号生成数据乘以系数以调整幅值 大小，得到第一计量信号生成数据的幅值调整模块；
[0023] 与所述幅值调整模块连接的、用于将所述第一计量信号生成数据与一固定值相加 得到带有偏置电压的第二计量信号生成数据的电压偏置模块；
[0024] 与所述电压偏置模块连接的、用于控制所述第二计量信号生成数据按照预设频率 输出，得到所述初始离散计量信号的定时模块。
[0025] 为解决上述技术问题，本实用新型还提供了一种计量芯片校验仪，包括上述任一 项所述的计量信号产生装置。
[0026] 本实用新型提供的一种计量芯片校验仪及计量信号产生装置，包括用于根据预先 存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU;分别与MCU以及第一基准电压给定 装置连接的、用于依据第一基准电压给定装置提供的基准电压将初始离散计量信号转换成 初始模拟计量信号的DAC;与DAC连接的、用于增强初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量 信号，并将计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。可见，本实用新型能够根据预先存 储的计量信号生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，效率高且 成本低。
【附图说明】
[0027] 为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例 中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的 一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这 些附图获得其他的附图。
[0028] 图1为本实用新型提供的一种计量信号产生装置的结构示意图；
[0029] 图2为本实用新型提供的另一种计量信号产生装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0030] 本实用新型的目的是提供一种计量信号产生装置，能够根据预先存储的计量信号 生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，效率高且成本低;本实用 新型的另一目的是提供一种包括上述计量信号产生装置的计量芯片校验仪。
[0031] 为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新 型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描 述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施 例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于 本实用新型保护的范围。
[0032] 实施例一
[0033] 请参照图1，图1为本实用新型提供的一种计量信号产生装置的结构示意图，该装 置包括：
[0034] 用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU (Microcontroller Unit，微控制器）1;
[0035]分别与MCU1以及第一基准电压给定装置3连接的、用于依据第一基准电压给定装 置3提供的基准电压将初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC(Digital to analog converter，数字模拟转换器)2;
[0036] 与DAC2连接的、用于增强初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将计量 信号输出至待测计量芯片的电压跟随器4。
[0037] 本实用新型提供的一种计量信号产生装置，包括用于根据预先存储的计量信号生 成数据生成初始离散计量信号的MCU;分别与MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于 依据第一基准电压给定装置提供的基准电压将初始离散计量信号转换成初始模拟计量信 号的DAC;与DAC连接的、用于增强初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将计量 信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。可见，本实用新型能够根据预先存储的计量信号 生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，利于集成到1C验证装置 和1C测试装置中，效率高且成本低。
[0038] 实施例二
[0039] 请参照图2,图2为本实用新型提供的另一种计量信号产生装置的结构示意图，该 装置在实施例一的基础上：
[0040] 作为优选地，DAC2与电压跟随器4之间还包括：
[0041] 用于将初始模拟计量信号进行分压，得到分压计量信号的分压电路5。
[0042]可以理解的是，MCU1首先控制DAC2输出初始模拟计量信号，假定第一基准电压给 定装置3提供的基准电压为Vref，则初始模拟计量信号的电压幅值范围为0-Vref，例如 Vref是4.096V，则初始模拟计量信号的电压幅值范围为0-4.096V。分压电路5可以由两个 电阻组成，与DAC2输出连接的是2k Ω，接地的是1〇〇 Ω，则经过分压电路5分压的分压计量信 号的电压幅值的范围为〇_195mV。
[0043] 这里的分压电路5的功能是为了调整整个计量信号产生装置输出的计量信号的电 压的范围。
[0044] 作为优选地，该装置还包括：
[0045]与电压跟随器4连接的、用于对计量信号进行滤波，得到最终计量信号的第一 RC低 通滤波器6。
[0046] 可以理解的是，第一 RC低通滤波器6能够将电压跟随器4输出的计量信号中高频干 扰信号滤除掉，得到纯净的最终计量信号，该最终计量信号的电压幅值范围依旧在Οι 95mV〇
[0047]作为优选地，该装置还包括：
[0048] 分别与第一 RC低通滤波器6、MCU1以及地连接的多路选择器7,多路选择器7的输出 端与待测计量芯片连接，多路选择器7用于依据MCU1发送的控制信号选择地信号或者最终 计量信号作为待测计量芯片的输入信号并将其输出至待测计量芯片。
[0049]可以理解的是，多路选择器7依据MCU1发送的控制信号对多路选择器7的开通或者 关断进行控制，MCU1还可以对多路选择器7选择哪种信号作为待测计量芯片的输入信号进 行控制，具体地，MCU1可以控制多路选择器7将待测计量芯片的计量信号输入端与第一RC低 通滤波器6的输出端连接，完成在不同频率、不同幅值、不同偏置电压的各种最终计量信号 组合下的待测计量芯片的计量功能和性能测试。MCU1也可以控制多路选择器7将待测计量 芯片的计量信号输入端与地GND(OV)连接，以完成待测计量芯片的SNIUSIGNAL-NO ISERAT10 ， 信噪比 ） 测试 ，此时 信号反馈电路8 可将GND 的信号 采集到M