钟表的制作方法

本发明涉及具备对指针的位置进行检测的机构的钟表。

背景技术：

以往，具有如基于标准电波、GPS电波等对时刻进行计时的电波校正钟表、万年历钟表等那样的、对成为对象的指针的位置进行校正的钟表。在这样的钟表中例如存在如下的技术：在向支承指针的齿轮传递电机的驱动力的轮系上设置与支承指针的齿轮等速地旋转的检测用的齿轮，设于构成轮系的齿轮的检测孔与设于检测用的齿轮的检测孔以指针每旋转一圈而重叠一次的方式构成，使发光元件发出的光通过重合的检测孔而被受光元件接受，由此来检测指针的位置。

具体而言，存在如下的技术：在钟表的组装时，预先设定例如步进电机的驱动线圈的卷绕方向、转子的磁极的朝向、以及基准位置检测用的齿轮的位置关系，并与向驱动线圈的绕线始端与绕线终端中的任一方输入脉冲的时机同步地，在两步中取得一次光检测传感器的检测信号(例如参照下述专利文献1。)。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第3872688号公报

技术实现要素：

发明所要解决的课题

然而，上述的现有技术存在如下的问题：与成为位置的检测对象的指针、指示指针的指针轮、构成将转子的旋转传递至指针轮的轮系的齿轮的位置关系、电机的配置方向、从电子电路部向电机输出的脉冲信号的初始相位等构成驱动机构(机芯)的各部件的组入相关的限制较多。

本发明为了消除上述的现有技术的问题点，其目的在于提供一种能够减轻作业者在制造时的负担的钟表。

用于解决课题的方案

为了解决上述的课题而达到目的，本发明的钟表的特征在于，所述钟表具备：指针轮，其能够绕轴心旋转；电机，其与所述指针轮连结并使该指针轮旋转；检测轮，其能够与所述指针轮的旋转连动地绕轴心旋转；检测孔，其沿所述轴心方向贯穿所述检测轮；光传感器，其具备发光元件和受光元件，该发光元件对伴随着所述检测轮的旋转而移动的所述检测孔的移动轨迹上的检测位置发出光，该受光元件以将所述检测轮夹在中间的方式与所述发光元件对置配置；以及控制机构，其对所述电机进行驱动控制，每将所述电机驱动规定步时，所述控制机构基于所述受光元件的受光量来判断是第一状态还是该第一状态以外的第二状态，所述控制机构确定在以第一步数连续判断为所述第一状态之后以第二步数连续判断为所述第二状态的情况下的从该第一状态向该第二状态切换的切换位置，所述控制机构将与确定出的切换位置错开一步的位置设为基准位置，将与该基准位置相关的信息存储于存储部。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述控制机构在将所述光传感器的检测灵敏度设定为两个以上的不同的灵敏度的状态下判断是所述第一状态还是所述第二状态。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述控制机构调整所述发光元件的发光强度以及所述受光元件的受光灵敏度中的至少一方，从而设定所述光传感器的检测灵敏度。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述控制机构将所述受光量成为规定量以上的明状态判断为所述第一状态，将该受光量小于该规定量的暗状态判断为所述第二状态，每将所述电机驱动规定步时，所述控制机构基于所述受光元件的受光量来判断是明状态还是暗状态，所述控制机构确定在以所述第一步数连续判断为所述第二状态之后以所述第二步数连续判断为所述第一状态的情况下的从所述第二状态向所述第一状态切换的切换位置，所述控制机构将比确定出的切换位置靠后一步的位置设为基准位置，将与该基准位置相关的信息存储于存储部。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述控制机构在将所述光传感器的检测灵敏度设定为比通常的运针时的灵敏度高的第一灵敏度的状态下，确定所述切换位置以及所述基准位置，所述控制机构在将所述光传感器的检测灵敏度设定为与通常的运针时的灵敏度相同或者比通常的运针时的灵敏度低的第二灵敏度的状态下，判断在所述切换位置的前一步的位置处是否为所述第二状态，并且判断在所述基准位置处是否为所述第一状态，所述控制机构当在所述前一步的位置处为所述第二状态且在所述基准位置处为所述第一状态的情况下，将与所述基准位置处的所述电机的相位相关的信息存储于所述存储部。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述控制机构将所述受光量小于规定量的暗状态判断为所述第一状态，将该受光量成为该规定量以上的明状态判断为所述第二状态，每将所述电机驱动规定步时，所述控制机构基于所述受光元件的受光量来判断是明状态还是暗状态，所述控制机构确定在以所述第一步数连续判断为所述第二状态之后以所述第二步数连续判断为所述第一状态的情况下的从所述第二状态向所述第一状态切换的切换位置，所述控制机构将比确定出的切换位置靠前一步的位置设为基准位置，将与该基准位置相关的信息存储于存储部。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述控制机构在将所述光传感器的检测灵敏度设定为比通常的运针时的灵敏度高的第一灵敏度的状态下，确定所述切换位置以及所述基准位置，所述控制机构在将所述光传感器的检测灵敏度设定为与通常的运针时的灵敏度相同或者比通常的运针时的灵敏度低的第二灵敏度的状态下，判断在所述基准位置处是否为所述第二状态，并且判断在所述切换位置的后一步的位置处是否为所述第一状态，所述控制机构当在所述基准位置处为所述第二状态且在所述后一步的位置处为所述第一状态的情况下，将与所述基准位置处的所述电机的相位相关的信息存储于所述存储部。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述控制机构在设定为所述第一灵敏度的状态下，通过使所述电机正转来确定所述切换位置以及所述基准位置，所述控制机构在确定出该切换位置以及该基准位置之后，通过使所述电机反转而使所述检测轮位于比检测对象位置靠前一步以上的位置，然后使用所述第二灵敏度进行判断。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述钟表具备对时刻进行计时的计时机构，所述控制机构在确定出所述基准位置的所述相位的情况下，在通常的运针时，使用比所述第一灵敏度低、且与所述第二灵敏度相同或比该第二灵敏度高的第三灵敏度，在确定出的所述相位的时机判断是所述第一状态还是所述第二状态，至少在比所述切换位置靠前一步的位置处的判断结果与比所述切换位置靠后一步的位置处的判断结果不同的状态下，由所述计时机构进行计时。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述控制机构使所述光传感器的检测灵敏度阶段性地变化为两个以上的不同的灵敏度，通过在设定为各灵敏度的状态下判断是所述第一状态还是所述第二状态，确定该光传感器检测不到明状态的非检测等级，所述控制机构基于确定出的非检测等级，将在所述基准位置以外的位置处检测不到明状态的检测灵敏度确定为所述第一灵敏度，所述控制机构在设定为所述第一灵敏度的状态下，确定所述切换位置以及所述基准位置。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述钟表具备与所述指针轮连结的日期进给轮，所述控制机构在与同确定所述切换位置的规定的输入操作相应的所述基准位置相关的信息的存储成功了的情况下，对所述电机进行驱动控制，将所述日期进给轮所示的日期变更为比受理到该规定的输入操作的时点的日期晚的日期，所述控制机构在与同确定所述切换位置的规定的输入操作相应的所述基准位置相关的信息的存储失败了的情况下，对所述电机进行驱动控制，将所述日期进给轮所示的日期变更为比受理到该规定的输入操作的时点的日期早的日期。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述钟表具备：其他指针轮，其与所述指针轮的旋转连动地旋转，该指针轮每旋转规定次数，该其他指针轮旋转一圈；其他检测轮，其与所述其他指针轮的旋转连动地旋转，并以比该其他指针轮的转速高且比所述检测轮的转速低的转速进行旋转；其他检测孔，其沿该其他检测轮的轴心方向贯穿所述其他检测轮；以及其他光传感器，其具备其他发光元件和其他受光元件，该其他发光元件对伴随着所述其他检测轮的旋转而移动的所述其他检测孔的移动轨迹上的检测位置发出光，该其他受光元件以将所述其他检测轮夹在中间的方式与所述其他发光元件对置配置，所述其他检测轮的转速为如下的转速，即：所述其他指针轮每旋转一圈，所述其他光传感器在从所述检测轮位于所述基准位置起经过规定步之后检测一次所述其他检测孔的转速，所述控制机构基于在从所述检测轮位于所述基准位置起经过规定步之后的所述其他受光元件的受光量，确定所述其他指针轮的位置。

另外，本发明的钟表在上述方案的基础上，其特征在于，所述控制机构基于所述光传感器或者所述其他光传感器检测出明状态的期间的步数来确定所述其他指针轮的位置。

发明效果

根据本发明的钟表，起到能够减轻作业者在制造时的负担这一效果。

附图说明

图1是示出本发明的实施方式1的电波校正钟表的外观的说明图。

图2是示出本发明的实施方式1的电波校正钟表的硬件结构的说明图。

图3是示出本发明的实施方式1的电波校正钟表所具备的基准位置设定机构的结构的说明图。

图4是示出本发明的实施方式1的电波校正钟表的功能结构的框图。

图5是示出设于检测轮的检测孔的开口率与光传感器中的检测等级之间的关系的说明图。

图6A是示出光传感器中的检测灵敏度以及检测等级与电机的相位之间的关系的说明图(其1)。

图6B是示出光传感器中的检测灵敏度以及检测等级与电机的相位之间的关系的说明图(其2)。

图7是示出本发明的实施方式1的电波校正钟表所进行的基准位置设定动作的处理顺序的流程图。

图8A是示出本发明的实施方式2的电波校正钟表所具备的光传感器中的检测灵敏度以及检测等级与电机的相位之间的关系的说明图(其1)。

图8B是示出本发明的实施方式2的电波校正钟表所具备的光传感器中的检测灵敏度以及检测等级与电机的相位之间的关系的说明图(其2)。

图9是示出本发明的实施方式2的电波校正钟表所进行的基准位置设定动作的处理顺序的流程图。

图10A是示出本发明的实施方式3的电波校正钟表所具备的光传感器中的检测灵敏度以及检测等级与电机的相位之间的关系的说明图(其1)。

图10B是示出本发明的实施方式3的电波校正钟表所具备的光传感器中的检测灵敏度以及检测等级与电机的相位之间的关系的说明图(其2)。

图11A是示出本发明的实施方式3的电波校正钟表所进行的基准位置设定动作的处理顺序的流程图(其1)。

图11B是示出本发明的实施方式3的电波校正钟表所进行的基准位置设定动作的处理顺序的流程图(其2)。

图12是示出灵敏度设定的概念的说明图。

图13是在秒针以及分针的光传感器的检测灵敏度调整的顺序中，示出(4)以及(5)的顺序中的实施内容的概念的说明图。

图14是示出本发明的实施方式4的电波校正钟表所具备的基准位置设定机构的结构的说明图。

图15是示出跨轮的检测孔与光传感器的检测位置之间的位置关系的变化的说明图。

图16A是示出在(X₂+X₃)＜360的情况下的检测失败时再次进行的分时的针位置检测的原理的说明图。

图16B是示出在(X₂+X₃)≥360的情况下的检测失败时再次进行的分时的针位置检测的原理的说明图。

图17是示出本发明的实施方式4的电波校正钟表所进行的分时的针位置检测的处理顺序的流程图。

图18是示出设于检测轮的检测孔的开口率与光传感器中的检测等级之间的关系的说明图。

图19是示出本发明的实施方式5的电波校正钟表所进行的通常针检的处理顺序的流程图。

图20是示出跨轮的检测孔的开口率与光传感器中的检测等级之间的关系的说明图。

具体实施方式

以下，参照附图对本发明的钟表的优选实施方式进行详细说明。

<实施方式1>

(电波校正钟表的结构)

首先，对实现本发明的钟表的实施方式1的电波校正钟表的结构进行说明。图1是示出本发明的实施方式1的电波校正钟表的外观的说明图。在图1中，本发明的实施方式1的电波校正钟表100具备形成电波校正钟表100的外装的壳体(外装壳体)101。壳体101例如使用金属材料而形成，且呈两端开口的大致圆筒形状。

在呈大致圆筒形状的壳体101的一端侧(表侧)设有将该表侧的开口堵塞的防风玻璃102、和对该防风玻璃102的周缘进行支承的外圈103。防风玻璃102例如使用透明的玻璃材料而形成，且呈大致圆板形状。外圈103例如使用金属材料而形成，且呈内径与防风玻璃102的直径大致相同的环形状。

在壳体101的另一端侧(背侧)设有将该背侧的开口堵塞的背盖构件。背盖构件例如能够使用金属材料而形成。或者背盖构件也可以使用被称为塑料等的高分子材料而形成。背盖构件能够通过使用螺杆回扣(screw back)方式、嵌入方式、螺旋盖方式等公知的各种技术而安装于壳体101。关于背盖构件向壳体101安装的安装方法，能够使用公知的各种技术而容易地实现，因此省略说明。

壳体101的形状并不局限于上述形状。壳体101至少在轴心方向上的表侧具备开口即可。在本发明的实施方式1的电波校正钟表100中也可以是通过壳体101与背盖构件成为一体的、所谓的单片(one piece)式构造来将壳体101的背侧堵塞的结构。

在壳体101上设有操作部104。操作部104例如能够通过表冠、操作按钮等来实现。操作部104在受理到使用者的操作的情况下，对控制电路输出与操作内容相应的信号。控制电路根据操作部104所受理的操作输入的内容而执行卫星信号的接收处理等处理。

在壳体101的内侧设有表盘105。在表盘105上设有示出时刻指示针106的位置即时刻的指示符(标识)107。具体而言，时刻指示针106例如能够通过时针106a、分针106b、秒针106c等来实现。时刻指示针106例如能够使用金属材料而形成。时刻指示针106并不局限于使用金属材料而形成，例如，也可以使用被称为塑料等的高分子材料而形成。

指示符107配置在以时刻指示针106的轴心为中心的圆周上。指示符107例如能够由文字、数字、符号等实现。指示符107并不局限于文字、数字、符号，例如，也可以通过设于表盘105的突起来实现。在本发明的实施方式1的电波校正钟表100中，指示符107例如能够使用金属材料而形成。指示符107可以采用打印在表盘105上的方式，也可以通过设置金属等其他构件来实现。

在本发明的实施方式1的电波校正钟表100中，指示符107能够配置在以时刻指示针106的旋转中心为中心的同一圆周上。在该情况下，例如，各指示符107能够以如下方式配置：与时刻指示针106的旋转范围、即，基于时刻指示针106旋转而产生的该时刻指示针106的前端的轨迹所呈的圆相比，至少一部分位于外周侧。

指示符107并不局限于所有指示符107配置在以时刻指示针106的旋转中心为中心的同一圆周上的情况。在本发明的实施方式1的电波校正钟表100中，对指示符107而言，例如也可以至少一部分指示符107配置在时刻指示针106的旋转范围内，另一部分指示符107配置在比时刻指示针106的旋转范围靠外周侧的位置。

另外，在表盘105上配置有标记108，该标记108用于显示与利用天线进行的卫星信号的接收控制相关的信息。标记108例如能够通过表示卫星信号正在接收中的“RX”、表示利用天线进行的卫星信号的接收处理是否成功的“NO”或“OK”等字符串来实现。

