通过监测程序代码的执行来进行测量协调的制作方法

本发明涉及测试电子装置的方法和对应的设备。

背景技术：

在各种技术领域中，省电和功率效率是产品设计的重要方面。虽然鉴于与能量产生关联的成本通常期望能量效率，但能量效率在电池操作装置的情况下也是特别相关的。在这种情况下，电池能量效率可以增加装置在不对电池再充电或换电池的情况下可以操作的时间(还被称为电池寿命)。

认为能量效率高度相关的装置的一个示例是iot(物联网)装置，iot装置是被装配有在没有具体用户活动的情况下使用的通信功能的电子装置，例如，传感器或致动器。这种装置的潜在数量被期望远远高于传统用户操作的通信装置(诸如移动电话)(在未来几年中超过500亿)，这意味着这些装置还可能引起显著的能耗。

在电池操作装置的情况下，能量效率对可用性也具有影响。例如，高能耗和关联的差电池寿命可能不利地影响用户体验并致使产品对消费者没有吸引力。

然而，在产品的开发期间，识别引起过多能耗的问题并解决这种问题会是一项高要求任务，特别是鉴于这种问题可能由运行在装置上的软件、运行在装置上的硬件而引起或由软件和硬件的相互作用而引起。

存在从简单的测量工具到用于功率分析的高级系统的、可以用于产品开发中的、用于电流、功率以及能量测量的可用测量设备。在许多情况下，需要昂贵的高级系统以及开发者的高级经验和技巧来识别并解决引起过多能耗的问题。

技术实现要素：

因此，需要允许高效测试电子装置的技术。

根据实施方式，提供了一种用于测试电子装置的方法。方法包括以下步骤：由电子装置的一个或更多个处理器执行程序代码。在执行程序代码的同时，对电子装置执行测量，以获得第一数据。第一数据可以包括测量的结果或从其得到的数据。进一步地，方法包括以下步骤：监测程序代码的执行，以获得第二数据。协调测量与程序代码的执行的监测。这样，可以以高效方式执行测量，并且可以促进与程序代码执行有关的问题的检测。

根据实施方式，将第一数据与第二数据相关。例如，这样，可以识别引起在第一数据中观察到的异常的、程序代码的部分。

根据实施方式，方法还包括以下步骤：根据第二数据来控制测量。这可以包括根据第二数据选择测量范围、测量灵敏度和/或测量采样间隔。例如，如果第二数据指示电子装置执行潜在地引起过多能耗的特定操作，则可以相应地设置测量范围、测量灵敏度和/或测量采样间隔。这可以涉及拓宽测量范围或将测量范围集中于期望的关注范围上，提高测量灵敏度和/或缩短测量采样间隔。因此，可以根据电子装置的操作状态来动态调节用于控制测量的参数，以优化测量。

另外或作为另选方案，可以根据第二数据选择测量类型。例如，在电子装置的特定操作条件下，如由第二数据指示的，可以选择能耗(例如，在电流消耗或功率消耗方面)和/或绝对消耗的能量的测量。在电子装置的其他操作条件下，如由第二数据指示的，可以选择温度的测量。

另外或作为另选方案，可以根据第二数据触发一个或更多个测量。例如，在电子装置的特定操作条件下，可以期望获得关于电子装置内温度分布的信息。温度分布可以允许识别具有过多电流泄露的硬件元件或过载的硬件元件。温度分布例如可以通过拍摄电子装置或其部分的一个或更多个热像来获得。因此，在一些场景中，第二数据可以用于触发一个或更多个热像的拍摄。

根据实施方式，第一数据包括表示电子装置的能耗的数据，例如，在电流、功率或能量方面。电流、功率或能量可以由电子装置的一个或更多个内部传感器或由耦接到电子装置的一个或更多个外部传感器来测量。另选地或另外，第一数据可以包括表示电子装置的温度的数据。温度可以由电子装置的内部传感器或由耦接到电子装置的外部传感器来测量。

