专利名称：检测片状材料特性的仪器的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种按照主权利要求书前序中所阐述的利用反射光束来检测如纸币或有价证券等片状材料特性的仪器设备。
在EP-A0537531，DE-A38 15375和DE-A19532877所公开的仪器中，片状材料沿着一条一传输方向穿过一发光器件和一个检测器件。发光器件沿着垂直于输送方向的直线照射片状材料，被片状材料反射的光射也沿着这条线被检测器件检测。检测器件包括一个CCD阵列或者光电二极管阵列，它们的结构和排列决定了沿该线反射光的局部分辨率。该线的照射宽度通常选择成比片状材料在垂直于输送方向上的宽度要宽一些，以便在输送过程中使片状材料的整个表面都能被检测到。
上述仪器虽然可以很好地对漫反射光进行具体地检测，但是，如果片状材料中包含了镜面反射组份，如像纸币中带有金属光泽的防伪线，或印刷油墨，或掺合在片状材料中某些成份或者所谓的OVD等，这些成份在大多数情况下都不能从片状材料的漫反射区域中被区别出来，特别是如果它们的反射能力不太强时更是如此。
美国专利5,299,268展示了与上述仪器相似的一种设备，其中片状材料被沿着第二条与输送方向垂直的线进行了附加的照射。根据沿着这两条线测定光线强度的构成比率就能对片状材料的镜面反射组份进行鉴定和分析。
这种仪器的缺点首先是它们的价格昂贵，其次，为了确定片状材料的镜面反射成分还需要比较复杂的评价方法。
此外，还没有哪种仪器能对片状材料组份中的磁特性进行测定。
本发明就是要在上述问题的基础上提供一种仪器，可用于沿着某一条线来测定带镜面反射光成份的片状材料的特性，它结构简单并有利于对片状材料组份中的磁特性进行测定。
按照本发明主权利要求书中所阐述的特征能使这些问题得到解决，而附加权利要求书中对本发明的优点又作了进一步发展。
本发明的基本构思是提供一成像器件，它将发光器件发出的光线转变成基本上是平行的光束，该光束照射到一个平行于片状材料的线平面内的一条线上并以一个固定的入射角射入第一照射平面内，该第一照射平面沿此线与线平面相交并形成一个第一照射角。所述的成像器件应放置在尽可能靠近直线的位置上。反射光在一个第一检测平面内以一个固定的反射角沿该线反射并被映射到一个检测器件上，第一检测平面与片状材料形成第一检测角，并沿着此线与线平面相交。选取入射角等于反射角以及第一照射角等于第一检测角。为了测定片状材料组份中的磁特性，发光器件发出的光最好是偏振光，并且沿着那一条线作镜面反射的光线在射到检测器件之前应被一个偏振器所分解。
本发明所提出的解决办法的一个优点是仪器的结构简单，并且被检测器件检测到的光线强度实际上只包括了镜面反射光线的一部分，因此勿需通过复杂繁琐的方法就能对探测强度作出评价。利用偏振器产生的偏振光进行照射和对镜面反射光进行适当的分析使得可以对片状材料组份中的磁特性进行测定。
为了测定片状材料镜面反射成分和它们的磁特性，可将片状材料置于线平面内，这样一来，发光器件发出的光线就直接照射到片状材料上并被片状材料的镜面反射组份所发射。
为了测定非镜面反射成分的磁特性，最好在线平面内加上一个具有高磁性克尔效应(电介质的光电效应)的反射器。将板材引导通过所述的反射器以便对它进行测定，由于片状材料的已被永久磁化了的磁性组份将通过磁化作用对反射器的克尔效应产生影响，从而使得被反射器所反射的光线强度将发生改变。
下面将参照附图对本发明的各种实例和作用原理作一说明，其中
图1是本发明第一实例的示意图；图2是光线的不同反射类型的示意图；图3是本发明各部件配置情况的通用示意图；图4是本发明第二实例的示意图；图5是本发明第三实例的示意图；图6是本发明第四实例的示意图；图7显示了采用非偏振光的本发明第一，第二和第三实例的作用原理；图8显示了采用非偏振光的本发明第四实例的作用原理；图9显示了采用偏振光的本发明的第一种作用原理；
