1.一种基于频谱特性的光学元件表面弱划痕检测方法，其特征在于，包括：
(1)采用激光光源发出光线，依次经过扩束器和整形器获得各部分均匀的平顶光斑，斜入射至待测光学元件，经光学元件表面反射并依次进入光学显微镜和ccd，得到待测光学元件表面的二维图像；
(2)对二维图像进行二维离散傅里叶变换，将图像信息从空域转变为频域；
(3)对傅里叶变换后的图像进行频移，之后进行不同方向上强度积分，获取弱划痕信号角度；
(4)在频率域中垂直方向上不同缺陷表现出强度信号不同，根据频移后的积分信号强弱，将弱划痕对应方向的强度信号在频率域中滤除；
(5)将处理后的图像进行傅里叶逆变换，将傅里叶逆变换后得到图片与原始图像进行差分，获得纯净的弱划痕图片。
2.根据权利要求1所述的基于频谱特性的光学元件表面弱划痕检测方法，其特征在于，步骤(1)中，所述扩束器和整形器的工作波长与激光光源相同，均为340～405nm。
3.根据权利要求1所述的基于频谱特性的光学元件表面弱划痕检测方法，其特征在于，所述扩束器和整形器的工作波长与激光光源相同，均为355nm。
4.根据权利要求1所述的基于频谱特性的光学元件表面弱划痕检测方法，其特征在于，步骤(2)中，进行二维离散傅里叶变换的具体步骤为：
二维图像的每一行有n个点，对每一行的一维n点序列进行离散傅里叶变换得到f(x,u)，再对得到f(x,u)按列向对每一列做m点的离散傅里叶变换，得到二维图像f(x,y)的离散傅里叶变换f(u,v)。
5.根据权利要求1所述的基于频谱特性的光学元件表面弱划痕检测方法，其特征在于，步骤(2)中，进行二维离散傅里叶变换的公式如下：
式中，f(x,y)代表一幅大小为m×n的矩阵，其中x＝0,1,2,…,m-1和y＝0,1,2,…,n-1，f(x,y)所在坐标系被称为空间域，所定义的m×n矩阵被称为空间域矩阵；f(u,v)表示f(x,y)的傅里叶变换；转换为三角函数表示方法，u和v用于确定正余弦的频率；f(u,v)所在坐标系被称为频域，由u＝0,1,2,…,m-1和v＝0,1,2,…,n-1定义的m×n矩阵常称为频域矩阵；频域矩阵中每个点的都代表了一个频率为u，v的函数，这些函数在空间域的组合即为原函数f(x,y)。
6.根据权利要求1所述的基于频谱特性的光学元件表面弱划痕检测方法，其特征在于，步骤(3)中，采用峰值检测的方法获取弱划痕信号角度。
7.根据权利要求1所述的基于频谱特性的光学元件表面弱划痕检测方法，其特征在于，步骤(4)中，在垂直于弱划痕的方向检测到高亮强度，将对应方向的强度信号在频率域中滤除。
8.根据权利要求1所述的基于频谱特性的光学元件表面弱划痕检测方法，其特征在于，步骤(5)的具体过程为：
将具备区分度的划痕信息在频率域上去除后，再进行反向滤波，进行傅里叶逆变换后得到包含噪声、灰尘、麻点的图片，再将其与原始图像进行差分，以损失绝大多数图像信息为代价，获得关注的弱划痕图片。