本发明属于ATE测试板布局的技术领域，具体涉及一种ATE测试板快速布局系统和方法。
背景技术：
复杂PCB的设计一般都是采用功能强大的布局布线设计工具。布局布线设计工具是一个交互的环境，用于建立和编辑复杂的多层PCB，其丰富功能可以满足当今世界设计和制造的需求。针对目标按时完成系统的协同设计，使PCB设计平台能够协同设计高性能的集成电路、封装和PCB的互连，降低成本并加快产品上市。众多品牌的布局布线设计工具除了本身拥有丰富的功能外，还允许使用者通过合适的语言对软件进行二次开发，从而开发出满足特定需求的设计的辅助功能。
芯片在晶圆级别和封装完成后都要进行测试，一般会采用自动测试设备(ATE)，ATE包含测试机台、测试头和显示设备，其中和芯片直接接触的是测试头上的芯片载板Load board和与晶圆接触的Probe card。芯片载板Load board结构有一定的特点，如图1所示：1、第1、2区域是与机台相连接的区域，对于固定配置的机台，这两个区域是不会变化的；2、第3、4、5、6四个区域是设计区域，对应不同的芯片需要进行不同电路的设计都在这些区域；3、根据客户对同时测试芯片的个数要求不同，第3、4、5、6区域所放置的芯片座(socket)的数量亦不相同，一般同测芯片数量为2、4、8个；4、四个区域元器件放置的特点：①3、4、5、6区域电子元器件放置的位置顺序是一致的，相当于3区域的元器件放置拷贝到其他区域；②4区域与3区域关于Y轴对称，5、6区域与3、4区域又关于X轴对称，相当于将3区域的器件摆放位置，关于X、Y、原点进行镜像到其他区域；③为了便于识别器件所在区域，一般器件编号都遵循一定的规则。例如电阻R1在DUT1部分叫做R1001或者D1_R1，在DUT2部分则叫做R2001或者D2_R1。
针对于上述芯片载板Load board的结构特点，现在对于3、4、5、6区域进行电子元器件布局的方法主要是：1、根据原理图，先将3区域的器件摆放完毕；2、选中3区域DUT电路中的器件，创建MDD模块复用文件；3、通过使用模块复用命令将4区域的器件选中，进行模块复用，得到和3区域一样的电路；4、通过坐标定位，将器件放置到4区域，同样的方法放置5、6区域的器；5、由于使用模块复用命令会出现某些器件的网络对应关系错乱，因此需要对器件位置，参考3区域的顺序进行逐个排查，将放错的器件替换为正确的器件。
现有的设计软件功能所能提供的最便捷的办法就是上述方法了，如上所述采用模块复用的设计方法有如下弊端：1、Load board通常有30到50层，器件pin数达到数万pin，一个load board包含了大量的数据，设计数据的大小通常有几十到一百多兆；模块复用功能使用时将瞬间增大计算机数据的处理量，通常会将计算机卡死或者软件假死；更有甚者由于性能较差的电脑无法完成任务处理而出现软件闪退或者电脑蓝屏；2、模块复用本身只能复制3区域电子元器件的布局，对于需要进行镜像等操作布局的Load board则无能为力，设计者不得不对每个区域进行布局，这将耗费相当长的时间完成所有的器件布局；布局3区域的模块需要2-3天时间，布局其他区域的模块至少也要2-3天时间；3、使用模块复用命令会出现某些器件的网络对应关系错乱，因此需要对器件位置，参考3区域的顺序进行逐个排查，将放错的器件替换为正确的器件，这个工作量也会用1天左右，设计者需要先选择4区域中器件对应3区域的器件，有时软件会自动识别，但是做出来是错误的，仍然需要设计者逐个检查器件摆放。Load board设计时间客户一般都要求3周左右完成。如果将大量的时间浪费在布局阶段，将会对交期产品严重影响。更多时候设计者不得不放弃周末，连续加班将工作进度往前赶。如果缩短了布局阶段的设计时间，将会为后面的布线留出更多的时间。如此设计者更能从容掌握设计进度，提高设计效率。
综上所述：针对Load board的布局设计，目前很多公司并没有开发出一个更加有效率的功能，让设计者能够进行方便布局。
技术实现要素：
本发明克服现有技术存在的不足，所要解决的技术问题为：提供一种缩短Load board布局设计时间，提高设计效率的ATE测试板快速布局系统和方法。
为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：一种ATE测试板快速布局方法，包括以下步骤：S101、对布局行为和布局单元数目进行初始化设置；S102、选择需要布局的器件；S103、获取器件的相关属性；S104、在当前文件夹下创建存储文件；S105、使用遍历函数对需要布局的器件进行逐个数据操作，根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，将操作数据导出至步骤S104中创建的存储文件中；S106、判断遍历函数是否遍历结束，如是，执行步骤S107，否则，返回步骤S105；S107、根据存储文件中保存的操作数据，对相关单元区域的器件进行布局。