图10显示了采用偏振光的本发明的第二种作用原理；图11显示了采用偏振光的本发明的第三种作用原理；图12显示了采用偏振光的本发明第二实例的具有不同作用原理的若干种仪器设备的组合方案；图13是与片状材料镜面反射组份中不同磁特性相对应的光强度百分比表；图14是优选的具有高克尔效应反射器的本发明第二实例的示意图。
图1是本发明第一实例的示意图。从发光器件10发出的光线100被成像器件30转换成基本上是平行的光束101，光束101以入射角α照射到一个平行于片状材料40的线平面内的L线上。这里，片状材料40被放置在线平面内，因此光束101可以直接照射到片状材料40上。反射光线111沿着线L以固定的反射角β反射，并通过成像器件30和51成像在检测器件50上。在本实例中，发光器件10，成像器件30和检测器件50均处在一个与线平面垂直的平面内并沿L线与线平面相交。为了对镜面反射光进行测定，可将入射角α选择为与反射角β相等。
线L的长度最好选取为大于或等于片状材料40的宽度B。为了测定镜面反射光，可将片状材料40沿着一条与发光器件10，成像器件30和检测器件50所在平面相垂直的方向穿越输送，这样一来，在输送过程中片状材料40的全部表面都能被检测到。
检测器件50最好采用CCD阵列，如果有必要也可换用光电二极管阵列。沿L线反射光的局部分辨率由探测器件50的象素数目和被测定的L线的长度确定。为了某些特殊的应用，也可以设想在采用CCD或光电二极管时其中只含有一个单独的象素。
发光器件10最好是发出偏振光，它可以由激光二极管产生或者由白炽灯光经合适的偏振器形成。为了确定片状材料40镜面反射组份的磁特性，可以在发光器件10与检测器件50之间的光束路径上设置若干四分之一波片31或偏振器52。另外，还可以设置磁场发生器32，它将以适当的方式影响片状材料40镜面反射组份的磁特性。关于片状材料40的镜面反射组份磁特性获取设备的作用原理将要在下面作更详细的说明。
图2是光线的不同反射类型的示意图。图2a显示了光线的漫反射原理。这里，入射角为α的入射光在所有的方向上被均匀地反射。如果漫反射光在反射角β处被检测到，它的强度将取决于被检测器件检测到的反射角δ的范围。入射强度通常要比检测强度大许多。
从图2b所示的反射情况可以看出，入射角为α的入射光在以反射角为β的方向上被完全反射，入射角α与反射角β相等。在角δ的范围内检测器件检测到的光线强度基本上等于入射光的强度，如果入射光的入射角α在角度γ的范围内变化，这一情况也将保持，所述的范围γ等于反射角δ的范围。这一情况所基于的事实是，即使光束101仅仅是一条基本上是平行的光束，反射光束111的总强度也能被检测器件50检测到。平行度的较小的允许偏差可用反射光束111测定期间反射角的变化范围来补偿。
如果被测定光束111的角度范围选择得比较小，则由于上述关系的原因，与镜面反射光的强度相比较，漫反射光的强度将变为无限小。这时检测器件50所测定的实际上仅仅是镜面反射光的一部分。
图3a是本发明各部件配置情况的通用示意图。为了清楚起见，在图3a中，发光器件10，成像器件30，检测器件50和成像器件51均用实线和虚线表示。
在这种一般的情况下，由发光器件10发出的光线100发射到第二照射平面B2内，该平面与线平面EL形成第二照射角ε2。光线100被成像器件30偏转成光线101并发射到第一照射平面B1内，该平面沿L线与线平面EL相交并与线平面E1形成第一照射角ε1。在第一照射平面B1内，线L1被平行光束101按固定的入射角α所照射。
