一种提高显示面板触控灵敏度的驱动架构的制作方法

1.本实用新型涉及面板驱动技术领域，尤其涉及一种提高显示面板触控灵敏度的驱动架构。


背景技术：

2.如图1所示，为常规的tp demux驱动架构，图2为对的驱动时序。在此驱动架构下，当sx11处于高电平时，sx12和sx22为低电平，此时sx11同sx12及sx22会有寄生电容(cp1、cp2)的存在;而当sx12为高电平时，sx11和sx21为低电平，同理sx12与sx11和sx21间也会存在寄生电容，此寄生电容的存在，会影响到面板的触控灵敏度。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于提供一种提高显示面板触控灵敏度的驱动架构。
4.本实用新型采用的技术方案是：
5.一种提高显示面板触控灵敏度的驱动架构，其包括四个以上tp单元和驱动ic输出的两条驱动信号线，每四个tp单元形成两行两列的tp单元组，tp单元包括多个tp sensor，tp单元的tp sensor呈阵列排布；
6.一个tp单元组中不同列且不同行的两个tp单元的所有tp sensor共同连接至其中一条驱动信号线，一个tp单元组中不同列且不同行的另外两个tp单元的所有tp sensor共同连接至另一条驱动信号线；
7.一个tp单元组中连接至同一条驱动信号线的所有tp sensor依照位置顺序编号且分别连接一路开关信号sx，一个tp单元组中连接至不同驱动信号线但位置序号相同的tp sensor连接同一路开关信号sx。
8.进一步地，tp单元包括9个tp sensor，9个tp sensor呈三行三列的阵列排布。
9.进一步地，tp单元中中心位置的tp sensor被侦测时，两条驱动信号线上输出的高低电平相反，以完成触控侦测。
10.进一步地，tp单元中非中心位置的tp sensor被侦测时，两条驱动信号线上的打开时间有一个交叠（overlap），即其中一条驱动信号线由高电平变低电平之前，另一条驱动信号线提前由低电平变为高电平，两条驱动信号线在部分时间段内输出高电平；另一条驱动信号线由高电平变低电平之前，其中一条驱动信号线提前由低电平变为高电平，两条驱动信号线部分同时输出高电平。
11.进一步地，tp单元中非中心位置的tp sensor被侦测时，依据如下四个阶段时序循环驱动；
12.第一阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出低电平；
13.第二阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出高电平；
14.第三阶段，其中一条驱动信号线输出低电平，另一条驱动信号线输出高电平；
15.第四阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出高电平。
16.进一步地，两条驱动信号线输出的高电平电压均相同。
17.一种提高显示面板触控灵敏度的驱动架构的驱动方法，其包括以下步骤：
18.步骤1，判断当前侦测的tp sensor是否位于tp单元的中间位置；是则，执行步骤2；否则，执行步骤3；
19.步骤2，依照现有常规时序分别驱动两条驱动信号线，即两条驱动信号线上输出的高低电平相反，完成触控侦测后执行步骤1；
20.步骤3，当侦测的是tp单元中非中心位置的tp sensor时，依据如下四个阶段时序循环驱动；
21.第一阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出低电平；
22.第二阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出高电平；
23.第三阶段，其中一条驱动信号线输出低电平，另一条驱动信号线输出高电平；
24.第四阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出高电平。
25.进一步地，分别获取四个阶段侦测到的开关信息sx，并基于侦测到开关信息sx的不同确定实际的触摸点；
26.当第一阶段和第二阶段都侦测到同一位置的开关信号sx为高电平时，则判定连接至其中一条驱动信号线且与侦测到开关信号sx所连接的tp sensor为当前实际的触摸点；
27.当第三阶段和第四阶段都侦测到同一位置的开关信号sx为高电平时，则判定连接至另一条驱动信号线且与侦测到开关信号sx所连接的tp sensor为当前实际的触摸点。