优选地，所述根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，具体包括：读取初始化的布局单元数目；根据所述布局单元数目，屏蔽不可能进行布局的单元区域；读取初始化的布局行为；根据所述布局行为，对器件进行相应操作；判断器件的当前旋转角度是否大于360°；如是，则将器件的最终旋转角度调整为：180°-当前旋转角度，否则，执行步骤S107。
优选地，所述获取器件的相关属性之后，还包括：将器件的位号分离出来重新进行标记。
优选地，遍历函数遍历结束后，对所有操作数据进行再次保存。
相应地，一种ATE测试板快速布局系统，包括：初始化模块：用于对布局行为和布局单元数目进行初始化设置；选择模块：用于选择需要布局的器件；获取模块：获取器件的相关属性；创建模块：在当前文件夹下创建存储文件；遍历操作模块：用于使用遍历函数对需要布局的器件进行逐个数据操作：根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，将操作数据导出至创建的存储文件中；判断模块：用于判断遍历函数是否遍历结束；布局模块：用于根据存储文件中保存的操作数据，对相关单元区域的器件进行布局。
优选地，所述遍历操作模块，包括：第一读取单元：用于读取初始化的布局单元数目；屏蔽单元：用于根据所述布局单元数目，屏蔽不可能进行布局的单元区域；第二读取单元：用于读取初始化的布局行为；操作单元：用于根据所述布局行为，对器件进行相应操作；判断单元：用于判断器件的当前旋转角度是否大于360°；调整单元：用于当器件的当前旋转角度大于360°时，将器件的最终旋转角度调整为：180°-当前旋转角度。
优选地，还包括：标记模块：用于将器件的位号分离出来重新进行标记。
优选地，还包括：保存模块：用于遍历函数遍历结束后，对所有操作数据进行再次保存。
本发明与现有技术相比具有以下有益效果：本发明针对Load board的电路布局设计的特点，能够让设计者布局完基准区域器件的情况下，自动完成其他区域器件关于基准区域器件镜像或者复制的布局操作，缩短了Load board布局设计时间，提高了设计效率。
附图说明
下面结合附图对本发明做进一步详细的说明；
图1为芯片载板Load board的结构特点示意图；
图2为本发明实施例一提供的一种ATE测试板快速布局方法的流程示意图；
图3为本发明实施例二提供的一种ATE测试板快速布局方法的流程示意图；
图4为本发明实施例一提供的一种ATE测试板快速布局系统的结构示意图；
图5为本发明实施例二提供的一种ATE测试板快速布局系统的结构示意图；
图6为本发明实施例三提供的一种ATE测试板快速布局系统的结构示意图；
图中：101为初始化模块，102为选择模块，103为获取模块，104为创建模块，105为遍历操作模块，106为判断模块，107为布局模块，108为标记模块，109为保存模块，1051为第一读取单元，1052为屏蔽单元，1053为第二读取单元，1054为操作单元，1055为判断单元，1056为调整单元。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图2为本发明实施例一提供的一种ATE测试板快速布局方法的流程示意图，如图2所示，一种ATE测试板快速布局方法，包括以下步骤：
S101、对布局行为和布局单元数目进行初始化设置。
S102、选择需要布局的器件。
S103、获取器件的相关属性。
S104、在当前文件夹下创建存储文件。
S105、使用遍历函数对需要布局的器件进行逐个数据操作，根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，将操作数据导出至步骤S104中创建的存储文件中。
S106、判断遍历函数是否遍历结束，如是，执行步骤S107，否则，返回步骤S105。
S107、根据存储文件中保存的操作数据，对相关单元区域的器件进行布局。
具体地，针对于Load board的电路布局设计的特点，步骤S101中，所述布局行为可包括复制、镜像等，所述布局单元数目可为2、或为4、或为8。
具体地，步骤S103中，所述器件的相关属性包括：Refdes、X坐标、Y坐标、旋转角度、是否镜像、封装名等。
具体地，步骤S104中，所述存储文件的文件名可为place_txt.txt，用于存储导出的未摆放原件的数据，数据格式可为placement。
具体地，所述遍历函数可为foreach函数。
进一步地，所述根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，具体可包括：
读取初始化的布局单元数目。
根据所述布局单元数目，屏蔽不可能进行布局的单元区域。
读取初始化的布局行为。
根据所述布局行为，对器件进行相应操作。