根据实施方式，第一数据可以包括电子装置的至少一部分的热像。这种热像可以由红外摄像头(例如，lwir(长波红外线摄像头))来拍摄。可以冷却或不冷却lwir摄像头。

根据实施方式，第二数据包括来自程序代码的执行的调试信息，例如识别和/或描述当前执行的程序代码的指令或例程的信息。另选地或另外，第二数据可以包括识别与程序代码的执行关联的操作和/或状态的数据，例如程序代码的执行是否引起了电子装置到低功率模式的切换或通信电路的启动。根据实施方式，第二数据包括与程序代码的执行关联的应用级信息，例如识别当前作为程序代码的一部分执行的应用或这种应用内的功能的信息，例如由消息应用进行的基于ip(因特网协议)音频和/或视频通信的启动。

根据实施方式，第二数据包括用于控制测量的参数。例如，这些参数可以指示优选的测量范围、测量灵敏度、测量采样间隔和/或测量类型。这种信息例如可以由电子装置的调试器生成作为补充调试信息。

根据另外的实施方式，提供了一种用于测试电子装置的设备。设备被配置为通过在由电子装置的一个或更多个处理器执行程序代码的同时对电子装置实行测量来获得第一数据。进一步地，设备被配置为监测程序代码的执行，以获得第二数据。进一步地，设备被配置为协调测量与程序代码的执行的监测。例如，设备可以包括实施这些功能的测量控制器。设备(或设备的测量控制器)可以被配置为控制或执行根据上述实施方式中的任一个的方法的步骤。

根据实施方式，设备被配置为将第一数据与第二数据相关。例如，这样，可以识别引起在第一数据中观察到的异常的、程序代码的部分。相关例如可以由设备的数据处理器来执行。

根据实施方式，设备被配置为根据第二数据控制测量。控制功能可以包括根据第二数据选择测量范围、测量灵敏度和/或测量采样间隔。例如，如果第二数据指示电子装置执行潜在地引起过多能耗的特定操作，则可以相应地设置测量范围、测量灵敏度和/或测量采样间隔。这可以涉及拓宽测量范围或将测量范围集中于期望的关注范围上，提高测量灵敏度和/或缩短测量采样间隔。因此，设备可以根据电子装置的操作状态动态调节用于控制测量的参数，以优化测量。另外或作为另选方案，设备可以被配置为根据第二数据选择测量类型。例如，在电子装置的特定操作条件下，如由第二数据指示的，设备可以选择能耗(例如，在电流消耗和功率消耗方面)和/或绝对消耗的能量的测量。在电子装置的其他操作条件下，如由第二数据指示的，设备可以选择温度的测量。

另外或作为另选方案，设备可以被配置为根据第二数据触发一个或更多个测量。例如，在电子装置的特定操作条件下，可以期望获得关于电子装置内温度分布的信息。温度分布可以允许识别具有过多电流泄露的硬件元件或过载的硬件元件。温度分布例如可以通过拍摄电子装置或其部分的一个或更多个热像来获得。因此，在一些场景中，设备可以被配置为使用第二数据来触发一个或更多个热像的拍摄。

设备的上述控制功能例如可以由设备的测量控制器来执行。

根据实施方式，第一数据包括表示电子装置的能耗(例如，在电流、功率或能量方面)的数据。电流、功率或能量可以由电子装置的一个或更多个内部传感器或由耦接到电子装置的一个或更多个外部传感器来测量。设备可以包括这些外部传感器中的一个或更多个和/或关于内部传感器的测量接口。另选地或另外，第一数据可以包括表示电子装置的温度的数据。温度可以由电子装置的内部传感器或由耦接到电子装置的外部传感器来测量。同样在这种情况下，设备可以包括这些外部传感器中的一个或更多个和/或关于内部传感器的测量接口。

