散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质与流程

1.本发明涉及医疗影像技术领域，具体而言，涉及一种散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质。


背景技术：

2.计算机断层成像(computed tomography，ct)技术在临床医学上的应用是20世纪医疗技术进步的重要标志之一。随着科学技术的发展，ct扫描方式发生了巨大的变化，锥束ct也已进入实用阶段。
3.锥束ct(cone beam ct，cbct)是锥形束投照计算机重组断层影像设备，其原理是成像源例如x线球管以较低的射线量围绕待测对象做环形数字式投照。而将围绕待测对象多次数字投照后所获得的数据进行重建后，即可得到三维重建图像。
4.锥束ct成像过程中x线光子的散射会影响重建图像质量，如对比度下降，ct值不准确等。为了减少散射对重建图像质量的影响，通常会在成像源与待测对象之间设置光束阻挡阵列(beam stop array，bsa)，通过光束阻挡阵列计算整体的散射分布。但目前，通过光束阻挡阵列计算整体的散射分布时，通常需要多次扫描，增加了扫描时间和辐射剂量。


技术实现要素：

5.基于上述研究，本发明实施例提供一种散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质，可以在单次扫描中，完成投影图像的散射校正，减少扫描时间和辐射剂量。
6.本发明的实施例可以通过以下方式实现：
7.第一方面，本发明实施例提供一种散射校正方法，所述方法包括：
8.获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像；所述第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，所述第二投影图像为在未被所述阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像；
9.对各所述第一投影图像进行处理，得到各所述第一投影图像对应的第一散射分布图；
10.根据各所述第一散射分布图，确定各所述第二投影图像对应的第二散射分布图；
11.根据各所述第一散射分布图对各所述第一投影图像进行散射校正，以及根据各所述第二散射分布图对各所述第二投影图像进行散射校正。
12.在可选的实施方式中，所述获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像的步骤包括：
13.若当前扫描角度为所述第一扫描角度，控制所述阻挡阵列板移动至成像视野中，获取被所述阻挡阵列板遮挡的第一投影图像；
14.若当前扫描角度为所述第二扫描角度，控制所述阻挡阵列板移动至成像视野外，获取未被所述阻挡阵列板遮挡的第二投影图像。
15.在可选的实施方式中，所述阻挡阵列板包括多个阻挡柱，所述第一投影图像中包
括多个与各所述阻挡柱对应的散射采样点，所述对各所述第一投影图像进行处理，得到各所述第一投影图像对应的第一散射分布图的步骤包括：
16.针对每个所述第一投影图像，获取该第一投影图像中各所述散射采样点的散射信号；
17.根据各所述散射采样点的散射信号，在各所述散射采样点之间进行插值，得到该第一投影图像对应的第一散射分布图。
18.在可选的实施方式中，所述根据各所述第一散射分布图，确定各所述第二投影图像对应的第二散射分布图的步骤包括：
19.将各所述第一扫描角度以及各所述第二扫描角度进行排序，根据排序后的各所述第一扫描角度以及各所述第二扫描角度，确定每个所述第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度；
20.针对每个所述第二扫描角度下的第二投影图像，根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图，确定得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。
21.在可选的实施方式中，所述根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图，确定得到该第二投影图像对应的第二散射分布图的步骤包括：
22.以该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图为目标散射分布图，根据所述目标散射分布图中各像素点的散射信号，插值得到该第二投影图像中各像素点的散射信号；
23.根据该第二投影图像中各像素点的散射信号，得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。
24.在可选的实施方式中，所述根据各所述第一散射分布图对各所述第一投影图像进行散射校正，以及根据各所述第二散射分布图对各所述第二投影图像进行散射校正的步骤包括：
25.针对每个所述第一投影图像，将该第一投影图像与该第一投影图像对应的第一散射分布图进行差值计算，以对该第一投影图像进行散射校正；
26.针对每个所述第二投影图像，将该第二投影图像与该第二投影图像对应的第二散射分布图进行差值计算，以对该第二投影图像进行散射校正。
27.在可选的实施方式中，所述根据各所述第一散射分布图对各所述第一投影图像进行散射校正之后，所述方法还包括：
28.根据散射校正后的第一投影图像中的射线信号，对散射校正后的第一投影图像中被遮挡的区域进行插值。
29.第二方面，本发明实施例提供一种成像系统，包括：
30.机架：
31.成像源，设置于所述机架上；
32.成像器，与所述成像源相对设置于所述机架上；
33.阻挡阵列板，设置于所述成像源与所述成像器之间；
34.校正设备，与所述成像器连接，所述校正设备用于：
35.获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像；所述第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，所述第二投影图像为在未被所述阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像；
36.对各所述第一投影图像进行处理，得到各所述第一投影图像对应的第一散射分布图；
37.根据各所述第一散射分布图，确定各所述第二投影图像对应的第二散射分布图；
38.根据各所述第一散射分布图对各所述第一投影图像进行散射校正，以及根据各所述第二散射分布图对各所述第二投影图像进行散射校正。
39.在可选的实施方式中，所述成像系统还包括阵列板驱动装置，所述阵列板驱动装置分别与所述阻挡阵列板以及所述校正设备连接，用于在所述校正设备的控制下驱动所述阻挡阵列板移动；
40.若当前扫描角度为所述第一扫描角度，所述校正设备控制所述阵列板驱动装置驱动所述阻挡阵列板移动至成像视野中，以获取被所述阻挡阵列板遮挡的第一投影图像；