(电波校正钟表100的硬件结构)

接着，对本发明的实施方式1的电波校正钟表100的硬件结构进行说明。图2是示出本发明的实施方式1的电波校正钟表100的硬件结构的说明图。

在图2中，本发明的实施方式1的电波校正钟表100具备：天线201、接收电路202、控制电路203、电源204、升压部205、太阳能电池206、驱动机构209、时刻显示部109、光传感器214、光传感器215、以及光传感器216。天线201、接收电路202、控制电路203、电源204、升压部205、太阳能电池206、驱动机构209、时刻显示部109、光传感器214、光传感器215、光传感器216设置在由壳体101、背盖构件以及表盘105围成的空间内。

天线201接收从GPS(Global Positioning System；全球定位系统)卫星发送的卫星信号。具体而言，天线201例如能够通过接收从GPS卫星发送的频率约为1.6GHz的电波的贴片天线201来实现。GPS卫星分别绕环绕地球的轨道旋转，其搭载有高精度的原子钟表，并周期性地发送包含由该原子钟表计时的时刻信息在内的卫星信号。天线201接收从多个GPS卫星发送的卫星信号。

另外，天线201也可以接收从规定的发送基站发送的标准电波。标准电波是作为标准时和频率的国家标准或者国际标准而由政府、国际机关传送的电波，例如从JJY等标准频率报时基站发送并重叠有时间代码。

接收电路202对由天线201接收到的卫星信号(或标准电波)进行解码，并将作为解码的结果而得到的表示卫星信号的内容的比特序列(接收数据)输出。具体而言，接收电路202构成为包括高频电路(RF电路)202a和译码电路202b。高频电路是以高频率动作的集成电路，其对天线201接收到的模拟信号进行放大、检波并转换成基带信号。译码电路202b是进行基带处理的集成电路，其对高频电路输出的基带信号进行解码后生成表示从GPS卫星接收到的数据内容的比特序列，并向控制电路203输出。

控制电路203能够通过微型计算机而实现，该微型计算机构成为包括运算部203a、ROM(Read Only Memory；只读存储器)203b、RAM(RandomAccess Memory；随机存取存储器)203c、RTC(Real Time Clock；实时时钟)203d、以及电机驱动电路203e。

运算部203a按照存放于ROM203b的各种控制程序来进行各种信息处理。RAM203c作为运算部203a的工作存储器发挥功能，其被写入成为运算部203a的处理对象的数据。RTC203d向运算部203a输出在电波校正钟表100内部的计时中使用的时钟信号。

运算部203a基于RTC203d输出的时钟信号对内部时刻进行计时。另外，运算部203a基于由接收电路202接收到的卫星信号来校正所计时的内部时刻，并决定时刻指示针106应显示于时刻显示部109的时刻(显示时刻)。另外，运算部203a对指针轮的基准位置X+1进行设定，并基于设定好的指针轮的基准位置X+1向电机驱动电路203e输出驱动信号来校正显示时刻，所述指针轮成为基准位置设定机构的基准位置的设定对象并对时刻指示针106(时针106a、分针106b、秒针106c)进行指示。

驱动机构(机芯)209能够构成为包括轮系、和根据从电机驱动电路203e输出的驱动信号而动作的电机。具体而言，电机例如能够通过步进电机而实现，进行与从电机驱动电路203e输出的驱动脉冲相应的正转(右旋)或反转(左旋)的旋转动作。驱动机构209通过将电机(步进电机)的旋转经由轮系而传递至时刻指示针106，从而使该时刻指示针106进行旋转。

在驱动机构209中，电机可以为一个也可以为多个。在具备多个电机的电波校正钟表100中，例如能够分别利用独立的电机来独立地驱动实现时刻指示针106的时针106a、分针106b、秒针106c等。在该情况下，电机以及轮系设置为数量与时刻指示针106的数量相同。在具备多个电机的电波校正钟表100中，电机的数量和时刻指示针106的数量也可以不一致。具体而言，例如，也可以利用第一个电机来驱动时刻指示针106中的分针106b以及秒针106c，利用第二个电机来驱动时刻指示针106中的时针106a。在该情况下，电机以及轮系的数量比时刻指示针106的数量少。

该实施方式1的电波校正钟表100具备：对时刻指示针106中的秒针106c进行驱动的秒单独电机、对时刻指示针106中的分针106b进行驱动的分单独电机、以及对时刻指示针106中的时针106a进行驱动的时单独电机。在电波校正钟表100中，除了时针106a、分针106b、秒针106c之外也可以具备日期板作为时刻指示针106。

在电波校正钟表100中，当向驱动机构209输出与运算部203a决定的显示时刻相应的驱动信号时，电机被驱动，经由与该电机连结的轮系而使时刻指示针106转动。由此，在时刻显示部109中，能够显示由控制电路203生成的显示时刻。

电源204例如能够通过锂离子电池等二次电池而实现。电源204对通过太阳能电池206(太阳电池)发电而得到的电力进行蓄积(蓄电)。太阳能电池206配置于表盘105的背盖侧，利用经由防风玻璃102而射入表盘105的太阳光等光进行发电，并将发电得到的电力向电源204输出。升压部205被控制电路203驱动控制，将太阳能电池206发电得到的电力中的电压升压后向电源204输出。升压部205例如能够由DC/DC转换器构成。电源204并不局限于二次电池，也可以通过一次电池来实现。

开关210设置在从电源204朝向接收电路202的电力供给路的中途，根据从控制电路203输出的控制信号来切换接通/断开。在电波校正钟表100中，通过控制电路203切换开关210的接通/断开，由此能够控制接收电路202的动作时机。接收电路202例如仅在经由开关210而从电源204供给电力的期间动作，进行天线201接收到的卫星信号的解码。

光传感器214～216均由发光元件和接受从该发光元件发出的光的受光元件(参照图3、图4)构成。光传感器214～216将与各个受光元件中的受光量相应的检测信号向控制电路203输出。光传感器214～216分别与各检测轮对应而设置，各检测轮能够与时针106a、分针106b、秒针106c的指针轮的旋转连动地绕轴心进行旋转。在各光传感器214～216中分别没定有第一灵敏度和第二灵敏度。控制电路203还具备灵敏度调整用电路203f。灵敏度调整用电路203f基于从光传感器214～216输出的检测信号，分别调整光传感器214～216的灵敏度。

电波校正钟表100也可以具备LED、LED驱动电路、报警器、报警器驱动电路(均省略图示)等。LED驱动电路驱动LED作为背光灯而对显示画面进行照明，或者输出警告光。代替LED也可以使用EL(Electroluminescence；场致发光)灯等。报警器驱动电路对报警器所搭载的省略图示的压电元件进行驱动，并输出警报(蜂鸣)。报警器驱动电路也可以根据告知的种类来改变声音的种类、高度、音量等而进行输出。

另外，电波校正钟表100也可以具备省略图示的日期轮。日期轮呈圆板形状或环形状，在周缘部设有“1”～“31”的表示日期的数字。日期轮与省略图示的日期进给轮连结，与日期进给轮的旋转连动地进行旋转。日期进给轮经由日期进给中间轮(省略图示)等而与指针轮连结，与指针轮的旋转连动地绕轴心旋转。日期进给轮每24小时旋转一圈，日期进给轮每旋转一圈，日期轮朝向将日期推进一日量的方向旋转(转动)。

(基准位置设定机构的结构)

接着，对本发明的实施方式1的电波校正钟表100所具备的基准位置设定机构的结构进行说明。图3是示出本发明的实施方式1的电波校正钟表100所具备的基准位置设定机构的结构的说明图。

在图3中示出时针106a的基准位置设定机构的结构，但关于分针106b、秒针106c的基准位置设定机构的结构，也能够通过与时针106a的基准位置设定机构的结构同样的结构来实现。为了检测时针106a、分针106b以及秒针106c这三根独立的时刻指示针106，设置三个系统的图3所示的基准位置设定机构。

在图3中，电波校正钟表100具备能够绕轴心旋转的指针轮301。指针轮301对时刻指示针106(时针106a、分针106b、秒针106c中的至少一个)进行支承。在指针轮301上，经由利用一个或多个齿轮302构成的轮系303而连结有电机304。具体而言，轮系303与指针轮301以及电机304所具备的转子304a啮合。在分别独立地驱动时针106a、分针106b、秒针106的情况下，指针轮301、轮系303以及电机304分别与时针106a、分针106b、秒针106对应地设置(图3中仅示出一个系统)。

在指针轮301上，连结有能够与该指针轮301的旋转连动地绕轴心旋转的检测轮305。检测轮305与作为检测对象的指针轮301连结。检测轮305可以与指针轮301直接连结，也可以经由与指针轮301不同的中间轮(齿轮302)而与指针轮301连结。另外也可以采用如下结构：在作为对电机304所具备的转子304a的旋转进行减速的减速轮系的两个齿轮上设置检测孔来进行检测。通过采用这样的结构，无需连结检测轮305，能够实现不采用检测轮305的结构。

检测轮305也可以分别与支承时针106a的指针轮、支承分针106b的指针轮、支承秒针106c的指针轮全部对应地设置，并分别与各指针轮连结。检测轮305以时针106a的旋转轴与指针轮301的旋转轴平行的方式设置。在检测轮305上设有沿轴心方向贯穿该检测轮305的检测孔305a。检测孔305a伴随着检测轮305的旋转而绕轴心移动。

在构成上述轮系303的齿轮302中的、在旋转的轴心方向上与检测轮305重复一部分的齿轮302上，设有沿该齿轮302的轴心方向贯穿该齿轮302的检测孔302a。设于构成轮系303的齿轮302的检测孔302a伴随着指针轮301的旋转而绕轴心旋转，在指针轮301旋转一圈的期间，与设于检测轮305的检测孔305a重合一次(参照图5)。

光传感器214具备受光元件214b和发出光的发光元件214a。发光元件214a例如能够通过LED(Light Emitting Diode；发光二极管)等来实现。受光元件214b根据受光量而使输出发生变化，例如能够通过光电晶体管(Phototransistor)等来实现。

发光元件214a设置为，向检测孔305a的与检测轮305的旋转相伴的的移动轨迹上的检测位置发出光。具体而言，发光元件214a设置为，向设于构成轮系303的齿轮302的检测孔302a与设于检测轮305的检测孔305a重合的位置发出光。在该实施方式1中，将检测孔302a与检测孔305a重合的位置适当作为“检测位置”而进行说明。

受光元件214b以将检测轮305夹在中间的方式与发光元件214a对置配置。当伴随着检测轮305的旋转而移动的检测孔302a、305a在发光元件214a的发光位置处重合时，发光元件214a发出的光通过检测孔302a、305a而被受光元件214b接受。即，受光元件214b在检测位置处接受由发光元件214a发出的光。

上述的控制电路203对电机304进行驱动控制。另外，控制电路203通过控制灵敏度调整用电路203f来调整光传感器的灵敏度，并基于光传感器214中的受光元件214b的受光量，确定指针轮301所支承的时刻指示针106(时针106a、分针106b、秒针106c)的位置(参照图4)。

(电波校正钟表100的功能结构)

接着，对本发明的实施方式1的电波校正钟表100的功能结构进行说明。图4是示出本发明的实施方式1的电波校正钟表100的功能结构的框图。在图4中，本发明的实施方式1的电波校正钟表100的功能能够通过电机304、设有检测孔305a的检测轮305、具备发光元件214a及受光元件214b的光传感器214(215、216)、以及控制部401来实现。电波校正钟表100的功能还可以通过省略图示的日期进给轮以及日期轮来实现。

控制部401例如在受理了对操作部104进行的规定的输入操作的情况下进行基准位置设定动作。基准位置设定动作通过从受理规定的输入操作之后到作为设定对象的时刻指示针106的基准位置的设定完成为止的期间的动作来实现。在需要对多个指针进行调整的情况下，可以同时调整，也可以依次调整。另外，对已调整完毕且判断为无需调整的指针也可以不实施调整。

控制部401的功能例如能够通过控制电路203来实现。与电波校正钟表100的组装完成的状态无关地，基准位置设定动作能够在电波校正钟表100的组装完成前且驱动机构(机芯)209组装好的状态下进行。具体而言，基准位置设定动作例如也可以在未向指针轮301安装时刻指示针106的状态下进行。

在进行基准位置设定动作时，控制部401基于受光元件214b的受光量对电机304进行驱动控制。具体而言，在进行基准位置设定动作时，控制部401驱动电机304，每将电机304驱动规定步数的量时，判断是明状态还是暗状态。更具体而言，控制部401例如每将电机304驱动一步时判断是明状态还是暗状态。

然后，基于是明状态还是暗状态的判断结果，确定在以第一步数连续地判断为暗状态之后、以第二步数连续地判断为明状态的情况下的从暗状态向明状态切换的切换位置X。控制部401例如将在作为第一步数而连续两次判断为暗状态之后、作为第二步数而连续两次判断为明状态的情况下的从暗状态向明状态切换的位置确定为切换位置X。第一步数以及第二步数并不局限于两次，可以为1以上的任意整数。第一步数和第二步数可以为相同数，也可以为不同数。

具体而言，控制部401在确定切换位置X时，首先，逐步地驱动电机304，基于是明状态还是暗状态的判断结果，检测在连续多次判断为暗状态之后成为明状态的位置。在检测到成为明状态的位置的情况下，判断检测到的成为明状态的位置的下一个位置(从成为明状态的位置起将电机304驱动一步的位置)X+1是暗状态还是明状态。然后，在下一个位置X+1为明状态的情况下，将最初成为明状态的位置确定为切换位置X。

控制部401在确定切换位置X时，在将光传感器214的检测灵敏度设定为第一灵敏度的状态下判断是明状态还是暗状态。第一灵敏度例如能够设为比通常的运针时的灵敏度高的灵敏度。光传感器214的检测灵敏度例如能够通过提高发光元件214a的输出而提高。具体而言，在灵敏度调整用电路203f中，通过增大对实现发光元件214a的LED的通电量，能够提高发光元件214a的输出，从而提高光传感器214的检测灵敏度。

另外，光传感器214(215、216)的检测灵敏度例如能够通过提高受光元件214b的受光灵敏度而提高。具体而言，在灵敏度调整用电路203f中，通过提高与受光元件214b接受的光的明暗相应的电信号的放大率，能够提高受光元件214b的受光灵敏度。通过调整发光元件214a的发光强度以及受光元件214b的受光灵敏度中的至少一方，能够调整光传感器214(215、216)的检测灵敏度。也可以通过调整发光元件214a的发光强度以及受光元件214b的受光灵敏度这双方来调整光传感器214(215、216)的检测灵敏度。

然后，控制部401将比确定出的切换位置X靠后一步的位置设为基准位置X+1，并存储与该基准位置X+1相关的信息。控制部401具备存储与基准位置X+1相关的信息的存储部401a。存储部401a例如能够通过ROM203b来实现。与基准位置X+1相关的信息能够通过如下的信息来实现：即，能够确定在连续两次判断为暗状态之后连续两次判断为明状态的情况下的、第二次判断为明状态的时点的指针轮301的位置的信息。

