图像处理方法、装置、电子设备及储存介质与流程

本申请涉及图像处理技术领域，具体而言，涉及一种图像处理方法、装置、电子设备及储存介质。

背景技术：

目前，在目标检测技术中，可以生成框选住图像中物体的图像采样框，以对图像采样框内的目标物图像进行进一步检测和识别。

但是，由于目标物图像在图像中的大小和位置的随机性比较大，导致生成的图像采样框的形状大小差异性也很大。故由于图像采样框的形状大小不固定，导致在对图像采样框内的目标物图像进行检测的过程中，对目标物的检测结果出现偏差，从而导致检测的精度受到影响。

技术实现要素：

本申请在于提供一种图像处理方法、装置、电子设备及储存介质，以有效防止对目标物的检测结果出现偏差，从而提高检测的精度。

为了实现上述目的，本申请的实施例通过如下方式实现：

第一方面，本申请实施例提供了一种图像处理方法，所述方法包括：

获得图像采样框的形状相关的形状参数；

根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，其中，所述至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，任意两个采样点调整后的位置也不相同；

根据所述调整后的卷积核对图像进行卷积处理。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，所述形状参数包括：所述图像采样框的长度和宽度，以及所述图像采样框在下采样中的缩小倍数；所述根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，包括：

根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标；

根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述宽度对应的第二纵坐标，其中，调整前的每个采样点的坐标为第一横坐标和第一纵坐标，表示每个采样点的位置位于当前的第一位置处，以及调整后的每个采样点的坐标为第二横坐标和第二纵坐标，表示每个采样点的位置位于调整后的第二位置处；

获得调整后的卷积核，所述调整后的卷积核中每个采样点的位置位于第二位置处。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，所述根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，所述将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标，包括：

根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，确定出所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标的第一偏差值；

根据每个采样点的横坐标的第一偏差值，将每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，所述卷积核参数包括：所述卷积核的总列数，以及每个采样点的所在列与所述卷积核的中心点之间的间隔列数；所述根据所述长度、所述缩小倍数和卷积核参数，确定出所述卷积核中的每个采样点的横坐标的第一偏差值，包括：

根据所述长度w、所述缩小倍数s、所述总列数m和所述间隔列数m，确定出所述卷积核中的每个采样点的横坐标的第一偏差值为w*m/m*s。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，所述根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，所述将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述宽度对应的第二纵坐标，包括：

根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，确定出每个采样点的纵坐标的第二偏差值；

根据每个采样点的纵坐标的第二偏差值，将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述长度对应的第二纵坐标。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式，所述卷积核参数还包括：所述卷积核的总行数，以及每个所述采样点的所在行与所述卷积核的中心点之间的间隔行数；所述根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，确定出每个采样点的纵坐标的第二偏差值，包括；

根据所述宽度h、所述缩小倍数s、所述总行数n和所述间隔行数n，确定出每个采样点的纵坐标的第二偏差值h*n/n*s。

结合第一方面、第一方面的第一种至第五种可能的实施方式中的任一方式，本申请实施例提供了第一方面的第六种可能的实施方式，在所述获得图像采样框的形状之前，所述方法还包括：

获得所述图像采样框的中心点的第一位置参数；

根据所述第一位置参数和所述卷积核的中心点的第二位置参数，将每个采样点从当前的第三位置调整至第一位置，其中，每个采样点处于第一位置表示所述卷积核的中心点与所述图像采样框的中心点重合。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第七种可能的实施方式，所述第一位置参数包括：第一中心横坐标和第一中心纵坐标，所述第二位置参数包括：第二中心横坐标和第二中心纵坐标，所述根据所述第一位置参数和所述卷积核的中心点的第二位置参数，将每个采样点从当前的第三位置调整至第一位置，包括：