28.本实用新型采用以上技术方案，一个tp单元组中不同列且不同行的两个tp单元的所有tp sensor共同连接至其中一条驱动信号线，一个tp单元组中不同列且不同行的另外两个tp单元的所有tp sensor共同连接至另一条驱动信号线。tp单元中中心位置的tp sensor被侦测时，两条驱动信号线上输出的高低电平相反，以完成触控侦测。tp单元中非中心位置的tp sensor被侦测时，两条驱动信号线上的打开时间有一个交叠（overlap），即其中一条驱动信号线由高电平变低电平之前，另一条驱动信号线提前由低电平变为高电平，两条驱动信号线在部分时间段内输出高电平；另一条驱动信号线由高电平变低电平之前，其中一条驱动信号线提前由低电平变为高电平，两条驱动信号线部分同时输出高电平。本实用新型有效的避免了寄生电容对面板的触控灵敏度的影响。
附图说明
29.以下结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步详细说明；
30.图1为常规tp demux驱动架构示意图；
31.图2为常规tp demux驱动时序示意图；
32.图3为本实用新型一种提高显示面板触控灵敏度的驱动架构示意图；
33.图4为本实用新型一种提高显示面板触控灵敏度的驱动架构的侦测中心位置的tp sensor时的状态示意图；
34.图5为本实用新型一种提高显示面板触控灵敏度的驱动架构的侦测非中心位置的tp sensor时的驱动时序示意图；
35.图6为本实用新型的两条驱动信号线上的打开（高电平）时间交叠时的状态示意图。
具体实施方式
36.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
37.如图3至图6之一所示，本实用新型公开了一种提高显示面板触控灵敏度的驱动架构，其包括四个以上tp单元和驱动ic输出的两条驱动信号线，每四个tp单元形成两行两列的tp单元组，tp单元包括多个tp sensor，tp单元的tp sensor呈阵列排布；
38.一个tp单元组中不同列且不同行的两个tp单元的所有tp sensor共同连接至其中一条驱动信号线，一个tp单元组中不同列且不同行的另外两个tp单元的所有tp sensor共同连接至另一条驱动信号线；
39.一个tp单元组中连接至同一条驱动信号线的所有tp sensor依照位置顺序编号且分别连接一路开关信号sx，一个tp单元组中连接至不同驱动信号线但位置序号相同的tp sensor连接同一路开关信号sx。
40.进一步地，tp单元包括9个tp sensor，9个tp sensor呈三行三列的阵列排布。
41.进一步地，tp单元中中心位置的tp sensor被侦测时，两条驱动信号线上输出的高低电平相反，以完成触控侦测。
42.进一步地，tp单元中非中心位置的tp sensor被侦测时，两条驱动信号线上的打开时间有一个交叠（overlap），即其中一条驱动信号线由高电平变低电平之前，另一条驱动信号线提前由低电平变为高电平，两条驱动信号线在部分时间段内输出高电平；另一条驱动信号线由高电平变低电平之前，其中一条驱动信号线提前由低电平变为高电平，两条驱动信号线部分同时输出高电平。
43.进一步地，tp单元中非中心位置的tp sensor被侦测时，依据如下四个阶段时序循环驱动；
44.第一阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出低电平；
45.第二阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出高电平；
46.第三阶段，其中一条驱动信号线输出低电平，另一条驱动信号线输出高电平；
47.第四阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出高电平。
48.进一步地，两条驱动信号线输出的高电平电压均相同。
49.一种提高显示面板触控灵敏度的驱动架构的驱动方法，其包括以下步骤：
50.步骤1，判断当前侦测的tp sensor是否位于tp单元的中间位置；是则，执行步骤2；否则，执行步骤3；
51.步骤2，依照现有常规时序分别驱动两条驱动信号线，即两条驱动信号线上输出的高低电平相反，完成触控侦测后执行步骤1；
52.步骤3，当侦测的是tp单元中非中心位置的tp sensor时，依据如下四个阶段时序循环驱动；
53.第一阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出低电平；