控制部401在确定出切换位置X的情况下，接着在将光传感器214(215、216)的检测灵敏度设定为第二灵敏度的状态下，判断在比切换位置X靠前一步的位置X-1处是否为暗状态，并且判断在比切换位置X靠后一个步数的位置(基准位置)X+1处是否为明状态。第二灵敏度例如能够设为比通常的运针时的灵敏度低的灵敏度。

如上所述，光传感器214(215、216)的检测灵敏度能够通过调整发光元件214a的发光强度以及受光元件214b的受光灵敏度中的至少一方而进行调整。具体而言，例如在灵敏度调整用电路203f中例如降低发光元件214a的输出，或者在灵敏度调整用电路203f中降低与受光元件214b接受的光的明暗相应的电信号的放大率，由此能够减小光传感器214(215、216)的检测灵敏度。

控制部401例如使电机304以比通常的运针时快的速度进行正转而使指针轮301快进，由此使该指针轮301位于位置X-1。或者控制部401例如也可以使电机304反转而使指针轮301向与通常的运针时相反的方向旋转，由此使该指针轮301位于位置X-1。在使电机304反转而使指针轮301向与通常的运针时相反的方向旋转的情况下，考虑到齿隙，在使指针轮301比位置X-1过多地(例如，X-5的位置)反转之后再正转至位置X-1。

另外，控制部401例如在使指针轮301位于位置X-1的状态下判断是否为暗状态之后，使电机304以比通常的运针时快的速度进行正转而使指针轮301快进，由此使该指针轮301位于基准位置X+1。或者控制部401也可以使电机304以与通常的运针时相同的速度进行正转，使指针轮301位于基准位置X+1。

另外，在比切换位置X靠前一个步数的位置X-1处为暗状态、且在比切换位置X靠后一个步数的位置(基准位置)X+1处为明状态的情况下，控制部401将与该位置X-1以及位置(基准位置)X+1处的电机304的相位相关的信息存储于存储部401a。与相位相关的信息能够通过表示基准位置X+1以及位置X-1的时点的将电机304的脉冲输出的朝向(所产生的磁场的朝向)的信息来实现(参照图6A、图6B)。基准位置X+1处的电机304的相位与位置X-1处的电机304的相位为相同相位。

在与基准位置X+1相关的信息的存储成功的情况下，即在基准位置设定动作成功的情况下，控制部401也可以对电机304进行驱动控制而使日期进给轮旋转，由此将该日期轮所示的日期变更为比受理到该规定的输入操作的时点的日期晚的日期。另外，在与基准位置X+1相关的信息的存储失败的情况下，即在基准位置设定动作失败的情况下，控制部401也可以对电机304进行驱动控制而使日期进给轮旋转，由此将该日期轮所示的日期变更为比受理到该规定的输入操作的时点的日期早的日期。

由此，即使在电波校正钟表100的组装的完成前且驱动机构(机芯)209组装好的状态下，具体而言，在未向指针轮301安装时刻指示针106的状态下进行了基准位置设定动作时，也能够使钟表的制造者判断基准位置设定动作的设定是否成功。

(检测孔的开口率与检测等级之间的关系)

接着，对设于检测轮305的检测孔305a的开口率与光传感器214中的检测等级之间的关系进行说明。图5是示出设于检测轮305的检测孔305a的开口率与光传感器214中的检测等级之间的关系的说明图。在图5中，在设于检测轮305的检测孔305a与设于构成轮系303的齿轮302的检测孔302a未重合的状态下(参照图5中的(1)图)，设于检测轮305的检测孔305a的开口率为0(零)(参照图5中的A)。

在伴随着因驱动电机304引起的指针轮301的旋转而检测轮305与构成轮系303的齿轮302进行旋转时，检测孔305a与检测孔302a从未重合的状态起重合的面积逐渐变大(参照图5中的(2)图)。当检测孔305a与检测孔302a开始重合时，发光元件214a发出的光通过检测孔305a与检测孔302a重合的部分而被受光元件214b接受。控制部中的检测等级与所接受的光量相应地发生变动。

当检测孔305a与检测孔302a重合的面积逐渐变大时，设于检测轮305的检测孔305a的开口率也逐渐变大，光传感器214中的检测等级也与开口率的大小相应地变大(参照图5中的B、C、D)。而且，设有检测孔的检测轮305以及齿轮302以如下的方式相对地位移：在检测孔305a与检测孔302a重合的面积成为最大(参照图5中的(3)图、(4)图)后，重合的面积逐渐变小(参照图5中的(5)图)，再次成为未重合的状态。伴随于此，设于检测轮305的检测孔305a的开口率也逐渐变小，光传感器214中的检测等级也与开口率的大小相应地变小(参照图5中的E)。

(检测灵敏度及检测等级与相位之间的关系)

接着，对光传感器214中的检测灵敏度及检测等级与电机304的相位之间的关系进行说明。图6A以及图6B是示出光传感器214(215、216)中的检测灵敏度及检测等级与电机304的相位之间的关系的说明图。图6A中示出检测到基准位置X+1时的电机304的步数为偶数的情况下的光传感器214(215、216)中的检测灵敏度及检测等级与电机304的相位之间的关系。图6B中示出检测到基准位置X+1时的电机304的步数为奇数的情况下的光传感器214(215、216)中的检测灵敏度及检测等级与电机304的相位之间的关系。

如图6A以及图6B所示，在位置X-1处，无论电机304的步数是偶数还是奇数，第一灵敏度以及第二灵敏度均设定得比检测等级高，且被设定成判断为暗状态。在基准位置X+1处，无论电机304的步数是偶数还是奇数，第一灵敏度以及第二灵敏度均设定得比检测等级低，且被设定成判断为明状态。

通常的运针时的光传感器214的检测等级被设定为如上述那样设定的第一灵敏度与第二灵敏度之间的第三灵敏度。具体而言，控制部401中的灵敏度调整用电路203f调整发光元件214a的发光强度以及受光元件214b的受光灵敏度中的至少一方，将能够在一个步数前的位置X-1处判断暗状态、在比切换位置X靠后一个步数的位置(基准位置)X+1处判断明状态的光传感器214(215、216)的检测灵敏度设定在第一灵敏度与第二灵敏度之间。

由此，无论位置X-1以及基准位置X+1处的电机304的步数是偶数还是奇数，光传感器214在通常的运针时，都能够在位置X-1处判断为暗状态、在基准位置X+1处判断为明状态。而且，由此能够可靠地检测在通常的运针时指针轮301所指示的时刻指示针106的位置。另外，为了分别检测时针106a、分针106b以及秒针106c这三根独立的时刻指示针106，设置三个系统的本发明的基准位置设定机构。

(基准位置设定动作的处理顺序)

接着，对本发明的实施方式1的电波校正钟表100所进行的基准位置设定动作的处理顺序进行说明。图7是示出本发明的实施方式1的电波校正钟表100所进行的基准位置设定动作的处理顺序的流程图。在受理到对操作部104进行的规定的输入操作的情况下，执行图7的流程图所示的处理。

在图7中，对关于与对应于光传感器214的时针106a对应的指针轮301的基准位置设定动作的处理顺序进行说明，但关于与光传感器215对应的分针106b、与光传感器216对应的秒针106c，也能够通过进行与时针106a同样的处理来设定基准位置。

在图7的流程图中，首先，将光传感器214的检测灵敏度设定为第一灵敏度(步骤S701)，使电机304运针一步(步骤S702)。在步骤S702中，通过将电机304驱动一步的量，使指针轮301旋转(转动)一步的量。

接着，基于在将光传感器214的检测灵敏度设定为第一灵敏度的状态下使指针轮301旋转(转动)了一步的量的位置处的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到暗状态(步骤S703)。在步骤S703中未检测到暗状态的情况下(步骤S703：否)，判断作为基准位置的设定对象的时刻指示针106是否转了一圈(步骤S704)。

在步骤S704中作为基准位置的设定对象的时刻指示针106未转一圈的情况下(步骤S704：否)，返回步骤S702，进一步将电机304驱动一步的量，使指针轮301旋转(转动)一步的量。在步骤S704为否的情况下，再次进行步骤S702至步骤S704的处理，结果在作为基准位置的设定对象的时刻指示针106转了一圈的情况下(步骤S704：是)，移至步骤S720。在步骤S704中，也可以判断作为基准位置的设定对象的时刻指示针106是否转了两圈以上。

另一方面，在步骤S703中检测到暗状态的情况下(步骤S703：是)，判断作为基准位置的设定对象的时刻指示针106是否转了一圈(步骤S705)。在步骤S705中，也可以判断作为基准位置的设定对象的时刻指示针106是否转了两圈以上。

在步骤S705中作为基准位置的设定对象的时刻指示针106转了一圈的情况下(步骤S705：是)，移至步骤S720。

另一方面，在步骤S705中作为基准位置的设定对象的时刻指示针106未转一圈的情况下(步骤S705：否)，将电机304驱动一步的量(步骤S706)。在步骤S706中通过将电机304驱动一步的量，使指针轮301旋转(转动)一步的量。然后，基于使指针轮301旋转(转动)了一步的量的位置处的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到明状态(步骤S707)。

在步骤S707中未检测到明状态的情况下(步骤S707：否)，移至步骤S705，判断作为基准位置的设定对象的时刻指示针106是否转了一圈。另一方面，在步骤S707中检测到明状态的情况下(步骤S707：是)，将检测到该明状态的位置作为切换位置X，将与该切换位置X相关的信息存储于ROM203b等(步骤S708)。

接着，将电机304驱动一步的量(步骤S709)。在步骤S709中通过将电机304驱动一步的量，使指针轮301旋转(转动)一步的量。然后，基于使指针轮301旋转(转动)了一步的量的位置处的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到明状态(步骤S710)。

在步骤S710中未检测到明状态的情况下(步骤S710：否)，移至步骤S705。在步骤S710为否的情况下，设想由于某种异常而未检测到明状态，因此再次进行步骤S705至步骤S710的处理。另一方面，在步骤S710中检测到明状态的情况下(步骤S710：是)，将检测到该明状态的位置作为基准位置X+1，将与该基准位置X+1相关的信息存储于ROM203b等(步骤S711)。

接着，将光传感器214的检测灵敏度设定为第二灵敏度(步骤S712)，直至指针轮301位于位置X-1为止而驱动电机304(步骤S713)。在步骤S713中，例如如上所述，使电机304以比通常的运针时快的速度进行正转而使指针轮301快进，由此使该指针轮301位于位置X-1。或者在步骤S713中，例如也可以在使电机304反转了三步以上之后使电机304正转，由此使该指针轮301位于位置X-1。也可以在每次使电机304正转而检测到暗状态的状态下，使该指针轮301位于位置X-1。

然后，基于使指针轮301位于位置X-1的状态下的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到暗状态(步骤S714)。在步骤S714中未检测到暗状态的情况下(步骤S714：否)，移至步骤S720。

另一方面，在步骤S714中检测到暗状态的情况下(步骤S714：是)，直至指针轮301位于基准位置X+1为止而驱动电机304(步骤S715)。在步骤S715中，例如如上所述，使电机304以比通常的运针时快的速度正转两步而使指针轮301快进，由此使该指针轮301位于基准位置X+1。或者在步骤S715中，例如也可以使电机304以与通常的运针时相同的速度正转两步，从而使指针轮301位于基准位置X+1。

然后，基于使指针轮301位于基准位置X+1的状态下的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到明状态(步骤S716)。在步骤S716中未检测到明状态的情况下(步骤S716：否)，移至步骤S720。另一方面，在步骤S716中于基准位置X+1处检测到明状态的情况下(步骤S716：是)，将与检测到该明状态的时点的、即指针轮301位于基准位置X+1的状态下的电机304的相位相关的信息存储于ROM203b等(步骤S717)。

在步骤S716中未检测到明状态的情况下，在S712中设定的第二灵敏度可能较弱。在该情况下，也可以设定比设定的第二灵敏度高的灵敏度，并移至S713。

接着，对通常的运针时的光传感器214的检测灵敏度进行设定(步骤S718)。在步骤S718中，将通常的运针时的光传感器214的检测灵敏度设定为第三灵敏度，该第三灵敏度处于比光传感器214的第二灵敏度大且比光传感器214的第一灵敏度小的范围。然后，进行“OK处理”(步骤S719)，结束一系列的处理。在步骤S720中，进行“NG处理”(步骤S720)，结束一系列的处理。

在步骤S719中，驱动电机304使日期轮旋转(转动)，以使得例如将日期轮所示的日期变更为比基准位置设定动作的开始时的日期晚的日期，由此进行“OK处理”。另外，在步骤S720中，驱动电机304使日期轮旋转(转动)，以使得例如将日期轮所示的日期变更为比基准位置设定动作的开始时的日期早的日期，由此进行“NG处理”。具体而言，例如在基准位置没定动作的开始时的日期为“31”日的情况下，当基准位置的设定成功时，使日期轮位于表示“1”日的位置，当基准位置的设定失败时，使日期轮位于表示“30”日的位置。这样，在基准位置的设定成功的情况下，不需要进行日期轮的基准位置设定。

或者在作为基准位置的设定对象的指针轮301上安装有时刻指示针106(时针106a、分针106b、秒针106c)的情况下，当由于指针和所安装的位置而各个基准位置不为0时0分0秒时，也可以通过表冠旋转来校正指针，并将该校正量存储于ROM203b等。

在步骤S719中，例如也可以驱动电机304，使作为基准位置的设定对象的指针轮301位于规定位置处来进行“OK处理”，所述规定位置是作为表示基准位置的设定成功了的位置而预先决定好的位置。具体而言，预先决定好的规定位置为0时0分0秒，在预先设定好修正量的情况下，将电机304从基准位置X+1驱动与修正量对应的量，由此，能够使时刻显示针106向预先决定好的规定位置移动。这样在“OK处理”结束的时点设定为1日的0时0分0秒，由此，之后不需要进行时刻调整，能够使调整成功的钟表立即作为通常状态而使用。

在对通常的运针时的光传感器214的检测灵敏度进行设定的过程中(步骤S718)，也可以将与光传感器的灵敏度相关的信息存储于ROM203b等。由于多个指针的灵敏度也有可能不同，因此也可以对各指针设定检测灵敏度。

在本发明的电波校正钟表100中，在制造时等的调整工序中，对位置X-1、基准位置X+1以及电机转向(相位)进行检测。如上所述，位置X-1表示切换位置X的前一步的位置，具体而言，表示以一步检测到暗状态之后连续两步检测到明状态的情况下的将要从暗状态向明状态切换前的位置。另外，基准位置X+1表示切换位置X的后一步的位置，具体而言，表示以一步检测到暗状态之后连续两步检测到明状态的情况下的在第二步检测到明状态的位置。