根据所述第一中心横坐标和所述第二中心横坐标，将每个采样点的横坐标从当前的第三横坐标调整为第一横坐标；

根据所述第一中心纵坐标和所述第二中心纵坐标，将每个采样点的纵坐标从当前的第三纵坐标调整为第一纵坐标，其中，每个采样点的坐标为第三横坐标和第三纵坐标表示每个采样点的位置位于当前的第三位置处。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第八种可能的实施方式，所述根据所述第一中心横坐标和所述第二中心横坐标，将每个采样点的横坐标从当前的第三横坐标调整为第一横坐标，包括：

根据所述第一中心横坐标和所述第二中心横坐标，确定出所述第一中心横坐标与所述第二中心横坐标之间的第三偏差值；

根据所述第三偏差值，将每个采样点的横坐标从当前的第三横坐标调整为第一横坐标。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第九种可能的实施方式，所述根据所述第一中心纵坐标和所述第二中心纵坐标，将每个采样点的纵坐标从当前的第三纵坐标调整为第一纵坐标，包括：

根据所述第一中心纵坐标和所述第二中心纵坐标，确定出所述第一中心纵坐标与所述第二中心纵坐标之间的第四偏差值；

根据所述第四偏差值，将每个采样点的纵坐标从当前的第三纵坐标调整为第一纵坐标。

结合第二方面，本申请实施例提供了一种图像处理装置，所述装置包括：

形状获得模块，用于获得图像采样框的形状相关的形状参数；

形状调整模块，用于根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，其中，所述至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，任意两个采样点调整后的位置也不相同；

卷积模块，用于根据所述调整后的卷积核对图像进行卷积处理。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式，所述形状参数包括：所述图像采样框的长度和宽度，以及所述图像采样框在下采样中的缩小倍数；

所述形状调整模块，还用于根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标；根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述宽度对应的第二纵坐标，其中，调整前的每个采样点的坐标为第一横坐标和第一纵坐标，表示每个采样点的位置位于当前的第一位置处，以及调整后的每个采样点的坐标为第二横坐标和第二纵坐标，表示每个采样点的位置位于调整后的第二位置处；获得调整后的卷积核，所述调整后的卷积核中每个采样点的位置位于第二位置处。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第二种可能的实施方式，所述根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，

所述形状调整模块，还用于根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，确定出所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标的第一偏差值；根据每个采样点的横坐标的第一偏差值，将每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第三种可能的实施方式，所述卷积核参数包括：所述卷积核的总列数，以及每个采样点的所在列与所述卷积核的中心点之间的间隔列数；

所述形状调整模块，还用于根据所述长度w、所述缩小倍数s、所述总列数m和所述间隔列数m，确定出所述卷积核中的每个采样点的横坐标的第一偏差值为w*m/m*s。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第四种可能的实施方式，所述根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，

所述形状调整模块，还用于根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，确定出每个采样点的纵坐标的第二偏差值；根据每个采样点的纵坐标的第二偏差值，将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述长度对应的第二纵坐标。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第五种可能的实施方式，所述卷积核参数还包括：所述卷积核的总行数，以及每个所述采样点的所在行与所述卷积核的中心点之间的间隔行数；

所述形状调整模块，还用于根据所述宽度h、所述缩小倍数s、所述总行数n和所述间隔行数n，确定出每个采样点的纵坐标的第二偏差值h*n/n*s。

结合第二方面、第二方面的第一种至第五种可能的实施方式中的任一方式，本申请实施例提供了第二方面的第六种可能的实施方式，所述装置还包括：

位置获得模块，用于获得所述图像采样框的中心点的第一位置参数；

位置调整模块，用于根据所述第一位置参数和所述卷积核的中心点的第二位置参数，将每个采样点从当前的第三位置调整至第一位置，其中，每个采样点处于第一位置表示所述卷积核的中心点与所述图像采样框的中心点重合。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第七种可能的实施方式，所述第一位置参数包括：第一中心横坐标和第一中心纵坐标，所述第二位置参数包括：第二中心横坐标和第二中心纵坐标，