41.若当前扫描角度为所述第二扫描角度，所述校正设备控制所述阵列板驱动装置驱动所述阻挡阵列板移动至成像视野外，以获取未被所述阻挡阵列板遮挡的第二投影图像。
42.第三方面，本发明实施例提供一种校正设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现前述任一实施方式所述的散射校正方法。
43.第四方面，本发明实施例提供一种存储介质，所述存储介质包括计算机程序，所述计算机程序运行时控制所述存储介质所在校正设备执行前述任一实施方式所述的散射校正方法。
44.本发明实施例提供的散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质，在获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像后，其中，第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，第二投影图像为在未被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，通过对各第一投影图像进行处理，得到各第一投影图像对应的第一散射分布图，根据各第一散射分布图，确定各第二投影图像对应的第二散射分布图，然后根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正，以及根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正。如此，根据扫描时的扫描角度，在单次扫描中分别获取被阻挡阵列板遮挡的投影图像以及未被阻挡阵列板遮挡的投影图像，并通过插值的方式，完成散射校正，实现了在单次扫描中完成投影图像的散射校正，减少了扫描时间和辐射剂量。
附图说明
45.下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
46.图1为本发明实施例提供的成像系统的一种结构示意图。
47.图2为本发明实施例提供的阻挡阵列板的一种结构示意图。、
48.图3为本发明实施例提供的校正设备的一种结构示意图。
49.图4为本发明实施例提供的散射校正方法的一种流程示意图。
50.图5为本发明实施例提供的一种插值示意图。
51.图6为本发明实施例提供的投影图像随扫描角度变化的示意图。
52.图7为本发明实施例提供的散射校正装置的一种方框示意图。
53.图标：100-校正设备；10-散射校正装置；11-图像获取模块；12-第一处理模块；13-第二处理模块；14-散射校正模块；20-存储器；30-处理器；40-通信单元；200-成像源；300-阻挡阵列板；400-成像器。
具体实施方式
54.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
55.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
56.在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
57.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
58.下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
59.如背景技术所述，锥束ct成像过程中x线光子的散射会影响重建图像质量，如对比度下降，ct值不准确等。为了减少散射对重建图像质量的影响，通常会在成像源与待测对象
之间设置光束阻挡阵列(beam stop array，bsa)，通过光束阻挡阵列计算整体的散射分布。
60.通过光束阻挡阵列计算整体的散射分布时，通常是在一次扫描中在设置光束阻挡阵列的情况下，扫描得到投影图像1，然后在另一次扫描中，在不设置光束阻挡阵列的情况下，扫描得到投影图像2，然后根据投影图像1和投影图像2进行散射校正，该方式需要进行两次cbct扫描，增加了扫描时间和辐射剂量。
61.基于此，本实施例提供一种散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质，在获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像后，其中，第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，第二投影图像为在未被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，通过对各第一投影图像进行插值处理，得到各第一投影图像对应的第一散射分布图，根据各第一散射分布图，计算得到各第二投影图像对应的第二散射分布图，然后根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正，以及根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正。如此，通过扫描时的扫描角度，在单次扫描中分别获取被阻挡阵列板遮挡的投影图像以及未被阻挡阵列板遮挡的投影图像，并通过插值的方式，完成散射校正，达到了在单次扫描中完成投影图像的散射校正的目的，减少了扫描时间和辐射剂量。
62.请参阅图1，图1为本实施例所提供的成像系统的一种结构示意图。如图1所示，本实施例提供的成像系统包括机架(图中未示出)、成像源200、阻挡阵列板300、成像器300以及校正设备100。其中，机架为成像系统的主体结构，用于支撑其它器件，而在本实施例中，成像源200与成像器400相对设置于机架上。
63.在本实施例中，成像源200可以是，但不限于，x射线光源、γ射线光源等射线光源。在本实施例中，成像源200产生的射线可用于对待测对象进行扫描。其中，待测对象可以是人体、可以是模体，可以是动物等，只需要能在成像系统下成像的物体即可。
64.在本实施例中，成像器400可以是探测器，用于接收成像源200发出的射线，将接收到的射线转变为可见光，由光电转换变为电信号，再经模拟/数字转换器(analog/digital converter)转为数字信号，从而得到投影图像数据。
65.在具体实施时，由成像源200产生射线，对待测对象进行扫描，然后由成像器接收透过待测对象的射线，并转变为可见光，之后通过光电转换变为电信号，再经模拟/数字转换器(analog/digital converter)转为数字信号，从而得到待测对象的投影图像数据。
66.在本实施例中，成像器400可以和校正设备100电连接，也可以和校正设备100通信连接。当成像器400在得到投影图像数据后，即可将投影图像数据发送至校正设备100。校正设备100在获取得到投影图像数据后，即可对投影图像数据进行校正。