在第一检测平面D1内以固定的反射角β沿L线的反射光111被映射到检测器件50上，第一检测平面D1沿L线与平面EL相交并与线平面EL之间形成第一检测角ρ1。为了将反射光111映射到检测器50上，反射光111被成像器件30偏转后变成光线110进入到第二检测平面D2内，平面D2与片状材料40形成第二检测角ρ2。
为了测定镜面反射光，选择入射角α与反射角β相等，以及第一照射角ε1与第一检测角ρ1相等，而第二照射角ε2和第二检测角ρ2则完全可以自由选择。
如果有必要，例如由于发光器件10或者检测器件50空间位置安排的需要，可以在发光器件10和检测器件50之间的光束路径100，101，111和110上增设一个或多个反射器(图中并未画出)，以保证合适的光线偏转，当然，这时照射平面B1，B2或检测平面D1，D2的空间位置也要作相应的改变。
图3b和3c是图3a在两个方向(Y轴方向和Z轴方向)上的投影图。用点划线画出的想像平面E沿L线与线平面EL相交并与线平面EL垂直。
图4显示了本发明的第二实例，其中第一照射角ε1与第一检测角ρ1相等，两者几乎都是90°。选取入射角α与反射角β相等，均为90°。这种安排可以实现成像器件30的单件化，从而可使得设备的结构更为简单。发光器件10和成像透镜51分别位于成像器件30的焦点平面上。发射光100从中心平面E的上方射进成像器件，反射光111从中心平面E的下方离开成像器件，它形成的反射光线110偏转了第二检测角ρ2。在本实例中，不论是第二照射角ε2或是第二检测角ρ2均可自由选择。由于成像器件30光学特性的原因，在任何情况下，第二照射角ε2总是等于第二检测角ρ2。为了清楚起见，在图4中将第二照射角ε2和第二检测角ρ2都画大了许多，然而在实际上通常是将它们选取成尽可能小的角度。第一照射角ε1和第一检测角ρ1对90°的偏离是很小的，在图中对它们将忽略不计。
本实例的另一优点是成像器件30与片状材料40之间的距离波动不会对被检测光线110的强度产生实际的影响，原因是入射光是垂直入射的。
图5是本发明第三实例的示意图，它基本上是与本发明第二实例相对应的。与第二实例不同的是，在这里第二照射角ε2也选取为与第二检测角ρ2相等并均为90°。
这种结构存在的问题是发光器件10和检测器件50至少从表面上看去都是处在与片状材料40相垂直的同一条轴线上。为了避免发生问题，可以采取利用发光器件10将检测器件50遮盖的办法。这里发光器件10是由若干发光元件组成并环绕成像器件51的周围放置。发光器件10的这种结构使得发射光100被成像器件30唯一转变成基本上是平行的光束。
光束101平行度的偏差如图5a所示。然而它们可以通过如上所述的相应的选择检测器件50的反射角δ的角度范围来进行补偿。在光束101中存在不同的方向还有一个优点就是被测定的对象(即片状材料)由于对检测平面发生倾斜而产生的位置偏差同样也能得到补偿。
图6是本发明第四实例的示意图，它基本上对应于第三实例。为了避免上述问题发生，在光束路径100，110中放置了光束分离器20，它能让发光器件10发出的光线100中的至少一部分透射，并将片状材料40反射的光线110中的至少一部分反射到检测器件50的方向上。这样一来，本来就不希望采用的遮盖方法也能得以避免。如果有必要，发光器件10和检测器件50的位置还可以相互交换。
以下将参照附图7至11对本发明的作用原理作一说明。
图7显示了本发明第一，第二和第三实例的作用原理，发光器件10发出的非偏振光由50％的垂直偏振光和50％的水平偏振光组成。非偏振光通过成像器件30映射到片状材料上并照射到不同的区域。区域41是漫反射区域，区域42表示的是一个金属镜面反射区域，而区域43是一个磁性镜面反射区域，它显示了磁-光克尔效应。