所述位置调整模块，还用于根据所述第一中心横坐标和所述第二中心横坐标，将每个采样点的横坐标从当前的第三横坐标调整为第一横坐标；根据所述第一中心纵坐标和所述第二中心纵坐标，将每个采样点的纵坐标从当前的第三纵坐标调整为第一纵坐标，其中，每个采样点的坐标为第三横坐标和第三纵坐标表示每个采样点的位置位于当前的第三位置处。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第八种可能的实施方式，

所述位置调整模块，还用于根据所述第一中心横坐标和所述第二中心横坐标，确定出所述第一中心横坐标与所述第二中心横坐标之间的第三偏差值；根据所述第三偏差值，将每个采样点的横坐标从当前的第三横坐标调整为第一横坐标。

结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第九种可能的实施方式，

所述位置调整模块，还用于根据所述第一中心纵坐标和所述第二中心纵坐标，确定出所述第一中心纵坐标与所述第二中心纵坐标之间的第四偏差值；根据所述第四偏差值，将每个采样点的纵坐标从当前的第三纵坐标调整为第一纵坐标。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括：处理器，存储器，总线和通信接口；所述处理器、所述通信接口和存储器通过所述总线连接；

所述存储器，用于存储程序；

所述处理器，用于通过调用存储在所述存储器中的程序，以执行第一方面、及第一方面的任一种实施方式所述的图像处理方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种具有计算机可执行的非易失程序代码的计算机可读储存介质，所述程序代码使所述计算机执行第一方面、及第一方面的任一种实施方式所述的图像处理方法。

本申请实施例的有益效果是：

依据图像采样框的形状相关的形状参数，通过将卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与形状参数对应的第二位置，从而使得调整后的卷积核内至少两个采样点的位置分布与图像采样框的形状匹配。因此，通过采样点位置分布与图像采样框形状匹配的卷积核来对图像采样框内的图像进行卷积处理，就可以避免对图像的检测结果出现偏差，从而也提高了检测的精度。

为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了本申请第一实施例提供的一种电子设备的结构框图；

图2示出了本申请第二实施例提供的一种图像处理方法的第一流程图；

图3示出了本申请第二实施例提供的一种图像处理方法中步骤s120的子流程图；

图4示出了本申请第二实施例提供的一种图像处理方法中步骤s140的子流程图；

图5示出了本申请第二实施例提供的一种图像处理方法的第一场景示意图；

图6示出了本申请第二实施例提供的一种图像处理方法的第二场景示意图；

图7示出了本申请第三实施例提供的一种图像处理装置的结构框图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有进行出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

第一实施例

请参阅图1，本申请实施例提供了电子设备10，电子设备10可以为终端设备或者为服务器。其中，终端设备可以为个人电脑(personalcomputer，pc)、平板电脑、智能手机、个人数字助理(personaldigitalassistant，pda)等；服务器可以为网络服务器、数据库服务器、云服务器或由多个子服务器构成的服务器集成等。

本实施例中，该电子设备10可以包括：存储器11、通信模块12、总线13和处理器14。其中，处理器14、通信模块12和存储器11通过总线13连接。处理器14用于执行存储器11中存储的可执行模块，例如计算机程序。图1所示的电子设备10的组件和结构只是示例性的，而非限制性的，根据需要，电子设备10也可以具有其他组件和结构。

其中，存储器11可能包含高速随机存取存储器(randomaccessmemoryram)，也可能还包括非不稳定的存储器(non-volatilememory)，例如至少一个磁盘存储器。本实施例中，存储器11存储了执行图像处理方法所需要的程序。

总线13可以是isa总线、pci总线或eisa总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图1中仅用一个双向箭头表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

处理器14可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器14中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器14可以是通用处理器，包括中央处理器(centralprocessingunit，简称cpu)、网络处理器(networkprocessor，简称np)等；还可以是数字信号处理器(dsp)、专用集成电路(asic)、现成可编程门阵列(fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。

