测量点坐标标定方法、装置、设备及存储介质与流程

文档序号:27503415发布日期:2021-11-22 16:37阅读:来源:国知局

技术特征:
1.一种测量点坐标标定方法,其特征在于,所述测量点坐标标定方法包括以下步骤:获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离;利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离;根据所述真实相对距离和所述测量相对距离,获取测量点的测量误差;改变所述第一标定点和所述第二标定点的位置坐标,返回所述获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离的步骤,循环至获取所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的多个测量误差;基于所述多个测量误差的最小化总和,获得所述至少两个测量点的优化坐标。2.如权利要求1所述的测量点坐标标定方法,其特征在于,所述利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离步骤,具体包括:基于获得的所述至少两个测量点的位置坐标,分别获取所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标;根据所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标获得所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离。3.如权利要求2所述的测量点坐标标定方法,其特征在于,所述基于获得的所述至少两个测量点的位置坐标,分别获取所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标步骤,具体包括:测量所述至少两个测量点分别到所述第一标定点和所述第二标定点的距离值;根据每个测量点的位置坐标和所述测量点到所述第一标定点的距离值,以及所述测量点到所述第二标定点的距离值,分别获得所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标。4.如权利要求3所述的测量点坐标标定方法,其特征在于,所述测量所述至少两个测量点分别到所述第一标定点和所述第二标定点的距离值步骤,其中:所述距离值的测量方式包括超声波测距、激光测距或红外测距。5.如权利要求1所述的测量点坐标标定方法,其特征在于,所述改变所述第一标定点和所述第二标定点的位置坐标,返回所述获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离的步骤,循环至获取所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的多个测量误差步骤,具体包括:在保持所述第一标定点与所述第二标定点的真实相对距离不变的基础上,改变所述第一标定点和所述第二标定点的位置坐标;返回所述获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离的步骤,循环至获取所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的测量误差。6.如权利要求1所述的测量点坐标标定方法,其特征在于,所述基于所述多个测量误差的最小化总和,获得所述至少两个测量点的优化坐标步骤,具体包括:根据获取的所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的测量误差,获得所述第一标定点与所述第二标定点的测量点的测量误差总和;采用lm算法迭代所述第一标定点与所述第二标定点的测量点的测量误差总和,获得所述第一标定点与所述第二标定点的测量点的测量误差总和的最小值;根据所述第一标定点与所述第二标定点的测量点的测量误差总和的最小值获得所述
至少两个测量点的优化坐标。7.如权利要求1

6任一项所述的测量点坐标标定方法,其特征在于,所述利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离步骤,具体包括:利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点在一维坐标系下的测量相对距离;或利用至少三个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点在二维坐标系下的测量相对距离;或利用至少四个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点在三维坐标系下的测量相对距离。8.一种测量点坐标标定装置,其特征在于,所述测量点坐标标定装置包括:第一获取模块,用于获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离;第二获取模块,用于利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离;第三获取模块,用于根据所述真实相对距离和所述测量相对距离,获取测量点的测量误差;循环获取模块,用于改变所述第一标定点和所述第二标定点的位置坐标,返回所述获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离的步骤,循环至获取所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的多个测量误差;优化模块,用于基于所述多个测量误差的最小化总和,获得所述至少两个测量点的优化坐标。9.一种测量点坐标标定设备,其特征在于,所述测量点坐标标定设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的测量点坐标标定程序,所述测量点坐标标定程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的测量点坐标标定方法的步骤。10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质上存储有测量点坐标标定程序,所述测量点坐标标定程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的测量点坐标标定程序方法的步骤。

技术总结
本发明公开了一种测量点坐标标定方法,该方法包括获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离和基于至少两个测量点获取第一标定点与第二标定点的测量相对距离;进而根据真实相对距离和测量相对距离获得测量误差,再通过改变第一标定点与第二标定点的位置坐标,循环上述测量误差的获取步骤;最后通过最小化测量误差总和,获得测量点优化坐标。本发明还公开了一种测量点坐标标定装置、设备及存储介质。本发明利用两个标定点对测量点进行标定,通过综合标定点在不同位置时的测量误差,获得测量误差总和最小时对应测量点的优化坐标,将测量点的原始坐标替换为优化坐标,进而获得测量系统中更精确的测量点坐标,最终达到提高测量系统的测量精度的效果。统的测量精度的效果。统的测量精度的效果。


技术研发人员:刘志愿
受保护的技术使用者:深圳市未来感知科技有限公司
技术研发日:2021.07.27
技术公布日:2021/11/21
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