面向信号的自动测试系统自检程序开发方法及装置与流程

本发明属于测试系统自检领域，尤其涉及一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法及装置。

背景技术：

测试系统自检是指在使用测试系统对被测件进行测试之前对测试系统的可用性进行的一种检查。该检查的内容主要包括测试系统内测试仪器与开关设备是否能正常工作、系统控制计算机与测试仪器之间的通讯是否正常、信号连接线路是否完好、激励信号输出是否正确、响应信号测量是否准确等。测试系统功能正常是对被测件准确测试的前提，因此测试系统自检是自动测试中重要且不可缺少的构成环节之一。

在自动化测试系统中，测试程序(tps)开发采用的技术直接与测试系统性能挂钩，目前测试程序开发技术主要有两种，一种是面向仪器的测试程序开发技术，一种是面向信号的测试程序开发技术。面向仪器的测试程序开发技术的核心特征是采用仪器操作描述测试程序，而面向信号的测试程序为了屏蔽具体的仪器操作，采用与具体仪器无关的信号属性进行开发。

目前测试程序开发方式目前有两种：一种是面向仪器的测试程序开发方式，一种是面向信号的测试程序开发方式。

目前自检程序的开发方式普遍采用面向仪器方式，面向仪器方式开发方式自检流程与仪器操作关联，没有统一标准，自检程序可移植性差；自检流程的设计、自检程序的开发工作量大且只支持串行开发；测试系统内资源被裁剪或扩充时，自检程序甚至自检流程都需重新设计、开发。面向仪器的开发方式开发自检程序需要经过以下步骤：1、根据测试系统中需要自检的资源收集相关资料并整理；2、设计该测试系统的自检方法，并同时设计自检适配器(adapter)；3、将设计的自检方法采用某种开发方式转变为可运行的自检程序；4、将开发好的自检适配器连同自检程序，与测试系统联调；5、根据联调结果，优化自检方法与自检适配器的设计；6、重复步骤3到步骤5，直至满足测试系统的自检需求。

目前测试系统的自检程序，主要以面向仪器方式开发，有如下几个缺点：1、需要开发人员对仪器等资源的使用方式熟悉，才能设计出合理的自检方案，对开发人员要求高、耗时多；2、自检方案的设计与自检程序的开发只能采用串行开发方式，无法多人并行开发，开发效率低；3、自检程序由仪器操作组合构成，如此开发完成的自检程序是对此测试系统的定制程序，可复用性差、开发效率低、系统可裁剪可扩充性差；4、开发人员需要将自检方案进行编码，转化为自检程序，耗时长。

面向信号的测试程序开发技术是指使用信号操作语句描述测试程序，面向信号的测试语言包括atlas和atml两种。atlas诞生于20世纪60年代，1962年美国arinc公司主持开发了航空标准测试描述语言atlas，用于解决航空领域测试描述语言标准化问题。atlas具有设备无关性、可扩充性强等有点，但是随着测试需求的增长，atlas也逐渐暴露出语言越来越庞杂、信号定义模糊等缺点，为此scc20着手对atlas标准进行改进，由此产生新一代的测试语言---atlas2000，并在此基础上制定了ieee1641标准，该标准用于信号与测试定义。ieee1641标准解决了测试描述的标准化问题，也解决了仪器互换问题，但却不能解决测试程序移植问题。为此ieee从2002年开始制定了atml标准族，产生了ieee1671系列标准，采用xml语言描述测试信息，该标准族引用了ieee1641标准，采用信号的方式描述被测件(uut)测试需求、仪器能力、测试描述(testdescription，简称td)等信息。

如何针对面向信号的测试系统进行自检程序的开发，以提高程序的开发效率、可复用性，是本领域技术人员目前需要迫切解决的技术问题。

技术实现要素：

为克服上述现有技术的不足，本发明提供了一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法及装置，针对现采用面向仪器方式开发自检程序方案的缺点，提出将面向信号开发自动测试程序的方法应用于开发自检程序，克服上述面向仪器方式开发自检程序的缺点，提出自检逻辑、动态适配器连线与自检程序生成方法，实现自检逻辑设计的自动化、自检程序开发的自动化，提高开发效率、提高可复用性、降低工作量、提高系统可裁剪可扩充性。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，包括以下步骤：