根据实施方式，第一数据可以包括电子装置的至少一部分的热像。这种热像可以由红外摄像头(例如，lwir(长波红外线摄像头))来拍摄。可以冷却或不冷却lwir摄像头。设备可以包括红外摄像头。进一步地，设备可以包括关于这种红外摄像头的测量接口。该测量接口可以用于例如通过触发热像的拍摄来控制红外摄像头。进一步地，该测量接口可以由设备用于接收所拍摄的热像。

根据实施方式，第二数据包括来自程序代码的执行的调试信息，例如，识别和/或描述当前被执行的程序代码的指令或例程的信息。另选地或另外，第二数据可以包括识别与程序代码的执行关联的操作和/或状态的数据，例如程序代码的执行是否引起电子装置到低功率模式的切换或通信电路的启动。根据实施方式，第二数据包括与程序代码的执行关联的应用级信息的信息，例如，识别当前作为程序代码的一部分执行的应用或这种应用内的功能，例如，由消息应用进行的基于ip(因特网协议)的音频和/或视频通信的启动。

根据实施方式，第二数据包括用于控制测量的参数。例如，这些参数可以指示优选的测量范围、测量灵敏度、测量采样间隔和/或测量类型。这种信息例如可以由电子装置的调试器生成作为补充调试信息。

设备可以包括用于接收第二数据的调试接口。

现在将参照附图更详细描述本发明的上述和另外实施方式。

附图说明

图1示意性例示了根据本发明的实施方式的测试设置。

图2示出了用于例示根据本发明的实施方式的方法的流程图。

图3示出了用于例示根据本发明的实施方式的另外方法的流程图。

图4示出了用于例示根据本发明的实施方式的另外方法的流程图。

具体实施方式

在下文中，将更详细地描述本发明的示例性实施方式。要理解，以下描述仅是为了例示本发明的原理的目的而给出，而不是在限制意义上采取。相反，本发明的范围仅由所附权利要求来限定，并且不旨在受下文中描述的示例性实施方式限制。

所例示的实施方式与电子装置的测试有关。电子装置例如可以对应于通信装置(诸如智能电话或其他种类的移动电话、平板计算机等)。进一步地，电子装置可以对应于iot装置(诸如智能传感器或致动器、智能家庭设备等)。电子装置可以为电池操作的装置，但对电子装置供电的其他方式也是可以的(例如，使用线路电力、太阳能或机电能量获取)。进一步地，假定电子装置是具有由电子装置的至少一个处理器所执行的程序代码实施的功能的软件操作装置。该程序代码可以包括电子装置的固件或操作系统。另外或作为另选方案，该程序代码可以包括在电子装置上安装的一个或更多个应用。

在所例示实施方式中，假定协调对于测试电子装置执行的测量与由电子装置的处理器进行的程序代码的执行。这可以涉及根据通过监测程序代码的执行获得的数据(例如，根据调试信息或从调试信息得到的数据)来设置用于控制测量的参数，诸如测量范围、测量灵敏度或采样间隔。例如，如果调试信息指示正在执行特定类型的软件例程，则可以将测量范围变窄为对应的关注范围，提高测量灵敏度，并且可选地可以缩短采样间隔。类似地，如果调试信息指示正在执行另一种类型的软件例程，则可以拓宽测量范围，降低测量灵敏度，并且可选地可以延长采样间隔。另外或作为另选方案，这可以涉及基于通过监测程序代码的执行获得的数据(例如，根据调试信息或从调试信息得到的数据)来触发一个或更多个测量。例如，如果调试信息指示正在执行特定类型的软件例程，则执行电子装置的温度测量或热像拍摄。测量可以由测试设备的一个或更多个传感器和/或由电子装置的一个或更多个内部传感器来执行。

