固态硬盘的测试装置的制作方法

本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种固态硬盘的测试装置。

背景技术：

目前，固态硬盘的测试系统，在对高速信号接口的固态硬盘的测试过程中经常因连接线过长而造成信号衰减严重，导致高速信号的不稳定，从而出现硬盘降模的现象，对这类固态硬盘的测试还不可靠。

技术实现要素：

本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本实用新型的一个目的在于提出一种固态硬盘的测试装置，以避免高速信号不稳定而导致的降模现象，保证高速信号的稳定性确保信号质量。

为达到上述目的，本实用新型第一方面提出了一种固态硬盘的测试装置，包括：测试主板，所述测试主板具有m个sata接口、控制命令输出接口和电能输出接口，各sata接口均用于通过sas线与一个待测固态硬盘的sata接口连接，其中，m为大于或者等于1的整数；电源管理组件，所述电源管理组件具有供电接口、控制接口和m个电能输出接口，所述供电接口与所述电能输出接口连接，所述控制接口与所述控制命令输出接口连接，各电能输出接口均用于与一个待测固态硬盘的供电接口连接。

本实用新型的固态硬盘的测试装置，将测试主板和电源管理组件分开设置，并使用可靠的线材sas线直接连接待测固态硬盘和测试主板的sata端口，使sata高速信号不经过板载，避免高速信号不稳定而导致的降模现象，保证高速信号的稳定性确保信号质量，同时可实现多种sata信号的兼容性。

另外，本实用新型的固态硬盘的测试装置还可以具有如下附加的技术特征：

在一些示例中，所述电源管理组件包括电源板和集成有连接器的连接板，所述电源板具有供电端、控制端和m个电能输出端，所述供电端与所述电能输出接口连接，所述控制端与所述控制命令输出接口连接，各电能输出端均用于通过所述连接器与一个待测固态硬盘的供电接口连接。

在一些示例中，所述电源板包括：m个dc/dc电源芯片；与所述m个dc/dc电源芯片一一对应的m个可控开关，每个可控开关均与其对应的dc/dc电源芯片串联连接，并形成串联结构，其中，每个串联结构的一端均与所述测试主板的电能输出接口连接，每个串联结构的另一端连接一个待测固态硬盘的供电端；控制芯片，所述控制芯片分别与所述m个可控开关的控制端连接，用于控制各可控开关的闭合和断开。

在一些示例中，所述电源板还包括：与m个待测固态硬盘一一对应的m个硬盘指示灯，所述m个硬盘指示灯均与所述控制芯片连接，其中，所述控制芯片用于根据待测固态硬盘的状态，点亮或者熄灭其对应的硬盘指示灯。

在一些示例中，所述连接板还包括：m个电源指示灯，各电源指示灯分别连接在一个待测固态硬盘的供电回路中，用于指示对应供电回路的电源状态。

在一些示例中，所述控制接口与所述控制命令输出接口通过rs232协议连接。

在一些示例中，每个dc/dc电源芯片均为12v转5v的电源芯片。

本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本实用新型实施例的固态硬盘的测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型一个示例的固态硬盘的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

下面参考附图描述本实用新型实施例的固态硬盘的测试装置。

实施例1

图1是本实用新型实施例的固态硬盘的测试装置的结构示意图。

如图1所示，固态硬盘的测试装置100包括：测试主板110和电源管理组件120。

其中，测试主板110具有m个sata接口、控制命令输出接口和电能输出接口，各sata接口均用于通过sas线与一个待测固态硬盘ssd的sata接口连接，其中，m为大于或者等于1的整数，例如，m的取值为4、5、6等；电源管理组件120具有供电接口、控制接口和m个电能输出接口，供电接口与电能输出接口连接，控制接口与控制命令输出接口连接，各电能输出接口均用于与一个待测固态硬盘ssd的供电接口连接。

其中，控制接口与控制命令输出接口通过rs232协议连接。

在一个示例中，如图2所示，电源管理组件120包括电源板121和集成有连接器1221的连接板122，电源板121具有供电端、控制端和m个电能输出端，供电端与电能输出接口连接，控制端与控制命令输出接口连接，各电能输出端均用于通过连接器与一个待测固态硬盘ssd的供电接口连接。

具体地，参见图2，电源板121包括：m个dc/dc电源芯片1211、m个可控开关和控制芯片1212。其中，m个可控开关k与m个dc/dc电源芯片1211一一对应，每个可控开关均与其对应的dc/dc电源芯片1211串联连接，并形成串联结构，其中，每个串联结构的一端均与测试主板110的电能输出接口连接，每个串联结构的另一端连接一个待测固态硬盘ssd的供电端。控制芯片1212分别与m个可控开关的控制端连接，用于控制各可控开关的闭合和断开。

其中，每个dc/dc电源芯片均为12v转5v的电源芯片。

具体地，测试主板110将12v电压输入至各dc/dc电源芯片1211，各dc/dc电源芯片1211可将12v电压转换成5v电压。

参见图2，电源板121还包括：与m个待测固态硬盘ssd一一对应的m个硬盘指示灯1213，m个硬盘指示灯均与控制芯片1212连接，其中，控制芯片1212用于根据待测固态硬盘ssd的状态，点亮或者熄灭其对应的硬盘指示灯1213。具体地，待测固态硬盘ssd的处于正常测试状态时，控制芯片1212控制其对应的电源指示灯1222点亮。

参见图2，连接板122还包括m个电源指示灯1222，各电源指示灯1222分别连接在一个待测固态硬盘ssd的供电回路中，用于指示对应供电回路的电源状态。具体地，待测固态硬盘ssd的供电回路为通路时，该供电回路中连接的电源指示灯1222点亮。

综上所述，本实用新型实施例的固态硬盘的测试装置，采用电源板和连接板对待测固态硬盘的供电电源进行管理控制，并使用可靠的线材sas线直接连接待测固态硬盘和测试主板的sata端口，使sata高速信号不经过板载，避免高速信号不稳定而导致的降模现象，保证高速信号的稳定性确保信号质量，同时可实现sata1、sata2和sata3的兼容性。

尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。