电机转向(motor steering)是关于钟表用两极步进电机(电机304)的线圈端子OUT1、OUT2，在调整工序中，决定是在电机驱动脉冲从线圈端子OUT1输出之后进行明暗检测、还是在电机驱动脉冲从线圈端子OUT2输出之后进行明暗检测。电机驱动脉冲从线圈端子OUT1和线圈端子OUT2交替地输出，因此，在位置X-1以及基准位置X+1处输出的相位相等。

在进行通常的检测动作时，使光传感器214在上述的调整工序中决定出的相位(电机驱动脉冲从线圈端子OUT1输出时、或者从线圈端子OUT2输出时)下动作。由此，每隔两步进行检测。然后，通过确认在位置X-1处检测到暗状态、在基准位置X+1处检测到明状态，来判断基准位置检测是否成功。

在电波校正钟表100中，由于光传感器214、指针驱动时的轮系的驱动的偏差，并不一定能够在切换位置X处检测到明状态。因此，在位置X-1、基准位置X+1的时机实施暗状态或者明状态的检测。假设即使电机304的驱动失败，在下一个驱动时，由于上一次的失败产生的相位偏移也无法驱动时刻指示针106，在重新开始驱动时，时刻指示针106产生两步的偏移。因此，位置X-1、基准位置X+1不会成为切换位置X的位置。因此，在位置X-1、基准位置X+1处并非所期待的明暗的情况下，再次驱动两步，寻找在位置X-1处为暗状态、在基准位置X+1处为明状态的位置，由此能够校正偏移了的时刻指示针106。

<实施方式2>

接着，对实现本发明的钟表的实施方式2的电波校正钟表的结构进行说明。在实施方式2中，与上述的实施方式1相同的部分由相同的附图标记示出，并省略说明。

在上述的实施方式1中，利用第一灵敏度来确定切换位置X和基准位置X+1，利用第二灵敏度来确认在位置X-1处为暗状态且在基准位置X+1处为明状态。与此相对，作为实施方式1的变形例1，实现本发明的实施方式2的钟表的电波校正钟表利用第二灵敏度来确定从暗状态向明状态切换的位置而作为基准位置X+1，并将比该基准位置X+1靠前一步的位置设定为切换位置X，将比该基准位置X+1靠前两步的位置设定为位置X-1，利用第一灵敏度来确认在位置X-1处为暗状态。

图8A以及图8B是示出本发明的实施方式2的电波校正钟表100所具备的光传感器214(215、216)中的检测灵敏度及检测等级与电机的相位之间的关系的说明图。在图8A中，示出在检测到基准位置X+1时的电机304的步数为偶数的情况下的光传感器214(215、216)中的检测灵敏度及检测等级与电机304的相位之间的关系。在图8B中，示出在检测到基准位置X+1时的电机304的步数为奇数的情况下的光传感器214(215、216)中的检测灵敏度及检测等级与电机304的相位之间的关系。

如图8A以及图8B所示，无论在基准位置X+1处电机304的步数是偶数还是奇数，实施方式2的电波校正钟表100所具备的控制部401都利用第二灵敏度将从暗状态向明状态切换的位置确定为基准位置X+1。另外，实施方式2的控制部401将比确定出的基准位置X+1靠前一步的位置设定为切换位置X，将比该基准位置X+1靠前两步的位置设定为位置X-1，利用第一灵敏度来确定在位置X-1处为暗状态。

通常的运针时的光传感器214的检测等级被设定为如上述那样设定好的第一灵敏度与第二灵敏度之间的第三灵敏度。具体而言，控制部401中的灵敏度调整用电路203f调整发光元件214a的发光强度以及受光元件214b的受光灵敏度中的至少一方，将能够在基准位置X+1处判断明状态、在位置X-1处判断暗状态的光传感器214(215、216)的检测灵敏度设定在第一灵敏度与第二灵敏度之间。

由此，无论位置X-1以及基准位置X+1处的电机304的步数是偶数还是奇数，光传感器214都能够在通常的运针时，在位置X-1处判断为暗状态，在基准位置X+1判断为明状态。而且，由此能够可靠地检测在通常的运针时指针轮301所指示的时刻指示针106的位置。另外，为了分别检测时针106a、分针106b以及秒针106c这三根独立的时刻指示针106，设置三个系统的本发明的基准位置设定机构。

(基准位置设定动作的处理顺序)

接着，对本发明的实施方式2的电波校正钟表100所进行的基准位置设定动作的处理顺序进行说明。图9是示出本发明的实施方式2的电波校正钟表100所进行的基准位置设定动作的处理顺序的流程图。与上述的图7的流程图所示的处理同样地，在受理到对操作部104进行的规定的输入操作的情况下，执行图9的流程图所示的处理。

另外，在图9中，与实施方式1同样地，对关于与对应于光传感器214的时针106a对应的指针轮301的基准位置设定动作的处理顺序进行说明，但关于与光传感器215对应的分针106b、与光传感器216对应的秒针106c，也能够通过进行与时针106a同样的处理来设定基准位置。

在图9的流程图中，首先，将光传感器214的检测灵敏度设定为第二灵敏度(步骤S901)，使电机304运针一步(步骤S902)。在步骤S902中，通过将电机304驱动一步的量，使指针轮301旋转(转动)一步的量。

接着，基于在将光传感器214的检测灵敏度设定为第二灵敏度的状态下使指针轮301旋转(转动)了一步的量的位置处的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到暗状态(步骤S903)。在步骤S903中未检测到暗状态的情况下(步骤S903：否)，判断作为基准位置的设定对象的时刻指示针106是否转了一圈(步骤S904)。

在步骤S904中作为基准位置的设定对象的时刻指示针106未转一圈的情况下(步骤S904：No)，返回步骤S902，进一步将电机304驱动一步的量，使指针轮301旋转(转动)一步的量。在步骤S904为否的情况下，再次进行步骤S902至步骤S904的处理，结果在作为基准位置的设定对象的时刻指示针106转了一圈的情况下(步骤S904：是)，移至步骤S915。在步骤S904中，也可以判断作为基准位置的设定对象的时刻指示针106是否转了两圈以上。

另一方面，在步骤S903中检测到暗状态的情况下(步骤S903：是)，判断作为基准位置的设定对象的时刻指示针106是否转了一圈(步骤S905)。在步骤S905中，也可以判断作为基准位置的设定对象的时刻指示针106是否转了两圈以上。在步骤S905中作为基准位置的设定对象的时刻指示针106转了一圈的情况下(步骤S905：是)，移至步骤S915。

另一方面，在步骤S905中，在作为基准位置的设定对象的时刻指示针106未转一圈的情况下(步骤S905：否)，将电机304驱动一步的量(步骤S906)。在步骤S906中通过将电机304驱动一步的量，使指针轮301旋转(转动)一步的量。然后，基于使指针轮301旋转(转动)了一步的量的位置处的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到明状态(步骤S907)。

在步骤S907中未检测到明状态的情况下(步骤S907：否)，移至步骤S905，判断作为基准位置的设定对象的时刻指示针106是否转了一圈。另一方面，在步骤S907中检测到明状态的情况下(步骤S907：是)，将在步骤S903中检测到暗状态(步骤S903：是)之后在步骤S907中检测到明状态(步骤S907：是)的位置设为基准位置X+1，将与该基准位置X+1相关的信息存储于ROM203b等，并且将比该基准位置X+1靠前一步的量的位置设为切换位置，将与该切换位置X相关的信息存储于ROM203b等(步骤S908)。

接着，将光传感器214的检测灵敏度设定为第一灵敏度(步骤S909)，直至指针轮301位于位置X-1为止而驱动电机304(步骤S910)。即，在步骤S910中，直至指针轮301位于比基准位置X+1靠前两步的量的位置为止而驱动电机304。

在步骤S910中，例如如上所述，使电机304以比通常的运针时快的速度进行正转而使指针轮301快进，由此使该指针轮301位于位置X-1。或者在步骤S910中，例如也可以在使电机304反转了三步以上之后使电机304正转，由此使该指针轮301位于位置X-1。在该情况下，也可以在每次使电机304正转而检测到暗状态的状态下，使该指针轮301位于位置X-1。

然后，基于使指针轮301位于位置X-1的状态下的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到暗状态(步骤S911)。在步骤S911中未检测到暗状态的情况下(步骤S911：No)，移至步骤S915。

另一方面，在步骤S911中检测到暗状态的情况下(步骤S911：是)将与在步骤S907中检测到明状态(步骤S907：是)的时点的、即指针轮301位于基准位置X+1的状态下的电机304的相位相关的信息存储于ROM203b等(步骤S912)。在步骤S912中，将与在步骤S911中检测到暗状态(步骤S911：是)的时点的、即指针轮301位于位置X-1的状态下的电机304的相位相关的信息存储于ROM203b等。

接着，对通常的运针时的光传感器214的检测灵敏度进行设定(步骤S913)。在步骤S913中，与实施方式1同样地，将通常的运针时的光传感器214的检测灵敏度设定为比光传感器214的第二灵敏度大、且比光传感器214的第一灵敏度小的范围的第三灵敏度。然后，与实施方式1同样地进行“OK处理”(步骤S914)，结束一系列的处理。在步骤S915中，与实施方式1同样地进行“NG处理”(步骤S915)，结束一系列的处理。

如上所述，根据实施方式2的电波校正钟表，在进行基于第二灵敏度的暗状态和明状态的检测之后，进行基于第一灵敏度的暗状态与明状态的判断，由此，能够可靠地检测在通常的运针时指针轮301所指示的时刻指示针106的位置。另外，根据实施方式2的电波校正钟表，能够通过基于第二灵敏度的暗状态和明状态的检测结果来立即决定基准位置X+1，因此与实施方式1相比，能够减轻运算部203a在基准位置设定动作的处理中的负担。

<实施方式3>

接着，对实现本发明的钟表的实施方式3的电波校正钟表的结构进行说明。在实施方式3中，与上述的实施方式1、2相同的部分由相同的附图标记示出，并省略说明。

在上述的实施方式1中，利用第一灵敏度来确定切换位置X和基准位置X+1，利用第二灵敏度来确认在位置X-1处为暗状态且在基准位置X+1处为明状态。与此相对，作为实施方式1的变形例2，实现本发明的实施方式3的钟表的电波校正钟表利用第一灵敏度来确定从明状态向暗状态切换的切换位置Y和基准位置Y-1，利用第二灵敏度来确认在基准位置Y-1处为明状态且在位置Y+1处为暗状态。

图10A以及图10B是示出本发明的实施方式3的电波校正钟表所具备的光传感器214(215、216)中的检测灵敏度及检测等级与电机304的相位之间的关系的说明图。在图10A中，示出在检测到基准位置Y-1时的电机304的步数为偶数的情况下的光传感器214(215、216)中的检测灵敏度及检测等级与电机304的相位之间的关系。在图10B中，示出在检测到基准位置Y-1时的电机304的步数为奇数的情况下的光传感器214(215、216)中的检测灵敏度及检测等级与电机304的相位之间的关系。

如图10A以及图10B所示，无论在基准位置Y-1处电机304的步数是偶数还是奇数，第一灵敏度以及第二灵敏度都设定得比检测等级低，且设定成判断为明状态。另外，无论在位置Y+1处电机304的步数是偶数还是奇数，第一灵敏度以及第二灵敏度都设定得比检测等级高，且设定成判断为暗状态。

通常的运针时的光传感器214的检测等级与上述的实施方式1以及2同样，设定为在设定好的第一灵敏度与第二灵敏度之间的第三灵敏度。由此，光传感器214无论基准位置Y-1以及位置Y+1处的电机304的步数是偶数还是奇数，在通常的运针时都能够在基准位置Y-1处判断为明状态，在位置Y+1处判断为暗状态。而且，由此能够可靠地检测在通常的运针时指针轮301所指示的时刻指示针106的位置。

实现本发明的钟表的实施方式3的电波校正钟表进行以下的顺序(1)～(5)。在图11A以及图11B中说明顺序(1)～(5)的详细内容。

(1)利用第一灵敏度来检测从明状态向暗状态切换的位置(图6A中的、步数为“8”的位置)。

(2)利用第一灵敏度来确认在比从明状态向暗状态切换的位置靠前一步的位置(图6A中的、步数为“7”的位置)处为明状态。在第一灵敏度下比从明状态向暗状态切换的位置靠前一步的位置为明状态的情况下，将该位置设为位置Y。

(3)切换为第二灵敏度，确认在比位置Y靠前一步的位置Y-1(图6A中的、步数为“6”的位置)为明状态。

(4)此外，确认在比位置Y靠后一步的位置Y+1(图6A中的、步数为“8”的位置)处为暗状态。

(5)在全部满足上述(1)～(4)的情况下，将位置Y-1(图6A中的、步数为“6”的位置)设为基准位置。在该情况下，通过位置Y来实现切换位置。

(电波校正钟表100的功能结构)

接着，对本发明的实施方式3的电波校正钟表100的功能结构进行说明。实施方式3的电波校正钟表100的功能结构能够通过与上述的实施方式1的图4所示的框图同样的框图来示出，故省略图示。相对于上述的实施方式1的电波校正钟表100，实施方式3的电波校正钟表100的控制部401所实现的功能不同。

实施方式3的电波校正钟表100中的控制部401基于是明状态还是暗状态的判断结果，确定在以第一步数连续地判断为明状态之后、以第二步数连续地判断为暗状态的情况下的从明状态向暗状态切换的位置。控制部401例如确定在作为第一步数而连续两次判断为明状态之后、作为第二步数而连续两次判断为暗状态的情况下的从明状态切换到暗状态的位置。

接着，控制部401判断比确定出的位置靠前一步的位置是明状态还是暗状态。此时，控制部401例如使电机304以比通常的运针时快的速度进行正转而使指针轮301快进，由此使该指针轮301位于比确定出的位置靠前一步的位置。

或者，此时控制部401例如也可以使电机304反转，使指针轮301向与通常的运针时相反的方向旋转，由此使该指针轮301位于比确定出的位置靠前一步的位置。在使电机304反转而使指针轮301向与通常的运针时相反的方向旋转的情况下，考虑到齿隙，使指针轮301在比确定出的位置靠前一步的位置过多地(例如，比确定出的位置靠前五步的位置)反转之后，正转至比确定出的位置靠前一步的位置。

该判断的结果是，在比确定出的位置靠前一步的位置为明状态的情况下，将该前一步的位置确定为切换位置Y(参照图10A、图10B)。控制部401在确定切换位置Y时，在将光传感器214的检测灵敏度设定为第一灵敏度的状态下判断是明状态还是暗状态。

接着，控制部401在将光传感器214(215、216)的检测灵敏度设定为第二灵敏度的状态下，判断比确定出的切换位置Y靠前一步的位置Y-1是否为明状态。另外，控制部401在将光传感器214(215、216)的检测灵敏度设定为第二灵敏度的状态下，判断在切换位置Y的后一步的位置Y+1处是否为暗状态。

该判断的结果是，在比确定出的切换位置Y靠前一步的位置Y-1为明状态且比切换位置Y靠后一步的位置Y+1为暗状态的情况下，控制部401将成为该明状态的位置Y-1确定为基准位置Y-1(参照图10A、图10B)，将与基准位置Y-1相关的信息存储于存储部401。另外，控制部401将与基准位置Y-1处的电机304的相位相关的信息存储于存储部401a。控制部401还可以将与位置Y+1处的电机304的相位相关的信息存储于存储部401a。