由50％的垂直偏振光和50％的水平偏振光组成的光线将射到其中的一个区域内，如上所述。当光线射到漫反射区域41时，其中一部分垂直偏振光将被分解成50％的垂直和50％的水平偏振光。这也同样适用于照射到漫反射区域的水平偏振光。被这样一个区域41反射的光线这时将再次由50％的垂直偏振光和50％的水平偏振光组成。
在金属镜面反射区域42的情况下，偏振光仍保持为垂直偏振光和水平偏振光。被区域42反射的光线这时转为由50％的垂直和50％的水平偏振光组成。
在磁性镜面反射区域43内，由于克尔效应的作用使入射光的偏振方向产生一定数量的旋转。被区域43反射的垂直偏振光这时基本上(95％)仍为垂直偏振光，只是反射光中的一小部分(5％)被转为水平偏振光。这也同样适用于被反射的水平偏振光。因此，被区域43反射的两种偏振光合起来仍包含50％的垂直和50％的水平偏振光。
从区域43反射出来的垂直偏振光和水平偏振光之间的比率取决于片状材料40组份的磁特性。所述的比率95％和5％在这里是随意选取的，其目的只是为了图解说明磁特性产生的影响。
被区域41至43反射的光线随后被成像器件30映射到检测器件50上。本发明对设备各部件的安排将保证实际上没有被区域41漫反射的光线被检测器件50检测到。被检测器件50检测到的由金属镜面反射区域42和磁性镜面反射区域43反射的光线将是完全的非偏振光。
图8显示了本发明第四实例的作用原理。这里，发光器件10也是发出非偏振光。光线首先照射到光束分离器20上，它能使50％的垂直和50％的水平偏振光透射过去，然后通过成像器件30将它们映射到片状材料40的区域41至43上。在这里，光线按照图7所述的作用原理发生反射。经区域41至43反射的光线随后抵达成像器件30，成像器件30只将从区域42和43镜面反射的光线经光束分离器20映射到探测器件50上。光束分离器20仅将反射光中50％的垂直和水平偏振光反射到检测器50上。
与图7的作用原理相同的是，检测器件也只能检测到从区域42或43镜面反射的光。然而与图7的作用原理不同的是，到达检测器件50的光线强度仅为原来的四分之一。
总的来说，带有发光器件10并发出非偏振光的本发明的第一至第四实例设备能够检测到片状材料40的镜面反射组份，但是不能获得所述组份的磁特性。为了简化起见，任何损失，例如由于设备各部件对光线的吸收和散射造成的损失通常都忽略不计。
下面将参照图9至11对利用偏振光能够对片状材料40镜面反射组份中的磁特性进行测定的本发明的三种作用原理作一说明。在需要说明的所有这些原理中，为了显示偏振光的效果，作为举例，现假定发光器件发出的偏振光为100％的垂直偏振光。
在第一至第三实例中，由发光器件10发出的偏振光直接射到成像器件30上。在第四实例的设备中，设置了偏振光束分离器20，它使垂直偏振光透射而将水平偏振光反射，因此从发光器件10发出的垂直偏振光将被分离器20完全透射而抵达成像器件30。
在第一至第三实例中，在片状材料40反射光的光束路径内，偏振器52只让成像器件30和检测器件50之间的水平偏振光透射。在第四实例中，由于设置了偏振光分离器20，因此只有片状材料40反射光中的水平偏振部分能被反射到检测器件50上。
按照图9的第一种作用原理，一种四分之一波片被放置在成像器件30和片状材料40之间的光束路径上，以及片状材料40与成像器件30的光束路径上，用来将垂直偏振光转变成右旋圆偏振光和将水平偏振光转变成左旋圆偏振光，或者将右旋圆偏振光转变成垂直偏振光和将左旋圆偏振光转变成水平偏振光。