67.但是，成像源200在对待测对象进行扫描时，射线会在待测对象上发生散射，影响重建图像的质量。为了减少散射对重建图像质量的影响，在成像器400与成像源200之间设置一个阻挡阵列板300。可选的，阻挡阵列板300可以设置于成像源200与待测对象之间，也可以设置于待测对象和成像器400之间，具体地，可以根据实际需求而设置。
68.在本实施例中，阻挡阵列板300与成像源200的照射面平行，且阻挡阵列板300上阵列排布有多个阻挡柱，如图2所示，阻挡阵列板由n*n个阻挡柱组成。
69.在本实施例中，各阻挡柱可以是由高衰减物质(如铅或钨)形成。通过在成像源200以及成像器400之间设置阻挡阵列板300，在成像过程中，成像源200发出的射线，会被阻挡
阵列板300上的阻挡柱遮挡，进而在成像器400上形成对应的阴影区域。例如，阻挡阵列板300上设置有9*9个阻挡柱，在成像器400上则会形成9*9个阴影区域(阴影点)。由于阴影区域是无法接收到成像源200发出的射线信号，因此，阴影区域产生的信号即是散射信号。通过散射的低频特性，根据阴影区域的散射信号，利用插值处理，即可估计得到投影图像中整体散射信号的分布。
70.由于现有技术中，通过阻挡阵列板300进行散射校正时，均要进行多次扫描，增加了扫描时间和辐射剂量。为了在单次扫描中完成投影图像的散射校正，减少扫描时间和辐射剂量，本实施例中，通过在单次扫描中，将该次扫描所设定的所有扫描角度划分为第一扫描角度和第二扫描角度，然后在第一扫描角度下获取被阻挡阵列板遮挡的投影图像，在第二扫描角度下获取未被阻挡阵列板遮挡的投影图像。
71.为了便于在不同的扫描角度下，获取被阻挡阵列板300遮挡的投影图像，以及未被阻挡阵列板300遮挡的投影图像，在本实施例中，成像系统还包括阵列板驱动装置，阵列板驱动装置分别与阻挡阵列板300以及校正设备100连接，用于在校正设备100的控制下驱动阻挡阵列板300移动。
72.在本实施例中，阵列板驱动装置设置于机架上，与校正设备100电连接，且阵列板驱动装置与阻挡阵列板300连接。校正设备100可以向阵列板驱动装置发送命令，控制阵列板驱动装置驱动阻挡阵列板300进行移动。
73.可选的，在本实施例中，阵列板驱动装置可以为步进电机、伺服电机等等。
74.在本实施例中，校正设备100可以通过检测当前扫描角度是否为第一扫描角度，或者是否为第二扫描角度，来控制阵列板驱动装置驱动阻挡阵列板300进行移动。
75.若当前扫描角度为第一扫描角度，校正设备100控制阵列板驱动装置驱动阻挡阵列板移动至成像视野中，以获取被阻挡阵列板300遮挡的第一投影图像。
76.若当前扫描角度为第二扫描角度，校正设备100控制阵列板驱动装置驱动阻挡阵列板300移动至成像视野外，以获取未被阻挡阵列板300遮挡的第二投影图像。
77.需要说明的是，成像视野表征成像器400的成像视野，当阻挡阵列板300移动至成像视野中，阻挡阵列板300会对成像源200发出的射线光束进行遮挡，进而成像器400的成像视野接收到的是被遮挡的射线光束，所形成的是被阻挡阵列板300遮挡的第一投影图像。当阻挡阵列板300移动至成像视野外时，阻挡阵列板300则不会对成像源200发出的射线光束进行遮挡，进而成像器400的成像视野接收到的是未被遮挡的射线光束，所形成的是未被阻挡阵列板300遮挡的第二投影图像。
78.在本实施例中，校正设备获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像后，其中，第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，第二投影图像为在未被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，对各第一投影图像进行插值处理，得到各第一投影图像对应的第一散射分布图，根据各第一散射分布图，计算得到各第二投影图像对应的第二散射分布图，根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正，以及根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正。如此，根据扫描时的扫描角度，在单次扫描中分别获取被阻挡阵列板遮挡的投影图像以及未被阻挡阵列板遮挡的投影图像，并通过插值的方式，完成散射校正，达到了在单次扫描中完成投影图像的散射校正的目的，减少了扫描时间和辐射剂量。
79.基于图1所示的成像系统，本实施例提供一种散射校正方法，本实施例提供的散射校正方法，应用于图1中的校正设备。如图3所示，在本实施例中，校正设备100可以包括存储器20、处理器30、通信单元40以及显示单元50，存储器20存储有处理器30可执行的机器可读指令，当校正设备100运行时，处理器30及存储器20之间通过总线通信，处理器30执行机器可读指令，并执行散射校正方法。
80.存储器20、处理器30、通信单元40以及显示单元50各元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现信号的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。处理器30用于执行存储器20中存储的可执行模块。
81.其中，存储器20可以是，但不限于，随机读取存储器(random access memory，ram)，只读存储器(read only memory，rom)，可编程只读存储器(programmable read-only memory，prom)，可擦除只读存储器(erasable programmable read-only memory，eprom)，电可擦除只读存储器(electric erasable programmable read-only memory，eeprom)等。
82.在一些实施例中，处理器30用以执行本实施例中描述的一个或多个功能。在一些实施例中，处理器30可以包括一个或多个处理核(例如，单核处理器(s)或多核处理器(s))。仅作为举例，处理器30可以包括中央处理单元(central processing unit，cpu)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、专用指令集处理器(application specific instruction-set processor，asip)、图形处理单元(graphics processing unit，gpu)、物理处理单元(physics processing unit，ppu)、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、现场可编程门阵列(field programmable gate array，fpga)、可编程逻辑控制器(programmable logic controller，plc)、微控制器单元、简化指令集计算机(reduced instruction set computing，risc)或微处理器等，或其任意组合。