通过协调测量与程序代码的执行的监测，可以将以下事实考虑在内：传感器或测量电子器件通常关于其分辨率受限，这意味着为了提高测量精度，通常需要使用缩小的测量范围。另一方面，这种缩小测量范围可能不适于解决所有相关测量场景。举例而言，当以被供给到系统的电流来测量电子装置的能耗时，电流的值在电子装置处于低功率模式时可以非常低。在这种情况下，可以期望以高灵敏度测量电流，使得可以识别可以指示低功率模式下的过多能耗的异常。如果电流未超过例如10ma，则可以将测量范围限于最大值20ma，并且实现较高灵敏度(例如，1μa)。然而，在其他场景中例如，如果电子装置离开低功率模式且例如启动无线电电路，电流可能超过20ma，并且上面提及的测量范围不再合适。通过监测程序代码的执行，可以检测操作条件的该变化，并且测量范围因此被调节为例如被限于最大值2000ma但具有较低灵敏度(例如，100μa)的范围。因此，程序代码的监测可以用于例如通过使测量范围动态适应来选择针对当前操作条件优化的测量参数。注意的是，假定电流测量的上述场景仅是一个示例，并且还可以对于电压、电力、温度、加速度或在测试电子装置时测量的其他物理量应用类似的考虑。进一步地，通过根据程序代码的执行的监测触发特定测量，测量结果可以在被期望相关时获得。例如，在调试信息指示电子装置离开低功率模式且例如启动无线电电路时，可以拍摄热像或一系列热像。这样，可以实现在正确的时间执行测量，从而避免在测量数据不特别相关的场景中生成过量的测量数据。

图1示意性例示了根据实施方式的测试设置。如所例示的，测试设置包括电子装置100和测试设备200。电子装置100可以为通信装置(诸如智能电话或其他种类的移动电话、平板计算机)或iot装置(诸如智能传感器或致动器、智能家庭设备等)，其设置有一个或更多个处理器110，该处理器执行存储在电子装置100的存储器130中的程序代码120。程序代码120可以包括安装在电子装置100上的固件、操作系统和/或应用。电子装置100可以为(由内部电池或外部电池)电池供电的，这意味着电子装置的能量效率特别相关。

如进一步例示的，电子装置100可以包括例如用于测量电流、电压、功率、温度或加速度的一个或更多个传感器140。由传感器140执行的测量可以受处理器110控制。

如进一步例示的，电子装置100设置有调试器150和调试接口160。虽然调试器150被例示为处理器110的一部分，但注意，调试器150实际上可以由软件来实施，例如，由在存储器130中存储的另外程序代码。然而，调制器150还可以为处理器110的硬件功能。调试器150通过监测由处理器110进行的程序代码120的执行且借助调制接口160生成调制信息，该调制信息可用于测试设备200。调制接口160例如可以对应于jtag(联合测试行动组)调制端口、usb(通用串行总线)调试端口、串行端口(例如，基于rs232)或某一其他类型的接口。

测试设备200包括调试接口210、测量控制器220以及一个或更多个传感器230。调试接口210用于从电子装置100接收调试信息。测量控制器220将所接收的调制信息用于协调由传感器230对电子装置100执行的测量与由电子装置100的处理器110进行的程序代码的执行或从程序代码的执行的监测得到的信息。例如，传感器230可以测量电流电平、电压电平或功率电平，以评定电子装置100的能耗。注意的是，电子装置100的内部传感器140同样可以用于测量且根据调试信息由测量控制器220协调。例如，由传感器140执行的测量可以借助电子装置100的测量接口来控制，并且由传感器140执行的测量的结果可以借助测量接口提供到测试设备200。举例而言，电子装置100的调试接口160和测试设备200的调试接口210还可以用于实施这种测量接口。

在一些场景中，测试设备200的传感器230还可以包括用于拍摄电子装置100或电子装置100的部分的热像的一个或更多个摄像头。例如，传感器230可以包括一个或更多个lwir摄像头。为了实现热像的较高精度，可以冷却lwir摄像头。然而，也可以使用不冷却的lwir摄像头。在这种场景中，测试设备200的测量控制器220可以使用来自电子装置100的调试信息来触发由摄像头进行的一个或更多个热像的拍摄。进一步地，测试设备200可以将调试信息与所拍摄的热像相关。