本发明实施例任意实施例揭示的流过程或定义的装置所执行的方法可以应用于处理器14中，或者由处理器14实现。处理器14在接收到执行指令后，通过总线13调用存储在存储器11中的程序后，处理器14通过总线13控制通信模块12则可以执行图像处理方法的流程。

第二实施例

本实施例提供了一种图像处理方法，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。以下对本实施例进行详细介绍。

请参阅图2，在本实施例提供的图像处理方法中，该图像处理方法包括：步骤s110、步骤s120、步骤s130、步骤s140和步骤s150。

步骤s110：获得所述图像采样框的中心点的第一位置参数。

步骤s120：根据所述第一位置参数和所述卷积核的中心点的第二位置参数，将每个采样点从当前的第三位置调整至第一位置，其中，每个采样点处于第一位置表示所述卷积核的中心点与所述图像采样框的中心点重合。

步骤s130：获得图像采样框的形状相关的形状参数。

步骤s140：根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，其中，所述至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，任意两个采样点调整后的位置也不相同。

步骤s150：根据所述调整后的卷积核对图像进行卷积处理。

下面将结合图2至图4，对本申请各步骤进行详细地描述。

步骤s110：获得所述图像采样框的中心点的第一位置参数。

电子设备可以对原始图像中的目标物进行检测识别，例如，电子设备可以采用fasterrcnn、rfcn、ssd、retinanet、refinedet和yolov2等方式对原始图像中的目标物进行检测识别。那么电子设备可以根据预设的控制程序，以及根据原始图像中目标物的位置和大小，生成框选住原始图像中目标物的图像采样框；或者电子设备也可以响应用户的图像采样框生成操作，生成用户所期望的图像采样框。

可以理解到，图像采样框可以以虚拟的方式存在，即实际的该原始图像可以没有一个能够被用户看到的实际的框。

本实施例中，电子设备可以根据原始图像中各像素点的相对位置预先建立参考坐标系。而由于图像采样框位于该原始图像中，那么图像采样框也相应的位于该参考坐标系中。故电子设备生成该图像采样框的过程中，电子设备也可以相应的获得该图像采样框在参考坐标系中的位置，即电子设备也可以相应的获得该图像采样框的中心点在参考坐标系中的第一位置参数。第一位置参数可以为该图像采样框的中心点在参考坐标系中的第一中心横坐标和第一中心纵坐标。

步骤s120：根据所述第一位置参数和所述卷积核的中心点的第二位置参数，将每个采样点从当前的第三位置调整至第一位置，其中，每个采样点处于第一位置表示所述卷积核的中心点与所述图像采样框的中心点重合。

本实施例中，步骤s120可以包括：步骤s121和步骤s122。

步骤s121：根据所述第一中心横坐标和所述第二中心横坐标，将每个采样点的横坐标从当前的第三横坐标调整为第一横坐标。

步骤s122：根据所述第一中心纵坐标和所述第二中心纵坐标，将每个采样点的纵坐标从当前的第三纵坐标调整为第一纵坐标，其中，每个采样点的坐标为第三横坐标和第三纵坐标表示每个采样点的位置位于当前的第三位置处。

电子设备生成图像采样框的同时，电子设备还可以根据预设的控制程序生成卷积核来对图像进行卷积处理，以实现对图像的采样，其中，该图像可以为电子设备基于原始图像下采样生成的图像的特征金字塔中包含原始图像在内的任一图像。

本实施例中，为便于能够准确的对图像进行卷积，故在卷积的过程中需要在步进到某一位置时卷积核的中心点能够与图像采样框的中心点重合。那么，为了实现这种效果，在生成卷积核后就可以先将卷积核的中心点与图像采样框的中心点调整到重合，这样就能够保证在后续卷积的过程中该卷积核能够步进到中心点与图像采样框的中心点重合。