83.为了便于说明，在校正设备100中仅描述了一个处理器。然而，应当注意，本实施例中的校正设备100还可以包括多个处理器，因此本实施例中描述的一个处理器执行的步骤也可以由多个处理器联合执行或单独执行。例如，若校正设备100的处理器执行步骤a和步骤b，则应该理解，步骤a和步骤b也可以由两个不同的处理器共同执行或者在一个处理器中单独执行。例如，处理器执行步骤a，第二处理器执行步骤b，或者处理器和第二处理器共同执行步骤a和b。
84.本实施例中，存储器20用于存储程序，处理器30用于在接收到执行指令后，执行程序。本实施例任一实施方式所揭示的流程定义的方法可以应用于处理器30中，或者由处理器30实现。
85.通信单元40用于通过网络建立校正设备100与其他设备之间的通信连接，并用于通过网络收发数据。
86.在一些实施方式中，网络可以是任何类型的有线或者无线网络，或者是他们的结合。仅作为示例，网络可以包括有线网络、无线网络、光纤网络、远程通信网络、内联网、因特网、局域网(local area network，lan)、广域网(wide area network，wan)、无线局域网(wireless local area networks，wlan)、城域网(metropolitan area network，man)、广域网(wide area network，wan)、公共电话交换网(public switched telephone network，pstn)、蓝牙网络、zigbee网络、或近场通信(near field communication，nfc)网络等，或其
任意组合。
87.本实施例中，显示单元50在校正设备100与用户之间提供一个交互界面(例如用户操作界面)用于显示图像信息。在本实施例中，所述显示单元50可以是液晶显示器或触控显示器。若为触控显示器，其可为支持单点和多点触控操作的电容式触控屏或电阻式触控屏等。支持单点和多点触控操作是指触控显示器能感应到来自该触控显示器上一个或多个位置处产生的触控操作，并将该感应到的触控操作交由处理器30进行计算和处理。
88.为了便于用户与显示单元50之间的交互，在本实施例中，校正设备100还可以包括输入输出单元，输入输出单元用于提供给用户输入数据，实现用户与校正设备之间100的交互。输入输出单元可以是，但不限于，鼠标和键盘等。
89.在一些实施例中，校正设备100可以包括1个或n个显示单元50，n为大于1的正整数。
90.在本实施例中，校正设备100可以是直接发出操控命令的计算机设备，如上位机设备。
91.可以理解地，图3所示的结构仅为示意。校正设备100还可以具有比图3所示更多或者更少的组件，或者具有与图3所示不同的配置。图3所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。
92.基于图1至图3示出的结构图对本实施例提供的散射校正方法的步骤进行详细阐述。请结合参阅图4，本实施例所提供的散射校正方法包括步骤s101至步骤s104。
93.步骤s101：获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像。
94.其中，第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，第二投影图像为在未被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像。
95.在本实施例中，在对待测对象进行扫描时，校正设备可以通过显示单元向用户提供扫描角度的操作界面，用户可以在该界面设定扫描的角度范围、扫描间隔以及第一扫描角度选取间隔，校正设备通过响应用户的操作，根据设定的扫描的角度范围以及扫描角度，确定得到扫描待测对象的扫描角度，然后根据第一扫描角度选取间隔，从扫描角度中确定出第一扫描角度以第二扫描角度。例如，扫描的角度范围为0
°‑
360
°
，扫描间隔为1
°
，第一扫描角度选取间隔为5
°
，则从0
°
开始，每隔1
°
为一个扫描角度，如0
°
、1
°
、2
°…
360
°
，然后以间隔5
°
从扫描角度中确定出第一扫描角度，如0
°
、5
°
、10
°
、15
°…
360
°
，在得到扫描角度以及扫描角度中的第一扫描角度后，即可将扫描角度中不为第一扫描角度的扫描角度作为第二扫描角度，如此，即可确定得到扫描待测对象的第一扫描角度以及第二扫描角度。又或者，用户可以在该界面直接设定扫描待测对象的第一扫描角度以及第二扫描角度，校正设备通过响应用户的操作，得到第一扫描角度以及第二扫描角度。又或者，校正设备可以读取预先存储的扫描角度文件，从扫描角度文件中得到第一扫描角度以及第二扫描角度。
96.在本实施例中，各第一扫描角度与各第二扫描角度交错设置，可以是每个第一扫描角度和每个第二扫描角度相邻设置，如第一扫描角度、第二扫描角度、第一扫描角度
…
以此类推，也可以是每隔预设数量的第一扫描角度后，设置预设数量的第二扫描角度，之后，设置又继续设置预设数量的第一扫描角度，如第一扫描角度、第一扫描角度、第一扫描角度、第二扫描角度、第二扫描角度、第一扫描角度、第一扫描角度
…
具体数量不限制，只需要
各第一扫描角度与各第二扫描角度交错设置，且第二扫描角度设置于第一扫描角度之间即可。
97.在确定得到第一扫描角度、第二扫描角度后，在单次扫描中，在第一扫描角度下，使阻挡阵列板对成像视野进行遮挡，获取被阻挡阵列板遮挡的投影图像，然后在第二扫描角度下，将阻挡阵列板移出成像视野，获取未被阻挡阵列板遮挡的投影图像。如此，即可获取得到单次扫描中在各第一扫描角度下的第一投影图像，以及在各第二扫描角度下的第二投影图像。
98.需要说明的是，在本实施例中，每个第一扫描角度的实际扫描角度不同，每个第二扫描角度的实际扫描角度也不同。第一扫描角度表示获取遮挡的投影图像的一类扫描角度，第二扫描角度表示获取未遮挡的投影图像的一类角度。
99.步骤s102：对各第一投影图像进行处理，得到各第一投影图像对应的第一散射分布图。
100.由于第一投影图像是在阻挡阵列板遮挡成像视野下获取得到的，因此，第一投影图像中存在与阻挡阵列板对应阴影区域。由于阴影区域是无法接收到成像源发出的射线信息，因此，阴影区域产生的信号即是散射信号。
101.在本实施例中，在得到各第一扫描角度下的第一投影图像后，针对每个第一投影图像，即可根据该第一投影图像中阴影区域的散射信号，对该第一投影图像进行插值处理，得到该第一投影图像对应的散射分布图，即第一散射分布图。
102.在本实施例中，第一散射分布图，表征第一投影图像中散射信号的分布示意图。在根据第一投影图像中阴影区域的散射信号，对第一投影图像进行插值处理时，可以采用样条插值，多项式插值、线性插值、拉格朗日多项式插值等插值方式，具体不做限制。由于投影图像的散射分布具有低频特性，因此，在本实施例中，可以选用样条插值的方式，对第一投影图像进行插值。可选的，在本实施例中，可采用三次样条的插值方式，对第一投影图像进行插值。