步骤1：基于atml模型对信号进行分层，并根据分层后的信号确定测试站内端口的连接关系；

步骤2：根据信号分层关系生成当前系统内资源的自检逻辑和动态适配器连线；

步骤3：根据自检逻辑与动态适配器连线，生成自检程序。

进一步地，所述步骤2还包括：分别判断自检逻辑是否合理以及动态适配器连线是否满足需求，当自检逻辑合理且动态适配器连线满足需求时，执行步骤3。

进一步地，所述步骤1具体包括：

步骤101：提取atml模型中信号等所需信息；

步骤102：将提取的所有信号进行分为三层，第一层分类依据是信号类型；第二层在第一层基础上继续分类，分类依据是信号种类；第三层在第二层基础上继续分类，分类依据是激励与测量信号；

步骤103：判断分层后信号是否满足分类依据与实际需求，若不满足则返回步骤102人工修改分层信号，若满足则继续；

步骤104：以信号为索引，利用已有的atml模型，将连线关系从信号模型、仪器模型、测试站模型中提取并进行整体连接，打通测试站中仪器能力端口-仪器端口-测试站端口连线；

步骤105：判断测试站内部连线是否满足需求，若不满足则返回步骤4根据需求增加连线关系，若满足则结束。

进一步地，所述步骤2中生成自检逻辑具体包括：

步骤201：输入信号分层模块生成的分层信号；

步骤202：根据物理特性需求，给出第一层不同类型信号的自检顺序及可并行自检性，并同时给出在第一层同类型信号下，第二层不同种类信号的自检顺序及可并行自检性，经过整理得出所有信号的自检先后与并行顺序；

步骤203：在第三层中分别连接同种类的激励与测量信号；

步骤204：判断所述某激励与测量信号的连接的两端是否包含需要自检的信号，若两端均不包含则跳转至步骤203删除该激励与测量信号的连接，若所有连接均有一端包含则继续；

步骤205：判断信号自检先后与并行顺序是否与物理特性需求相悖，若相悖则跳转至步骤202调整信号自检先后与并行顺序，若不相悖则继续；

步骤206：从调整完毕的信号间关系生成自检逻辑。

进一步地，所述生成自检逻辑包括：根据所述仪器能力端口-仪器端口-测试站端口连线在测试站内部建立空间关系；然后根据信号自检顺序将测试站内部以信号为索引建立时间关系，得到自检逻辑。

进一步地，所述步骤2中生成动态适配器连线具体包括：

步骤207：输入信号分层模块生成的分层信号；

步骤208：利用适配器连线生成方法、适配器连线分布式变换方法，得到动态适配器连线；

步骤209：判断动态适配器连线是否可以满足每个需要自检的信号均有适配器端口分配且适配器端口不会被同种信号同时使用，若不满足则人工修改动态适配器连线，若满足则结束。

进一步地，所述步骤3具体包括：

步骤301：输入自检逻辑与动态适配器连线，得到完整连线关系；

步骤302：根据所述完整连线关系生成自检程序。

进一步地，所述方法还包括步骤4：判断自检程序是否满足自检需求，若不满足则人工调整自检程序，若满足则结束。

根据本发明的第二目的，本发明还提供了一种面向信号的自动测试系统自检程序开发装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现所述面向信号的自动测试系统自检程序开发方法。

根据本发明的第三目的，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现所述面向信号的自动测试系统自检程序开发方法。本发明的有益效果

1、提出以信号间关系作为基础生成自检流程，将自检程序的开发方式由面向仪器转变为面向信号，提高程序的兼容性与可移植性，实现并行开发，提高开发效率；

2、通过自检逻辑生成模块，将分层后的信号自检逻辑生成方法生成信号间自检逻辑，无需开发人员熟悉仪器等资源使用方式，同时无需针对不同系统设计不同自检流程，效率大幅提高，缩短开发周期；

3、通过动态适配器连线生成模块，利用适配器连线生成方法、适配器连线分布式变换方法，生成动态适配器连线，无需人工建立适配器连线，提高开发效率。

4、通过自检程序生成模块，利用代码自动生成方法、自检程序生成方法，生成自检程序，无需操作员单独开发自检程序，效率大幅提高。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。