与基准位置Y-1相关的信息能够通过如下的信息来实现：即，能够确定在连续两次判断为明状态之后连续两次判断为暗状态的情况下的、第一次判断为明状态的时点的指针轮301的位置的信息。与相位相关的信息能够通过表示基准位置Y-1以及位置Y+1的时点的将电机304的脉冲输出的朝向(所产生的磁场的朝向)的信息来实现(参照图10A、图10B)。基准位置Y-1处的电机304的相位与位置Y+1处的电机304的相位为相同相位。

控制部401在确定出切换位置Y之后使指针轮301位于基准位置Y-1的情况下，例如使电机304以比通常的运针时快的速度进行正转而使指针轮301快进，由此使该指针轮301位于基准位置Y-1。

或者，此时控制部401例如也可以使电机304反转而使指针轮301向与通常的运针时相反的方向旋转，由此使该指针轮301位于基准位置Y-1。在使电机304反转而使指针轮301向与通常的运针时相反的方向旋转的情况下，考虑到齿隙，使指针轮301在比切换位置Y靠前一步的位置Y-1过多地(例如，Y-5步)反转之后，正转至基准位置Y-1。

在与基准位置Y-1相关的信息的存储成功了的情况下，即在基准位置设定动作成功了的情况下，控制部401也可以对电机304进行驱动控制而使日期进给轮旋转，由此将该日期轮所示的日期变更为比受理到该规定的输入操作的时点的日期晚的日期。另外，在与基准位置Y-1相关的信息的存储失败了的情况下，即在基准位置设定动作失败了的情况下，控制部401也可以对电机304进行驱动控制而使日期进给轮旋转，由此将该日期轮所示的日期变更为比受理到该规定的输入操作的时点的日期早的日期。

由此，即使在电波校正钟表100的组装完成前且驱动机构(机芯)209组装好的状态下，具体而言，在未向指针轮301安装时刻指示针106的状态下进行了基准位置设定动作时，也能够使钟表的制造者判断基准位置设定动作的设定是否成功。

(基准位置设定动作的处理顺序)

接着，对本发明的实施方式3的电波校正钟表100所进行的基准位置设定动作的处理顺序进行说明。图11A以及图11B是示出本发明的实施方式3的电波校正钟表100所进行的基准位置设定动作的处理顺序的流程图。与上述的图7或图9的流程图所示的处理同样地，在受理到对操作部104进行的规定的输入操作的情况下，执行图11A以及图11B的流程图所示的处理。

在图11A以及图11B中，对关于与对应于光传感器214的时针106a对应的指针轮301的基准位置设定动作的处理顺序进行说明，但关于与光传感器215对应的分针106b、与光传感器216对应的秒针106c，也能够通过进行与时针106a同样的处理来设定基准位置。

在图11A以及图11B的流程图中，首先，将光传感器214的检测灵敏度设定为第一灵敏度(步骤S1101)，将电机304运针一步(步骤S1102)。在步骤S1102中通过将电机304驱动一步的量，使指针轮301旋转(转动)一步的量。

接着，基于在将光传感器214的检测灵敏度设定为第一灵敏度的状态下使指针轮301旋转(转动)了一步的量的位置处的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到明状态(步骤S1103)。在步骤S1103中未检测到明状态的情况下(步骤S1103：否)，移至步骤S1102，进一步使电机304运针一步。

另一方面，在步骤S1103中检测到明状态的情况下(步骤S1103：是)，将电机304驱动一步的量(步骤S1104)。在步骤S1104中通过将电机304驱动一步的量，使指针轮301旋转(转动)一步的量。然后，基于使指针轮301旋转(转动)了一步的量的位置处的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到暗状态(步骤S1105)。在步骤S1105中未检测到暗状态的情况下(步骤S1105：否)，移至步骤S1104，进一步将电机304驱动一步的量。

在步骤S1105中检测到暗状态的情况下(步骤S1105：是)，将检测到该暗状态的位置设为位置Y+1，并将与该位置Y+1相关的信息存储于ROM203b等(步骤S1106)。然后，直至指针轮301位于位置Y为止而驱动电机304(步骤S1107)。在步骤S1107中，例如如上所述，使电机304以比通常的运针时快的速度进行正转而使指针轮301快进，由此使该指针轮301位于位置Y。或者在步骤S1107中，例如也可以在使电机304反转了三步以上之后使电机304正转，由此使该指针轮301位于位置Y。

接着，基于使指针轮301位于位置Y的状态下的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到明状态(步骤S1108)。在步骤S1108中未检测到明状态的情况下(步骤S1108：否)，移至步骤S1119。另一方面，在步骤S1108中检测到明状态的情况下(步骤S1108：是)，将检测到该明状态的位置设为切换位置Y，并将与该切换位置Y相关的信息存储于ROM203b等(步骤S1109)。

接着，将光传感器214的检测灵敏度设定为第二灵敏度(步骤S1110)，直至指针轮301位于比切换位置Y靠前一步的位置Y-1为止而驱动电机304(步骤S1111)。在步骤S1111中，例如如上所述，使电机304以比通常的运针时快的速度进行正转而使指针轮301快进，由此使该指针轮301位于位置Y-1。或者在步骤S1111中，例如也可以在使电机304反转了三步以上之后使电机304正转，由此使该指针轮301位于位置Y-1。

然后，基于使指针轮301位于位置Y-1的状态下的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到明状态(步骤S1112)。在步骤S1112中未检测到明状态的情况下(步骤S1112：否)，移至步骤S1119。

另一方面，在步骤S1112中检测到明状态的情况下(步骤S1112：是)，直至指针轮301位于位置Y+1为止而驱动电机304(步骤S1113)。在步骤S1113中，例如如上所述，使电机304以比通常的运针时快的速度正转两步，使指针轮301快进，由此使该指针轮301位于位置Y+1。或者在步骤S1113中，例如也可以使电机304以与通常的运针时相同的速度正转两步，从而使指针轮301位于位置Y+1。

然后，基于使指针轮301位于位置Y+1的状态下的光传感器214(受光元件214b)的输出值，判断是否检测到暗状态(步骤S1114)。在步骤S1114中未检测到暗状态的情况下(步骤S1114：否)，移至步骤S1119。

另一方面，在步骤S1114中，在位置Y+1处检测到暗状态的情况下(步骤S1114：是)，将在步骤S1112中检测到明状态(步骤S1112：是)的位置设为基准位置Y-1，将与该基准位置Y-1相关的信息存储于ROM203b等(步骤S1115)。另外，将与在步骤S1112中检测到明状态(步骤S1112：是)的时点的、即指针轮301位于基准位置Y-1的状态下的电机304的相位相关的信息存储于ROM203b等(步骤S1116)。

接着，对通常的运针时的光传感器214的检测灵敏度进行设定(步骤S1117)。在步骤S1117中，将通常的运针时的光传感器214的检测灵敏度设定为比光传感器214的第二灵敏度大、且比光传感器214的第一灵敏度小的范围的第三灵敏度。然后，进行与上述同样的“OK处理”(步骤S1118)，结束一系列的处理。在步骤S1119中，进行与上述同样的“NG处理”(步骤S1119)，结束一系列的处理。

如上所述，根据实施方式3的电波校正钟表，通过检测从明状态向暗状态切换的位置，能够可靠地检测在通常的运针时指针轮301所指示的时刻指示针106的位置。

<实施方式4>

接着，对实现本发明的钟表的实施方式4的电波校正钟表的结构进行说明。在实施方式4中，与上述的实施方式1～3相同的部分由相同的附图标记示出，并省略说明。

在上述的实施方式1～3中，对第一灵敏度、第二灵敏度以及第三灵敏度为固定值的例子进行了说明。实际上，在各电波校正钟表中用于基准位置的设定的光传感器的发光元件(LED)或受光元件(光电晶体管)的性能方面存在偏差，因此在对第一灵敏度、第二灵敏度以及第三灵敏度设定了固定值的情况下，有时与意料中的精度不一致。

因此，在实施方式4中，在各电波校正钟表中设定能够进行检测的最小的灵敏度、即“第四灵敏度”，能够基于第四灵敏度而相对地设定第一灵敏度、第二灵敏度以及第三灵敏度。由此，能够与光传感器的性能偏差对应而高精度地设定基准位置。

图12是示出灵敏度设定的概念的说明图。如图12所示，第四灵敏度设定为比与各指针轮对应的各光传感器无法检测到明状态的检测等级高一级的检测等级。第一灵敏度、第二灵敏度以及第三灵敏度均被设定为灵敏度比第四灵敏度高的检测等级。第二灵敏度设定为灵敏度比第四灵敏度高的检测等级，第三灵敏度设定为灵敏度比第二灵敏度高的检测等级，第一灵敏度设定为灵敏度比第三灵敏度高的检测等级。

(针检调整模式)

本发明的实施方式4的电波校正钟表100的目的在于减少各光传感器214中的发光元件(LED)214a的、因相对于输入电流的输出(LED光度)的偏差而引起的检测精度的偏差，为了保证能够检测到作为检测对象的指针轮301的基准位置的恒定范围的LED光度，可设定对输入电流进行调整的针检调整模式。针检调整模式例如能够在驱动机构209的组装工序、售后服务工序中进行设定。

在针检调整模式中，调整与秒针106c对应的指针轮301以及与分针106b对应的指针轮301的检测所涉及的各光传感器215、216的检测灵敏度，并且调整与时针106a的指针轮301对应的检测所涉及的光传感器214的检测灵敏度。

(秒针106c以及分针106b的光传感器的检测灵敏度调整)

关于与秒针106c或分针106b对应的指针轮301，通过与上述的实施方式1～3中说明的方法同样的方法来决定检测相位，从而调整秒针106c以及分针106b的光传感器215、216的检测灵敏度。具体而言，实施方式4的电波校正钟表100在进行秒针106c以及分针106b的光传感器215、216的检测灵敏度调整时，进行以下的顺序(1)～(5)。

(1)驱动电机304来对作为检测对象的指针、即秒针106c以及分针106b进行运针(或者使与秒针106c以及分针106b对应的各指针轮301旋转)，从而检测各指针轮301的检测位置。采用如下的检测位置：与对应于秒针106c以及分针106b的各指针轮301对应的光传感器215、216能够检测到明状态的该各指针轮301的位置。

(2)在检测位置附近，在进行往复运针的同时，逐渐降低光传感器215、216的检测等级(光传感器的LED光度)，寻找光传感器215、216无法检测到明状态的检测等级。检测等级例如能够阶段性地下降。然后，设定比与各指针轮301对应的各光传感器215、216无法检测到明状态的检测等级高一级的检测等级，即“第四灵敏度”。

(3)基于(2)的结果，通过调整光传感器215、216的LED光度和检测电阻，对光传感器215、216的检测等级设定较高的检测等级、即“第一灵敏度”。第一灵敏度能够设定为如下程度的LED光度(最高光度)：光传感器215、216不会对与秒针106c对应的指针轮以及与分针106b对应的指针轮301中的检测位置进行误检测。

(4)确认利用第一灵敏度不在基准位置以外进行检测，与此同时，来检测成为“暗状态”→“暗状态”→“明状态”→“明状态”的位置，基于该检测结果，将第二次检测到“明状态”的位置设为分别与秒针106c以及分针106b对应的各指针轮301的基准位置(参照图13中的上段)。

(5)设定灵敏度比第一灵敏度低的检测等级，即“第二灵敏度”，确认利用第二灵敏度能够检测到与秒针106c以及分针106b对应的各指针轮301的各基准位置(参照图13中的下段)。第二灵敏度能够设定为秒针106c以及分针106b的各光传感器215、216的LED光度能够分别检测到与秒针106c以及分针106b对应的各指针轮中的检测位置的“第四灵敏度”高的光度(最低光度)。

图13是示出秒针106c以及分针106b的光传感器的检测灵敏度调整的顺序中的、顺序(4)以及(5)的实施内容的概念的说明图。如图13所示，在顺序(4)中，在设定为第一灵敏度的状态下，在1～4的所有步的位置处检测是暗状态还是明状态，从而检测成为“暗状态”→“暗状态”→“明状态”→“明状态”的位置。然后，将第二次检测到“明状态”的四步的位置设为基准位置。

另外，如图13所示，在顺序(5)中，在设定为第二灵敏度的状态下，在两步以及四步的位置处进行是暗状态还是明状态的检测。然后确认在两步的位置处检测到暗状态，在四步的位置处检测到明状态。在顺序(5)中，也可以在设定为第二灵敏度的状态下，在1～4的所有步的位置处进行是暗状态还是明状态的检测。

与时针106a对应的指针轮与分针106b连动地进行驱动，因此成为转速比分针106b的指针轮301低的结构，因而时针106a的光传感器214检测到检测位置的步数、即检测到明状态的步数多于分针106b的光传感器215检测到检测位置的步数。

因此，在实施方式4的电波校正钟表100中，利用与对与秒针106c、分针106b对应的指针轮的基准位置进行确认的方法不同的方法来确定与时针106a对应的指针轮的基准位置，基于确定出的基准位置，进行时针106a的基准位置设定动作、以及针检调整模式下的检测灵敏度调整。但是，在时针106a的转速与分针106b相同的情况下，能够利用对与秒针106c、分针106b对应的指针轮的基准位置进行确定的方法来确定时针106a的基准位置，从而进行检测灵敏度调整。

(基准位置设定机构的结构)

图14是示出本发明的实施方式4的电波校正钟表100所具备的基准位置设定机构的结构的说明图。在图14中，在转子304a上经由中间轮1401、中间轮1402、中间轮1403、对分针106b进行支承的指针轮(分指针轮)301而连结有跨轮1404。

在中间轮1402以及中间轮1403上分别设有检测孔1402a、1403a。设于中间轮1402的检测孔1402a与设于中间轮1403的检测孔1403a分别设置为沿轴心方向贯穿中间轮1402以及中间轮1403。

另外，设于中间轮1402的检测孔1402a与设于中间轮1403的检测孔1403a分别以如下方式设置：因中间轮1402与中间轮1403旋转而描绘的各检测孔1402a、1403a的轨道在中间轮1402与中间轮1403重合的位置处交叉。中间轮1402以及中间轮1403的转速以如下方式设定：每将电机304驱动360步而使各检测孔1402a、1403a重合一次。

光传感器215在检测孔1402a、1403a的轨道交叉的位置处检测是明状态还是暗状态。在该实施方式中，能够通过中间轮1402和中间轮1403来实现本发明的检测轮。实施方式4的电波校正钟表100将检测孔1402a、1403a重合的位置处的指针轮301的位置作为指针轮301的基准位置来检测。每将电机304驱动360步，能够检测一次指针轮301的基准位置。