103.步骤s103：根据各第一散射分布图，确定各第二投影图像对应的第二散射分布图。
104.在本实施例中，第二投影图像在第二扫描角度得到的投影图像，而第一散射分布图为第一扫描角度下的散射分布图，在根据各第一散射分布图，计算各第二投影图像对应的第二散射分布图时，可在角度方向上进行插值，即根据各第一扫描角度下的第一散射分布图，插值得到各第二扫描角度下的散射分布图，从而得到各第二投影图像对应的第二散射分布图。
105.相应地，根据各第一扫描角度下的第一散射分布图，插值得到各第二扫描角度下的散射分布图时，同样可以采用样条插值，多项式插值、线性插值、拉格朗日多项式插值等插值方式，具体不做限制。由于投影图像的散射分布具有低频特性，因此，在本实施例中，可以选用样条插值的方式插值得到各第二扫描角度下的散射分布图。
106.步骤s104：根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正，以及根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正。
107.其中，在得到各第一投影图像对应的第一散射分布图，各第二投影图像对应的第二散射分布图后，即可根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正，根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正。
108.在根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正时，可以将每个第一投影图像与之对应的第一散射分布图进行作差计算，以从每个第一投影图中减去散射信号，实现第一投影图像的散射校正。相应地，在根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正时，可以将每个第二影图像与之对应的第二散射分布图进行作差计算，以从每个第二投影图中减去散射信号，实现第二投影图像的散射校正。
109.本实施例提供的散射校正方法，在获取单次扫描中在各第一扫描角度下的第一投影图像以及在各第二扫描角度下的第二投影图像后，通过对各第一投影图像进行插值处理，得到各第一投影图像对应的第一散射分布图，根据各第一散射分布图，计算得到各第二投影图像对应的第二散射分布图，然后根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正，以及根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正。如此，根据扫描时的扫描角度，在单次扫描中分别获取被阻挡阵列板遮挡的投影图像以及未被阻挡阵列板遮挡的投影图像，并通过插值的方式，完成散射校正，实现了在单次扫描中完成投影图像的散射校正，减少了扫描时间和辐射剂量。
110.本实施例通过将扫描角度划分第一扫描角度以及第二扫描角度，在第一扫描角度下获取第一投影图像，在第二扫描角度下获取第二投影图像，然后通过插值的方式，在角度方向上进行插值，即可在单次扫描中完成投影图像的散射校正。为了在第一扫描角度下获取得到被阻挡阵列板遮挡的投影图像，在第二扫描角度下获取得到未被阻挡阵列板遮挡的投影图像。在本实施例中，获取单次扫描中在各第一扫描角度下的第一投影图像以及在各第二扫描角度下的第二投影图像的步骤可以包括：
111.若当前扫描角度为第一扫描角度，控制阻挡阵列板移动至成像视野中，获取被阻挡阵列板遮挡的第一投影图像。
112.若当前扫描角度为第二扫描角度，控制阻挡阵列板移动至成像视野外，获取未被阻挡阵列板遮挡的第二投影图像。
113.其中，在通过成像源对待测对象进行扫描时，可以检测当前扫描待测对象的扫描角度属于第一扫描角度，还是属于第二扫描角度。
114.可选的，校正设备可以检测当前扫描角度是否为第一扫描角度，若不为第一扫描角度，则检测当前扫描角度是否为第二扫描角度，若当前扫描角度不为第二扫描角度，也不为第一扫描角度，则可以进行报错，以提醒用户确认当前扫描角度是否正确。
115.在本实施例中，当检测到当前扫描角度为第一扫描角度时，则可以控制阻挡阵列板移动至成像器的成像视野中，对成像源发出的射线进行遮挡，然后获取成像器采集得到的被阻挡阵列板遮挡的第一投影图像。当检测到当前扫描角度为第二扫描角度时，则可以控制阻挡阵列板移出至成像器的成像视野外，以避免阻挡阵列板对成像源发出的射线进行遮挡，然后获取成像器采集得到的未被阻挡阵列板遮挡的第二投影图像。
116.可选的，为了便于控制阻挡阵列板移动至成像视野中，以及控制阻挡阵列板移动至成像视野外，在本实施例中，可通过阵列板驱动装置驱动阻挡阵列板进行移动。其中，阵列板驱动装置与校正设备电连接，且与阻挡阵列板连接，当校正设备检测到当前扫描角度为第一扫描角度，则向阵列板驱动装置发送移动到成像视野中的第一控制命令，阵列板驱动装置接收到第一控制指令后，则可以驱动阻挡阵列板进入到成像视野中，对成像源进行遮挡。当校正设备检测到当前扫描角度为第二扫描角度，则向阵列板驱动装置发送移动到
成像视野中的第二控制命令，阵列板驱动装置接收到第二控制指令后，则可以驱动阻挡阵列板移动到成像视野外，避免对成像源进行遮挡。
117.本实施例在当前扫描角度为第一扫描角度时，控制阻挡阵列板移动至成像视野中，在当前扫描角度为第二扫描角度时，控制阻挡阵列板移出至成像视野外，如此，即可获取得到被阻挡阵列板遮挡的第一投影图像，以及未被阻挡阵列板遮挡的第二投影图像。
118.在可选的实施方式中，本实施例还可以预先在每个第一扫描角度下，在成像器的成像视野中设置阻挡阵列板，即每个第一扫描角度对应设置一个阻挡阵列板，第一扫描角度的数量与阻挡阵列板的数量相同，然后在每个第二扫描角度下，在成像器的成像视野中不设置阻挡阵列板，如此，在当前扫描角度为第一扫描角度时，无需控制阻挡阵列板移动至成像视野中，在当前扫描角度为第二扫描角度时，也无需控制阻挡阵列板移出至成像视野外，减少了控制过程，提高处理效率。
119.在本实施例中，在获取得到的各第一扫描角度下的第一投影图像，以及各第二扫描角度下的第二投影图像后，即可对各第一投影图像进行插值处理，得到各第一投影图像对应的第一散射分布图。
120.在本实施例中，由于阻挡阵列板包括多个阻挡柱，因此，在成像过程中，成像源发出的射线，会被阻挡阵列板上的阻挡柱遮挡，在成像器上形成对应的阴影区域，从而成像器采集得到的第一投影图像中存在与阻挡柱对应的阴影区域。由于阴影区域是无法接收到成像源发出的射线信号，因此，阴影区域产生的信号为扫描待测对象时，待测对象发出的散射信号。基于此，本实施例可基于第一投影图像中的阴影区域得到散射采样点。
