一种智能手持设备的硬件故障的检测方法及检测装置制造方法

文档序号:6511587阅读:214来源:国知局
一种智能手持设备的硬件故障的检测方法及检测装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及集成电路领域,尤其涉及一种智能手持设备的硬件故障的检测方法及检测装置,以解决现有技术中,电子产品进行硬件检测时所需的检测时间较长,时间成本较高的问题。本发明实施例采用将Linux系统内核加载到待检测设备上,并启动待检测设备的Linux系统;在Linux系统下启动硬件检测程序,对待检测设备进行硬件检测;将检测结果通过Linux系统在待检测设备上显示;避免了现有的硬件检测方法需要同时启动Android系统和Linux系统,启动时间较长的问题;本发明实施例中启动待检测设备的Linux系统,减少了Android系统的烧录以及启动时间,缩短了硬件检测的时间长度,降低了硬件检测的时间成本。
【专利说明】一种智能手持设备的硬件故障的检测方法及检测装置

【技术领域】
[0001] 本发明涉及集成电路领域,尤其涉及一种智能手持设备的硬件故障的检测方法及 检测装置。

【背景技术】
[0002] 随着超大规模集成电路复杂度的增加,硬件系统出现单粒子翻转(SEU,Single Event Upset)和单粒子闭锁(SEL,Single Event Latchup)的概率增加,由单粒子翻转引发 的硬件系统瞬时故障,和由单粒子闭锁引发的硬件系统的永久故障使系统的可靠性降低。 因此为了避免出现故障的电子产品流入市场,需要在出厂前对电子产品进行硬件检测。现 有技术中,对电子产品进行硬件检测时都需要一些操作系统进行辅助,以便于用户识别检 测结果。如图1所示,为一种智能手持设备的硬件检测的方法,该检测方法通过Android系 统辅助,将检测结果通过Android界面显示出来,该方法包括 :
[0003] 步骤101 :在待检测机器上烧录一个固件,该固件包括Linux内核,Android系统, 以及硬件系统的检测程序;
[0004] 步骤102 :将固件中的Linux内核,Android系统,以及硬件系统的检测程序加载到 待检测机器上;
[0005] 步骤103 :启动待检测设备上的Android系统;
[0006] 步骤104 :在Android系统下,打开硬件系统的检测程序,检测程序在Linux系统 内,对待检测机器的硬件系统进行检测;
[0007] 步骤105 :将检测结果在Android系统对应的界面上显示出来。
[0008] 上述硬件检测方法需要在Android系统启动之后才能进行硬件检测。
[0009] 因此现有技术中,对电子产品进行硬件检测时所需的检测时间较长,硬件检测的 时间成本较高。


【发明内容】

[0010] 本发明实施例提供一种智能手持设备的硬件故障检测方法及检测装置,以解决现 有技术中,电子产品进行硬件检测时所需的检测时间较长,硬件检测的时间成本较高的问 题。
[0011] 本发明实施例提供一种智能手持设备的硬件故障的检测方法,该方法包括:
[0012] 将Linux系统内核加载到待检测设备上,并启动待检测设备的Linux系统;
[0013] 在Linux系统下启动硬件检测程序,对待检测设备进行硬件检测;
[0014] 将检测结果通过Linux系统在待检测设备上显示。
[0015] 本发明实施例提供了一种智能手持设备的硬件故障的检测装置,该装置包括:
[0016] 系统启动单元,用于将Linux系统内核加载到待检测设备上,并启动待检测设备 的Linux系统;
[0017] 检测单元,用于在Linux系统下启动硬件检测程序,对待检测设备进行硬件检测;
[0018] 显示单元,用于将检测结果通过Linux系统在待检测设备上显示。
[0019] 本发明实施例提供一种智能手持设备的硬件故障检测方法,将Linux系统内核加 载到待检测设备上,并启动待检测设备的Linux系统;在Linux系统下启动硬件检测程序, 对待检测设备进行硬件检测;将检测结果通过Linux系统在待检测设备上显示;避免了对 电子产品进行硬件检测时所需的检测时间较长,硬件检测的时间成本较高的问题。现有的 硬件检测方法需要在Android系统启动之后才能进行硬件检测,而Android系统首次启动 时间较长,大约需要2min左右;本发明实施例中通过Linux系统内核直接启动Linux系统, 通过硬件检测程序对待检测设备进行硬件检测,减少了进行Android系统启动的时间,缩 短了硬件检测的时间长度,降低了硬件检测的时间成本。

【专利附图】

【附图说明】
[0020] 图1为现有技术中一种智能手持设备的硬件故障的检测方法的流程示意图;
[0021] 图2为本发明实施例中一种智能手持设备的硬件故障的检测方法的流程示意图;
[0022] 图3为本发明实施例中智能手持设备的启动Linux系统内核和加载硬件驱动程序 的时间统计图;
[0023] 图4为本发明实施例中将Linux系统内核烧录在SD卡上进行智能手持设备的硬 件检测的方法的流程示意图;
[0024] 如图5为本发明实施例中一种智能手持设备的硬件故障的检测装置的示意图。