图1为现有的采用面向仪器的开发方式开发自检程序的方法流程图；

图2为本发明面向信号的自动测试系统自检程序开发方法流程图；

图3为本发明信号分层流程图；

图4为本发明自检逻辑生成流程图；

图5为本发明动态适配器连线生成流程图；

图6为本发明自检程序生成流程图。

具体实施方式

应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

本发明提出的总体思路：本发明的核心由四部分组成，第一部分以分层信号作为基础生成自检流程，将自检程序的开发方式由面向仪器转变为面向信号，继承面向信号开发测试程序的优点，并将信号进行分层、分类处理；第二部分是通过自检逻辑生成模块，将分层后的信号通过信号匹配方法、自检逻辑生成方法生成信号间自检逻辑；第三部分是通过动态适配器连线生成模块，利用适配器连线生成方法、适配器连线分布式变换方法，生成动态适配器连线；第四部分是通过自检程序生成模块，利用代码自动生成方法、自检程序生成方法，生成自检程序。

实施例一

本实施例公开了一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，如图2所示，包括以下步骤：

步骤1：基于atml模型对信号进行分层，并根据分层后的信号确定测试站内端口的连接关系；

步骤2：根据信号分层关系生成当前系统内资源的自检逻辑和动态适配器连线，并分别判断自检逻辑是否合理以及动态适配器连线是否满足需求，当自检逻辑合理且动态适配器连线满足需求时，执行下一步；

步骤3：根据自检逻辑与动态适配器连线，生成自检程序；

步骤4：判断自检程序是否满足自检需求，若不满足则人工调整自检程序，若满足则结束。

如图3所述，所述步骤1具体包括：

步骤101：提取atml模型中信号等所需信息；

步骤102：将提取的所有信号进行分为三层，第一层分类依据是信号类型，比如大电流、高频、总线信号等，以所需连接器种类与电缆种类区分；第二层在第一层基础上继续分类，分类依据是信号种类，比如dc_signal、ac_power等具体信号；第三层在第二层基础上继续分类，分类依据是激励与测量信号；

步骤103：判断分层后信号是否满足分类依据与实际需求，若不满足则返回步骤102人工修改分层信号，若满足则继续；

步骤104：以信号为索引，利用已有的atml模型，将连线关系从信号模型、仪器模型、测试站模型中提取并进行整体连接，打通测试站中仪器能力端口-仪器端口-测试站端口连线；

步骤105：判断测试站内部连线是否满足需求，若不满足则返回步骤4根据需求增加连线关系，若满足则结束。

其中atml模型由信号库模型、仪器模型、测试站模型、适配器模型组成：1)信号库包括stdbsclib(ieee1641标准bsc层)、stdtsflib(ieee1641标准tsf层)及自定义信号库，自定义信号库中是由基本信号库中的信号组合而成；2)仪器模型包含仪器的基本信息(包含文字描述、程控地址等)、仪器能力、仪器接口信息(端口与连接器)、仪器能力映射(仪器能力与端口的对应关系)、仪器驱动程序(仪器驱动与信号驱动)、连接器信息；3)测试站模型包含测试站基本信息、构成测试站的仪器、测试站接口信息(端口与连接器)、测试站连线(仪器端口与测试站端口连接关系)、连接器信息；4)适配器模型包含适配器基本信息、适配器接口信息(端口与连接器)。

如图4所示，所述步骤2中生成自检逻辑具体包括：

步骤201：输入信号分层模块生成的分层信号；

步骤202：根据物理特性需求，给出第一层不同类型信号的自检顺序及可并行自检性，并同时给出在第一层同类型信号下，第二层不同种类信号的自检顺序及可并行自检性，经过整理得出所有信号的自检先后与并行顺序；

步骤203：在第三层中分别连接同种类的激励与测量信号；

步骤204：判断所述所有激励与测量信号的连接的两端是否包含需要自检的信号，若某一连接两端均不包含则跳转至步骤203删除该激励与测量信号的连接，若所有连接均有一端包含则继续；

步骤205：判断信号自检先后与并行顺序是否与物理特性需求相悖，若与相悖则跳转至步骤202调整信号自检先后与并行顺序，若不相悖则继续；

步骤206：利用自检逻辑生成方法，从调整完毕的信号间关系生成自检逻辑。

具体地，自检逻辑是根据atml中测试描述和atml中连线模型(wirelists)两部分生成，上述两部分在本发明中分别对应信号自检顺序，和仪器能力端口-仪器端口-测试站端口连线。连线将测试站内部建立空间关系，自检顺序将测试站内部以信号为索引建立时间关系，最终建立自检程序在测试站内部所需的逻辑关系，即为自检逻辑。