可用于测试设备200的调试信息可以包括低级调试信息，诸如识别当前由处理器110执行的程序代码指令或程序代码例程的信息。测量控制器220然后可以解释该信息，以识别电子装置100的目前和/或即将到来的操作状态，并且因此设置用于控制测量的一个或更多个参数。然而，在一些情况下，调试信息还可以包括用于控制测量的补充信息。例如，补充信息例如可以通过定义“10ma的最大电流”来包括要应用的测量模式或测量参数的清楚文本描述。进一步地，补充信息例如可以通过限定“10ma的最大电流，在1ms内开始且持续100ms”来指定要应用这种测量模式或测量参数的时间。

进一步地，补充信息可以包括要由测量控制器220解释的应用级信息。例如，补充信息可以指示电子装置100现在进行语音通话。测量控制器220可以从该指示导出电子装置100的操作电流通常将非常低，但每20ms增加一次(根据语音通话期间语音数据的通常传输模式)，并且根据该期望的模式动态调节用于测量操作电流的测量范围。

在一些场景中，可用于具有调试信息的测试设备的特定信息还可以例如由用于编译程序代码的编译器的插入嵌入到程序代码中。编译器的该插入可以分析被编译的低级代码并将用于控制测量的信息嵌入到所编译的代码中，该信息然后由调试器150提取，以可用于测试设备200。这种嵌入信息还可以基于电子装置100硬件上的先验信息(例如，关于处理器110的类型的信息和/或连接到处理器110的硬件的类型(例如，无线电接口电路的类型)的信息)。

示例性使用情况可以如下：在处理器110执行程序代码120的同时，测试设备200执行对电子装置100的操作电流的测量。连同调试信息一起，测试设备200接收基于ip的语音通话被电子装置100接受的指示。基于例如如从网络服务或某一其他外部或内部数据库获得的、关于电子装置100的硬件的信息，测试设备的测量控制器220识别可应用于电子装置100的硬件配置的测量配置文件，并且选择可应用于场景“基于ip的语音通话”的测量参数。测量控制器220然后基于这些测量参数执行测量。例如，这些测量参数可以反映所测量操作电流的期望行为，特征为无功电流为10μa，并且220ma的峰值电流以20ms的间隔发生3ms。测量控制器220然后可以协调测量，使得以峰值电流的期望发生之间的间隔以高灵敏度测量无功电流，并且在期望峰值电流发生时增大测量范围(并且同时降低测量灵敏度)。如果在使用高灵敏度的同时检测到过多电流，则测量控制器220可以悬置测量或恢复到测量参数的默认设置(例如，基于用于电流的最大测量范围)。如可以看到的，测量还可以用于精确识别与期望行为的偏离，这可以帮助识别引起过多能耗的异常和潜在问题。

另外的示例性使用情况可以如下：在处理器110执行程序代码120的同时，测试设备200测量电子装置100的操作电流。连同调试信息一起，测试设备200接收电子装置现在将进入睡眠模式800ms的指示。从之前的测量，测试设备200已经了解到睡眠模式下的电子装置100的最大操作电流是1ma。因此，测量控制器220以例如1μa的对应高灵敏度将用于测量操作电流的测量范围设置到1ma的最大值，同时期望电子装置100处于睡眠模式。在睡眠模式期间使用高灵敏度允许睡眠模式期间能耗的非常精确的估计。在期望的睡眠模式时(即，800ms间隔到期前不久)，测量控制器220切换回(例如，对应于1000ma的最大电流和1ma的灵敏度的)较宽的测量范围和较低的灵敏度。在睡眠模式期间使用高灵敏度允许睡眠模式期间能耗的非常精确的估计。