在指针轮301上，设有与该指针轮301绕同轴旋转的、省略图示的分轮管(筒カナ)。分轮管与跨轮1404连结，跨轮1404与时针106a的指针轮(省略图示)连结。由此，能够将电机(分时连动电机)304中的转子304a的旋转力经由分针106b的指针轮301而传递至时针106a的指针轮，从而能够利用一个电机(分时连动电机)304使分针106b和时针106a旋转。

跨轮1404与时针106a的指针轮连结，使该时针106a的指针轮以比分针106b的指针轮301的转速低的转速进行旋转。跨轮1404以在分针106b的指针轮301旋转12圈的期间(12小时)使时轮旋转一圈的方式进行调节。在该实施方式4中，能够通过时针106a的指针轮来实现本发明的实施方式的其他指针轮。另外，在该实施方式4中，能够通过跨轮1404来实现本发明的实施方式的其他检测轮。

跨轮1404具备沿该跨轮1404的轴心方向贯穿该跨轮1404的检测孔1404a。跨轮1404以如下的方式设置：设于该跨轮1404的检测孔1404a的轨道成为与设于中间轮1402、中间轮1403的检测孔1402a、1403a所交叉的位置不同的位置。另外，在该实施方式4中，能够通过检测孔1404a来实现其他检测孔。

光传感器214具备：对伴随着跨轮1404的旋转而移动的检测孔1404a的移动轨迹上的检测位置(光传感器216检测到明状态的位置)发出光的发光元件、以及接受从该发光元件发出的光的受光元件，并且检测跨轮1404的旋转。在该实施方式4中，能够通过光传感器214来实现本发明的实施方式的其他光传感器。

在该实施方式中，跨轮1404每旋转七圈而使时针106a的指针轮旋转一圈。在实施方式4中，跨轮1404的转速以如下方式设定：每将电机304驱动617步(严格来说为4320/7步)，使跨轮1404的光传感器接受(检测到明状态)一次通过了检测孔1404a的光。

在图14所示的结构中，设于跨轮1404的检测孔1404a在与指针轮301交叉的位置处不进行检测，而单独地进行检测。设于中间轮1403的检测孔1403a与设于中间轮1402的检测孔1402a每隔一小时重叠一次。当在该检测孔1403a、1402a重叠的时机进行检测孔1404a的检测时，能够在12小时内仅对检测孔1404a检测一次。由此，能够确定时针106a的位置。

检测孔1404a无需在检测孔1403a、1402a重叠的时机与该检测孔1402a、1403a完全一致。例如，也可以设定“在检测孔1403a、1402a重叠后的规定步(例如50步)之后对检测孔1404a进行检测”这一条件，并根据该条件来进行检测。

在实施方式4中，能够通过分针106b(秒针106c)的指针轮301来实现本发明的指针轮，能够通过两个分中间轮1402、1403来实现本发明的检测轮，能够通过光传感器215、216来实现本发明的光传感器。另外，在实施方式4中，能够通过时轮来实现本发明的其他指针轮，通过跨轮1404来实现本发明的其他检测轮，通过检测孔1404a来实现本发明的其他检测孔，通过光传感器214来实现本发明的其他光传感器。

由于跨轮1404的转速比分针106b(秒针106c)的指针轮301的转速低，因此光传感器214在将电机304驱动多步的期间检测到明状态。因此，实施方式4的电波校正钟表100从分针106b的基准位置起一步一步地驱动光传感器214，将与从开始检测到“暗状态”→“明状态”→“暗状态”中的明状态起至检测到下一个暗状态的前一个位置为止的步数的二分之一的步数相当的位置设为跨轮1404的基准位置，基于该基准位置来控制跨轮1404的位置。在实施方式4的电波校正钟表100中进行分针106b(秒针106c)的指针轮301以及跨轮1404的调整，以使得在时轮旋转一圈的期间检测一次分针106b(秒针106c)的指针轮301的基准位置，然后在经过预先决定好的规定步之后检测跨轮1404的基准位置。在此，跨轮1404的基准位置若为光传感器214能够检测到明状态的位置，则也可以不是与到最初检测到暗状态的前一个位置为止的步数的二分之一的步数相当的位置。

(跨轮1404的检测所涉及的检测灵敏度调整)

接着，对跨轮1404的检测所涉及的检测灵敏度调整进行说明。跨轮1404的检测所涉及的检测灵敏度的调整通过进行以下的顺序(1)～(6)来实现。

(1)通过驱动电机304使跨轮1404旋转，从而检测跨轮1404的检测位置。在将电机304驱动了使跨轮1404旋转一圈所需的步数(例如617步)的量的情况下也无法检测到跨轮1404的检测位置时，使电机304反转(从跨轮1404的当前位置到分针106b的基准位置为止的步数)+(齿隙量的步数)，在反转后的位置处提高检测灵敏度，再次对跨轮1404的检测位置进行检测。

(2)对从开始能检测到跨轮1404的检测位置起至检测结束为止的步数进行计数，将计数出的步数的中间的位置设定为跨轮1404的基准位置。即，将与从光传感器214自分针106b的基准位置开始检测到明状态起至最初检测到暗状态的前一个的位置为止的步数的二分之一的步数相当的位置设定为跨轮1404的基准位置。在分针基准位置处光传感器214已经检测到明状态的情况下，对约617步后的“暗状态”→“明状态”→“暗状态”进行检测，设定跨轮1404的基准位置。

图15是示出跨轮1404的检测孔1404a与光传感器214的检测位置之间的位置关系的变化的说明图。光传感器214经由在省略图示的底板等上设置的孔而向跨轮1404照射光。在图15中，附图标记1501示出供光传感器214发出的光向跨轮1404照射的孔。

在图15中，在“非检测”时，检测孔1404a与作为光传感器214的检测位置的孔1501的位置不重叠。在“开始能检测到”时，伴随着跨轮1404的旋转，检测孔1404a靠近孔1501，检测孔1404a中的靠近孔1501的一侧的周缘与孔1501的周缘接触。

在跨轮1404位于基准位置的“基准位置”时，检测孔1404a与孔1501完全重合。然后，伴随着跨轮1404的旋转，检测孔1404a与孔1501的重叠程度逐渐地减小，在“检测结束”时，检测孔1404a中的远离孔1501的一侧的周缘与孔1501的周缘接触。然后，检测孔1404a再次向不与孔1501的位置重叠的位置移动。

在跨轮1404的检测所涉及的检测灵敏度调整的顺序(2)中，对图15中的“开始能检测到”时至“检测结束”时的步数进行计数。然后，将与所计数出的步数的二分之一的步数相当的位置设定为跨轮1404的基准位置。

(3)在跨轮1404的基准位置处，逐渐降低光传感器214的检测等级，设定比无法检测到该跨轮1404的检测孔1404a的明状态的检测等级高一级的检测等级、即“第四灵敏度”。

(4)基于(3)的结果来调整光传感器214的LED光度和检测电阻，由此设定较高的灵敏度等级即“第一灵敏度”、较低的灵敏度等级即“第二灵敏度”、以及通常的运针时的光传感器214的检测等级即“第三灵敏度”。该情况下的第一灵敏度被设定为光传感器214不会对跨轮1404的检测位置进行误检测的程度的LED光度(最高光度)，第二灵敏度被设定为比光传感器214能够检测到跨轮1404的检测位置的“第四灵敏度”高的LED光度(最低光度)，第三灵敏度被设定为如上述那样设定好的第一灵敏度与第二灵敏度之间的灵敏度。

(5)在从跨轮1404的基准位置起360/7步、(360/7)×2步、…(360/7)×11步的位置处，确认不利用第一灵敏度进行检测。

(6)设定通常的运针时的第三灵敏度，使电机304反转规定步(例如40步)，并从反转后的位置起进行正转。

然后，对从分针106b(秒针106c)的指针轮301的基准位置起至能够利用第三灵敏度检测到检测孔1404a为止的步数进行计数，将计数出的步数设为X₂步，对从利用第三灵敏度对检测孔1404a开始检测起至非检测为止的步数进行计数，将计数出的步数的二分之一的值设为X₃步，并将与X₂+X₃相关的信息存储于ROM203b等。从分针106b(秒针106c)的指针轮301的基准位置起经过X₂+X₃步数之后的位置为跨轮1404的基准位置。具体而言，ROM203b例如能够通过MONOS(metal-oxide-nitride-oxide-silicon)来实现。

需要说明的是，在(6)中，在设定第三灵敏度之后使电机304反转的步数可以是使位于基准位置的跨轮1404从该基准位置返回至能够检测到跨轮1404的位置(开始检测跨轮1404的位置)为止所需要的步数，具体而言，例如是返回至开始检测位于基准位置的跨轮1404的位置为止所需要的步数与考虑到轮系的齿隙的步数相加而得到的步数。

上述的实施方式4的电波校正钟表100在12小时内存储一次电机304的相位，该电机304的相位是从检测到检测孔1402a、1403a重合起规定步数后至检测到跨轮1404的检测孔1404a为止的电机304的相位。电机304的相位例如存储于ROM203b。电波校正钟表100基于存储的电机304的相位，在12小时内基于从检测到检测孔1402a、1403a重合起使电机304经过规定步数后的跨轮1404的检测孔1404a的有无的检测结果，进行一次针位置检测。

在正常地进行该针位置的检测的情况下，从检测到检测孔1402a、1403a重合起至检测到跨轮1404的检测孔1404a为止驱动电机304的步数能够设为(X₂+X₃)。在此，X₂是从检测到分针的指针轮301的基准位置起至跨轮1404的光传感器214开始检测到发光元件的光为止驱动电机304的步数。X₃是从跨轮1404的光传感器214开始检测到检测孔1404a起至检测到跨轮1404的基准位置为止驱动电机304的步数。步数X₂、X₃基于存储于ROM203b的电机304的相位而决定。

另一方面，在针位置的检测失败的情况下，电波校正钟表100重复针位置的检测，直至再次的分时的针位置检测成功。检测失败时再次进行的分时的针位置的检测根据从检测到分针的指针轮301的基准位置(检测孔1402a、1403a重合了的位置)起至跨轮1404位于基准位置(检测孔1404a被检测到的位置)为止驱动电机304的步数、以及分针的指针轮301旋转一圈的步数而不同。

具体而言，从检测到分针的指针轮301的基准位置起至跨轮1404位于基准位置为止驱动电机304的步数、即(X₂+X₃)在(X₂+X₃)＜360的情况与在(X₂+X₃)≥360的情况下不同。“360”表示检测孔1402a、1403a重合一次的步数。

图16A是示出在(X₂+X₃)＜360的情况下的检测失败时再次进行的分时的针位置检测的原理的说明图。在图16A中，符号“×”表示未检测到作为检测对象的检测孔(检测孔1402a、1403a重叠或者检测孔1404a)，符号“○”表示检测到检测孔。另外，在图16A中，将各符号“×”、“○”包围的四边框表示使与作为检测对象的指针轮(分针106b的指针轮301、跨轮1404)对应的光传感器214、215的发光元件发光的时机。

在图16A中，当分针的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合了的时机相对于分针的指针轮301的基准位置偏移X步时，在从分针的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合起经过(X₂+X₃)步之后，跨轮1404的光传感器214不对检测孔1404a进行检测。因此检测失败。

在(X₂+X₃)＜360的情况下的检测失败时，从分针的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合起将电机304驱动360步的量，在从分针的指针轮301的光传感器215再次检测到检测孔1402a、1403a重合了的位置起将电机304驱动了(X₂+X₃)步的位置处，判断跨轮1404的光传感器214是否检测到检测孔1404a，由此进行再次的分时的针位置检测。重复进行再次的分时的针位置检测，直至成功为止。

在(X₂+X₃)<360的情况下，当分针的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合了的时机相对于之前设定好的分针的指针轮301的基准位置晚几步(例如X步)时，在从之前设定好的分针的指针轮301的基准位置起经过几步之后能够检测到分针的指针轮301的基准位置，在接下来的第一次跨轮1404的检测中能够检测到跨轮1404的基准位置。

另外，在(X₂+X₃)＜360的情况下，当分针的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合了的时机相对于分针的指针轮301的基准位置早几步时，越过跨轮1404的基准位置之后，能够检测到分针的指针轮301的基准位置，然后在第12次跨轮1404的检测中能够检测到跨轮1404的基准位置。

图16B是示出在(X₂+X₃)≥360的情况下的检测失败时再次进行的分时的针位置检测的原理的说明图。在图16B中，符号“×”表示未检测到作为检测对象的检测孔(检测孔1402a、1403a重叠或者检测孔1404a)，符号“○”表示检测到检测孔。另外，在图16B中，将各符号“×”、“○”包围的四边框表示使与作为检测对象的指针轮(分针106b的指针轮301，跨轮1404)对应的光传感器214，215的发光元件发光的时机。

如图16B所示，在(X₂+X₃)≥360的情况下，当分针106b的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合了的时机相对于分针106b的指针轮301的基准位置偏移X步时，从分针106b的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合起经过(X₂+X₃)步之后，跨轮1404的光传感器214不对检测孔1404a进行检测。因此检测失败。

电波校正钟表100在(X₂+X₃)≥360的情况下，在从分针106b的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合起将电机304驱动相当于(X₂+X₃)步与360步的差的步数((X₂+X₃)-360)的量的位置处，判断跨轮1404的光传感器214是否检测到检测孔1404a。

在X₂+X₃)≥360的情况下的检测失败时，从分针106b的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合起将电机304驱动360步的量。然后，在从分针106b的指针轮301的光传感器215再次检测到检测孔1402a、1403a重合了的位置起将电机304驱动了((X₂+X₃)-360)步的位置处，判断跨轮1404的光传感器214是否检测到检测孔1404a，由此进行再次的分时的针位置检测。即使在(X₂+X₃)≥360的情况下，也重复进行再次的分时的针位置检测，直至成功为止。

在(X₂+X₃)≥360的情况下，当分针106b的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合了的时机相对于之前设定好的分针106b的指针轮301的基准位置晚几步(例如X)时，在从之前设定好的分针106b的指针轮301的基准位置起经过几步之后能够检测到分针的指针轮301的基准位置，在接下来的第一次跨轮1404的检测中跨轮1404的检测孔1404a的检测失败，在第二次的跨轮1404的检测中能够检测到跨轮1404的检测孔1404a。

另外，在(X₂+X₃)≥360的情况下，当分针106b的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合了的时机相对于之前设定好的分针106b的指针轮301的基准位置早几步时，在从之前设定好的分针106b的指针轮301的基准位置起经过几步之后能够检测到分针106b的指针轮301的检测孔1402a、1403a重合，在接下来的第一次跨轮1404的检测中能够检测到跨轮1404的检测孔1404a。

需要说明的是，在(X₂+X₃)≥360、且分针106b的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合了的时机相对于之前设定好的分针106b的指针轮301的基准位置晚的情况下，在再次的分时的针位置检测中能够检测到跨轮1404的检测孔1404a为止的时间与从分针106b的指针轮301的基准位置起经过(X₂+X₃)步之后进行跨轮1404的检测孔1404a的检测的情况几乎相等。