121.可选的，在本实施例中，为了提高准确性，在确定第一投影图像中的散射采样点时，可以对第一投影图像中的像素进行分析，筛选出属于阴影区域的像素，根据属于阴影区域的像素，得到散射采样点。
122.可选的，可将第一投影图像中的每个像素的像素值与设定的像素阈值进行比较，将像素值小于等于像素阈值的像素设置为阴影区域的像素，将像素值大于像素阈值的像素设置为未被遮挡的像素，即不属于阴影区域的像素。其中，可考虑半影效应和噪声影响，设定投影阈值。在得到属于阴影区域的像素后，查找属于阴影区域的像素的连通区域，将查找到的连通区域作为与阻挡柱对应的阴影点，然后将阴影点的中心设置为散射采样点。
123.在得到第一投影图像中的散射采样点后，即可基于散射采样点，对第一投影图像进行插值处理。可选的，在本实施例中，对各第一投影图像进行插值处理，得到各第一投影图像对应的第一散射分布图的步骤可以包括：
124.针对每个第一投影图像，获取该第一投影图像中各散射采样点的散射信号。
125.根据各散射采样点的散射信号，在各散射采样点之间进行插值，得到该第一投影图像对应的第一散射分布图。
126.其中，针对每个第一投影图像，可先获取该第一投影图像中每个散射采样点的散射信号，然后根据各散射采样点的散射信号，在各散射采样点之间进行插值，以得到该第一投影图像对应的第一散射分布图。
127.在本实施例中，在根据各散射采样点的散射信号，在各散射采样点之间进行插值时，可以根据各散射采样点在设定像素范围内的散射信号的指标值，在各散射采样点之间进行插值。其中，散射信号的指标值可以是平均值、中值或者众值等等，设定像素范围可以
根据实际需求而设置，具体不做限制，如m*n的像素范围，m、n为正整数。
128.可选的，在本实施例中，在根据各散射采样点的散射信号，在各散射采样点之间进行插值时，可以进行一维插值，也可以进行二维插值。在进行一维插值时，可先确定插值方向，然后在插值方向上，根据每两个相邻的散射采样点的散射信号的值，在每两个相邻的散射采样点之间进行插值。例如，图5所示，设定z轴为插值方向，则在z轴方向上，根据每两个相邻的散射采样点的散射信号值，在每两个相邻的散射采样点之间进行插值，如图5所示，当在散射采样点a和散射采样点b之间进行插值时，则根据散射采样点a的散射信号值以及散射采样点b的散射信号值，进行插值。在进行二维插值时，则需要考虑周围相邻的散射采样点的值，根据周围相邻的散射采样点的值进行插值。例如，如图5所示，在散射采样点c以及散射采样点d之间插值，则需要考虑散射采样点c以及散射采样点d、散射采样点e以及散射采样点f，进行插值。
129.在通过插值得到各第一投影图像对应的第一散射分布图像后，即可根据各第一散射分布图，计算每个第二投影图像对应的第二散射分布图。
130.在本实施例中，根据各第一散射分布图，确定各第二投影图像对应的第二散射分布图的步骤可以包括：
131.将各第一扫描角度以及各第二扫描角度进行排序，根据排序后的各所述第一扫描角度以及各第二扫描角度，确定每个第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度。
132.针对每个第二扫描角度下的第二投影图像，根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图，确定该第二投影图像对应的第二散射分布图。
133.其中，由于各第一扫描角度以及各第二扫描角度交错设置，每两个相邻的第一扫描角度之间设置有至少一个第二扫描角度，如图6所示，图6为本实施例提供的投影图像随扫描角度变化的示意图，如图6所示，在第一扫描角度下获取被阻挡阵列板遮挡的投影图像后，在第二扫描角度下获取未被阻挡阵列板遮挡的投影图像，然后又在第一扫描角度下获取被阻挡阵列板遮挡的投影图像。因此，在根据各第一散射分布图，计算各第二投影图像对应的第二散射分布图时，可以将各第一扫描角度以及各第二扫描角度进行排序，根据排序后的各第一扫描角度以及各第二扫描角度，确定得到每个第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度，然后针对每个第二扫描角度下的第二投影图像，根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图，计算得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。
134.在本实施例中，由于各第一扫描角度与各第二扫描角度交错设置，因此将各第一扫描角度以及各第二扫描角度进行排序时，可以按照扫描角度的大小进行排序，得到排序后的各第一扫描角度以及各第二扫描角度。
135.在得到排序后的各第一扫描角度以及各第二扫描角度，即可根据排序后的各第一扫描角度以及各第二扫描角度，确定每个第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度。在本实施例中，每个第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度，指的是排序后的各第一扫描角度以及各第二扫描角度中，与每个第二扫描角度相邻的前后两个第一扫描角度。例如，设定排序后的各第一扫描角度以及各第二扫描角度为第一扫描角度a、第二扫描角度b、第一扫描角度c、第一扫描角度d、第二扫描角度e、第一扫描角度f，则与第二扫描角度b相邻的两个第一
扫描角度为第一扫描角度a与第一扫描角度c，与第二扫描角度e相邻的两个第一扫描角度为第一扫描角度d和第一扫描角度f。又例如，设定排序后的各第一扫描角度以及各第二扫描角度为第一扫描角度a、第二扫描角度b、第二扫描角度c、第一扫描角度d、第二扫描角度e、第一扫描角度f，则与第二扫描角度b相邻的两个第一扫描角度为第一扫描角度a和第一扫描角度d，与第二扫描角度c相邻的两个第一扫描角度为第一扫描角度a和第一扫描角度d，与第二扫描角度e相邻的两个第一扫描角度为第一扫描角度d和第一扫描角度f。
136.在确定得到每个第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度后，针对每个第二扫描角度下的第二投影图像，即可根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图，计算得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。
137.在本实施例中，在根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图，计算得到该第二投影图像对应的第二散射分布图时，可根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图，采用插值的方式，得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。
138.可选的，采用插值的方式，得到该第二投影图像对应的第二散射分布图的过程可以通过以下步骤实现：
