一种调试设备和电子设备的制作方法

本发明涉及电子电路技术，尤指一种调试设备和电子设备。

背景技术：

随着服务器和其他消费电子产品的功能和性能的不断增强，其外观接口设计和小型化要求使其不允许外观有额外的debug接口。

由于产品的无debug外部接口的设计，在客户现场使用过程中，如果出现宕机等异常状态，必须通过拆机的方式来连接uart接口以读取相关log信息，其操作性和维护功能就会比较麻烦。

现有的服务器设计中，控制端bmc芯片uart模块直连出来的信号外接header(包含sysuart和bmcuart)。后续调试、debug时，需要调试人员携带debug板串口,其设计模式如图1所示。

从图1可以看出，现有的服务器设计方案，必须拆机才能完成。对于结构复杂的消费电子产品，拆机的过程非常复杂，还容易造成整机结构件的损坏，不仅浪费时间，也会增加维护费用。

技术实现要素：

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种调试设备和电子设备。通过在debug调试设备上添加与待调试的电子设备已有的接口匹配的公头，无需拆机即可完成调试设备与电子设备的连接，大大提升了调试设备的易用性，解决了拆机调试方案时间成本和维护费用高的问题。

为了达到本发明目的，本发明提供了一种调试设备，所述调试设备包括debug板，所述debug板连接有伸出至所述调试设备外部的与待调试电子设备的外部接口匹配的公头，所述公头在调试时连接至所述待调试电子设备的外部接口，完成所述调试设备的debug板与所述待调试电子设备的连接。

优选的，所述公头具体为usb公头。

优选的，所述公头具体为usb3.0公头。

本发明还提供了一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包含置于至该电子设备外部的调试用接口，所述电子设备的基板管理控制器bmc的uart和/或sysuart信号输出至所述调试用接口。

优选的，所述公头具体为usb公头。

优选的，所述电子设备的电路板usb接口输出连接至所述调试用接口。

本发明提供了一种调试设备和电子设备，调试设备的debug板连接有伸出至所述调试设备外部的与待调试电子设备的外部接口匹配的公头，电子设备包含置于至该电子设备外部的调试用接口，所述公头在调试时连接至所述待调试电子设备的外部的调试用接口，完成所述调试设备的debug板与所述待调试电子设备的连接。实现了易用便捷的电子产品现场调试，解决了拆机调试方案时间成本和维护费用高的问题。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。

图1为一种服务器设计实现原理示意图；

图2为本发明的一实施例提供的一种调试设备及本发明的一实施例提供的一种电子设备的结构示意图；

图3为双usb3.0接口pin定义示意图；

图4为兼容uartdebug接口的usb3.0的pin定义示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

现有的服务器设计方案，必须拆机才能完成。对于结构复杂的消费电子产品，拆机的过程非常复杂，还容易造成整机结构件的损坏，拆机过程需要下电，可能造成故障消失。debug不方便，需要拆整机露出主板进行debug。不仅浪费时间，也会增加维护费用。

为了解决上述问题，本发明的实施例提供了一种调试设备和电子设备。通过在debug调试设备上添加与待调试的电子设备已有的接口匹配的公头，无需拆机即可完成调试设备与电子设备的连接，大大提升了调试设备的易用性，解决了拆机调试方案时间成本和维护费用高的问题。

本发明的一实施例提供了一种调试设备，该设备的结构如图2所示，包括：

debug板，所述debug板连接有伸出至所述调试设备外部的与待调试电子设备的外部接口匹配的公头，所述公头在调试时连接至所述待调试电子设备的外部接口，完成所述调试设备的debug板与所述待调试电子设备的连接。

优选的，所述公头具体为usb公头。

优选的，所述公头具体为usb3.0公头。

在调试人员进行debug时，将debug工具做成usb3.0公头的形式，即可完成整机的debug过程。图2所示为双usb3.0接口，兼容bmcuart和sysuart。

usb3.0的pin定义，如图3所示(双usb3.0)。

usb3.0的pin定义调整后兼容uartdebug接口，如图4所示(双usb3.0)。

与上述调试设备相应的，本发明的一实施例还提供了一种电子设备，如图2所示，所述电子设备包含置于至该电子设备外部的调试用接口，所述电子设备的基板管理控制器bmc的uart和/或sysuart信号输出至所述调试用接口。

优选的，所述公头具体为usb公头。

优选的，所述电子设备的电路板usb接口输出连接至所述调试用接口。

本发明的实施例提供了一种调试设备和电子设备，调试设备的debug板连接有伸出至所述调试设备外部的与待调试电子设备的外部接口匹配的公头，电子设备包含置于至该电子设备外部的调试用接口，所述公头在调试时连接至所述待调试电子设备的外部的调试用接口，完成所述调试设备的debug板与所述待调试电子设备的连接。实现了易用便捷的电子产品现场调试，解决了拆机调试方案时间成本和维护费用高的问题。

方便维护调试，减少不必要的拆机流程。解决了传统设计中，研发和测试人员debug过程中繁琐的问题，巧妙利用usb3.0标准接口，将uart信号直接接到usb3.0的接口。基于usb3.0多pin接口，将bmcuart和sysuart模块出来的信号，直接接到usb3.0接口中。还可以保留原来的usb2.0信号用于键盘和鼠标使用，usb3.0信号用于uartdebug信号。

整个debug过程不需要下电，插上usb即可使用。避免了拆机影响故障现象和损坏整机的问题。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于ram、rom、eeprom、闪存或其他存储器技术、cd-rom、数字多功能盘(dvd)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。