判断器件的当前旋转角度是否大于360°。
如是，则将器件的最终旋转角度调整为：180°-当前旋转角度，否则，执行步骤S107。
进一步地，所述获取器件的相关属性之后，还可包括：
将器件的位号分离出来重新进行标记。
进一步地，遍历函数遍历结束后，对所有操作数据进行再次保存。
本实施例通过使用现有的布局布线设计工具所提供的函数接口，使用skill语言编写出相关的源程序代码；为了避免程序消耗过多的资源，放弃使用类似模块复用中需要整理器件网络、位号等数据，仅仅提取器件的相关信息；通过对基准区域的器件属性中的Refdes、X坐标、Y坐标、旋转角度、是否镜像、封装名等信息进行数据处理，得到其他区域的器件属性信息；将得到的其他区域的器件信息按照规定的格式(如placement格式)进行导出；将导出的placement导入到设计文件中，完成其他区域的器件布局。
图3为本发明实施例二提供的一种ATE测试板快速布局方法的流程示意图，如图3所示，一种ATE测试板快速布局方法，可包括以下步骤：
S201、初始化布局行为和单元数目。
S202、选择基准区域的器件。
S203、获取被选择器件的相关属性。
S204、将器件的位号分离出来进行重新标记。
S205、在当前文件夹下创建存储文件。
S206、使用foreach函数对需要布局的器件进行逐个数据操作。
S207、判断单元数目的数值，如为2，则执行步骤S209，如为4，则执行步骤S208，如为8，则执行步骤S210。
S208、确定4个单元器件的排列方式。
S209、屏蔽不可能进行布局的单元区域。
S210、判断初始化的布局行为是否为镜像，如是，执行步骤S211，否则，执行步骤S212。
S211、对器件进行镜像操作，然后执行步骤S213。
S212、对器件进行复制操作。
S213、判断当前的旋转角度是否大于360°，如是，执行步骤S214，否则，执行步骤S215。
S214、将器件的最终旋转角度调整为：180°-当前旋转角度。
S215、将操作数据按照规定的格式导出至步骤S205中创建的存储文件中。
S216、判断foreach函数是否遍历结束，如是，执行步骤S217，否则，返回步骤S206。
S217、对存储文件中的所有操作数据进行再次保存。
S218、根据存储文件中保存的操作数据，对相关单元区域的器件进行布局。
上述实施例一和实施例二针对Load board的电路布局设计的特点，能够让设计者布局完基准区域器件的情况下，自动完成其他区域器件关于基准区域器件镜像或者复制的布局操作，缩短了Load board布局设计时间，提高了设计效率。
图4为本发明实施例一提供的一种ATE测试板快速布局系统的结构示意图，如图4所示，相应地，一种ATE测试板快速布局系统，包括：
初始化模块101：用于对布局行为和布局单元数目进行初始化设置。
选择模块102：用于选择需要布局的器件。
获取模块103：获取器件的相关属性。
创建模块104：在当前文件夹下创建存储文件。
遍历操作模块105：用于使用遍历函数对需要布局的器件进行逐个数据操作：根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，将操作数据导出至创建的存储文件中。
判断模块106：用于判断遍历函数是否遍历结束。
布局模块107：用于根据存储文件中保存的操作数据，对相关单元区域的器件进行布局。
图5为本发明实施例二提供的一种ATE测试板快速布局系统的结构示意图，如图5所示，在实施例一的基础上，所述遍历操作模块105，可包括：
第一读取单元1051：用于读取初始化的布局单元数目。
屏蔽单元1052：用于根据所述布局单元数目，屏蔽不可能进行布局的单元区域。
第二读取单元1053：用于读取初始化的布局行为。
操作单元1054：用于根据所述布局行为，对器件进行相应操作。
判断单元1055：用于判断器件的当前旋转角度是否大于360°。
调整单元1056：用于当器件的当前旋转角度大于360°时，将器件的最终旋转角度调整为：180°-当前旋转角度。
图6为本发明实施例三提供的一种ATE测试板快速布局系统的结构示意图，如图6所示，在实施例一的基础上，所述ATE测试板快速布局系统还可包括：
标记模块108：用于将器件的位号分离出来重新进行标记。
保存模块109：用于遍历函数遍历结束后，对所有操作数据进行再次保存。
本发明避免了设计软件实时操作每一个器件带来的弊端，而是获取基准区域参考器件的相关属性信息，并对信息进行处理，从而得到其他区域器件的坐标信息，角度信息等。此过程避免了大量的数据处理，并且能够灵活设置镜像，复制等模式，能够适用大部分的load board布局环境；此外，本发明可作为一个功能标签集成到现有的设计软件中，方便不同的设计人员完成统一的操作规范。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。