如图5所示，所述步骤2中生成动态适配器连线具体包括：

步骤207：输入信号分层模块生成的分层信号；

步骤208：利用适配器连线生成方法、适配器连线分布式变换方法，生成动态适配器连线；

其中适配器连线生成方法，是将适配器内部连线资源分配给不同信号，同一适配器端口可以供不同信号使用；而适配器连线分布式变换方法，是将分配重复的适配器端口依照分层后信号的关系进行重新组织，最终每个适配器端口在同一时间不会被重复使用。得到随时间变化的动态适配器连线。

步骤209：判断动态适配器连线是否可以满足每个需要自检的信号均有适配器端口分配且适配器端口不会被同种信号同时使用，若不满足则人工修改动态适配器连线，若满足则结束。

对于以上步骤201-206以及步骤207-209的实现顺序不做限定，也可以先执行步骤207-209，或者步骤201-206与步骤207-209同时执行。

如图6所示，所述步骤3具体包括：

步骤301：输入自检逻辑与动态适配器连线，得到完整连线关系；

具体地，将自检逻辑中测试站内部连线关系与适配器连线进行连接，最终可以得到仪器能力端口-仪器端口-测试站端口-适配器端口(入)-适配器端口(出)-测试站端口-仪器端口-仪器能力端口连线，构成完整回路，通过自检逻辑中信号自检顺序调用不同信号对应的完整连线关系；

步骤302：根据所述完整连线关系，利用代码自动生成方法、自检程序生成方法，得到自检程序；

具体地，代码自动生成方法，是利用代码生成框架，根据信号自检顺序调用对应连线关系这一过程使用符合atml测试描述的xml语言格式重新组织，得到对应的xml文件(描述性语言，不能编译执行)。自检程序生成方法，是将代码自动生成方法得到的xml文件，利用对描述性语言的解释框架，生成可执行的自检程序。

自检程序应由两部分组成，一部分是通过测试站执行的测试程序，另一部分是进行适配器操作，这两部分不可单独分离；

步骤303：判断自检程序是否满足自检需求，若不满足则人工修改自检程序，若满足则结束。

实施例二

本实施例的目的是提供一种计算装置。

一种面向信号的自动测试系统自检程序开发装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤，包括：

步骤1：基于atml模型对信号进行分层，并根据分层后的信号确定测试站内端口的连接关系；

步骤2：根据信号分层关系生成当前系统内资源的自检逻辑和动态适配器连线，并分别判断自检逻辑是否合理以及动态适配器连线是否满足需求，当自检逻辑合理且动态适配器连线满足需求时，执行下一步；

步骤3：根据自检逻辑与动态适配器连线，生成自检程序；

步骤4：判断自检程序是否满足自检需求，若不满足则人工调整自检程序，若满足则结束。

实施例三

本实施例的目的是提供一种计算机可读存储介质。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，用于指纹图谱相似度计算，该程序被处理器执行时执行以下步骤：

步骤1：基于atml模型对信号进行分层，并根据分层后的信号确定测试站内端口的连接关系；

步骤2：根据信号分层关系生成当前系统内资源的自检逻辑和动态适配器连线，并分别判断自检逻辑是否合理以及动态适配器连线是否满足需求，当自检逻辑合理且动态适配器连线满足需求时，执行下一步；

步骤3：根据自检逻辑与动态适配器连线，生成自检程序；

步骤4：判断自检程序是否满足自检需求，若不满足则人工调整自检程序，若满足则结束。

以上实施例二和三的装置中涉及的各步骤与方法实施例一相对应，具体实施方式可参见实施例一的相关说明部分。术语“计算机可读存储介质”应该理解为包括一个或多个指令集的单个介质或多个介质；还应当被理解为包括任何介质，所述任何介质能够存储、编码或承载用于由处理器执行的指令集并使处理器执行本发明中的任一方法。

本发明提出一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法及装置，依赖于测试系统软件对于面向信号(atml)开发方式的支持，本发明采用面向信号的开发方式解决移植性差且不能并行开发的问题，采用自检逻辑生成技术解决开发工作量大、系统可裁减可扩充性差的问题，采用自检程序生成技术解决自检程序开发工作量大的问题。

本领域技术人员应该明白，上述本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算机装置来实现，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。本发明不限制于任何特定的硬件和软件的结合。

上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。