一种检测弧面反光镜片表面缺陷的方法和装置与流程

本发明涉及镜面检测领域，尤其涉及一种检测弧面反光镜片表面缺陷的装置和方法。

背景技术：

镜面检测是对镜面的平滑度、完整度、是否存在缺陷等的检测。对于镀膜后的弧面反光镜片，现有的检测方法是通过人工在普通日照灯下通过摆动镜片实现外观缺陷检测，然而这种人工检测方法受检测人经验、责任心等主观因素影响，无法保证正确以及产品质量长期稳定。

技术实现要素：

本发明实施例提供了一种检测弧面反光镜片表面缺陷的装置和方法，用于通过线扫相机获取经待测弧面反光镜片表面反射的发射光图像检测弧面反光镜片表面缺陷，解决了现有的人工检测方法存在的受检测人经验、责任心等主观因素影响、无法保证正确以及产品质量长期稳定的技术问题。

本发明实施例提供了一种检测弧面反光镜片表面缺陷的装置，包括：对称分布的两排光源、对称设置在所述光源前面的黑白条纹相间的两块光源膜、设置在所述光源后面的线扫相机；

两排所述光源之间设置有第一间隔；

两排所述光源膜之间设置有第二间隔，且所述第二间隔的宽度与所述光源膜上的黑条纹及白条纹的宽度相等；

所述第二间隔和所述第一间隔之间的连线与所述光源膜所在的平面垂直；

两块所述光源膜的组合长度和宽度分别大于待测弧面反光镜片的长度和宽度；

所述线扫相机的镜头设置在所述第一间隔和所述第二间隔之间连线的延长线上，用于获取经所述待测弧面反光镜片反射且依次穿过所述第二间隔和所述第一间隔的反射光。

优选地，

所述检测弧面反光镜片表面缺陷的装置还包括可移动的主体；

两排所述光源、两排所述光源膜、所述线扫相机均固定设置在可移动的所述主体上；

所述主体用于移动两排所述光源、两排所述光源膜、所述线扫相机，使得所述线扫相机依次扫过整个所述待测弧面反光镜片表面并获取经所述待测弧面反光镜片反射的反射光形成的明暗相间的完整图像。

优选地，

所述光源为led光源。

本发明实施例提供了一种检测弧面反光镜片表面缺陷的方法，包括：

通过对称分布的两排光源和对称设置在两排所述光源前面的黑白条纹相间的两块光源膜产生入射光并照射在待测弧面反光镜片表面，其中两块所述光源膜的组合长度和宽度分别大于所述待测弧面反光镜片的长度和宽度；

通过设置在所述光源后面的线扫相机获取经所述待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔和第一间隔的反射光图像，所述第一间隔为两排所述光源之间的间隙，所述第二间隔为两排所述光源膜之间的间隙，所述线扫相机的镜头设置在所述第一间隔和所述第二间隔之间连线的延长线上，所述第二间隔和所述第一间隔之间的连线与所述光源膜所在的平面垂直，所述第二间隔的宽度与所述光源膜上的黑条纹及白条纹的宽度相等；

通过分析所述反射光图像上明暗相间的光带分析所述待测弧面反光镜片的表面缺陷。

优选地，

通过设置在所述光源后面的线扫相机获取经所述待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔和第一间隔的反射光图像具体包括：

统一移动两排所述光源、两排所述光源膜、所述线扫相机，同时通过所述线扫相机获取每个位置的经所述待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔和第一间隔的反射光来获取完整的反射光图像。

从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：

本发明实施例提供了一种检测弧面反光镜片表面缺陷的装置和方法，用于先通过对称分布的两排光源和对称设置在两排所述光源前面的黑白条纹相间的两块光源膜产生入射光并照射在待测弧面反光镜片表面，然后通过线扫相机获取经待测弧面反光镜片表面反射的发射光图像，将弧面反光镜片表面缺陷转化到反射光图像中，然后通过分析反射光图像来分析弧面反光镜片表面缺陷，整个检测过程可以通过自动化完成，解决了现有的人工检测方法存在的受检测人经验、责任心等主观因素影响、无法保证正确以及产品质量长期稳定的技术问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明实施例提供的一种检测弧面反光镜片表面缺陷的装置的一个实施例的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种检测弧面反光镜片表面缺陷的方法的第一实施例的流程示意图；

图3为本发明实施例提供的一种检测弧面反光镜片表面缺陷的方法的第二实施例的流程示意图；

图4为通过本发明实施例提供的一种检测弧面反光镜片表面缺陷的装置获取到的发射光图像的一个实施例的示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供了一种检测弧面反光镜片表面缺陷的装置和方法，用于通过线扫相机获取经待测弧面反光镜片表面反射的发射光图像检测弧面反光镜片表面缺陷，解决了现有的人工检测方法存在的受检测人经验、责任心等主观因素影响、无法保证正确以及产品质量长期稳定的技术问题。