另一方面，在(X₂+X₃)≥360、且分针106b的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合了的时机相对于之前设定好的分针106b的指针轮301的基准位置早的情况下，当从分针106b的指针轮301的光传感器215检测到检测孔1402a、1403a重合了起经过(X₂+X₃)步之后进行跨轮1404的检测孔1404a的检测时，跨轮1404的基准位置在第12次的跨轮1404的检测中进行，对于再次的分时的针位置检测而言需要时间。

(分时的针位置检测的处理顺序)

接着，对本发明的实施方式4的电波校正钟表100所进行的分时的针位置检测的处理顺序进行说明。图17是示出本发明的实施方式4的电波校正钟表100所进行的分时的针位置检测的处理顺序的流程图。在受理到对操作部104进行的规定的输入操作的情况下，执行图17的流程图所示的处理。

在图17的流程图中，首先，判断是否检测到分针106b的指针轮(分指针轮)301(步骤S1701)。在步骤S1701中，通过判断分针106b的指针轮301的光传感器215是否检测到检测孔1404a，来判断是否检测到分针106b的指针轮301。在步骤S1701中未检测到分针106b的指针轮301的情况下(步骤S1701：否)，即，在分针106b的指针轮301的光传感器215检测到暗状态的情况下，将电机304驱动一步(步骤S1702)，返回步骤S1701。在步骤S1702中将电机304驱动一步的量，由此分针106b的指针轮301旋转(转动)一步的量。

在步骤S1701中检测到分针106b的指针轮301的情况下(步骤S1701：是)，将检测到的位置设为分针106b的指针轮301的基准位置，将与该分针106b的指针轮301的基准位置相关的信息存储于ROM203b等(步骤S1703)。然后，将电机304驱动(X₂+X₃)步(步骤S1704)。

接着，判断在从分针106b的指针轮301的基准位置起将电机304驱动了(X₂+X₃)步的位置处是否检测到跨轮1404(步骤S1705)。在步骤S1705中，通过判断跨轮1404的光传感器214是否检测到检测孔1404a，来判断是否检测到跨轮1404。

在步骤S1705中，在从分针106b的指针轮301的基准位置起将电机304驱动了(X₂+X₃)步的位置处检测到跨轮1404的情况下(步骤S1705：Y是)，将与检测到的跨轮1404相关的信息存储于ROM203b等(步骤S1706)。另外，将与分针106b的指针轮301的基准位置以及检测到跨轮1404的位置处的电机304的相位相关的信息存储于ROM203b等(步骤S1707)。然后，进行“OK处理”(步骤S1708)，结束一系列的处理。

另一方面，在步骤S1705中，在从分针106b的指针轮301的基准位置起将电机304驱动了(X₂+X₃)步的位置处不检测跨轮1404的情况下(步骤S1705：否)，判断该跨轮1404的检测是否为从开始分时的针位置检测的处理起的第12次(步骤S1709)。由于分针106b的指针轮301每旋转一圈，进行一次跨轮1404的检测，因此，在直至分针106b旋转12圈为止的期间无法检测到跨轮1404的情况下，设想由于某种异常而未检测到检测孔1404a。

在步骤S1709中，在步骤S1705中的跨轮1404的检测为从开始分时的针位置检测的处理起的第12次的情况下(步骤S1709：是)，即，在直至分针106b旋转12圈为止的期间无法检测到跨轮1404的情况下，移至步骤S1713，进行NG处理(步骤S1713)。另一方面，在步骤S1709中，在步骤S1705中的跨轮1404的检测不为从开始分时的针位置检测的处理起的第12次的情况下(步骤S1709：否)，判断从检测到分针106b的指针轮301的基准位置起至跨轮1404位于基准位置为止驱动电机304的步数、即(X₂+X₃)是否为(X₂+X₃)＜360(步骤S1710)。

在步骤S1710中，在为(X₂+X₃)＜360的情况下(步骤S1710：是)，将电机304驱动(360-(X₂+X₃))步(步骤S1711)，移至步骤S1701。在从分针106b的指针轮301的基准位置起将电机304驱动了(X₂+X₃)步的位置处不检测跨轮1404的情况下，在从检测到分针106b的指针轮301的基准位置起将电机304驱动了360步的位置处再次进行分针106b的指针轮301的检测，因此，在步骤S1711中将电机304驱动如下步的量：即，从分针106b的指针轮301旋转一圈所需要的360步减去在步骤S1704中已驱动的(X₂+X₃)步而得到的(360-(X₂+X₃))步的量。

在步骤S1710中，在不为(X₂+X₃)＜360的情况下(步骤S1710：否)，即，在为(X₂+X₃)≥360的情况下，将电机304驱动(360-(X₂+X₃-360))步(步骤S1712)，移至步骤S1701。在从分针106b的指针轮301的基准位置起将电机304驱动了(X₂+X₃)步的位置处不检测跨轮1404的情况下，在从检测到分针106b的指针轮301的基准位置起将电机304驱动了360步的位置处再次进行分针106b的指针轮301的检测，因此，在为(X₂+X₃)≥360的情况下，在步骤S1712中将电机304驱动如下步的量：即，从在步骤S1704中已驱动的(X₂+X₃)步减去分针的指针轮301旋转一圈所需要的360步而得到的(360-(X₂+X₃-360))步的量。

<实施方式5>

接着，对实现本发明的钟表的实施方式5的电波校正钟表的结构进行说明。在实施方式5中，与上述实施方式1～4相同的部分由相同的附图标记示出，并省略说明。

实现本发明的钟表的各实施方式的电波校正钟表100在通常的运针时进行指示针106的基准位置的检测(通常针检)。上述的实施方式1～4的通常针检在作为检测对象的时刻指示针106的基准位置的附近进行。具体而言，例如通过在基准位置以及比基准位置靠前规定步(例如2步)的位置处，使用第三灵敏度等级来分别判断是暗状态还是明状态，由此进行通常针检。

在实施方式5中对通常针检进行说明。通常针检在作为检测对象的时刻指示针106的基准位置的附近进行。具体而言，例如通过在基准位置、比基准位置靠前规定步(例如2步)的位置、以及比基准位置靠后规定步(例如2步)的位置等三个位置以上的LED检测位置处，使用多个灵敏度等级来分别判断是明状态还是暗状态，由此进行通常针检。

(检测孔的开口率与检测等级之间的关系)

接着，对设于检测轮305的检测孔305a的开口率与光传感器214中的检测等级之间的关系进行说明。图18是示出设于检测轮305的检测孔305a的开口率与光传感器214中的检测等级之间的关系的说明图。相对于实施方式1所示的开口率(图5)，倾斜变得缓慢，开口的步数增加。

这样，当每步的检测值的变化(开口变化)变小时，由于检测等级(第三灵敏度)的设定，在通常针检时，在基准位置(参照附图标记1801)以外的位置(参照附图标记1802、1803)处也检测到明状态。因此，当每步的检测值的变化(开口变化)变小时，难以高精度地确定基准位置。

在实施方式5的通常针检中，使光传感器216的检测灵敏度阶段性地降低，在各检测等级中进行是明状态还是暗状态的判断。具体而言，在第一次检测中，将在基准位置X-1处检测不到明状态的非检测等级的前一个检测等级设定为“第3-1灵敏度”。接着，在第二次检测中，将在基准位置X+1处检测不到明状态的非检测等级的前一个检测等级设定为“第3-2灵敏度”。然后，在第三次检测中，将在基准位置X+3处检测不到明状态的非检测等级的前一个检测等级设定为“第3-3灵敏度”。而且，在为“第3-2灵敏度”＜“第3-1灵敏度”且“第3-2灵敏度”＜“第3-3灵敏度”的关系的情况下，判断为能够正确地检测到基准位置X+1。

(通常针检的处理顺序)

图19是示出本发明的实施方式5的电波校正钟表100所进行的通常针检的处理顺序的流程图。在图19的流程图中，示出关于秒针106c的通常针检的处理顺序。在图19的流程图中，首先判断秒针106c(检测轮305)的位置是否为基准位置(步骤S1901)。

在步骤S1901中，判断检测轮305的位置是否为基准位置X+1、比基准位置靠前规定步(例如2步)的位置(基准位置X-1)、以及比基准位置靠后规定步(例如2步)的位置(基准位置X+3)这三个位置中的任一个LED检测位置。另外，在步骤S1901中，例如使用在驱动机构(机芯)209的组装工序中设定好的基准位置以及与电机转向(相位)相关的信息，判断是否为LED检测位置。

在步骤S1901中，在不为LED检测位置的情况下(步骤S1901：否)，逐步地驱动电机304(步骤S1902)，并移至步骤S1901。在步骤S1901中为LED检测位置的情况下(步骤S1901：是)，将秒针106c的光传感器216的检测灵敏度设定为高灵敏度等级(步骤S1903)。在步骤S1903中，能够设定预先设定好的任意的检测灵敏度，具体而言，例如设定为在图18中由附图标记1800示出的检测灵敏度。

接着，使用在步骤S1903中设定好的设定灵敏度等级，判断光传感器216在LED检测位置处是否检测到明状态(步骤S1904)。

在步骤S1904中，在秒针106c的光传感器216检测到明状态的情况下(步骤S1904：是)，将比在步骤S1903中刚刚设定好的设定灵敏度等级低的检测灵敏度设定为新的设定灵敏度等级(步骤S1912)。然后，使用在步骤S1912中设定好的设定灵敏度等级，判断与作为检测对象的时刻指示针106对应的光传感器214是否在LED检测位置处检测到明状态(步骤S1913)。在步骤S1913中检测到明状态的情况下(步骤S1913：是)，移至步骤S1912，另外，将比刚刚设定好的设定灵敏度等级低的检测灵敏度设定为新的设定灵敏度等级。

在步骤S1913中未检测到明状态的情况下(步骤S1913：否)，存储与该LED检测位置的步骤位置以及检测等级(检测不到明状态的设定灵敏度等级)相关的信息(步骤S1914)。然后，将电机304驱动规定步(步骤S1915)，判断是否通过了LED检测位置(步骤S1916)。在步骤S1915中，直至位于下一个LED检测位置为止，例如将电机304驱动两步。

在步骤S1916中通过了LED检测位置的情况下(步骤S1916：是)，移至步骤S1906，直至通过LED检测位置为止，判断是否在LED检测位置处检测到明状态(步骤S1906)。另一方面，在步骤S1916中未通过LED检测位置的情况下(步骤S1916：否)，将秒针106c的光传感器216的检测灵敏度设定为高灵敏度等级(步骤S1903)。

在步骤S1904中，在秒针106c的光传感器216未检测到明状态的情况下(步骤S1904：否)，判断秒针106c是否通过了LED检测位置(步骤S1905)。在步骤S1905中秒针106c未通过LED检测位置的情况下(步骤S1905：否)，移至步骤S1915。

在步骤S1905中秒针106c通过了LED检测位置的情况下(步骤S1905：是)，直至通过LED检测位置为止，判断在LED检测位置处是否检测到明状态(步骤S1906)。在步骤S1906中LED检测位置处未检测到明状态的情况下(步骤S1906：否)，移至步骤S1911。

在步骤S1906中LED检测位置处检测到明状态的情况下(步骤S1906：是)，直至通过LED检测位置为止，确定以检测到明状态的检测灵敏度中的最低的灵敏度检测到的步位置(步骤S1907)。然后，判断在步骤S1907中确定出的、判断为最低的灵敏度的检测灵敏度是否在预先设定好的设定灵敏度等级的50％以内(步骤S1908)。在步骤S1908中，例如，在一系列的通常针检的处理顺序中，判断是否为在步骤S1903中最初设定好的设定灵敏度等级的50％以内。

在实施方式5的电波校正钟表100中，在通常针检之前进行的针检调整模式中，测定检测孔的开口变得最大的位置附近的检测灵敏度，并作为第四灵敏度预先写入ROM203b。若光传感器214的检测灵敏度不随时间变化等而为恒定，则该第四灵敏度与基准位置X+1处的检测灵敏度一致。

实际上，考虑到因随时间变化而引起基准位置X+1处的检测灵敏度相对于第四灵敏度发生变动的情况，使步骤S1908中的判断具有范围，判断是否为在步骤S1903中最初设定好的设定灵敏度等级的50％以内。这样，通过使步骤S1908中的判断具有范围，能够防止因光的回绕等而引起的光传感器214的误检测。另外，通过进行与在针检调整模式中得到的第四灵敏度的比较，能够防止光传感器214的误检测。

在步骤S1908中不为没定灵敏度等级的50％以内的情况下(步骤S1908：否)，移至步骤S1911。在步骤S1908中为设定灵敏度等级的50％以内的情况下(步骤S1908：是)，判断在步骤S1907中确定出的、以最低的灵敏度检测到的步位置是否与基准位置X+1一致(步骤S1909)。

在步骤S1909中，在步骤S1907中确定出的、以最低的灵敏度检测到的步位置与基准位置X+1一致的情况下(步骤S1909：是)，进行OK处理(步骤S1910)，移至步骤S1901。在步骤S1910中，作为OK处理，例如将即使将检测灵敏度降到最低也能够对指针轮301进行检测的位置作为基准位置X+1，将与该基准位置相关的信息存储于ROM203b等。

另外，在步骤S1910中，作为OK处理，例如也可以将与进行了恢复成进行通常运针的模式的处理或者进行了通常针检的处理的日期或日时相关的信息、与通常针检成功了等的处理结果相关的信息存储于ROM203b等。

另一方面，在步骤S1909中，在步骤S1907中确定出的、以最低的灵敏度检测到的步位置与基准位置不一致的情况下(步骤S1909：否)，移至NG处理(步骤S1911)，结束一系列的处理。在步骤S1911中，作为NG处理，例如，也可以将与进行了通常针检的处理的日期或日时相关的信息、与通常针检失败了等的处理结果相关的信息存储于ROM203b等。

这样，实施方式5的电波校正钟表100在通常运针时进行这样的通常针检的处理，降低光传感器216的检测灵敏度直至光传感器216无法检测到为止，将即使使检测灵敏度降到最低也能够对检测轮305进行检测的位置判断为秒针106c的基准位置。

由此，即使在每一步的开口的变化小的情况下，也能够寻找最容易检测的步位置，从而设定基准位置。在将光传感器216的检测灵敏度仅设定为单纯的固定等级的方法中，必须严格地设定如下的三个检测等级之间的关联：即需要进行检测的检测等级、不可以检测的检测等级、以及固定的检测等级。因此，调整变得繁琐，制造时的作业者的负担大。

与此相对，通过利用实施方式5的方法进行通常针检，仅求出最容易检测的位置即可。由此，能够减轻作业者在制造时的负担。

另外，在将光传感器216的检测灵敏度仅设定为单纯的固定等级的方法中，在因随时间变化而引起的光传感器216的检测灵敏度降低的情况下，有可能造成误检测，与此相对，通过利用实施方式5的方法进行通常针检，即使光传感器216的检测灵敏度变差，也只需寻找最容易检测的位置即可，因此即使在光传感器216的检测灵敏度变差的情况下，也能够高精度地确定基准位置，能够提供示出正确时刻的电波校正钟表100。