【具体实施方式】
[0025] 本发明实施例提供一种智能手持设备的硬件故障检测方法,将Linux系统内核加 载到待检测设备上,并启动待检测设备的Linux系统;在Linux系统下启动硬件检测程序, 对待检测设备进行硬件检测;将检测结果通过Linux系统在待检测设备上显示;避免了对 电子产品进行硬件检测时所需的检测时间较长,硬件检测的时间成本较高的问题;减少了 进行Android系统启动的时间,缩短了硬件检测的时间长度,降低了硬件检测的时间成本。
[0026] 如图2所示,为本发明实施例提供了一种智能手持设备的硬件故障的检测方法, 该方法包括:
[0027] 步骤201 :将Linux系统内核加载到待检测设备上,并启动待检测设备的Linux系 统;
[0028] 步骤202 :在Linux系统下启动硬件检测程序,对待检测设备进行硬件检测;
[0029] 步骤203 :将检测结果通过Linux系统在待检测设备上显不。
[0030] 步骤201中,Linux系统内核可以烧录在与待检测设备连接的外部存储介质上,形 成一个硬件检测固件;也可以烧录在待检测设备上,形成一个硬件检测固件。当Linux系统 内核烧录在与待检测设备连接的外部存储介质上时,硬件检测程序可以与Linux系统内核 烧录在同一个硬件检测固件中,也可以将硬件检测程序烧录在待检测设备上。Linux系统内 核烧录在待检测设备上时,可以烧录在待检测设备的硬盘中,或待检测设备的内部存储介 质中。
[0031] 当Linux系统内核烧录在与待检测设备连接的外部存储介质上时,每次对待检测 设备进行检测时,将存储介质与待检测设备进行连接。如将Linux系统内核烧录在SD卡上, 将SD卡插入待检测设备,将SD卡中的Linux系统内核加载到待检测设备上,启动待检测设 备的Linux系统。将Linux系统内核烧录在外部存储介质上,每次对待检测设备进行检测 时,只需将存储介质与待检测设备进行连接,避免了每次对待检测设备进行检测都在待检 测设备上烧录硬件检测固件,减少了硬件检测过程中烧录硬件系统内核的时间,缩短了硬 件检测过程的时间长度,降低了硬件检测的时间成本。
[0032] 如表1所示为采用将本发明进行硬件检测所需的时间和检测的故障覆盖率,以及 采用现有技术进行硬件检测所需的时间和检测的故障覆盖率的对比结果。从表中可以看 出,采用本发明进行硬件故障的检测,其检测时间从现有技术的240s左右降低至47s左右, 大大减少了检测所需的时间,并且检测的故障覆盖率没有降低。
[0033]
[0034] 表 1

【权利要求】
1. 一种智能手持设备的硬件故障的检测方法,其特征在于,该方法包括: 将Linux系统内核加载到待检测设备上,并启动待检测设备的Linux系统; 在Linux系统下启动硬件检测程序,对待检测设备进行硬件检测; 将检测结果通过Linux系统在待检测设备上显示。
2. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述启动待检测设备的Linux系统,包括: 运行Linux系统中的字库; 所述将检测结果通过Linux系统在待检测设备上显示出来,包括: 当待检测设备检测完成后,将检测结果通过Linux系统中的字库在待检测设备上显 /_J、1 〇
3. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将Linux系统内核加载到待检测设备上 之前,还包括: 将所述Linux系统内核烧录在待检测设备上;或 将所述Linux系统内核烧录在与待检测设备连接的外部存储介质中。
4. 如权利要求1?3任一所述的方法,其特征在于,所述硬件检测程序烧录在待检测设 备中;或 所述硬件检测程序烧录在与待检测设备连接的外部存储介质中。
5. -种智能手持设备的硬件故障的检测装置,其特征在于,该装置包括: 系统启动单元,用于将Linux系统内核加载到待检测设备上,并启动待检测设备的 Linux系统; 检测单元,用于在Linux系统下启动硬件检测程序,对待检测设备进行硬件检测; 显示单元,用于将检测结果通过Linux系统在待检测设备上显示。
6. 如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述系统启动单元具体用于:运行Linux系 统中的字库; 所述显示单元具体用于: 当待检测设备检测完成后,将检测结果通过Linux系统中的字库在待检测设备上显 /_J、1 〇
7. 如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述Linux系统内核烧录在待检测设备上; 或所述Linux系统内核烧录在与待检测设备连接的外部存储介质中。
8. 如权利要求5?7任一所述的装置,其特征在于,所述硬件检测程序烧录在在待检测 设备中;或所述硬件检测程序烧录在与待检测设备连接的外部存储介质中。
【文档编号】G06F11/28GK104216810SQ201310419459
【公开日】2014年12月17日 申请日期:2013年9月13日 优先权日:2013年9月13日
【发明者】杨东虎, 韩程程, 鹿剑, 江峰 申请人:上海炬力集成电路设计有限公司
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