139.以该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图为目标散射分布图，根据目标散射分布图中各像素点的散射信号，插值得到该第二投影图像中各像素点的散射信号。
140.根据该第二投影图像中各像素点的散射信号，得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。
141.其中，在根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图，插值得到该第二投影图像对应的第二散射分布图时，可先将该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图作为目标散射分布图，然后根据目标散射分布图中各像素点的散射信号，插值得到该第二投影图像中各像素点的散射信号。
142.在根据目标散射分布图中各像素点的散射信号，插值得到该第二投影图像中各像素点的散射信号时，针对该第二投影图像中的每个像素点，可根据目标散射分布图中与该像素点同一位置的目标像素点的散射信号，采用插值的方式计算得到该像素点的散射信号。例如，第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的目标散射分布图为目标散射分布图a以及目标散射分布图b，第二扫描角度下的第二投影图像为第二投影图像c，在根据目标散射分布图a和目标散射分布图像b中各像素点的散射信号，插值得到第二投影图像c中各像素点的散射信号时，对于第二投影图像c中的每个像素点，可先在目标散射分布图像a和目标散射分布b中找到相同位置的目标像素点，然后基于目标像素点的散射信号，采用插值的方式，计算得到二投影图像c中的每个像素点的散射信号。假设第二投影图像c中的像素点a位于(x1，y1)，则在目标散射分布图像a和目标散射分布b中找到位于(x1，y1)的目标像素点，假设为像素点b和像素点c，则根据像素点b和像素点c的散射信号的值，采用插值的方式，计算得到像素点a的散射信号的值。
143.在本实施例中，在根据目标散射分布图中各像素点的散射信号，插值得到该第二投影图像中各像素点的散射信号时，可以采用样条插值，多项式插值、线性插值、拉格朗日
多项式插值等插值方式，具体不做限制。由于投影图像的散射分布具有低频特性，因此，在本实施例中，可以选用三次样条插值的方式，进行插值。
144.在得到第二投影图像中各像素点的散射信号后，即得到了第二投影图像的散射信号的分布图，即第二散射分布图。
145.本实施例在得到各第一扫描角度下第一投影图像对应的第一散射分布图以及各第二扫描角度下第二投影图像对应的第二散射分布图后，即可根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正以及根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正。可选的，在本实施例中，根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正，以及根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正的步骤包括：
146.针对每个第一投影图像，将该第一投影图像与该第一投影图像对应的第一散射分布图进行差值计算，以对该第一投影图像进行散射校正。
147.针对每个第二投影图像，将该第二投影图像与该第二投影图像对应的第二散射分布图进行差值计算，以对该第二投影图像进行散射校正。
148.其中，在根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正时，针对每个第一投影图像，即可将该第一投影图像与该第一投影图像对应的第一散射分布图进行差值计算，即散射校正后的第一投影图像i3＝第一投影图像i1-第一散射分布图i2。相应地，在根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正时，针对每个第二投影图像，即可将该第二投影图像与该第二投影图像对应的第二散射分布图进行差值计算，即散射校正后的第二投影图像i6＝第二投影图像i4-第二散射分布图i5。
149.本实施例通过将第一投影图像与第一投影图像对应的第一散射分布图进行差值计算，减去了第一投影图像中的散射信号，实现了第一投影图像的散射校正。通过将第二投影图像与第二投影图像对应的第二散射分布图进行差值计算，减去了第二投影图像中的散射信号，实现了第二投影图像的散射校正。
150.由于第一投影图像中存在有被阻挡阵列板遮挡的阴影区域，由于阴影区域无法接收到成像源发出的射线信号，因此，在对第一投影图像进行散射校正后，还需要对第一投影图像中被遮挡的阴影区域进行射线信号的插值，以补全第一投影图像中被遮挡的阴影区域的射线信号值。基于此，在本实施例中，在根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正之后，本实施例提供：
151.根据散射校正后的第一投影图像中的射线信号，对散射校正后的第一投影图像中被遮挡的区域进行插值。
152.其中，在根据散射校正后的第一投影图像中的射线信号，对散射校正后的第一投影图像中被遮挡的区域进行插值时，可先确定得到第一投影图像中被遮挡的区域的像素，在确定得到第一投影图像中被遮挡的区域的像素后，即可根据散射校正后的第一投影图像中未被遮挡的像素的射线信号值，对被遮挡的区域的像素进行插值。
153.在本实施例中，在确定第一投影图像中被遮挡的区域的像素时，可以通过将各像素的像素值与设定的像素阈值进行比较，具体可参照上述确定得到散射采样点的过程，在此不过多进行赘述。
154.在根据散射校正后的第一投影图像中未被遮挡的像素的射线信号值，对被遮挡的区域的像素进行插值时，可以采用样条插值，多项式插值、线性插值、拉格朗日多项式插值
等插值方式，具体不做限制。可以采用一维插值的方式进行插值，也可采用二维插值的方式进行插值，具体不做限定。
155.本实施例提供的散射校正方法，通过在单次扫描过程中，根据扫描的角度切换阻挡阵列板的位置，获取得到被遮挡的投影图像以及未被遮挡的投影图像，然后基于散射分布的低频特性，通过插值获得每一个扫描角度的散射分布，实现了在单次扫描中完成投影图像的散射校正，减少了扫描时间和辐射剂量。
156.并且本实施例提供的散射校正方法，通过在单次扫描过程中，根据扫描的角度切换阻挡阵列板的位置，获取得到被遮挡的投影图像以及未被遮挡的投影图像，减少了被阻挡阵列板遮挡的投影图像数，减少了主射线的遮挡，在进行主射线的插值补全时，减轻了主射线插值误差带来的重建图像伪影。
157.基于同一发明构思，请结合参阅图7，本实施例提供一种散射校正装置10，应用于图3所示的校正设备100，如图7所示，本实施例提供的散射校正装置10包括图像获取模块11、第一处理模块12、第二处理模块13以及散射校正模块14。