在上述的实施方式5中，对使光传感器216的检测灵敏度阶段性地下降直至光传感器216无法检测到秒针106c，将即使使检测灵敏度降到最低也能够检测到秒针106c的位置判断为秒针106c的基准位置的方法进行了说明，但是也可以规定降低检测灵敏度的次数(阶段数)。另外，除了秒针106c之外，也可以在检测分针106b、跨轮1404的情况下进行实施。

具体而言，例如能够设定检测等级LV_MA和比该检测等级LV_MA低的检测等级LV_MB这两种检测灵敏度，通过确认最容易检测基准位置X+1来确认基准位置X+1，从而也可以实现通常针检。在该情况下，在任一检测等级LV_MA以及LV_MB下，也分别进行基准位置设定、转向调整、光传感器214的发光元件(LED)的光度调整。

图20是示出跨轮1404的检测孔1404a的开口率与光传感器214中的检测等级之间的关系的说明图。如图20所示，将光传感器214的检测灵敏度设定为检测等级LV_MA、LV_MB，在各检测等级中，在能够确认出最容易检测第二次针检位置(基准位置X+1)的情况下，能够通过该确认结果来实现通常针检。

具体而言，在第一次针检位置X-1处，在设定了检测等级LV_MA以及检测等级LV_MB的任一者的情况下，光传感器214也检测不到明状态(非检测)。另外，在第三次针检位置X+3处，在设定了检测等级LV_MA以及检测等级LV_MB的任一者的情况下，光传感器214也检测不到明状态(非检测)。另一方面，在第二次针检位置X+1处，在设定了检测等级LV_MA以及检测等级LV_MB的任一者的情况下，光传感器214均检测到明状态(检测)。

这样，在设定于三处的针检位置X-1、X+1、X+3中，仅光传感器214在第二次针检位置X+1处检测是否为明状态，并且即使在设定了检测等级LV_MA以及检测等级LV_MB的任一者的情况下，也能够通过确认光传感器214检测到明状态来实现通常针检。

在本发明的实施方式1～5的电波校正钟表100中，也可以对针位置的检测以在不与日期进给轮的处理重叠的位置处进行的方式进行调整。具体而言，以不在0时附近处设定基准位置的方式进行调整，以使得在不与如下的处理重叠的位置处进行针位置的检测，在该处理中，日期进给轮每在24小时内旋转一圈，使日期轮向进给日期的方向旋转(转动)一日的量。更具体而言，例如，能够以不在在以0时为基准的前后5分钟(23时55分至0时05分期间)设定基准位置的方式进行调整。

如以上说明的那样，本发明的实施方式的电波校正钟表100具备：指针轮301，其能够绕轴心旋转；电机304，其与指针轮301连结并使该指针轮301旋转；检测轮305，其能够与指针轮301的旋转连动地绕轴心旋转；检测孔305a，其沿轴心方向贯穿检测轮305；光传感器214(215、216)，其具备发光元件214a和受光元件214b，该发光元件214a对伴随着检测轮305的旋转而移动的检测孔305a的移动轨迹上的检测位置发出光，该受光元件214b以将检测轮305夹在中间的方式与该发光元件214a对置配置；以及控制部401，其基于受光元件214b的受光量对电机304进行驱动控制。

而且，本发明的实施方式的电波校正钟表100的特征在于，控制部401基于受光元件214b的受光量，每将电机304驱动规定步(例如一步)时判断是明状态还是暗状态，并确定在以第一步数(例如2步)连续判断为暗状态之后以第二步数(例如2步)连续判断为明状态的情况下的从暗状态向明状态切换的切换位置X，将与比确定出的切换位置X靠后一个步数的基准位置X+1相关的信息存储于存储部401a。

或者本发明的实施方式的电波校正钟表100的特征在于，控制部401基于受光元件214b的受光量，每将电机304驱动规定步(例如一步)时判断是明状态还是暗状态，并确定在以第一步数(例如2步)连续判断为明状态之后以第二步数(例如2步)连续判断为暗状态的情况下的从明状态向暗状态切换的切换位置X，将与比确定出的切换位置X靠前一个步数的基准位置X-1相关的信息存储于存储部401a。

根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，能够在组装好驱动机构(机芯)209之后设定基准位置X+1、X-1，基于设定好的基准位置X+1、X-1来控制时刻指示针106的位置。由此，不会受到与指针轮301或构成轮系303的齿轮302的位置关系、电机304(电机线圈)的配置方向、从电子电路部向电机304(电机线圈)输出的脉冲信号的初始相位等与构成驱动机构(机芯)209的各部件的组入相关的限制，能够组装驱动机构(机芯)209。

而且，由此能够减轻作业者在电波校正钟表100的制造时的负担。

另外，根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，基于是暗状态还是明状态的判断结果，确定切换位置X，并将比确定出的切换位置X靠后一个步数或者靠前一个步数的位置设定为基准位置X+1、X-1，因此，不用设定“在作为检测对象的指针轮301旋转一圈的期间，检测孔305a仅开口一步”这样的极为严格的条件，能够高精度地设定基准位置X+1、X-1。由此，能够提供示出正确时刻的电波校正钟表100。

为了达到上述那样的严格条件，需要在相对于转子304a的减速比不同的多个齿轮上分别设置检测孔，使这些齿轮在旋转轴心方向上重合多个，在以这样方式设定基准位置的情况下，旋转轴心方向上的厚度变大，难以实现电波校正钟表100的轻薄化。

与此相对，根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，仅使用检测轮305或者除检测轮305之外还使用设有检测孔302a的一个齿轮302，即能够高精度地确定切换位置X，从而高精度地设定基准位置X+1、X-1。由此，能够减少与基准位置X+1、X-1的设定相关的部件个数而实现电波校正钟表100的轻薄化，并且能够减少制造工时。而且，由此能够减轻作业者在电波校正钟表100的制造时的负担。

另外，本发明的实施方式的电波校正钟表100的特征在于，在进行基准位置设定动作时，控制部401在将光传感器214(215、216)的检测灵敏度设定为两个以上的不同的灵敏度的状态下判断是明状态还是暗状态。

根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，通过在设定为两个以上的不同的灵敏度的状态下判断是明状态还是暗状态，能够可靠地进行是明状态还是暗状态的判断。由此，能够高精度地确定从暗状态向明状态切换的切换位置。

由此，即使在检测孔305a的开口直径小等基准位置X+1的设定条件严苛的情况下，也能够高精度地设定基准位置X+1。在电波校正钟表100中，并不局限于上述的图7所示的方法，例如以利用第一灵敏度检测到明状态的位置作为基准在靠前两步的位置处，确认利用第二灵敏度检测到暗状态，由此也能够设定基准位置。

另外，本发明的实施方式的电波校正钟表100的特征在于，控制部401在将光传感器214(215、216)的检测灵敏度设定为比通常的运针时的灵敏度高的第一灵敏度的状态下，确定切换位置X以及基准位置X+1、X-1。

而且，特征在于，在将光传感器214(215、216)的检测灵敏度设定为与通常的运针时的灵敏度相同或者比通常的运针时的灵敏度低的第二灵敏度的状态下，判断在切换位置X的前一步的位置处是否为暗状态，并且判断在基准位置X+1处是否为明状态，在前一步的位置处为暗状态且在基准位置X+1处为明状态的情况下，将与基准位置X+1处的电机304的相位相关的信息存储于存储部401a(ROM203b等)。

另外，特征在于，也可以将从明状态向暗状态切换的位置设为切换位置X，在该情况下，在将光传感器214(215、216)的检测灵敏度设定为第二灵敏度的状态下，判断在切换位置X的前一步的基准位置X-1处是否为明状态，并且判断在位置X+1处是否为暗状态，在前一步的位置X-1处为明状态且在位置X+1处为暗状态的情况下，将与基准位置X-1处的电机304的相位相关的信息存储于存储部401a(ROM203b等)。

根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，通过在将光传感器214(215、216)的检测灵敏度设定为第一灵敏度的状态下确定切换位置X，能够防止切换位置X的误检测。由此，能够高精度地设定基准位置X+1、X-1。而且，由此能够提供示出正确时刻的电波校正钟表100。

另外，本发明的实施方式的电波校正钟表100的特征在于，控制部401在进行基准位置设定动作时，调整发光元件214a的发光强度以及受光元件214b的受光灵敏度中的至少一方，从而设定光传感器214(215、216)的检测灵敏度。

根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，不会被每个电波校正钟表100的光传感器214(215、216)的检测灵敏度的偏差等所左右，能够对每一钟表高精度地确定从暗状态向明状态切换的切换位置X。由此，能够高精度地设定基准位置X+1、X-1。而且，由此能够提供示出正确时刻的电波校正钟表100。

另外，本发明的实施方式的电波校正钟表100的特征在于，控制部401在设定为第一灵敏度的状态下，通过使电机304正转来确定切换位置X以及基准位置X+1(或者基准位置X-1)，然后通过使电机304反转而使检测轮305位于比检测对象位置靠前一步以上的位置，之后使用第二灵敏度进行判断。

根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，在使电机304反转了的情况下，消除了由于在作为机械的钟表中必须设置的轮系(包含检测轮305)的齿隙而使基准位置设定动作等的精度降低的情况，能够高精度地设定基准位置X+1、X-1。而且，由此能够提供示出正确时刻的电波校正钟表100。

另外，本发明的实施方式的电波校正钟表100的特征在于，具备对时刻进行计时的计时功能(计时机构)，控制部401在确定出基准位置X+1的相位的情况下，在通常的运针时，使用比第一灵敏度低、且与第二灵敏度相同或比第二灵敏度高的第三灵敏度，在确定出的相位的时机实施明暗的检测，至少在比切换位置X靠前一步的位置X-1处检测到暗状态、在比切换位置X靠后一步的位置X+1处检测到明状态的同时，进行计时。

或者，控制部401也可以在确定出基准位置X-1的相位的情况下，使用第三灵敏度在确定出的相位的时机实施明暗的检测，至少在比切换位置X靠前一步的位置X-1处检测到明状态、且在比切换位置X靠后一步的位置X+1处检测到暗状态的同时，进行计时。

根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，能够基于高精度地设定的基准位置X+1来控制对时刻指示针106(时针106a、分针106b或者秒针106c)进行支承的指针轮301的位置。由此，能够提供示出正确时刻的电波校正钟表100。在设定时针106a、分针106b以及秒针106c的基准位置的情况下，也可以分别按照时针106a、分针106b以及秒针106c来使用不同的灵敏度，还可以使用相同的灵敏度。在设定时针106a、分针106b以及秒针106c的基准位置时，相位信息分别不同的情况占大半部分。

另外，本发明的实施方式的电波校正钟表100的特征在于，控制部401使光传感器214(215、216)的检测灵敏度阶段性地变化为两个以上的不同的灵敏度，通过在设定为各灵敏度的状态下判断是明状态还是暗状态，确定该光传感器214(215、216)检测不到明状态的非检测等级，基于确定出的非检测等级，将在基准位置以外的位置处检测不到明状态的检测灵敏度确定为第一灵敏度，在设定为第一灵敏度的状态下，确定切换位置X以及基准位置X+1、X-1。

如在实施方式5中说明的那样，基于这种方法的切换位置X以及基准位置X+1、X-1的确定例如能够通过在通常的运针时进行的通常针检来实现。

根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，即使相对于光传感器214(215、216)的输入电流产生偏差、或者因随时间变化而引起光传感器214(215、216)的检测灵敏度降低，也能够高精度地检测基准位置X+1、X-1。由此，能够提供始终示出正确时刻的电波校正钟表100。

另外，本发明的实施方式的电波校正钟表100也可以具备：与指针轮301连结且能够与该指针轮301的旋转连动地绕轴心旋转的日期进给轮；以及与日期进给轮连结且表示日期的日期轮。而且，特征在于，控制部401在基准位置设定动作成功了的情况下，对电机304进行驱动控制而使日期进给轮旋转，由此将该日期轮所示的日期变更为比基准位置设定动作的开始时点的日期晚的日期，在基准位置设定动作失败了的情况下，对电机304进行驱动控制而使日期进给轮旋转，由此将该日期进给轮所示的日期变更为比基准位置设定动作的开始时点的日期早的日期。

根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，即使在钟表的制造工序中未向指针轮301安装指针的状态下，也能够引导基准位置设定动作成功或是失败。由此，电波校正钟表100的制造者能够在向指针轮301安装指针之前，判断基准位置X+1的设定是否成功。

而且，由此在基准位置X+1的设定失败了的情况下，能够在电波校正钟表100的组装完成前采取重新组装等的对应，与在电波校正钟表100的组装完成后确认基准位置X+1的设定是否成功的情况相比，能够减轻作业者在电波校正钟表100的制造时的负担。

另外，本发明的实施方式的电波校正钟表100具备：时轮，该时轮与分指针轮301的旋转连动地旋转，该分指针轮301每旋转规定次数，该时轮旋转一圈；跨轮1404，其与时轮的旋转连动地旋转，并以比该时轮的转速高且比检测轮305的转速低的转速进行旋转；检测孔1404a，其沿跨轮1404的轴心方向贯穿该跨轮1404；以及光传感器214，其对伴随着跨轮1404的旋转而移动的检测孔1404a的移动轨迹上的检测位置发出光。

而且，本发明的实施方式的电波校正钟表100的特征在于，跨轮1404的转速为如下的转速，即：时轮每旋转一圈，光传感器214在从检测轮305位于基准位置起经过规定步之后检测一次检测孔1404a的转速，控制部401基于从检测轮305位于基准位置起经过规定步(X₂+X₃)之后的光传感器214的受光元件的受光量，确定跨轮1404的位置。

根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，能够使用分指针轮301的基准位置的检测(分检测)的结果来进行时针106a的基准位置的检测(时检测)。由此，能够减少与基准位置X+1、X-1的设定相关的部件个数而实现电波校正钟表100的轻薄化，并且能够减少制造工时。而且，由此能够减轻作业者在电波校正钟表100的制造时的负担。

另外，本发明的实施方式的电波校正钟表100的特征在于，控制部401基于光传感器214检测出明状态的期间的步数来确定跨轮1404的位置。在电波校正钟表100中并不局限于跨轮1404，也可以基于检测轮305的光传感器214检测出明状态的期间的步数来确定指针轮301的位置。

根据本发明的实施方式的电波校正钟表100，由于在将电机304驱动多步的整个期间检测明状态，因此即使在每步的检测值的变化(开口变化)小的情况下，也能够高精度地确定基准位置。而且，由此能够提供示出正确时刻的电波校正钟表100。

工业实用性

如以上那样，本发明的钟表在基于确定出的指针的位置来显示时刻的钟表中是有用的，尤其适合基于接收到的电波所包含的时刻信息来校正显示时刻的钟表。

附图标记说明：

100 电波校正钟表

106 时刻指示针

106a 时针

106b 分针

106c 秒针

301 指针轮

304 电机

304a 转子

305 检测轮

305a 检测孔

401 控制部

401a 存储部

1402a、1403a 检测孔

1404 跨轮