当照射光线在漫反射区域41上被反射时，照射的右旋圆偏振光中的50％保持为右旋圆偏振光，50％转变为左旋圆偏振光。当右旋圆偏振光在金属镜面反射区域42上被反射时，右旋圆偏振光将完全转变成左旋圆偏振光。当右旋圆偏振光在磁性镜面反射区域43上被反射时，右旋圆偏振光基本上(95％)被转变成左旋圆偏振光，只有一小部分(5％)仍保持为右旋圆偏振光。当反射光穿过四分之一波片31时，圆偏振分量将转回到线性偏振分量，随后如上所述，将被偏振器32或偏振光束分离器20分解。
根据带偏振光的本发明的第一种作用原理，其结果是在检测器件50上将检测不到漫反射区域41反射光的强度。但在金属镜面反射区域42上反射光的强度则能完全被检测器件50检测到，与此同时在磁性镜面反射区域43上反射光的强度却很小。仅有5％，因此能够很容易区分金属反射区域42和磁性反射区域43。
图10显示了采用偏振光的本发明的第二种作用原理，其中取消了按照本发明第一种作用原理而设置的四分之一波片31，因此片状材料40可直接受到垂直偏振光照射。以上述方式在区域41至43中发生的反射是按照图7的作用原理进行的。通过对由偏振器52或偏振光束分离器20反射光的进一步分析可以看出，没有从区域41和42反射的光线抵达检测器50，只有很少一部分(5％)被磁性反射区域43反射的光射能被检测器件50检测到。采用偏振光的本发明的第二种作用原理只允许片状材料40的磁性反射区域反射的光线能被检测到。
采用偏振光的本发明的第三种作用原理如图11所示，它基本上与采用偏振光的本发明的第二作用原理相对应，它在片状材料40的反射区域内增设了一个磁场产生装置32。在本例中已将磁场产生装置产生的磁场选取得足够大，使得金属反射区域42反射的偏振光基本上得到保持(85％)，其中只有一小部分(15％)转变成其他方向的偏振光。
如果将区域43的磁性组份置于磁场产生装置32的磁场中，并使其磁性分量与磁场产生装置的磁场方向相反，这时该磁场以及偏振平面的旋转量都将相应地减小。在这个例子中，区域43的磁性分量使磁场产生装置32的磁场减小，因此大比例量的偏振光部分基本上保持不变(90％)，而小比例量的偏振光部分则有所改变(10％)。
就本发明的全部作用原理而言，没有从漫反射区域41反射的光线能被检测到。由于磁场产生装置32的磁场被片状材料40的磁性反射区域43的磁性分量所抵消，因此被探测器件50探测到的区域43反射光的强度(10％)也低于金属反射区域42反射光的强度(15％)，从而能够鉴别出金属反射光线与磁性反射光线之间的差别。
图12显示了采用偏振光的本发明第二实例的具有不同作用原理的若干种仪器设备的组合方案。发光器件10发出的光线100经成像器件30映射后垂直于片状材料40，被片状材料40反射的光线111经成像器件30映射成光线110，它经成像器件51投射到检测器50上。在光线110投射到检测器50之前先经过一个偏振器52，它只让与光线100的偏振方向相垂直的偏振分量透射过去，有如采用偏振光的本发明的第一种至第三种作用原理所述。
为了加大片状材料40的硬磁性成份和软磁性成份之间的差别，可附加一个磁场产生装置33，用来将片状材料40的硬磁性成份预先磁化，这样一来也增强了磁场产生装置32的磁场。磁场产生装置32或33可以采用永久磁铁或载流线圈。
图13是与片状材料镜面反射组份中不同磁特性相对应的光强度百分比表。表中列出了被检测器件50检测到的各类设备的光强度。
第一类设备带有成像器件30和四分之一波片31，用来检测金属成份的100％的光强度和硬磁性成份的95％的光强度而如图9所示。由于没有外磁场出现，在这里软磁性成份起到与金属成份相同的作用，因此检测器件50能检测到100％的光强度。
第二类设备中只有成像器件30，因此它只能从硬磁性成份中检测到5％的光强度，如图10所述。在这里没有光强度能从片状材料40的软磁性反射成份中检测到。
