专利名称：一种实现dimm测试的方法
技术领域：
本发明涉及一种微电子技术领域，具体地说是一种提高DMM的测试效率的测试方法。
背景技术：
DIMM (Dual Inline Memory Modules,双列直插式存储模块)，即通常所讲的内存条。具体分为UDIMM (Unbuffered DIMM,无缓冲双列直插式存储模块，通常用于普通商业 /家庭主机)和RDIMM (Registered DIMM，寄存器双列直插式存储模块，通常用于服务器)。
通常的内存测试，是通过计算机主板，利用专用软件进行读写测试。受限于一般计算机主板不支持RDIMM，服务器主板价格高昂，同时DIMM插槽在主板上数量有限，而且专用测试软件测试速度偏慢。这为DIMM的新产品研发带来了不方便。发明内容
本发明的技术任务是针对在现有技术的不足，提供一种提高DIMM的测试效率的测试方法。
本发明的技术方案是按以下方式实现的，该一种实现DIMM测试的方法，其具体实现步骤为首先将现场可编程门阵列FPGA芯片连接控制芯片、高速接口和多个通道的双列直插式存储模块DIMM逻辑接口，由FPGA芯片、控制芯片、高速接口、DIMM逻辑接口组成DIMM验证系统，该验证系统形成一电子盘；然后通过高速接口将主设备端的读写指令向系统发送； 最后由控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作，实现 DIMM测试。
所述DIMM逻辑接口包括UDIMM逻辑逻辑和RDIMM逻辑逻辑。
所述的高速接口是指SATA接口。
所述的控制芯片是指ARM芯片。
所述FPGA芯片内部包括AHB总线、DIMM选择逻辑、时钟/控制信号缓冲逻辑、DIMM 控制逻辑、总线矩阵、DMA、SATA控制逻辑和片上存储，在系统上电后，系统根据DIMM信号， 由DI匪选择逻辑的仲裁器控制选择器来选择DI匪控制和时钟信号的通路如为UDI匪则直接接入DIMM控制逻辑，如为RDIMM则通过时钟/控制信号缓冲逻辑接入DIMM控制逻辑。
所述总线矩阵为多个通道的DIMM提供每个通道的独立总线。
所述DMA支持高速读写数据传输。
本发明与现有技术相比所产生的有益效果是本发明的一种提高DIMM的测试效率的测试方法，利用FPGA编程的灵活性，实现DIMM 逻辑，并且具备支持UDMM和RDIMM，测试速度快，测试效率高，可高速读写，具有很好的推广使用价值。
附图1是本发明的实现方法的结构框图。
附图2是本发明的FPGA芯片中DIMM逻辑的结构框图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明所提供的一种实现DIMM测试的方法作以下详细说明。
为提高DIMM测试效率，实现告诉读写。如附图1所示，现在提供一种实现DIMM测试的方法，其具体实现步骤为首先将现场可编程门阵列FPGA芯片连接控制芯片、高速接口和多个通道的双列直插式存储模块DIMM逻辑接口，由FPGA芯片、控制芯片、高速接口、DIMM逻辑接口组成DIMM验证系统，该验证系统形成一电子盘；然后通过高速接口将主设备端的读写指令向系统发送； 最后由控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作，实现 DMM测试；所述DIMM逻辑接口包括UDIMM逻辑逻辑和RDIMM逻辑逻辑；所述的高速接口是指SATA接口 ；所述的控制芯片是指ARM芯片。
如附图2所示，所述FPGA芯片内部包括AHB总线、DMM选择逻辑、时钟/控制信号缓冲逻辑、DIMM控制逻辑、总线矩阵、DMA、SATA控制逻辑和片上存储，在系统上电后，系统根据DIMM信号，由DIMM选择逻辑的仲裁器控制选择器来选择DIMM控制和时钟信号的通路如为UDIMM则直接接入DIMM控制逻辑，如为RDIMM则通过时钟/控制信号缓冲逻辑接入DIMM控制逻辑；所述总线矩阵为多个通道的DIMM提供每个通道的独立总线；所述DMA支持高速读写数据传输。
由于FPGA芯片编程的灵活性，实现DIMM逻辑，并且具备兼容UDIMM和RDIMM。
下面以控制芯片采用ARM7测试芯片，10个通道的DMM为例，做以下详细说明 由FPGA芯片、ARM7芯片、SATA逻辑、DIMM逻辑组成FPGA平台，该平台形成一个电子盘，Host端通过高速接口向系统发送读写指令，ARM7芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作。
这样就可由一块测试板，达到兼容10个通道的RDIMM或UDIMM，并且可高速读写， 从而提高DIMM的测试效率。
除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。
权利要求
1.一种实现DIMM测试的方法，其特征在于其具体实现步骤为首先将现场可编程门阵列FPGA芯片连接控制芯片、高速接口和多个通道的双列直插式存储模块DIMM逻辑接口， 由FPGA芯片、控制芯片、高速接口、DIMM逻辑接口组成DIMM验证系统，该验证系统形成一电子盘；然后通过高速接口将主设备端的读写指令向系统发送；最后由控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作，实现DIMM测试。
2.根据权利要求1所述的一种实现DIMM测试的方法，其特征在于所述DIMM逻辑接口包括UDIMM逻辑逻辑和RDIMM逻辑逻辑。
3.根据权利要求1所述的一种实现DIMM测试的方法，其特征在于所述的高速接口是指 SATA 接口。
4.根据权利要求1所述的一种实现DIMM测试的方法，其特征在于所述的控制芯片是指 ARM芯片。
5.根据权利要求1所述的一种实现DIMM测试的方法，其特征在于所述FPGA芯片内部包括AHB总线、DI匪选择逻辑、时钟/控制信号缓冲逻辑、DI匪控制逻辑、总线矩阵、DMA、 SATA控制逻辑和片上存储，在系统上电后，系统根据DIMM信号，由DIMM选择逻辑的仲裁器控制选择器来选择DIMM控制和时钟信号的通路如为UDIMM则直接接入DIMM控制逻辑，如为RDIMM则通过时钟/控制信号缓冲逻辑接入DIMM控制逻辑。
6.根据权利要求5所述的一种实现DIMM测试的方法，其特征在于所述总线矩阵为多个通道的DIMM提供每个通道的独立总线。
7.根据权利要求5所述的一种实现DIMM测试的方法，其特征在于所述DMA支持高速读写数据传输。
全文摘要
本发明提供一种实现DIMM测试的方法，其具体实现步骤为首先将现场可编程门阵列FPGA芯片连接控制芯片、高速接口和多个通道的双列直插式存储模块DIMM逻辑接口，由FPGA芯片、控制芯片、高速接口、DIMM逻辑接口组成DIMM验证系统，该验证系统形成一电子盘；然后通过高速接口将主设备端的读写指令向系统发送；最后由控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作，实现DIMM测试。该一种实现DIMM测试的方法和现有技术相比，测试速度快，测试效率高，可高速读写，具有很好的推广使用价值。
文档编号G06F11/22GK102508749SQ201110318440
公开日2012年6月20日 申请日期2011年10月19日 优先权日2011年10月19日
发明者于治楼, 姜凯, 沈忱 申请人:浪潮电子信息产业股份有限公司