接近识别方法和装置与流程

本申请涉及终端设备控制技术领域，尤其涉及一种接近识别方法和装置。

背景技术：

随着终端设备制造技术的进步，终端设备可以实现基于接近传感器的接近事件识别功能，比如，为了避免对触摸屏的误触发，基于接近传感器识别外界物体距离触摸屏的距离，当距离较近时，则熄屏处理。

相关技术中，在接近识别功能开始时，直接以获取的初始接近数据作为接近状态检测的基准数据，然而，当初始状态的终端设备即为接近状态时，则会导致基准数据对应于接近状态下的接近数据，从而，无法检测到接近状态。

申请内容

本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

本申请第一方面实施例提出了一种接近识别方法，获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集所述触摸屏在初始状态下的第一自容数据；采集所述触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据；确定所述触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从所述第一自容数据到所述基准自容参考数据的数据变化信息，判断所述数据变化信息是否满足预设的全局变化条件；若获知所述数据变化信息满足所述全局变化条件，则以所述第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对所述第一自容数据和所述第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。

本申请第二方面实施例提出了一种接近识别装置，包括：采集模块，用于获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集所述触摸屏在初始状态下的第一自容数据；所述采集模块，还用于采集所述触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据；判断模块，用于确定所述触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从所述第一自容数据到所述基准自容参考数据的数据变化信息，判断所述数据变化信息是否满足预设的全局变化条件；接近判断模块，用于在获知所述数据变化信息满足所述全局变化条件时，以所述第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对所述第一自容数据和所述第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。

本申请第三方面实施例提出了一种终端设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如前述第一方面实施例所述的接近识别方法。

本申请第四方面实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如前述第一方面实施例所述的接近识别方法。

本申请提供的技术方案，至少包括如下有益效果：

获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集触摸屏在初始状态下的第一自容数据，采集触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据，确定触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件，进而，若获知数据变化信息满足全局变化条件，则以第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对第一自容数据和第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。由此，实现了接近状态判断时基准自容数据的校准，提高了接近状态判断的准确性。

本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本申请一个实施例的接近识别方法的流程图；

图2-1是根据本申请一个实施例的自容电极阵列的阵列划分示意图；

图2-2是根据本申请另一个实施例的自容电极阵列的阵列划分示意图；

图3-1是根据本申请一个实施例的接近识别方法的应用场景示意图；

图3-2是根据本申请另一个实施例的接近识别方法的应用场景示意图；

图4是根据本申请另一个实施例的接近识别方法的流程图；图5是本申请某些实施方式的终端设备的平面示意图；

图6是本申请某些实施方式的终端设备的一个截面示意图；

图7是本申请某些实施方式的终端设备的另一个截面示意图；以及

图8是根据本申请一个实施例的接近识别装置的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

针对上述背景技术所提到的，终端设备中目前接近数据的基准数据依赖于初始状态为无物体接近状态，当有物体接近时，导致设置的基准数据设定偏差，难以检测到接近事件。

为了解决上述技术问题，本申请提出了一种基准数据自动校准的方式，排除外界环境对基准数据确定的影响，确保接近状态检测的灵敏度。

其中，本申请实施例中的触摸屏为自互一体的电容屏，可以检测到触摸屏上的自容数据和互容数据，基于自容数据和互容数据的结合准确的进行接近事件的判断。由于自容数据能够识别较大范围内的接近事件，比如，可以识别1.4厘米范围内的接近事件等。因而，在本申请的实施例中，为了进一步提高接近状态确定的精度，使用自动数据判断接近状态，从而，在下述实施例中，以基准自容数据表述上述提到的基准数据。

下面参考附图描述本申请实施例的接近识别方法和装置。

图1是根据本申请一个实施例的接近识别方法的流程图，如图1所示，该方法包括：

步骤101，获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集触摸屏在初始状态下的第一自容数据。

其中，终端设备的触摸屏接近功能开启指令可以是由用户主动触发相关控件实现的，也可以是由需要接近功能检测的应用开启时向系统发送的，比如，电话应用在开启时，为了避免人脸或者人耳的误触，向系统发送接近功能开启指令。

具体地，在获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令后，采集触摸屏在初始状态下的第一自容数据，该第一自容数据对应于当前触摸屏的当前状态，现有技术中，直接默认当前状态为无物体接近状态将第一自容数据设定为基准自容数据，为了避免出现在当前状态不为无物体接近状态时，将第一自容数据设定为基准自容数据导致的接近状态无法准确检测，在本申请的实施例中，基于该第一自容数据进行自容基准数据的校准。