第三类设备中有成像器件30和磁场产生装置32，其磁场的选取应保证不会与片状材料的硬磁性成份一致。如图11所述，由片状材料40磁性成份形成的15％的光强度源于磁场产生装置32的磁场。片状材料的硬磁性成份已被磁场产生装置33预先磁化了，因此它们增强了磁场产生装置32的磁场，如前所述，从而将检测器件50检测到的光强度增加到20％。片状材料40的软磁性成份与磁场产生设备32的磁场方向相反，因此它们削弱了磁场产生装置32的磁场，于是只能探测到10％的光强度。
片状材料40镜面反射组份的磁特性可从被检测到的光强度中获取。片状材料40的硬磁性成份可从第二类设备的测量结果中获取。对于片状材料的金属成份或软磁性成份可以采用它们在第三类设备中的光强度与在第一类设备中的光强度的比率来衡量。如果照此办理的话，则金属成份的光强度比率(0.15)总是大于片状材料40软磁性成份的光强度比率(0.1)。
通过将几种本发明的设备组合在一起的办法可以将片状材料40镜面反射成分的磁特性进一步区分为金属性，硬磁性或软磁性。
在上述各实例中，片状材料40均置于线平面EL内。图14显示了第二实例的一个示意图，其中已将一个反射器34置于线平面EL内。所述的反射器34有一个沿着L线的镜面磁性反射区域，与片状材料40的区域43相似，它最好是具有高克尔效应。
光束101被反射器34反射后成为反射光束111。如果发光器件10发出偏振光100，则该偏振光将按照图9，10和11所述的用于片状材料40区域43的作用原理进行反射。
当片状材料40被引导经过反射器34进行检测时，片状材料40的磁性组份会影响反射器34的克尔效应，该项影响将导致按照上述作用原理的被检测的光线强度发生改变。
如果有必要，当然也可以对第一，第三和第四实例作一些改变，将反射器34插入到相应的位置上。
这些实例的优点是，未被镜面反射的片状材料40组份的磁特性也能被探测到。
通过对上述实例的适当组合就能检测到镜面反射成份。如果有必要也能获得这些镜面反射成份的磁特性。此外，要获取片状材料40的非镜面反射磁性组份的磁特性也是可能的。
本发明的仪器可以用来检测带克尔效应的具有镜面反射成份的防伪文件。为了提高防伪文件的安全性，该文件可以具有多种不同克尔效应的镜面反射成份，因为这些不同的克尔效应能够用本发明的仪器设备来加以区分。镜面反射成份的克尔效应最好是选取得高一些，以保证有高的检测可靠性。
这种反射成份可以采用图形和(或)暗码的形式设置在防伪文件上。例如可以用油墨将图形和暗码印制在防伪文件上或者以微粒或防伪线的形式镶嵌在防伪文件中。
权利要求
1.一种利用反射光线来检测如纸币或有价证券等片状材料特性的仪器，具有一个用来发射光线(100)的发光器件(10)，它照射平行于片状材料(40)的一个线平面(EL)内的一条线(L)，以及一个用来检测沿线(L)反射的光线(110)的检测器件(50)，其特征在于，提供一成像器件(30)，·它被设置在线(L)的附近；·它所提供的焦距长度能使得发光器件(10)以及另一成像器件(51)都至少是近似地位于焦平面内；·它将发光器件(10)发出的散射光线(100)转变成基本上是平行的光束(101)，该光束在第一照射平面(B1)内以一个固定的入射角(α)照亮线(L)，第一照射平面(B1)沿线(L)与线平面(EL)相交并与线平面(EL)形成第一照射角(ε1)；以及·它把在第一检测平面(D1)内以一个固定的反射角(β)沿线(L)反射的光线(111)映射到位于检测器件(50)前面的另一成像器件(51)上，于是所述的另一成像器件(51)可通过它的光阑观测到沿线(L)被反射的那些光束，它们的轴线与线(L)之间有一个反射角(β)，第一检测平面(D1)沿线(L)与线平面(EL)相交并与线平面(EL)形成第一检测角(ρ1)；以及·入射角(α)等于反射角(β)，并且第一照射角(ε1)等于第一检测角(ρ1)。
