技术总结
本发明涉及一种数据存储高速串行接口可测性结构及其FPGA通路测试方法，属于数据存储技术领域。本发明提供的一种数据存储高速串行接口可测性结构及其FPGA通路测试方法，不采用对高速串行线路进行加测试点、引出额外线路等影响信号完整性的方法，通过灵活布置通道2选1芯片，将FPGA芯片控制SATA控制器芯片的通路切换到SATA接口，实现了FPGA通路的可测性，便于用SATA协议分析仪对FPGA通路进行通路信号完整性和SATA协议分析。
技术研发人员：杨硕;周津;杨阳;何全
受保护的技术使用者：天津津航计算技术研究所
文档号码：201610898204
技术研发日：2016.10.14
技术公布日：2017.02.15