步骤102，采集触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据。

具体地，获取触摸屏在接近状态下的第二自容数据，比如，人脸接近状态或者人耳接近状态，该接近状态可以由终端设备提示用户完成等。

步骤103，确定触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件。

在本申请的实施例中，基准自容参考数据包括上一次历史基准自容数据或第二自容数据，其中，上一次历史基准自容数据对应于终端设备的触摸屏无物体接近状态。基准自容参考数据用于判断当前第一自容数据是否对应于触摸屏无物体接近状态，应当理解的是，当第一自容数据对应于触摸屏有物体接近状态，则其接近状态对应的局部区域的自容数据必然相比于其他区域不同，当第一自容数据对应于触摸屏无物体接近状态，则触摸屏中全局的自容数据的相对较为一致，因而，根据触摸屏的自融数据是否为全局变化，来确定其是否处于无物体接近状态。

具体地，确定触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件，其中，获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息的方式根据自容电极阵列的排布方式的不同而不同，作为一种可能的实现方式，如图2-1所示，当自容电极阵列的排布方式为横纵排列时，如图4所示，步骤103包括：

步骤201，从第一自容数据中获取各个横向排布的自容电极阵列中的每预设个数横向自容电极的第一横向自容数据，和，各个纵向排布的自容电极阵列中的每预设个数的第一纵向自容数据。

具体地，获取横向自容数据和纵向自容数据，以便于根据横向自容数据和纵向自容数据进一步确定自容数据是全局变化还是局部变化。

需要强调的是，本申请的实施例中，基于预设个数限定校准精度，当预设个数为1时，则如图2-1(图中仅示出一个横向和一个纵向的划分单元)，比较每个阵列单元的自容数据，校准精度最高，当预设个数为2时，则如图2-2所示(图中仅示出一个横向和一个纵向的划分单元)，比较每2个阵列单元的自容数据，校准精度较高，当然了，为了满足不同的场景需要，如图2-2所示，可以将电极阵列划分为包含不同的个数电极阵列的多个单元。

步骤202，从基准自容参考数据中获取各个横向排布的自容电极阵列中的每预设个数横向自容电极的第二横向自容数据，和，各个纵向排布的自容电极阵列中的每预设个数第二纵向自容数据。

其中，第二横向自容数据和第二纵向自容数据为预先存储的。

步骤203，获取每预设个数横向自容电极的第一横向自容数据和第二横向自容数据的差值，确定差值大于第一预设阈值的目标横向自容电极。

步骤204，获取每预设个数纵向自容电极的第一纵向自容数据和第二纵向自容数据的差值，确定差值大于第二预设阈值的目标纵向自容电极。

具体地，比较每个划分单元中第一自容数据和基准参考自容数据的差值，确定差值大于第一预设阈值的目标横向自容电极，以及差值大于第二预设阈值的目标纵向自容电极，当差值大于对应的预设阈值，表明当前检测到的第一自容数据在对应的检测单元与基准参考自容数据的差值较大，存在明显的区别。

步骤205，判断目标横向自容电极和目标纵向自容电极的个数是否满足预设个数条件。

不难理解的是，若第一自容数据相较于基准参考数据的差值大于对应阈值的个数，表明第一自容数据相较于基准参考数据的变化是局部还是全局。

在本申请的一个实施例中，判断目标横向自容电极和目标纵向自容电极的个数之和是否满足预设个数范围，该预设个数范围与根据点自容电极阵列划分的单元个数有关，预设个数范围相对于划分的单元个数不会较多也不会较少，当目标横向自容电极和目标纵向自容电极的个数之和是否满足预设个数范围，则表明触摸屏中局部的第一自容数据相对于参考基准数据变化较大，从而，判断数据变化信息不满足预设的全局变化条件，当目标横向自容电极和目标纵向自容电极的个数之和是否不满足预设个数范围，则表明触摸屏中全局的第一自容数据相对于参考基准数据变化较小，从而，判断数据变化信息满足预设的全局变化条件。同理，还可以单独判断目标横向自容电极个数是否满足预设个数范围，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件，或者，单独判断目标纵向自容电极个数是否满足预设个数范围，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件。