需要说明的是，若在图像采样框为响应用户的图像采样框生成操作而生成的情况下，由于图像采样框是基于用户操作生成的，那么在生成时用户可以保证图像采样框的中心点与生成的卷积核的中心点重合。但若图像采样框为电子设备自动生成的情况时，由于此时自动生成的图像采样框可以为电子设备对用户操作生成图像采样框进行次采样后回归出的相对于图像更加精确的采样框，故图像采样框的中心点就可以不与卷积核的中心点重合。

为便于理解本方案，本实施例中对将卷积核的中心点与图像采样框的中心点调整到重合的说明，并不针对图像采样框为基于用户操作生成还是基于电子设备自动生成，但并不作为对方案的限定。实际情况下，若图像采样框为基于用户操作生成，电子设备可以不调整卷积核的中心点。

本实施例中，电子设备执行步骤s121和步骤s122就可以调整卷积核的中心点与图像采样框的中心点重合，以下将对执行步骤s121和步骤s122进行说明：

详细地，电子设备基于卷积核的位于该参考坐标系中的位置，电子设备可以获得该卷积核的中心点在参考坐标系中的第二位置参数。第二位置参数可以为该卷积核的中心点在参考坐标系中的第二中心横坐标和第二中心纵坐标。

又由于卷积核可以具有至少两个采样点，例如，卷积核a为5*5的卷积核，那么该卷积核a中则可以具有25个采样点。故在针对卷积核来说，卷积核的至少两个采样中的每个采样点相对于卷积核的中心点则可以位于当前的第三位置处，且至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，即任意两个采样点所在的任意两个第三位置并不相同。

在将该卷积核的中心点调整为与图形采样框的中心点重合时，由于卷积核的中心点位置改变，那么卷积核中每个采样点的位置也需要相应的改变。故可以根据卷积核的中心点与图形采样框的中心点之间的差值来作为对每个采样点进行调整的依据，从而将每个采样点从当前的第三位置调整至第一位置，其中，每个采样点的位置位于当前的第三位置可以表示每个采样点的坐标为第三横坐标和第三纵坐标。

电子设备根据第一中心横坐标和第二中心横坐标，确定出第一中心横坐标与第二中心横坐标之间的第三偏差值，电子设备根据该第三偏差值，就可以将每个采样点的横坐标从当前的第三横坐标调整为第一横坐标。以及，电子设备再根据第一中心纵坐标和所述第二中心纵坐标，确定出第一中心纵坐标与第二中心纵坐标之间的第四偏差值，电子设备根据该第四偏差值，就可以将每个采样点的纵坐标从当前的第三纵坐标调整为第一纵坐标。这样，在后续继续进行调整前，每个采样点的坐标为第一横坐标和第一纵坐标可以表示每个采样点当前已经被调整到了第一位置处，其中，至少两个采样点中任意两个采样点当前所在的任意两个第一位置也不相同。

假设，生成的卷积核a为5*5的卷积核，那么卷积核a的中心点在参考坐标系中的坐标的第二位置参数包括：(xa、ya)。而卷积核a中至少两个采样点以该卷积核a的中心点的坐标作为参照，则卷积核a中至少两个采样点的坐标可以为：

其中，式1为卷积核a的至少两个采样点的至少两个第二中心横坐标的分布，式2则为卷积核a的至少两个采样点的至少两个第二中心纵坐标的分布，式1和式2则表示出每个采样点位于当前的第三位置。

图像采样框b的中心点在参考坐标系中的坐标的第一位置参数包括：(xb、yb)，根据第一位置参数(xb、yb)和第二位置参数(xa、ya)将卷积核a的中点调整至与图像采样框b的中心点重合时，则卷积核a中至少两个采样点的坐标可以对应的调整为：