又一个示例性使用情况可以如下：在处理器110执行程序代码120的同时，测试设备200拍摄电子装置100的热像。这可以通过使用一个摄像头(例如，lwir摄像头)或通过使用多个摄像头(例如，多个lwir摄像头)来完成。例如，一个摄像头可以用于生成完全覆盖电子装置100的pcb(印刷电路板)的热像，而另一个摄像头集中于pcb上的特定独立部件(例如，主处理器)。进一步地，在一些场景中，还可以拍摄覆盖整个电子装置100的热像(例如，还覆盖电子装置100的壳体的图像)。因此，可以生成独立部件的高分辨率图像，这可以允许评定部件的不同部分如何升温。为了允许将热像与程序代码的特定部分相关，被提供到测试设备200的调试信息用于协调热像的拍摄与程序代码的执行。例如，可以基于调试信息(例如，用识别被执行的特定程序指令或程序例程)标记热像。另外或作为另选方案，热像的拍摄可以基于调试信息来触发或基于调试信息以其他方式来控制。例如，特定程序构造或程序例程的执行可以触发拍摄热像或一系列热像的拍摄。进一步地，可以基于调制信息控制用于拍摄一系列热像的采样时间间隔。例如，如果调试信息指示电子装置开始从网络下载数据，则可以触发以高分辨率和/或高速拍摄一系列热像。

然后可以分析热像，以识别可以对应于促成过多能耗的部件电路元件的、经受过度升温的部分。例如，这种过度升温可能由于硬件问题(诸如失配的射频电路、穿过esd(静电放电)保护二极管的泄露、pcb的电容器、电感器或互连的损耗、晶体管的电阻损耗、半导体开关的电容损耗或磁性部件中的高频损耗)而产生。进一步地，这种过度升温可能由于软件问题而产生，诸如不必要的数据传输、低功率特征的错误使用(例如，电路部件的停用)、参数的错误设置(例如，太高的时钟频率设置)、被称为模块的应用或其他软件的省略终止等)。在一些场景中，所拍摄的热像还可以与其他测量(例如，电流的测量)相关。在后者的情况下，所测量的过多电流可以关联到在热像中观察到的过度升温的部分，这可以允许高效且精确识别所涉及的硬件元件。

图2示出了例示了用于测试电子装置(例如，电子装置100)的方法的流程图。方法步骤的至少一部分可以由测量控制器(诸如上面提及的测量控制器220)执行和/或控制。

在步骤310处，由电子装置的一个或更多个处理器执行程序代码。程序代码可以包括(至少部分包括)电子装置的固件、操作系统和/或被安装在电子装置上的一个或更多个应用。

在步骤320处，对电子装置执行测量，以获得第一数据。测量在执行程序代码的同时执行。第一数据可以包括表示电子装置的能耗的数据。第一数据可以包括电流、电压、功率等的测量结果或从其得到。第一数据还可以包括温度测量的结果或从其得到。进一步地，第一数据可以包括电子装置的至少一部分的热像。测量可以由外部传感器(诸如图1的传感器230)或由电子装置的内部传感器(诸如图1的传感器140)来执行。

在步骤330处，监测程序代码的执行，以获得第二数据。第二数据可以包括来自程序代码的执行的调试信息或从其得到。例如，第二数据可以包括识别与程序代码(例如，在当前执行的程序代码指令或程序代码例程方面)的执行关联的操作和/或状态的数据。进一步地，第二数据可以包括与程序代码的执行关联的应用级信息(例如，识别当前作为程序代码的一部分执行的应用或应用的功能的信息)。

在步骤340处，协调步骤320的测量与步骤330的监测。这可以涉及根据在步骤330处获得的第二数据控制测量。例如，可以根据第二数据选择测量范围、测量灵敏度、测量采样间隔和/或测量类型。进一步地，可以根据第二数据触发一个或更多个测量。更进一步地，这可以涉及用关于在执行用于获得第一数据的测量时执行程序代码的信息补充第一数据。例如，第一数据可以用识别在执行测量以获得第一数据的同时执行的程序代码指令或程序代码例程的信息来补充。

