污点追踪的方法和装置与流程

文档序号:12803277阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明公开了一种污点追踪的方法和装置。其中,该方法包括:初始化追踪队列和污点队列,并将处于指令队列中的第一指令的指令数据保存至追踪队列和污点队列;将第一指令的第一寄存器集合T和第一寄存器传播集合P1进行并集运算,得到集合M;获取指令队列中第二指令的指令数据;将第二指令的第二寄存器集合N与集合M进行交集运算,得到集合K;如果集合K不为空,从集合K中提取受污染的寄存器放入污染寄存器集合L;采用上述步骤来遍历处理指令队列中的所有指令,追踪得到指令队列中所有的污点寄存器。本发明解决了现有技术中的寄存器反向追踪方法在寄存器反向追踪的过程中,追踪寄存器的数量单一而且追踪过程不彻底的技术问题。

技术研发人员:徐胜
受保护的技术使用者:阿里巴巴集团控股有限公司
技术研发日:2015.12.25
技术公布日:2017.07.04
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