嵌入式rtc实时时钟评估测试装置的制作方法

文档序号:6256480阅读:525来源:国知局
专利名称:嵌入式rtc实时时钟评估测试装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种实时时钟评估测试装置,特别是一种用于RTC实时时钟的嵌 入式评估测试装置。
背景技术
RTC实时时钟一般选择晶振作时钟源。但随着温度变化,晶振的实际频率较标称值 会产生一定程度的偏差(温漂)。显而易见,温漂势必会影响RTC实时时钟精度。因此,在生产过程中,就需要对嵌RTC实时时钟进行参数校正,从而确定每颗晶振 的TC曲线。得到TC曲线后,就可得知任意温度下晶振实际频率相对标称值的偏差。RTC实 时时钟再针对这个偏差进行补偿,从而保证嵌入式RTC实时时钟精度。以32. 768K音叉晶振为例,需要注意的是,所有的32. 768K音叉晶振TC曲线的数 学模型都为二次曲线,如图2所示,但对个体来说,TC曲线互不相同、具有个体差异。对使用其他工艺加工的晶振来说也是一样,即使用同种工艺加工的晶振,它们的 数学模型是一样的,但个体之间的TC曲线不同。这也是需要对每个RTC实时时钟进行校正 的原因。

实用新型内容本实用新型的目的在于,提供一种嵌入式RTC实时时钟评估测试装置。它可以用 很短短的时间得到RTC实时时钟的补偿参数,实现RTC实时时钟的整个参数校正。本实用新型的技术方案嵌入式RTC实时时钟评估测试装置,包括MCU,即微小处 理单元(可用MSP430F5438),与MCU的计算模块相连的温度传感器,精度为士0. 5°C,能够 有效的获取环境温度值;时钟基准模块,利用该时钟基准模块做MCU定时器的时钟源,来捕获RTC实时时钟 的输出脉冲(Pulse),从而获取晶振频率,此频率再跟标称频率比较,就可获取晶振频率误差。还包括与MCU相连PC接口模块、RTC接口模块、IXD显示模块和按键模块。其中IXD显示模块用来显示嵌入式RTC实时时钟评估测试装置操作提示信息,显 示获取得到的原始参数及经过计算的校正参数。整个参数校正过程均伴随着LCD提示信息。通过提示信息,用户可选择对应按键 模块进行参数校正操作。同时LCD显示模块也会显示校正参数值,供用户判断数据是否在 正常范围内。前述的嵌入式RTC实时时钟评估测试装置中,所述PC接口模块为RS-232接口。前述的嵌入式RTC实时时钟评估测试装置中,所述RTC接口模块为RS_232、SPI或 IIC 接口。前述的嵌入式RTC实时时钟评估测试装置中,所述时钟基准模块为误差士 Ippm的 IOM高精度有源晶振。[0015]与现有技术相比,本实用新型可以用很短短的时间得到RTC实时时钟的补偿参 数,实现RTC实时时钟的整个参数校正。如果RTC实时时钟的参数校正用手工操作,需要大 量的人力资源,而且相对来说,个人的生产效率也非常低下。除此之外,纯人工操作也会引 入很大的误差,因此,本实用新型不仅可以提高整体生产效率、提高成品率,而且误差较低。

图1是本实用新型的结构示意图;图2是32. 768K音叉晶振的TC曲线。附图中的标记为1-计算模块,2-温度传感器,3-时钟基准模块,4-PC接口模块, 5-RTC接口模块,6-IXD显示模块,7-按键模块。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步的说明,但并不作为对本实用新型 限制的依据。实施例。嵌入式RTC实时时钟评估测试装置,如图1所示,包括MCU,与MCU的计算 模块1相连的温度传感器2和时钟基准模块3,还包括与MCU相连PC接口模块4、RTC接口 模块5、IXD显示模块6和按键模块7。所述PC接口模块4为RS-232接口。所述RTC接口 模块5为RS-232、SPI或IIC接口。所述时钟基准模块3为误差士 Ippm的IOM高精度有源晶振。RTC实时时钟都需要一个参数校正过程来确定晶振TC曲线,这个过程极其繁琐, 不仅要测量参数校正过程中的环境温度、晶振频率误差,还要根据晶振加工工艺对应的特 定数学模型,结合测量得到的环境温度跟晶振频率误差,计算出校正参数。基于此,利尔达推出了嵌入式RTC实时时钟测试评估系统,用户只需按照IXD屏的 提示信息进行操作,就能很方便的实现RTC实时时钟的整个参数校正过程,用最短的时间, 得到RTC实时时钟的补偿参数。获取待校正RTC实时时钟的原始参数,在获取原始参数完成后,根据晶振TC曲线 计算出校正参数,并将校正参数烧录至RTC实时时钟。工作原理将带测试的RTC实时时钟接入RTC接口模块5,通过时钟基准模块3和 温度传感器2获取原始参数,嵌入式RTC实时时钟评估测试系统的计算模块1来进行校正 参数的计算。根据获取的温度及该温度下的晶振频率误差值,结合MCU内存储的晶振TC曲 线的数学模型,就可计算得到晶振TC曲线各系数项值。这些系数项值通过嵌入式RTC实时 时钟评估测试系统的RTC接口发送给RTC实时时钟,将校正参数烧录至RTC实时时钟。本 实用新型的嵌入式RTC实时时钟评估测试系统预留出了两类接口。一类与PC相连的PC接 口模块,其接口类型为RS-232;另一类与RTC实时时钟相连RTC接口模块,其接口类型为 RS-232/SPI/IIC。根据不同类型RTC实时时钟的通讯接口,嵌入式RTC实时时钟评估测试 系统可选择与其匹配的接口进行通讯,通过这这个通讯接口,嵌入式RTC实时时钟评估测 试系统可向RTC实时时钟发送命令及数据(CMD&Data),也可接收RTC实时时钟发送的命令 及数据(CMD&Data)。
权利要求1.嵌入式RTC实时时钟评估测试装置,其特征在于,包括MCU,与MCU的计算模块(1) 相连的温度传感器⑵和时钟基准模块(3),还包括与MCU相连PC接口模块G)、RTC接口 模块(5)、LCD显示模块(6)和按键模块(7)。
2.根据权利要求1所述的嵌入式RTC实时时钟评估测试装置,其特征在于所述PC接 口模块(4)为RS-232接口。
3.根据权利要求1所述的嵌入式RTC实时时钟评估测试装置,其特征在于所述RTC接 口模块(5)为 RS-232、SPI 或 IIC 接口。
4.根据权利要求1所述的嵌入式RTC实时时钟评估测试装置,其特征在于所述时钟 基准模块(3)为误差士 Ippm的IOM高精度有源晶振。
专利摘要本实用新型公开了嵌入式RTC实时时钟评估测试装置,其特征在于,包括MCU,与MCU的计算模块(1)相连的温度传感器(2)和时钟基准模块(3),还包括与MCU相连PC接口模块(4)、RTC接口模块(5)、LCD显示模块(6)和按键模块(7)。本实用新型可以用很短短的时间得到RTC实时时钟的补偿参数,实现RTC实时时钟的整个参数校正。
文档编号G04D7/00GK201903765SQ201020625969
公开日2011年7月20日 申请日期2010年11月25日 优先权日2010年11月25日
发明者王丽花, 陈磊 申请人:利尔达科技有限公司
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