图3示出了例示了基于图2的一般过程的、用于测试电子装置(例如，电子装置100)的方法的流程图。与图2的方法的情况相同，方法步骤的至少一部分可以由测量控制器(诸如上面提及的测量控制器220)执行和/或控制。

在步骤410处，由电子装置的一个或更多个处理器执行程序代码(例如，与关于步骤310说明的相同)。

在步骤420处，通过监测程序代码的执行获得第二数据(例如，与关于步骤320说明的相同)。

在步骤430处，根据在步骤420处获得的第二数据设置测量类型、测量范围、测量灵敏度和/或采样时间间隔。例如，可以响应于第二数据指示由电子装置执行特定操作而使测量范围变窄并提高测量灵敏度。例如，可以通过选择较低的最大电流来使用于电子装置的测量和操作电流的测量范围变窄，从而实现较高的灵敏度。因此，可以根据电子装置的操作条件或状态优化测量参数。

在步骤440处，基于在步骤430处设置的测量参数执行测量。通过使用来自步骤430的设置，可以基于被优化为实现期望精度的测量参数执行测量。进一步地，可以避免以下情形：所测量数量在所选测量范围之外，这导致测量数据的潜在损失、发送者的损坏或所用测试设备的误差。

在步骤450处，可以将在步骤440处执行的测量与在步骤420处获得的第二数据相关。例如，从测量结果得到的第一数据可以用识别在执行测量的同时执行的程序代码指令或程序代码例程的信息来补充。这样，可以在程序代码中识别在第一数据中观察到的异常的潜在源。举例而言，这可以允许识别引起电子装置的过多能耗的程序代码的一部分。因此，步骤420的测量可以用作用于优化电子装置的能效的基础。

图4示出了例示了基于图2的一般过程的、用于测试电子装置(例如，电子装置100)的方法的流程图。与图2的方法的情况相同，方法步骤的至少一部分可以由测量控制器(诸如上面提及的测量控制器220)执行和/或控制。

在步骤510处，由电子装置的一个或更多个处理器执行程序代码(例如，与关于步骤310说明的相同)。

在步骤520处，通过监测程序代码的执行获得第二数据(例如，与关于步骤320说明的相同)。

在步骤530处，基于在步骤520处获得的第二数据触发测量。例如，可以触发热像或一系列热像的拍摄。作为另选方案或另外，还可以触发温度、电流、电压的测量。可以定义各种触发事件。举例而言，特定程序代码指令或程序代码例程的执行可以被定义为触发条件。

在步骤540处，可以将在步骤530处执行的测量与在步骤520处获得的第二数据相关。例如，测量的结果可以用识别在执行测量的同时执行的程序代码指令或程序代码例程的信息来补充。这样，可以在程序代码中识别在测量结果中(诸如热像中)观察到的异常的潜在源。进一步地，电子装置的特定部件可以被识别为异常的潜在源。例如，热像指示过度升温(诸如从如由在步骤520处获得的第二数据指示的操作条件或状态不期望的升温)的部件可以被识别为引起过多能耗。因此，步骤520的测量可以用作用于优化电子装置的能效的基础。

要理解的是，如上说明的构思容许各种修改。例如，可以关于各种电子装置应用构思。进一步地，构思可以在不限于上面提及的测量类型的情况下关于各种测量类型来使用。进一步地，注意的是，在一些场景中，基于如上所述的构思的测试功能可以集成在电子装置内。举例而言，在图1的示例性设置中，电子装置100可以包括测试设备200的元件的至少一些(例如，测量控制器220)，并且测量控制器220可以协调由电子装置的内部传感器(例如，由传感器140)执行的测量。