一种jtag和bdm集成调试接口及其使用方法
【技术领域】
[0001 ] 本发明设及一种Freescale(飞思卡尔)MCU的JTAG和抓M集成式复用调试接口，尤 其设及一种JTAG和BDM集成调试接口及其使用方法，具体适用于减小电路板尺寸、降低ECU 的体积和重量。
【背景技术】
[0002] 嵌入式系统中的微控制器或微处理器都有一个调试接口，用于与仿真器或调试器 连接，进行程序刷写及调试等。汽车行业常用的微控制器主要有两种调试接口，及Spin的 BDM接口及Hpin的JTAG接口。当一个电路板上有两个微控制器且两个微控制器的调试接口 分别为JTAG接口和BDM接口时，需要在电路板上分别使用一个Hpin的连接器(公端)和一个 化in的连接器(公端），两种连接器的规格相同，均为2.54mm间距的排针。调试接口仅在电路 板开发及生产阶段使用，在用户使用时不发挥作用。而且调试接口占据电路板的面积，增加 物料成本， 中国专利申请公布号为CN102289419A，申请公布日为2011年12月21日的发明专利公开 了一种SOC集成电路，包括:功能接口控制器、JTAG调试接口控制器、用于选择功能接口信号 或调试接口信号并将选择的信号传输至外部接口的信号复用单元、用于根据是否接收到调 试模式触发指令的不同情况控制信号复用单元进行信号复用的复用控制寄存器、若干引脚 W及用于与SOC集成电路之外的调试工具或其他设备进行连接的外部接口。虽然该发明能 够减小电路板面积，但其仍存在W下缺陷： 1、该发明采用同引脚复用信号，造成电路结构更加复杂，容易出错。
【发明内容】
[0003] 本发明的目的是克服现有技术中存在的电路复杂的问题，提供了一种电路简单的 JTAG和BDM集成调试接口及其使用方法。
[0004] 为实现W上目的，本发明的技术解决方案是： 一种JTAG和抓M集成调试接口，包括JTAG接口和抓M接口； 所述JTAG接口和抓M接口组成复用调试接口，所述复用调试接口为两列对称排列的排 针接口，所述复用调试接口分别与JTAG仿真器插头、BDM仿真器插头插入配合。
[0005] 所述JTAG接口的引脚个数与BDM接口的引脚个数的和大于等于复用调试接口的引 脚个数。
[0006] 所述JTAG接口的十四个引脚等分为左、右两列对齐排布，JTAG接口的左侧一列屯 个引脚从前到后依次为TDI901引脚、TD0903引脚、TC脚05引脚、Not used907引脚、Reset909 引脚、VCC911引脚和Not used913引脚，JTAG接口的右侧一列屯个引脚从前到后依次为 GND902引脚、GND904引脚、GND906引脚、Not used908引脚、TMS910引脚、GND912引脚和 JC0MP914引脚； 所述抓M接口的六个引脚等分为左、右两列对齐排布，BDM接口的左侧一列S个引脚从 前到后依次为服GD801引脚、Not used803引脚和Not used805引脚，BDM接口的右侧一列S 个引脚从前到后依次为GND80巧侧、Reset804引脚和VCC806引脚； 所述TDI901引脚即为复用调试接口的TDIl引脚，所述GND90巧侧即为复用调试接口的 GND巧I脚，所述TD0903引脚即为复用调试接口的TD03引脚，所述GND904引脚即为复用调试 接口的GND4引脚，所述TCK90巧侧即为复用调试接口的TCK巧侧，所述GND906引脚即为复 用调试接口的GND6引脚，所述Not used907引脚即为复用调试接口的Not used7引脚，所述 Not used908引脚即为复用调试接口的Not usedS引脚，所述Reset909引脚即为复用调试接 口的Res et9引脚，所述TMS910引脚即为复用调试接口的TMS10引脚； 所述VCC911引脚与VCC806引脚复用为复用调试接口的VCCll引脚，所述GND91巧侧与 Not used805引脚复用为复用调试接口的GND12引脚，所述Not used913引脚与Reset804引 脚复用为复用调试接口的Resetl3引脚，所述JC0MP914引脚与Not used803引脚复用为复用 调试接口的JC0MP14引脚； 所述GND80巧侧即为复用调试接口的GND15引脚，所述BKGD801引脚即为复用调试接口 的BKGD16引脚。