为了使得本领域的技术人员更加清楚的了解如何实施上述步骤103，下面集合具体的应用场景进行说明：

场景一，基准自容参考数据包括上一次历史基准自容数据，自容数据读取的划分粒度为每个单元包含一个横向自容数据，一个纵向自容数据，该触摸屏包含18个横向排布的自容电极，18个纵向排布的自容电极，预设个数范围为目标横向自容电极和目标纵向自容电极的个数之和为0-2个。

在本场景中，如图3-1所示，获取第1个到第18个横向和纵向自容电极的第一自容数据后，获取上一次历史基准自容数据中第1个到第18个横向和纵向自容电极的自容数据，分别比较第1个到第18个横向和纵向的第一自容数据和历史基准自容数据的差值，确定差值大于预设阈值的自容电极的个数是否小于等于2个，若是，则确定数据变化信息满足预设的全局变化条件，否则，则确定其为局部变化。

场景二，基准自容参考数据包括触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据，自容数据读取的划分粒度为每个单元包含一个横向自容数据，一个纵向自容数据，该触摸屏包含18个横向排布的自容电极，18个纵向排布的自容电极，预设个数范围为目标横向自容电极和目标纵向自容电极的个数之和为6-18个。

在本场景中，如图3-2所示，获取第1个到第18个横向和纵向自容电极的第一自容数据后，获取触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据中第1个到第18个横向和纵向自容电极的自容数据，分别比较第1个到第18个横向和纵向的第一自容数据和触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据的差值，确定差值大于预设阈值的自容电极的个数是6-18个，若是，则确定数据变化信息满足预设的全局变化条件，否则，则确定其为局部变化。

基于以上实施例，不难理解的是，当基准自容参考数据包括上一次历史基准自容数据时，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件的原理是，若当前第一自容数据对应于触摸屏无物体接近状态，则上一次对应于触摸屏无物体接近状态的上一次历史基准自容数据，必然和第一自容数据存在较为一致的全局变化，满足全局变化条件，当只有局部的第一自容数据和上一次历史基准自容数据相差较大，则表明第一自容数据对应的触摸屏状态为有物体接近，从而，该第一自容数据没有对应于触摸屏无物体接近状态，满足局部变化条件。当基准自容参考数据包括第二自容数据时，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件的原理是，若第一自容数据没有对应于触摸屏有物体接近状态，则其相对于对应于触摸屏有物体接近状态的第二自容数据显然全局较为一致，可能每个划分单元的自容数据差值均较小，满足全局变化条件，若第一自容数据没有对应于触摸屏没有物体接近状态，则其相对于对应于触摸屏有物体接近状态的第二自容数据显然局部差距较大，满足局部变化条件。

步骤104，若获知数据变化信息满足全局变化条件，则以第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对第一自容数据和第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。

具体地，若获知数据变化信息满足全局变化条件，则表明第一自容数据对应于触摸屏无物体接近状态，因而，以第一自容数据为当前的基准自容数据，从而，按照预设算法对第一自容数据和第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态，比如，获取第一自容数据和第二自容数据的差值，当该差值小于一定值时，则确定触摸屏处于接近状态。

在本申请的一个实施例中，若获知数据变化信息不满足全局变化条件，则表明第一自容数据对应于触摸屏有物体接近状态，则为了避免接近状态无法检测，以存储的上一次历史基准自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对历史基准自容数据和第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。

为了使得本领域的技术人员更加清楚的了解本申请实施例的终端设备的结构，下面结合具体的示例对本申请在一些可能的示例中的终端设备的结构进行说明，说明如下:

请参阅图5-图7，本申请实施方式提供了一种终端设备100。终端设备100包括触摸屏103(目标硬件元件)，接近传感器元件16、光感应器5和处理器23，触摸屏103包括显示层13，显示层13包括显示区1311，接近传感器元件16设置在显示区1311下方，由此，减小了终端设备的开孔，接近传感器元件16用于发射红外光并接收被物体反射的红外光以检测物体至终端设备100的距离。

本申请实施例以终端设备100为手机作为例子进行说明。手机通过设置接近传感器元件16以确定手机与障碍物之间的距离并做出相应的调整，能够防止用户的误操作和有利于节省手机的电量。当用户在接听或者拨打电话并将手机靠近头部时，接近传感器元件16经过计算发射器发出红外光和接收器接收反射回来的红外光的时间生成检测信息，处理器23根据该检测信息关闭显示层13。当手机远离头部时，处理器23再次根据接近传感器元件16反馈回来的检测信息重新打开显示层13。