2.按照权利要求1所述的仪器，其特征在于，发光器件发出的光线(100)照射到第二发光平面(B2)上并与线平面(EL)之间形成第二照射角(ε2)，而成像器件(30)则将光线(100)偏转到第一发光平面(B1)内。
3.按照权利要求1所述的仪器，其特征在于，在第一检测平面(D1)内沿线(L)反射的光线(111)被成像器件(30)偏转到第二检测平面(D2)内，并与线平面(EL)形成一个第二检测角(ρ2)。
4.按照权利要求1所述的仪器，其特征在于，第一照射角(ε1)等于第一检测角(ρ1)，两者几乎都等于90°。
5.按照权利要求4所述的仪器，其特征在于，入射角(α)等于反射角(β)并等于90°，发光器件(10)被设置在环绕检测器件(50)周围的区域内。
6.按照权利要求1所述的仪器，其特征在于，一种光束分离器(20)被设置在发光器件(10)和检测器件(50)之间的光束路径(100，101，111，110)中。
7.按照权利要求6所述的仪器，其特征在于，光束分离器(20)用作偏振光束的分离器。
8.按照权利要求1或6所述的仪器，其特征在于，在发光器件(10)和检测器件(50)之间的光束路径(100，101，111，110)中至少有一个偏振器(52)。
9.按照权利要求1至8中任一权利要求所述的仪器，其特征在于，在发光器件(10)和检测器件(50)之间的光束路径(100，101，111，110)中至少有一个四分之一波片(31)。
10.按照权利要求1至9中任一权利要求所述的仪器，其特征在于，在发光器件(10)和检测器件(50)之间的光束路径(100，101，111，110)中至少有一个反射器。
11.按照权利要求1所述的仪器，其特征在于，发光器件(10)发出的是偏振光。
12.按照权利要求11所述的仪器，其特征在于，发光器件(10)至少有一个激光二极管。
13.按照权利要求1所述的仪器，其特征在于，检测器件(50)有一CCD阵列。
14.按照权利要求1所述的仪器，其特征在于，检测器件(50)中有一个光电二极管阵列。
15.按照权利要求1所述的仪器，其特征在于，线(L)的长度大于片状材料(40)的宽度(B)。
16.按照权利要求1至15中任一权利要求所述的仪器，其特征在于，片状材料(40)被放置在线平面(EL)内。
17.按照权利要求1至15中任一权利要求所述的仪器，其特征在于，在线平面(EL)内有一个反射器(34)。
18.按照权利要求17所述的仪器，其特征在于，反射器(34)具有较高的克尔效应。
19.一种防伪文件，其特征在于，在该文件中具有带克尔效应的镜面反射组份。
20.按照权利要求19所述的防伪文件，其特征在于，在该文件中具有带多种不同克尔效应的镜面反射组份。
21.按照权利要求19或20所述的防伪文件，其特征在于，防伪图形和/或暗码随同所述成份将被置于文件中和/或文件上。
全文摘要
该仪器有一成像器件,它将发光器件发出的光线转变成基本上是平行的光束,该光束照射到一个平行于片状材料的线平面内的一条线上并以一个固定的入射角射入第一照射平面内,第一照射平面沿此线与线平面相交并形成第一照射角。反射光在第一检测平面内以一个固定的反射角沿该线反射,并被映射到一个检测器件上,第一检测平面与片状材料形成第一检测角,并沿着此线与线平面相交。选取入射角等于反射角以及第一照射角等于第一检测角。为了测定片状材料组份中的磁特性,发光器件发出的光最好是偏振光,并且沿此线作镜面反射的光线在射到检测器件之前被一个偏振器所分解。
文档编号G06K19/14GK1253646SQ98804572
公开日2000年5月17日 申请日期1998年4月29日 优先权日1997年4月29日
发明者伯恩德·旺德拉 申请人:德国捷德有限公司