其中，式3为卷积核a的至少两个采样点的至少两个第二中心横坐标在卷积核a的中点调整至与图像采样框b的中心点重合时的分布，式4则为卷积核a的至少两个采样点的至少两个第二中心纵坐标在卷积核a的中点调整至与图像采样框b的中心点重合时的分布，式3和式4则表示出每个采样点位于当前的第一位置。

本实施例中，由于生成的卷积核的形状一般为标准的形状，即卷积核中的每个采样点与相邻的采样点等间距，这样就使得卷积核的形状与形状随机性很强的图像采样框的形状不匹配，从而导致采样出现偏差。故电子设备不仅可以将卷积核的中心点调整为与图像采样框的中心点重合，电子设备还可以执行步骤s130至步骤s140来将卷积核的形状调整至与图像采样框的形状匹配。

步骤s130：获得图像采样框的形状相关的形状参数。

由于像素点的多少可以决定图像的尺寸的大小，那么图像的尺寸也可以对应表示在该参考坐标系中，以及该图像中图像采样框的尺寸也可以表示在参考坐标系中。故在生成图像采样框的同时，电子设备可也获得在该图像采样框的形状相关的形状参数，该形状相关的形状参数可以包括：在参考坐标系中该图像采样框的长度和宽度。由于在检测过程中，图像为图像的特征金字塔中包含原始图像在内的任一图像，那么该图像相较于原始图像可能会缩小，那么该图像中缩小的图像采样框相较于一开始自动或基于用户操作生成的图像采样框也可以等比缩小，故电子设备获得的形状相关的形状参数还可以包括：该图像采样框在下采样中的缩小倍数，即该图像采样框缩小倍数则可以获得图像中缩小的图像采样框。

步骤s140：根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，其中，所述至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，任意两个采样点调整后的位置也不相同。

本实施例中，步骤s140可以包括：步骤s141、步骤s142和步骤s143。

步骤s141：根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标。

步骤s142：根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述宽度对应的第二纵坐标。

步骤s143：获得调整后的卷积核，所述调整后的卷积核中每个采样点的位置位于第二位置处。

本实施例中，电子设备生成卷积核的同时，电子设备还可以获得该卷积核的卷积核参数。其中，卷积核参数可以包括：卷积核的总行数和总列数，以及，在确定卷积核的中心点的情况下，卷积核参数还可以为包括：每个采样点的所在列与卷积核的中心点之间的间隔列数，每个采样点的所在行与卷积核的中心点之间的间隔行数。

例如，卷积核a为5*5的卷积核，那么卷积核a的总行数和总列数可以为：5行和5列。位于最边缘的一列上的采样点与卷积核a的中心点的间隔列数可以为3。以及，位于与最边缘的一行相邻的一行上的采样点与卷积核a的中心点的间隔行数可以为2。

本实施例中，电子设备通过执行步骤s141和步骤s142，电子设备可以将每个采样点的当前的第一横坐标调整为与长度对应的第二横坐标，以及可以再将每个采样点的当前的第一纵坐标调整为与长度对应的第二纵坐标的方式。从而实现每个采样点的坐标均与长度和宽度对应，继而实现卷积核的形状与图像采样框的形状匹配，就可以调整卷积核的中心点与图像采样框的中心点重合。以下将对执行步骤s141、步骤s142和步骤s143进行说明：

电子设备根据长度、缩小倍数、以及根据卷积核参数中的总列数和间隔列数，电子设备就可以确定出卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标相对于该缩小了缩小倍数的长度产生的第一偏差值。然后，电子设备确定出的根据每个采样点的横坐标的第一偏差值，则可以将每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与长度对应的第二横坐标。

于此同时，电子设备根据宽度、缩小倍数、以及根据卷积核参数中的总行数和间隔行数，电子设备就可以确定出卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的纵坐标相对于该缩小了缩小倍数的宽度产生的第二偏差值。然后，电子设备确定出的根据每个采样点的纵坐标的第二偏差值，则可以将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与宽度对应的第二纵坐标。这样，调整后的每个采样点的坐标为第二横坐标和第二纵坐标可以表示每个采样点当前已经被调整到了第二位置处，其中，至少两个采样点中任意两个采样点当前所在的任意两个第一位置也不相同。