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1和图4，本发明实施例提供了一种检测弧面反光镜片表面缺陷的装置的一个实施例，包括：对称分布的两排光源1、对称设置在光源1前面的黑白条纹相间的两块光源膜2、设置在光源1后面的线扫相机5、可移动的主体，其中，光源1可以为led光源1，可以理解的是，通过在光源1前面设置黑白条纹相间的两块光源膜2，使得光源1发射的光只通过光源膜2上白条纹发射到待测弧面反光镜片表面，需要说明的是，本发明实施例中提及的前面是指向光侧，即可以接受光源1照射一侧，后面是指背向光源1一侧，即接收不到光源1照射一侧；

两排光源1之间设置有第一间隔3；

两排光源膜2之间设置有第二间隔4，且第二间隔4的宽度与光源膜2上的黑条纹及白条纹的宽度相等；

第二间隔4和第一间隔3之间的连线与光源膜2所在的平面垂直；

两块光源膜2的组合长度和宽度分别大于待测弧面反光镜片的长度和宽度，为的是使经过光源膜2的光线可以覆盖待测弧面反光镜片的所有区域；

线扫相机5的镜头6设置在第一间隔3和第二间隔4之间连线的延长线上，用于获取经待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔4和第一间隔3的反射光；

两排光源1、两排光源膜2、线扫相机5均固定设置在可移动的主体上；

主体用于移动两排光源1、两排光源膜2、线扫相机5，使得线扫相机5依次扫过整个待测弧面反光镜片表面并获取经待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔4和第一间隔3的反射光形成的明暗相间的完整图像。

在本发明实施例中，光源1发射的光首先通过光源膜2上白条纹发射到待测弧面反光镜片表面，经待测弧面反光镜片表面反射且依次穿过第二间隔4和第一间隔3被线扫相机5的镜头6获取，此时线扫相机5获取的是经待测弧面反光镜片表面的一个位置反射的发生光，通过移动主体，带动两排光源1、两排光源膜2、线扫相机5一起运动，从而获得经整个测弧面反光镜片表面反射形成的完整发射光图像，如图4所示，最后通过完整反射光图像上明暗相间的光带分析待测弧面反光镜片的表面缺陷。

请参阅图2和图4，本发明实施例提供了一种检测弧面反光镜片表面缺陷的方法的第一实施例，包括：

201，通过对称分布的两排光源和对称设置在两排光源前面的黑白条纹相间的两块光源膜产生入射光并照射在待测弧面反光镜片表面，其中两块光源膜的组合长度和宽度分别大于待测弧面反光镜片的长度和宽度；

202，通过设置在光源后面的线扫相机获取经待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔和第一间隔的反射光图像，第一间隔为两排光源之间的间隙，第二间隔为两排光源膜之间的间隙，线扫相机的镜头设置在第一间隔和第二间隔之间连线的延长线上，第二间隔和第一间隔之间的连线与光源膜所在的平面垂直，第二间隔的宽度与光源膜上的黑条纹及白条纹的宽度相等；

203，通过分析反射光图像上明暗相间的光带分析待测弧面反光镜片的表面缺陷。

在本发明实施例中，首先需要通过对称分布的两排光源和对称设置在两排光源前面的黑白条纹相间的两块光源膜产生入射光并照射在待测弧面反光镜片表面，然后需要通过设置在光源后面的线扫相机获取经待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔和第一间隔的反射光图像，最后通过分析反射光图像上明暗相间的光带分析待测弧面反光镜片的表面缺陷。

请参阅图3和图4，本发明实施例提供了一种检测弧面反光镜片表面缺陷的方法的第二实施例，包括：

301，通过对称分布的两排光源和对称设置在两排光源前面的黑白条纹相间的两块光源膜产生入射光并照射在待测弧面反光镜片表面，其中两块光源膜的组合长度和宽度分别大于待测弧面反光镜片的长度和宽度；

302，统一移动两排光源、两排光源膜、线扫相机，同时通过线扫相机获取每个位置的经待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔和第一间隔的反射光来获取完整的反射光图像，第一间隔为两排光源之间的间隙，第二间隔为两排光源膜之间的间隙，线扫相机的镜头设置在第一间隔和第二间隔之间连线的延长线上，第二间隔和第一间隔之间的连线与光源膜所在的平面垂直，第二间隔的宽度与光源膜上的黑条纹及白条纹的宽度相等；

303，通过分析反射光图像上明暗相间的光带分析待测弧面反光镜片的表面缺陷。

在本发明实施例中，首先需要通过对称分布的两排光源和对称设置在两排光源前面的黑白条纹相间的两块光源膜产生入射光并照射在待测弧面反光镜片表面，然后统一移动两排光源、两排光源膜、线扫相机，同时通过线扫相机获取每个位置的经待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔和第一间隔的反射光来获取完整的反射光图像，最后通过分析反射光图像上明暗相间的光带分析待测弧面反光镜片的表面缺陷。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-onlymemory)、随机存取存储器(ram，randomaccessmemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。