158.图像获取模块11用于获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像，第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，第二投影图像为在未被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像。
159.第一处理模块12用于对各第一投影图像进行插值处理，得到各第一投影图像对应的第一散射分布图。
160.第二处理模块13用于根据各第一散射分布图，计算得到各第二投影图像对应的第二散射分布图。
161.散射校正模块14用于根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正，以及根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正。
162.在可选的实施方式中，图像获取模块11用于：
163.若当前扫描角度为第一扫描角度，控制阻挡阵列板移动至成像视野中，获取被阻挡阵列板遮挡的第一投影图像；
164.若当前扫描角度为第二扫描角度，控制阻挡阵列板移动至成像视野外，获取未被阻挡阵列板遮挡的第二投影图像。
165.在可选的实施方式中，阻挡阵列板包括多个阻挡柱，第一投影图像中包括多个与各阻挡柱对应的散射采样点，第一处理模块12用于：
166.针对每个第一投影图像，获取该第一投影图像中各散射采样点的散射信号。
167.根据各散射采样点的散射信号，在各散射采样点之间进行插值，得到该第一投影图像对应的第一散射分布图。
168.在可选的实施方式中，第二处理模块13用于：
169.将各第一扫描角度以及各第二扫描角度进行排序，根据排序后的各第一扫描角度以及各第二扫描角度，确定每个第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度。
170.针对每个第二扫描角度下的第二投影图像，根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图，计算得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。
171.在可选的实施方式中，第二处理模块13用于：
172.以该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图为目标散射分布图，根据所述目标散射分布图中各像素点的散射信号，插值得到该第二投影图像中各像素点的散射信号；
173.根据该第二投影图像中各像素点的散射信号，得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。
174.在可选的实施方式中，散射校正模块14用于：
175.针对每个第一投影图像，将该第一投影图像与该第一投影图像对应的第一散射分布图进行差值计算，以对该第一投影图像进行散射校正。
176.针对每个第二投影图像，将该第二投影图像与该第二投影图像对应的第二散射分布图进行差值计算，以对该第二投影图像进行散射校正。
177.在可选的实施方式中，在根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正之后，散射校正模块14还用于：
178.根据散射校正后的第一投影图像中的射线信号，对散射校正后的第一投影图像中被遮挡的区域进行插值。
179.本实施例提供的散射校正装置，在获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像后，其中，第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，第二投影图像为在未被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，通过对各第一投影图像进行插值处理，得到各第一投影图像对应的第一散射分布图，根据各第一散射分布图，计算得到各第二投影图像对应的第二散射分布图，然后根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正，以及根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正。如此，根据扫描时的扫描角度，在单次扫描中分别获取被阻挡阵列板遮挡的投影图像以及未被阻挡阵列板遮挡的投影图像，并通过插值的方式，完成散射校正，实现了在单次扫描中完成投影图像的散射校正，减少了扫描时间和辐射剂量。
180.在上述基础上，本实施例还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序运行时控制所述可读存储介质所在校准设备执行前述任一实施方式所述的散射校正方法。
181.其中，可读存储介质可以是，但不限于，u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
182.所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的可读存储介质的具体工作过程，可以参考前述方法中的对应过程，在此不再过多赘述。
183.综上，本实施例提供的散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质，在获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像后，其中，第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，第二投影图像为在未被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像，通过对各第一投影图像进行插值处理，得到各第一投影图像对应的第一散射分布图，根据各第一散射分布图，计算得到各第二投影图像对应的第二散射分布图，然后根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正，以及根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正。如此，根据扫描时的扫描角度，在单次扫描中分别获取被阻挡阵列板遮挡的投影图像以及未被阻挡阵列
板遮挡的投影图像，并通过插值的方式，完成散射校正，实现了在单次扫描中完成投影图像的散射校正，减少了扫描时间和辐射剂量。
184.在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
185.以上对本发明实施例所提供的散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例的技术方案的范围。