在某些实施方式中，显示层13包括oled显示层。

具体地，oled显示层具有良好的透光性，能够较好地透过可见光和红外光。因此，oled显示层可以在展现内容效果的情况下，也不影响接近传感器元件16发射和接收红外光。显示层13也可以采用microled显示层，microled显示层同样具有对可见光和红外光良好的透光率。当然，这些显示层仅作为示例性的而本申请的实施例并不限于此。另外，显示层13可设置在壳体20上。在本示例中，并不以红外接近传感器进行接近事件的检测，本示例中，仅仅用以说明适用于本申请实施例的终端设备的一种结构。

请参阅图7，在一些实施方式中，触摸显示屏103还包括透光盖板11和触控层12。透光盖板11设置在触控层12上，触控层12设置在显示层13上，显示层13的上表面131朝向触控层12，透光盖板11和触控层12对可见光透光率和红外光透光率均大于90％。

具体地，触控层12主要用于接收用户输入信号并传送到电路板进行数据处理，从而获得用户触碰触控层12的具体位置。需要指出的是，触控层12设置在显示层13上可以指的是触控层12与显示层13接触，例如，可以采用in-cell或者on-cell贴合技术，将触控层12与显示层13进行贴合，能够有效地减轻显示层13的重量和减少显示层13的整体厚度。触控层12设置在显示层13上也可以指的是触控层12设置在显示层13上方，并与显示层13间隔。

另外，将透光盖板11设置在触控层12上，能够有效地保护触控层12及其内部结构，避免了外界作用力对触控层12及显示层13的损坏。透光盖板11和触控层12对可见光和红外光的透光率均大于90％，不仅有利于显示层13较好地展现内容效果，而且还有利于设置在显示层13下的接近传感器元件16稳定地发射和接收红外光，保证了接近传感器元件16的正常工作。

在本申请的实施例中，触控层12有电容板组成，因而，在本申请的实施中，还可以将触摸屏103注册为虚拟传感器元件，在屏幕处于亮屏状态时，通过触控层12检测到的电容的微弱的变化量来确定接近事件，其中，电容板中包含的电极阵列可以实现自容数据的检测，也可以实现互容数据的检测。

综上，本申请实施例的接近识别方法，获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集触摸屏在初始状态下的第一自容数据，采集触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据，确定触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件，进而，若获知数据变化信息满足全局变化条件，则以第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对第一自容数据和第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。由此，实现了接近状态判断时基准自容数据的校准，提高了接近状态判断的准确性。

为了实现上述实施例，本申请还提出一种接近识别装置，图8是根据本申请一个实施例的接近识别装置的结构示意图，如图8所示，该接近识别装置包括：采集模块1000、判断模块2000和接近判断模块3000。

其中，采集模块1000，用于获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集触摸屏在初始状态下的第一自容数据。

采集模块1000，还用于采集触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据；

判断模块2000，用于确定触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件；

接近判断模块3000，用于在获知数据变化信息满足全局变化条件时，以第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对第一自容数据和第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。

在本申请的一个实施例中，接近判断模块3000，还用于若获知数据变化信息不满足全局变化条件，则以存储的上一次历史基准自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对历史基准自容数据和第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。

其中，基准自容参考数据包括上一次历史基准自容数据或第二自容数据。

需要说明的是，前述对接近识别实施例的解释申请也适用于该实施例的接近识别装置，此处不再赘述。

综上，本申请实施例的接近识别装置，获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集触摸屏在初始状态下的第一自容数据，采集触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据，确定触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件，进而，若获知数据变化信息满足全局变化条件，则以第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对第一自容数据和第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。由此，实现了接近状态判断时基准自容数据的校准，提高了接近状态判断的准确性。

为了实现上述实施例，本申请还提出一种终端设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如前述实施例描述的接近识别方法。

为了实现上述实施例，本申请还提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本申请前述实施例提出的接近识别方法。

在本申请书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本申请书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本申请书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本申请书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(ram)，只读存储器(rom)，可擦除可编辑只读存储器(eprom或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(cdrom)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。如，如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(pga)，现场可编程门阵列(fpga)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。