可选地，确定出的第一偏差值与长度、缩小倍数、总列数和间隔列数的关系可以为：长度w、缩小倍数s、总列数m和间隔列数m，确定出的卷积核中的每个采样点的横坐标的第一偏差值可以为w*m/m*s。以及，确定出的第二偏差值与宽度、缩小倍数、总行数和间隔行数的关系可以为：宽度h、缩小倍数s、总行数n和间隔行数n，确定出的卷积核中的每个采样点的纵坐标的第二偏差值可以为h*n/n*s。

可以理解到，卷积核中越是靠近卷积核边缘的行或列上的采样点，这些采样点的调整幅度就越大。

继续前述的假设，式3和式4则表示出卷积核a中的每个采样点位于当前的第一位置。若图像采样框b的长度为w、缩小倍数为s、总列数为m和间隔列数为m，以及图像采样框b的宽度为h、总行数为n和间隔行为数n。那么调整后的卷积核a的每个采样点位于当前的第二位置的坐标分布可以如下所示：

其中，式5为卷积核a的至少两个采样点中每个采样点位于第二位置处时的横坐标分布，以及式6为卷积核a的至少两个采样点中每个采样点位于第二位置处时的纵坐标分布。那么式5和式6则表示出了调制后的卷积核。

步骤s150：根据所述调整后的卷积核对图像进行卷积处理。

电子设备获得调整后的卷积核后，根据该调整后的卷积核就可以对图像的图像采样框内的特征进行卷积处理。

可以理解到，调整后的卷积核以对图像的图像采样框内的特征目标物进行卷积处理可以为：该调整后的卷积核对该调整后的卷积核当前所在位置处的特征进行卷积处理。若以卷积核预设步长步进到图像采样框内的下一个采样位置时，则可以按照前述方法重新调整卷积核的至少两个采样点的位置分布与图像采样框的形状匹配，从而再获得调整后的卷积核对该下一个采样位置进行采样。

需要说明的是，调整后的卷积核在卷积的过程中，调整后的卷积核中每个采样点采样的采样特征可以为距该每个采样点最近四个离散特征点的值经过双线性插值而得到。

如图5和图6所示，图5中调整前的卷积核a1为3*3的卷积核，卷积核a1中每个采样点(虚线所示的圆)处于调整前的第一位置，且图像采样框为b。那么，通过调整获得与图像采样框为b的调整后的卷积核a2中每个采样点(实线所示的圆)处于调整前的第二位置。

第三实施例

请参阅图7，本申请实施例提供了一种图像处理装置100，该图像处理装置100可以应用于电子设备，该图像处理装置100包括：

形状获得模块110，用于获得图像采样框的形状相关的形状参数。

形状调整模块120，用于根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，其中，所述至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，任意两个采样点调整后的位置也不相同。

卷积模块130，用于根据所述调整后的卷积核对图像进行卷积处理。

需要说明的是，由于所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

本领域内的技术人员应明白，本申请实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

综上所述，本申请实施例提供了一种图像处理方法、装置、电子设备及储存介质。方法包括：获得图像采样框的形状相关的形状参数；根据形状参数和卷积核的卷积核参数，将卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，其中，至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，任意两个采样点调整后的位置也不相同；根据调整后的卷积核对图像采样框内的图像进行卷积处理。

依据图像采样框的形状相关的形状参数，通过将卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与形状参数对应的第二位置，从而使得调整后的卷积核内至少两个采样点的位置分布与图像采样框的形状匹配。因此，通过采样点位置分布与图像采样框形状匹配的卷积核来对图像采样框内的图像进行卷积处理，就可以避免对图像的检测结果出现偏差，从而也提高了检测的精度。

以上仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

以上，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。