[0007] 所述复用调试接口的十六个引脚等分为左、右两列对齐排布，十六针复用调试接 口的左侧一列八个引脚从前到后依次为TDIl引脚、TD03引脚、TCK巧I脚、Not used7引脚、 Resetg引脚、VCCll引脚、Resetl3引脚和GND15引脚，十六针复用调试接口的右侧一列的八 个引脚从前到后依次为GND巧侧、GND4引脚、GND6引脚、Not usedS引脚、TMSlO引脚、GND12 引脚、JCOMP14引脚、BKGD16引脚； 所述JTAG仿真器插头分别与TDI1引脚、GND2引脚、TD03引脚、GND4引脚、TCK5引脚、GND6 引脚、Not used7引脚、Not usedS引脚、Rese巧引脚、TMSlO引脚、VCCll引脚、GND12引脚、 Resetl3引脚和JC0MP14引脚插入配合； 所述仿真器插头401分别与VCCll引脚、GND12引脚、Resetl3引脚、JC0MP14引脚、GND15 引脚和服GD16引脚插入配合。
[0008] 一种JTAG和抓M集成调试接口的使用方法，在需要用JTAG仿真器调试MCU1时，将 JTAG仿真器插头的各接口按功能标注对准复用调试接口上的TDI1引脚和JC0MP14引脚，然 后将JTAG仿真器插头插入TDI1引脚至JC0MP14引脚，最后利用JTAG仿真器对MCUl进行调试， 调试完成后拔出JTAG仿真器插头； 在需要用抓M仿真器调试MCU2时，将抓M仿真器插头的各接口按功能标注对准复用调试 接口上的服GD16引脚和VCCl 1引脚，然后将抓M仿真器插头插入服GD16引脚至VCCl 1引脚，最 后利用抓M仿真器对MCU2进行调试，调试完成后拔出抓M仿真器插头。
[0009] 与现有技术相比，本发明的有益效果为： 1、本发明一种JTAG和BDM集成调试接口中将打eescale MCU的JTAG接口和BDM接口集成 到了一个16针的排针接口上，在不影响用户使用的前提下，减少了零件数量和调试接口对 PCB的面积占用，提高了电路板的集成度，优化了电路板的布局、布线，降低了电路板的物料 成本，减小了 ECU的体积和重量。因此本设计有效减小了电路板的面积，减小了 ECU的体积和 重量。
[0010] 2、本发明一种用于飞思卡尔MCU的JTAG和BDM集成调试接口中复用接口有效提高 了排针的利用率，将原有BDM接口的两个Not used引脚分别与JTAG接口的GND引脚、JCOMP引 脚复用，将原有JTAG接口 VCC引脚下方的Not used引脚与抓M接口的Reset引脚，同时乃AG接 口和抓M接口共用V(X引脚;运样的设计有效利用了 JTAG接口和抓M接口的无效引脚，提高了 复用接口排针的引脚利用率，减小了电路板的面积。因此，本设计的接口复用无冲突，引脚 利用率高，电路板面积小。
[0011] 3、本发明一种JTAG和BDM集成调试接口的使用方法中的复用调试接口能够分别与 JTAG仿真器插头、BDM仿真器插头相连接，拔插方便，不影响MCU的正常调试。因此，本设计的 使用方法简单，调试方便，接口利用率高。
【附图说明】
[0012] 图1是本发明的引脚连接示意图。
[001引图視现有JTAG接口的引脚功能示意图。
[0014] 图3是现有抓M接口的引脚功能示意图。
[0015] 图4是JTAG接口和BDM接口复用的引脚功能示意图。
[0016] 图5是JTAG接口和BDM接口的复用步骤示意图。
[0017 ] 图中：JTAG接口 101、抓M接口 10 2、复用调试接口 10 3、JTAG仿真器插头301、JTAG仿 真器302、日01仿真器插头401、日01仿真器402。
【具体实施方式】
[0018] W下结合【附图说明】和【具体实施方式】对本发明作进一步详细的说明。
[0019] 参见图1-图5，一种JTAG和抓M集成调试接口，包括JTAG接口 101和抓M接口 102; 所述JTAG接口 101和抓M接口 102组成复用调试接口 103，所述复用调试接口 103为两列 对称排列的排针接口，所述复用调试接口 103分别与JTAG仿真器插头301、BDM仿真器插头 401插入配合。
[0020] 所述JTAG接口 101的引脚个数与BDM接口 102的引脚个数的和大于等于复用调试接 口 103的引脚个数。
[0021 ]所述JTAG接口 101的十四个引脚等分为左、右两列对齐排布，JTAG接口 101的左侧 一列屯个引脚从前到后依次为TDI901引脚、TD0903引