54.第二阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出高电平；
55.第三阶段，其中一条驱动信号线输出低电平，另一条驱动信号线输出高电平；
56.第四阶段，其中一条驱动信号线输出高电平，另一条驱动信号线输出高电平。
57.进一步地，分别获取四个阶段侦测到的开关信息sx，并基于侦测到开关信息sx的
不同确定实际的触摸点；
58.当第一阶段和第二阶段都侦测到同一位置的开关信号sx为高电平时，则判定连接至其中一条驱动信号线且与侦测到开关信号sx所连接的tp sensor为当前实际的触摸点；
59.当第三阶段和第四阶段都侦测到同一位置的开关信号sx为高电平时，则判定连接至另一条驱动信号线且与侦测到开关信号sx所连接的tp sensor为当前实际的触摸点。
60.现在对本实用新型的具体工作原理做详细说明：
61.如图3所示，作为一种实施方式，以9个tp sensor为一组，此9个tp sensor在同一时间给相同的驱动讯号。
62.如图3所示，每个小方框表示一个tp sensor，框内的数字（x,y）分别代表其所接的sx（x）和tp demux开关(y)，以（15,2）为例：15代表其所接的sx讯号为sx15；2表示其所接tp demux开关为2，即tp demux2。
63.当系统侦测每个tp单元的tp sensor的中心位置的sensor[如(5,1)、（5,2）、（14,1）、（14,2）]时。如图4所示，以（5,1）为例，此时（5,1）与其周边的sensor与其所给信号为相同的高电平，此时（5,1）与周边的sensor不存在寄生电容，能提高触控的灵敏度。
[0064]
当系统侦测每个tp单元边缘的tp sensor，即除每个tp单元的中心位置外的tp sensor时，以（6,1）处tp sensor为例说明，其驱动时序见图5。
[0065]
当系统侦测（6,1）位置时，tp demux1先打开，如图5中阶段
①
所示，tp demux2处于关闭状态，此时tp demux1控制的sx1~sx9给的是相同的高电平驱动信号，而tp demux2控制的sx1~sx9为低电平关闭状态。此时（6,1）位置的tp sensor会与（1,2）、（4，2）、（7,2）位置处的tp sensor产生寄生电容，影响触控的灵敏度。现将tp demux1与tp demux2的打开时间做一个交叠（overlap），在tp demux1高电平结束之前，tp demux2提前打开，在驱动信号高电平交叠的部分，（6,1）周边的tp sensor与其所打的sx讯号为一样的高电平，如图6所示，此时也就不会有寄生电容的干扰，提升了触控的灵敏度。
[0066]
但对于sx6讯号而言，在高电平信号交叠处（6,1）与（6,2）同时驱动，易产即误触。现对系统帧测方式进行如下调整：当系统要侦测（6,1）位置时，tp demux1先打开，即图5中阶段
①
，此时系统侦测到的位置为（6,1）；进行到图5中阶段
②
时，tp demux1/2同时打开，系统侦测到（6,1）与（6,2）两个位置，当系统在阶段
①②
中均可侦测到同一位置时，系统即可判定实际所需侦测位置为（6,1）。同理，图5中阶段
③④
用来侦测位置（6,2）。图5中阶段
①②③④
为一个循环，即阶段
①②
侦测同一根sx中tp demux1所控制的tp sensor，而阶段
③④
侦测tp demux2所控制的tp sensor，如此便可侦测整面位于不同位置的tp sensor且不产生误触。
[0067]
本实用新型采用以上技术方案，一个tp单元组中不同列且不同行的两个tp单元的所有tp sensor共同连接至其中一条驱动信号线，一个tp单元组中不同列且不同行的另外两个tp单元的所有tp sensor共同连接至另一条驱动信号线。tp单元中中心位置的tp sensor被侦测时，两条驱动信号线上输出的高低电平相反，以完成触控侦测。tp单元中非中心位置的tp sensor被侦测时，两条驱动信号线上的打开时间有一个交叠（overlap），即其中一条驱动信号线由高电平变低电平之前，另一条驱动信号线提前由低电平变为高电平，两条驱动信号线在部分时间段内输出高电平；另一条驱动信号线由高电平变低电平之前，其中一条驱动信号线提前由低电平变为高电平，两条驱动信号线部分同时输出高电平。本
实用新型有效的避免了寄生电容对面板的触控灵敏度的影响。
[0068]
显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。