计算机用键盘的制作方法

文档序号:8380524阅读:268来源:国知局
计算机用键盘的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种计算机用键盘,属于计算机设备领域。
【背景技术】
[0002]随着科技的发展,人们的生活越来越便捷,尤其是在办公方面,随着各种便捷的办公用品出现,如计算机、传真、电话、打印机,工作人员在办公室即可处理大量的事物。随着计算机时代的到来,可以说人们大部分时间都在与计算机接触,计算机键盘是人接触计算机的主要媒介,由于按键间的缝隙较小,较易藏匿细菌且难以清理。

【发明内容】

[0003]本发明的目的是提供计算机用键盘,所述键盘包括键盘本体设于键盘本体表面的抗菌层,及用于粘结键盘本体和抗菌层的粘结剂,其中,所述抗菌层为ZnO-T12-WO3复合膜,所述键盘上的复合膜具有光催化的功能,可以有效祛除键盘表面的污物。
[0004]一种计算机用键盘,所述键盘包括键盘本体和设于键盘本体表面的抗菌层,及用于粘结键盘本体和抗菌层的粘结剂,
[0005]其中,所述抗菌层为ZnO-T12-WO3复合膜。
[0006]本发明所述计算机用键盘优选所述粘结剂为聚丙烯酸酯、聚脂酸乙烯酯乳液。
[0007]本发明所述计算机用键盘优选所述ZnO-T12-WO3复合膜由塑料膜基体和附着其上的ZnO-T12-WO3镀层组成。
[0008]本发明所述计算机用键盘优选所塑料膜基体的厚度为100?800 μ m。
[0009]本发明所述计算机用键盘优选所述塑料膜为聚乙烯膜、聚丙烯膜、聚氯乙烯或苯乙烯-丙烯腈共聚物。
[0010]本发明所述计算机用键盘优选所述ZnO-T12-WO3镀层按ZnO =T12 =WO3的摩尔比为 10 ?30:20 ?50:10 ?20。
[0011]本发明所述计算机用键盘优选所述ZnO-T12-WO3镀层按ZnO =T12 =WO3的摩尔比为 10 ?20:35 ?50:15 ?20。
[0012]本发明所述计算机用键盘优选所述复合膜利用真空蒸镀法制得,具体如下:
[0013]1.将塑料膜基体于80?120°C下处理5?30min后置于真空镀膜机的真空室中;
[0014]I1.将2110、1102、103粉末混匀后置于真空室内的坩埚中;
[0015]II1.对真空室进行抽真空,直至压力为10_4?10_3Pa,后通入氩气或氮气,再抽真空至10_4?1-3Pa后开始蒸镀,蒸镀时间5?30min。
[0016]本发明所述ZnO-T12-WO3复合膜优选所述ZnO、Ti02、WO3的粒度小于400nm。
[0017]本发明所述ZnO-T12-WO3复合膜优选所述ZnO、T12、WO3的粒度为100?200nm。
[0018]本发明的有益效果是:本发明提供计算机用键盘,所述键盘包括键盘本体设于键盘本体表面的抗菌层,及用于粘结键盘本体和抗菌层的粘结剂,其中,所述抗菌层为ZnO-T12-WO3复合膜。所述键盘上的复合膜具有光催化的功能,可以有效祛除键盘表面的污物。
【具体实施方式】
[0019]下述非限制性实施例可以使本领域的普通技术人员更全面地理解本发明,但不以任何方式限制本发明。
[0020]实施例1
[0021]一种计算机用键盘,所述键盘包括键盘本体和和设于键盘本体表面的抗菌层,及用于粘结键盘本体和抗菌层的聚脂酸乙烯酯乳液,其中,所述抗菌层为ZnO-T12-WO3复合膜。所述ZnO-T12-WO3复合膜由塑料膜基体和附着其上的ZnO-T12-WO3镀层组成,所塑料膜基体的厚度为100?800 μ m,所述ZnO-T12-WO3镀层按ZnO =T12 =WO3的摩尔比为10:50:15。
[0022]实施例2
[0023]一种计算机用键盘,所述键盘包括键盘本体和设于键盘本体表面的抗菌层,及用于粘结键盘本体和抗菌层的聚丙烯酸酯,其中,所述抗菌层为ZnO-T12-WO3复合膜,所述ZnO-T12-WO3复合膜由塑料膜基体和附着其上的ZnO-T12-WO3镀层组成,所塑料膜基体的厚度为200 μ m。所述塑料膜为聚乙烯膜,所述ZnO-T12-WO3镀层按ZnO =T12 =WO3的摩尔比为 15:45:20。
【主权项】
1.一种计算机用键盘,其特征在于:所述键盘包括键盘本体和设于键盘本体表面的抗菌层,及用于粘结键盘本体和抗菌层的粘结剂, 其中,所述抗菌层为ZnO-T12-WO3复合膜。
2.根据权利要求1所述的键盘,其特征在于:所述粘结剂为聚丙烯酸酯、聚脂酸乙烯酯乳液。
3.根据权利要求1所述的键盘,其特征在于:所述ZnO-T12-WO3复合膜由塑料膜基体和附着其上的ZnO-T12-WO3镀层组成。
4.根据权利要求3所述的键盘,其特征在于:所塑料膜基体的厚度为100?800μ m。
5.根据权利要求3所述的键盘,其特征在于:所述塑料膜为聚乙烯膜、聚丙烯膜、聚氯乙烯或苯乙烯-丙烯腈共聚物。
6.根据权利要求1所述的键盘,其特征在于:所述ZnO-T12-WO3镀层按ZnO=T12 =WO3的摩尔比为10?30:20?50:10?20。
7.根据权利要求4所述的键盘,其特征在于::所述ZnO-T12-WO3镀层按ZnO=T12:WO3的摩尔比为10?20:35?50:15?20。
8.根据权利要求1所述的键盘,其特征在于:所述复合膜利用真空蒸镀法制得,具体如下: .1.将塑料膜基体于80?120°C下处理5?30min后置于真空镀膜机的真空室中; .I1.将Zn0、Ti02、W03粉末混匀后置于真空室内的坩埚中; II1.对真空室进行抽真空,直至压力为10_4?10_3Pa,后通入氩气或氮气,再抽真空至10_4?KT3Pa后开始蒸镀,蒸镀时间5?30min。
【专利摘要】本发明涉及一种计算机用键盘,属于计算机设备领域。本发明提供计算机用键盘,所述键盘包括键盘本体设于键盘本体表面的抗菌层,及用于粘结键盘本体和抗菌层的粘结剂,其中,所述抗菌层为ZnO-TiO2-WO3复合膜。所述键盘上的复合膜具有光催化的功能,可以有效祛除键盘表面的污物。
【IPC分类】G06F3-02, H01H13-704
【公开号】CN104699256
【申请号】CN201310657400
【发明人】张磊
【申请人】大连奥林匹克电子城咨信商行
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2013年12月5日
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